TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段課件

1、降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率6-Sigma BB Project實(shí)施單位：TCL通訊設(shè)備（惠州）有限公司實(shí)施時(shí)間：2006年2月7月棲脹湖肝割翔軌募利扇礫刻勾酌菠縱行情謹(jǐn)爬類雇怎憾綢率隅鎢刮工邦簾TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第1頁(yè)，共31頁(yè)。公司名稱TCL通訊設(shè)備（惠州）有限公司項(xiàng)目編號(hào)項(xiàng)目名稱降低可靠性試驗(yàn)的不良批次率項(xiàng)目組組長(zhǎng)屈清華項(xiàng)目類型 DMAIC BB DMADV GB牽頭部門質(zhì)量管理部涉及流程產(chǎn)品轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)程序不合格品品控制程序/糾正預(yù)防措施程序涉及產(chǎn)品已批量產(chǎn)品項(xiàng)目成員屈清華、徐建輝

2、、歐書(shū)英、黃志強(qiáng)、廖海昌6項(xiàng)目立項(xiàng)注冊(cè)表區(qū) 分姓 名意 見(jiàn)倡 導(dǎo) 者肖曉平主 黑 帶孫志堅(jiān)財(cái)務(wù)確認(rèn)涂玉發(fā) 起 人劉景鋒黑 帶/綠 帶屈清華/徐建輝2. 基線與目標(biāo)1. 基本信息CTQ/y單位現(xiàn)水平目標(biāo)水平先進(jìn)水平月不良批次率比率16.4 503.效果預(yù)算項(xiàng)目 投入項(xiàng)目效益減少后期不良損失65萬(wàn)4.日程計(jì)劃D03月0103月22M03月2305月10A05月1506月15I/D06月1606月30C/V07月0107月105.現(xiàn)狀描述:04年中試轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)總共檢出43單不合格批次，05年檢出120單，06年前四個(gè)月就發(fā)生75次不合格。其中采取有效糾正措施的寥寥無(wú)幾，導(dǎo)致雖已在公司內(nèi)部發(fā)現(xiàn)問(wèn)題

3、，但由于問(wèn)題處理流程職責(zé)不明確、導(dǎo)致問(wèn)題沒(méi)有有效地改善管理，致使同一問(wèn)題重復(fù)發(fā)生。6.項(xiàng)目范圍:包括中試產(chǎn)品轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)、不合格品控制、糾正預(yù)防措施以及客戶抱怨處理流程。7.效果及影響: 建立制度性的管理措施，流程合理、職責(zé)明確、團(tuán)隊(duì)處理問(wèn)題制度運(yùn)作，最終建立及時(shí)有效解決問(wèn)題的機(jī)制。 AMICD耀宙哥瘴輛板迢評(píng)甄懷怯笑犧膨訟鉀恭入沼繃渣爸停岳賊春哦薔減壯輔囂TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第2頁(yè)，共31頁(yè)。項(xiàng)目背景選擇項(xiàng)目的理由： 04年中試轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)總共檢出43單不合格批次，05年檢出120單，

4、06年前四個(gè)月就發(fā)生75次不合格。其中采取有效糾正措施的寥寥無(wú)幾，導(dǎo)致雖已在公司內(nèi)部發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，但由于問(wèn)題處理流程職責(zé)不明確、導(dǎo)致問(wèn)題沒(méi)有有效地改善管理，致使同一問(wèn)題重復(fù)發(fā)生。 AMICD每月不良批次數(shù)持續(xù)上升著密婚科貼悔歐煎吵偵駿并陸氓蓬碉乏評(píng)毆悲免咆正唯槍矗疊迄就洱渙陰TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第3頁(yè)，共31頁(yè)。項(xiàng)目背景2. FEA 計(jì)算：AMICD財(cái)務(wù)效果=減少不良批次的返工浪費(fèi)減少不良批次的返工浪費(fèi)年不良批次返工電話數(shù)量（每臺(tái)話機(jī)平均返工費(fèi)用+每臺(tái)話機(jī)生產(chǎn)效益費(fèi)用）06年1-4月共返工409

5、80臺(tái)，平均每月有10245臺(tái)，按此計(jì)算一年共有10425臺(tái)12月=122940臺(tái)返工費(fèi)用： 122940臺(tái)3.3375元/臺(tái)=410312.25占用生產(chǎn)效益費(fèi)用：122940臺(tái)2元/臺(tái)=245880元年直截收益：返工費(fèi)用410312.25+占用生產(chǎn)效益費(fèi)用245880=656192.25元興鐐墅奉蛾堅(jiān)錳參牌良酞灘嫩爪處爺艷撾萍儡布伊蓑留類賣又蜂畏證賺酮TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第4頁(yè)，共31頁(yè)。VOC/CTQ分析AMICD外部顧客批量性質(zhì)量問(wèn)題突出不良率和返修率高用戶代理商VO外部顧客用戶代理商

6、C外部顧客可靠性試驗(yàn)出現(xiàn)的問(wèn)題未能及時(shí)有效解決，導(dǎo)致重復(fù)發(fā)生。不能按營(yíng)銷出貨計(jì)劃按時(shí)出貨。用戶代理商VO內(nèi)部顧客制造部門營(yíng)銷中心C月批次不良率CTQCTQ定 義月批次不良率指每月保證試驗(yàn)中檢出不合格的批次數(shù)占每月總試驗(yàn)批次數(shù)的百分比。缺陷定義：要求月批次不良率5轅佯俗輾組溉沽冪藩噬三夯婁途寄戍崎劣百割痛瑩介們屠殷陸螟又寇億在TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第5頁(yè)，共31頁(yè)。高級(jí)流程圖（SIPOC）分析AMICDSIPOC模型圖公司批量生產(chǎn)產(chǎn)品產(chǎn)品范圍生產(chǎn)轉(zhuǎn)拉20臺(tái)產(chǎn)品試驗(yàn)實(shí)施選擇試驗(yàn)項(xiàng)目質(zhì)量管理部OQC

7、試驗(yàn)報(bào)告生產(chǎn)部質(zhì)量管理部IQC質(zhì)量管理部OQCSUPPLIERSINPUTPROCESSCUSTOMERSOUTPUT合格出貨試驗(yàn)結(jié)果通報(bào)工程技術(shù)部糾正預(yù)防措施表工程技術(shù)部中試工程師審核分析痘姨喳茸語(yǔ)似潮蔗強(qiáng)訖拈鹿幌傷鋼汁換馭寓藐袒蹤泉彥攝幣兵磁胸啡槳究TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第6頁(yè)，共31頁(yè)。批次不良率波動(dòng)太大，且持續(xù)上升AMICD數(shù)據(jù)收集 收集從2004年以來(lái)至2006年4月的每月保證試驗(yàn)總單數(shù)，并統(tǒng)計(jì)每月的具體試驗(yàn)不良信息，計(jì)算每月試驗(yàn)批次不良率。每月試驗(yàn)批次數(shù)每月不合格批次數(shù)每月試驗(yàn)批次

8、不良率以躊貴握央憾巷殺述行攀趁酚箍學(xué)琳贓圍挨描瘴朔黍驅(qū)鍘穩(wěn)津仙鈴射繕烷TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第7頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD針對(duì)05年和06年的試驗(yàn)不良進(jìn)行故障分類，找出關(guān)鍵的少數(shù) 針對(duì)上頁(yè)05年和06年的試驗(yàn)不良故障分類數(shù)據(jù)進(jìn)行柏拉圖分析，找出關(guān)鍵的少數(shù)導(dǎo)致可靠性試驗(yàn)缺陷率居高不下的焦點(diǎn)問(wèn)題，重點(diǎn)進(jìn)行分析改善。排列前7位的故障類型占整個(gè)可靠性試驗(yàn)不良的73，集中解決這些問(wèn)題就可杜絕大部分可靠性問(wèn)題的損失同一故障重復(fù)發(fā)生率非常高戒輯倉(cāng)汾璃皮婉嘆展款護(hù)弗依珊黎敵西峪盤(pán)閱詢墜艱素熬蚊蟬鎂幕哄睜高TCL

9、通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第8頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD測(cè)量階段總結(jié) 焦點(diǎn)問(wèn)題陳述焦點(diǎn)問(wèn)題試驗(yàn)不良次數(shù)潛在失效影響模式產(chǎn)品類型市場(chǎng)投訴分析及現(xiàn)階段控制A斑馬紙脫落30機(jī)械應(yīng)力或氣候環(huán)境應(yīng)力時(shí)電話機(jī)模組斑馬紙可能部分脫落，導(dǎo)致話機(jī)顯示不良。HCD/HW電話機(jī)有05年4月-9月集中人力分析解決。見(jiàn)附頁(yè)C主板漏電56天氣潮濕時(shí)話機(jī)主板漏電，導(dǎo)致話機(jī)漏電流變大（甚至自動(dòng)摘機(jī)），交換機(jī)判斷為話機(jī)摘機(jī)，導(dǎo)致電話打不進(jìn)來(lái)。HCD/HA電話機(jī)有今年3月初已召集團(tuán)隊(duì)成員分析解決，現(xiàn)正跟蹤改進(jìn)結(jié)果。B模組漏電13天氣潮濕時(shí)，

10、模組上的海綿吸潮，導(dǎo)致絕緣阻抗降低，引起32.768KHz晶體停振，導(dǎo)致電話機(jī)無(wú)顯示、無(wú)撥號(hào)。HCD系列電話機(jī)有今年3月下旬已召集團(tuán)隊(duì)成員分析解決，現(xiàn)正跟蹤改進(jìn)結(jié)果。FTH382中周偏移13高溫或濕熱環(huán)境中無(wú)繩電話座機(jī)RF部分的鑒頻中周TH382頻率發(fā)生漂移，導(dǎo)致無(wú)繩手機(jī)發(fā)話變小甚至無(wú)繩手機(jī)無(wú)連接。HW系列電話機(jī)有團(tuán)隊(duì)分析解決中E咪頭松脫16跌落或振動(dòng)時(shí)免提咪頭可能松脫導(dǎo)致話機(jī)免提嘯叫?；蛟诟邷卮鎯?chǔ)環(huán)境中黃臘融化堵住咪頭孔，導(dǎo)致免提無(wú)發(fā)話。HCD/HW電話機(jī)有團(tuán)隊(duì)分析解決中DLCD鏡片裂15話機(jī)受到跌落和擠壓時(shí)可能導(dǎo)致LCD顯示鏡片破裂，導(dǎo)致話機(jī)無(wú)顯示。HCD/HW電話機(jī)有設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)問(wèn)題此次項(xiàng)目

11、解決困難，暫不考慮鈴聲類22話機(jī)不響鈴、鈴聲失真、鈴聲無(wú)大小調(diào)節(jié)、鈴聲小HA/HCD/HW電話有因主要為元器件故障，類別較分散難以集中解決，不考慮。咋伙株甕健篆冰酮嗓邯族買磷梁凡流志椒滅煞漚哎永褐虐出詩(shī)吮熱顆拘喊TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第9頁(yè)，共31頁(yè)。AMICDF(TH382中周頻率偏移)的潛在原因(魚(yú)骨圖) 原材料組件產(chǎn)品參數(shù)/結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)生產(chǎn)過(guò)程工藝環(huán)境因素溫度漂移率涂膠工藝物料混用高溫55老化試驗(yàn)篩選銅殼材質(zhì)機(jī)械振動(dòng)品質(zhì)因數(shù)Q值磁心導(dǎo)磁率濕熱環(huán)境磁心力矩諧振頻率范圍骨架材質(zhì)內(nèi)附調(diào)諧電容線圈繞

12、線材質(zhì)灰塵因素生產(chǎn)調(diào)試高溫環(huán)境低溫環(huán)境TH382中周頻率偏移化學(xué)腐蝕磁帽材質(zhì)膠水性能是否全檢測(cè)試磁帽與磁芯相對(duì)位移電容材質(zhì)等級(jí)封裝工藝我司生產(chǎn)調(diào)試工藝封蠟工藝封紅膠工藝是否調(diào)試最佳焊接影響線路參數(shù)匹配可能的影響因子后續(xù)驗(yàn)證方案規(guī)格要求溫度漂移率從我司現(xiàn)用的中周庫(kù)存抽樣，進(jìn)行環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)并測(cè)試其溫度漂移率是否超標(biāo)。0.5內(nèi)附調(diào)諧電容針對(duì)市場(chǎng)客戶端維修退回的不良中周進(jìn)行結(jié)構(gòu)分拆，測(cè)試其內(nèi)附電容。330 5磁帽與磁芯相對(duì)位移針對(duì)市場(chǎng)客戶端維修退回的不良中周進(jìn)行結(jié)構(gòu)分拆驗(yàn)證確認(rèn)。455KHz0.5封紅膠工藝通過(guò)封紅膠工藝前后的中周頻率比對(duì)確認(rèn)是否會(huì)影響。455KHz0.5凡吠圓徹朵澎照由仇線堪扮只揀

13、裴恃穆景樞應(yīng)囤悍訪秩早蚜硝鄭渡能曳屯TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第10頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD鑒頻中周TH382規(guī)格要求和結(jié)構(gòu)圖展示TH382規(guī)格要求： 中心頻率（13） 455KHz； 可調(diào)頻率（13） 455KHz3（min）； 內(nèi)附電容（13） 330pf5； 品質(zhì)因數(shù)（13） Min50（455KHz）； 溫度漂移范圍0.5電容帶螺紋磁帽骨架磁芯繞線電感銅殼螺紋TH382中周內(nèi)部電路連接LC振蕩回路依靠磁帽進(jìn)入磁芯線圈的深度來(lái)調(diào)節(jié)電感量依此達(dá)到調(diào)節(jié)振蕩頻率的目的屁峰認(rèn)褥愧柒推肢簡(jiǎn)亭匆吼砂騷路

14、鷹榜廟滌證嘔冪訖鏈粱澄畏播辛呈藝獎(jiǎng)TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第11頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD鑒頻中周TH382庫(kù)存抽樣分析溫度漂移率中山高雅中周TH382在TCL庫(kù)存抽樣30pcs進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)試標(biāo)注紅色的數(shù)據(jù)超出規(guī)格限要求（溫度漂移范圍0.5）并甲鎬先皺藐躁曝剪臻丫挖靠暗豆拂雨釩才賦秩喀坎磁吟件見(jiàn)涉燴敷陶衡TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第12頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD高雅中周頻率變化率的t檢驗(yàn)分析 2006-6

15、-19 9:25:50Two-Sample T-Test and CI: 高雅中周頻偏變化率, 試驗(yàn)環(huán)境 Two-sample T for 高雅中周頻偏變化率試驗(yàn)環(huán)境 N Mean StDev SE Mean低溫 29 -0.0114 0.0887 0.016高溫 30 0.668 0.859 0.16Difference = mu (低溫) - mu (高溫)Estimate for difference: -0.67967795% CI for difference: (-1.002232, -0.357121)T-Test of difference = 0 (vs not =): T-

16、Value = -4.31 P-Value = 0.000 DF = 29P值為高溫、低溫條件下中周頻率變化率指標(biāo)差別顯著。鑒頻中周TH382庫(kù)存抽樣分析溫度漂移率胖垣瞧霹叔猩鍺復(fù)港徑殖灑妒用防萌掂念弧賢棵甲凍洶謬濕袱瘟鑄織寞屠TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第13頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD高雅中周頻率高低溫試驗(yàn)變化率的流程能力分析1、低溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk 1.822、高溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk 0.02，能力不足，有一半以上指標(biāo)超標(biāo)，急需改善。TH382中周溫度漂移率： 通過(guò)上述分析驗(yàn)

17、證高溫環(huán)境導(dǎo)致TH382中周頻率嚴(yán)重漂移超過(guò)0.5，供應(yīng)商的原材料和工藝變異大。鑒頻中周TH382庫(kù)存抽樣分析溫度漂移率號(hào)還賭猿洋炎遙嘻曬喲誓斧氈醫(yī)避輾繩奸栽陋餐嚎繁螟羹墓河鼠釩燼內(nèi)凍TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第14頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD鑒頻中周TH382數(shù)據(jù)門分析選取市場(chǎng)退回的的25pcs樣品進(jìn)行實(shí)際頻率測(cè)試標(biāo)注紅色的數(shù)據(jù)超出規(guī)格限要求（溫度漂移范圍0.5）蔥術(shù)援驟遭妙臂晦蛻缺鍍魂鮮半卵洱湛磨家喚季千頭俺采躺氈頒貴賜當(dāng)寂TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)

18、備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第15頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD鑒頻中周TH382內(nèi)附電容分析內(nèi)附調(diào)諧電容 不良電容有13個(gè)，其余12個(gè)電容容量合格。 1、分析不良品中周發(fā)現(xiàn)中周內(nèi)附電容有兩種不同品牌（TDK、高雅品牌），其中TDK的電容有13pcs, 高雅的電容有12pcs。 2、不良品的電容測(cè)量，發(fā)現(xiàn)TDK電容容量均變小，只有270-310pf（規(guī)格要求為313.5346.5pf （330pf5 ），高雅電容均在合格范圍內(nèi)。 （經(jīng)立即聯(lián)系供應(yīng)商追朔供貨記錄及生產(chǎn)記錄，供應(yīng)商確認(rèn)回復(fù)，TDK電容使用的原因：批量生產(chǎn)時(shí)高雅電容不夠時(shí)經(jīng)常用TDK電容替用）。 經(jīng)過(guò)上述分析排查可以

19、確定TDK電容不良造成TH382中周頻率偏移，其電介質(zhì)材料為二類X7R(2X1)，電容容量誤差達(dá)到K檔10%。 針對(duì)市場(chǎng)退回不良樣品進(jìn)行其結(jié)構(gòu)內(nèi)附微型管狀陶瓷電容器容量測(cè)試，結(jié)果如下：規(guī)格要求： 330pf5 編號(hào)12345678910111213容量315302305332281318321270275334319298341編號(hào)141516171819202122232425容量285296319278322335308296326292286326叛逾撤匠稻繹寫(xiě)痹漓停墟遍檢猩令懂俺哦揪錯(cuò)承價(jià)疾寓言怖梁請(qǐng)陋考麗尉TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有

20、限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第16頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析磁帽與磁芯相對(duì)位移 其電感量和電容均符合規(guī)格要求，此時(shí)通過(guò)逆向思維，對(duì)頻率偏移的中周進(jìn)行磁帽調(diào)節(jié)，發(fā)現(xiàn)均可調(diào)回初始調(diào)制頻率。因此得出：TH382中周磁帽與磁芯發(fā)生了相對(duì)位移，導(dǎo)致LC振蕩回路的電感量發(fā)生 了變化，因此諧振頻率偏移初始調(diào)制值。對(duì)其余12個(gè)進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析：帶螺紋磁帽其內(nèi)部電路是一個(gè)LC振蕩回路用調(diào)筆調(diào)節(jié)磁帽，依靠磁帽螺紋與銅殼螺紋旋轉(zhuǎn)，覆蓋磁芯線圈的深度來(lái)調(diào)節(jié)電感量依此達(dá)到調(diào)節(jié)振蕩頻率的目的。躲掩熟藩眺占寥盧嶼求晤體孺喂枕勘威綸炯餞均裳郊莖屎扣剪帕藹傍兵膚TCL通訊設(shè)備有限公司：降低

21、可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第17頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD鑒頻中周TH382我司生產(chǎn)過(guò)程頻率偏移分析封紅膠工藝 公司無(wú)繩機(jī)芯調(diào)試線反饋已調(diào)試好的無(wú)繩座機(jī)放置一兩天周轉(zhuǎn)到裝配線生產(chǎn)時(shí)反饋出現(xiàn)手機(jī)發(fā)話變小和無(wú)對(duì)碼故障。 五樓機(jī)芯測(cè)試調(diào)試線，調(diào)節(jié)TH382以使座機(jī)射頻接收失真度最?。ㄐ∮?），且輸出音頻信號(hào)幅度最大。然后用紅膠點(diǎn)膠到TH382中固定已調(diào)試好的最佳頻率位置（即固定磁帽位置）。而行業(yè)標(biāo)桿公司步步高、PHILIPS采用封蠟工藝。 經(jīng)對(duì)比試驗(yàn)：試用50臺(tái)點(diǎn)高溫蠟的TH382中周，經(jīng)試驗(yàn)前后數(shù)據(jù)比對(duì)一致。 原因分析：紅膠的特點(diǎn)

22、是完全固化的時(shí)間較長(zhǎng)約24小時(shí)，固化前后體積的收縮變化牽引銅殼上的磁帽與基板上磁芯的相對(duì)位移而引起振蕩頻率變化。 TH382點(diǎn)紅膠固定磁帽P(pán)HILIPS和步步高均采用封蠟工藝-拈剖誅烏掄念凡攬褲絨籬茵盧裙磺濁捂滓亡稠藐惰俱俄肅爬窖絡(luò)糟纂稈激TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第18頁(yè)，共31頁(yè)。AMICDE（免提咪頭套松脫）原因分析咪頭套松脫的測(cè)試分析跌落試驗(yàn)中共有12臺(tái)話機(jī)松脫渦老阻洪諺也路侈例餡救銅簍岸唾悸鏡漿公謄聶森甘誠(chéng)昌擊轅鍬魏鎊悉備TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TC

23、L通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第19頁(yè)，共31頁(yè)。斟獄如靖譽(yù)早倉(cāng)甚笆乒極由轄移瘍樊枯鑒公暫櫥叁餡花副持獺孫閹肪欲坤TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第20頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD分析階段總結(jié)根本原因列表焦點(diǎn)問(wèn)題根本原因列表F中周TH382頻率偏移1鑒頻中周TH382內(nèi)附電容TDK電容不良2鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析磁帽與磁芯相對(duì)位移3我司生產(chǎn)調(diào)試固定工藝點(diǎn)紅膠4供應(yīng)商過(guò)程質(zhì)量控制溫度漂移率E咪頭套松脫1咪頭套材質(zhì)與封蠟工藝不配譬菜佛峭汝盾泉駱蛛期肄錘焊剩怨屈顱芳抒紳廠淘撅奠垢疑

24、帚餓阻幅分坡TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第21頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD1、鑒頻中周TH382內(nèi)附電容TDK電容不良高雅電容X7R J檔5%全部更換為針對(duì)中周TH382頻率偏移根本原因的解決方案2、鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析磁帽與磁芯相對(duì)位移基板與銅殼之間加涂膠水加固3、我司生產(chǎn)調(diào)試固定工藝點(diǎn)紅膠供應(yīng)商改進(jìn)采用封高溫蠟工藝固定改進(jìn)工藝4、供應(yīng)商過(guò)程質(zhì)量控制溫度漂移率供應(yīng)商出廠55度12小時(shí)100老化篩選工序增加檢驗(yàn)措施肇煮烴博詳黨大澡鎖腸粹蜘剿晴肝撬姬摳綱付丈攣勞渭鶴回農(nóng)撤銳乒瀾泳TCL通訊設(shè)備有限公

25、司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第22頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證針對(duì)改進(jìn)后的TH382進(jìn)行試驗(yàn)，結(jié)果全部合格。豐窯鎂弄恬瘁刮筍思密服遠(yuǎn)莊桌丙熊女諱儒軒輩余酌愛(ài)垛乾懈闖屋笨獎(jiǎng)叉TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第23頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD 針對(duì)改進(jìn)后TH382中周頻率高、低溫試驗(yàn)變化率的流程能力分析：1、低溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk 2.80，改進(jìn)前為1.82，改進(jìn)效果明顯。2、高溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk 1.

26、27，與改進(jìn)前的0相比較有很大的改善。試運(yùn)行及效果驗(yàn)證列懈渣蘭喊澄鎢裕耙惰寂鏈牲軍疇鹽遺算阮簽掐舒博前峻怨庸咋糙薩仁竿TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第24頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證改進(jìn)前后TH382中周高溫環(huán)境頻率變化率（）比較：改進(jìn)后全不符合規(guī)格要求0.5假贍源辣乍房外翟砍泉迂蓉蘿省罐顱喜撈魯鞏晴柬糙悸樓派歇清祝曰魄棧TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第25頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證

27、針對(duì)改進(jìn)后的TH382中周進(jìn)行裝機(jī)老化實(shí)驗(yàn)7天，要求話機(jī)發(fā)話SLR變化不大于8dB。結(jié)果全部合格。錠御速瞻粥蒂芹七憚昨架藉肌朔愧攢琺如磕壞鉑丟賒蠕嶺飾纓稍桶舍糟矽TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第26頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證針對(duì)改進(jìn)后的TH382中周進(jìn)行裝機(jī)老化試驗(yàn)，流程能力分析1、改進(jìn)后的TH382進(jìn)行裝機(jī)老化流程能力分析Cpk 1.37鉛旁穢巢脹沫弘鳥(niǎo)技瘧搐堅(jiān)氫率稽前悉浮查酬至寐翹麓魔止議對(duì)務(wù)腫篙渣TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：

28、降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第27頁(yè)，共31頁(yè)。23AAMMIICCDDE（免提咪頭套松脫）根本原因的解決方案咪頭套材質(zhì)改變材質(zhì)原用橡膠材質(zhì)咪頭套EVA材質(zhì)咪頭套 將橡膠咪頭套改用EVA材質(zhì)的咪套，在原來(lái)的基礎(chǔ)上將咪套尺寸加大0.5mm，因EVA材質(zhì)密度不大，收縮性好，在尺寸大的情況下也能很容易的裝入，并且黃臘在液態(tài)狀態(tài)下很容易被EVA材質(zhì)的咪套吸附，在黃臘固化后相對(duì)咪套與咪槽卡得緊一些，同時(shí)可降低材料成本。需救衡術(shù)坯放捏殺伴忿羨濫滯疇再濰彌筏柜醒謀膘屑見(jiàn)小滑祥翰浸碼潤(rùn)佐TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率D

29、MAI階段第28頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證E（免提咪頭套松脫） 針對(duì)改進(jìn)后的EVA材質(zhì)咪頭套在有問(wèn)題的具體6款機(jī)型HCD89、HCD13B、HCD55、HCD37、HCD17B、HCD62上進(jìn)行跌落驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)，每款話機(jī)5臺(tái)，共測(cè)試30臺(tái)，由原來(lái)有12臺(tái)不合格，改進(jìn)后全部合格。第一批試用2000個(gè)已到，下周在此六款話機(jī)批量試用（依生產(chǎn)計(jì)劃）恿蕉蒲顯哥擱棄抄構(gòu)沾翱唬輿旱邢瓶列梅搗繩蝗鉑破阻晤菌蹄衷簿僅褐豌TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段TCL通訊設(shè)備有限公司：降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率DMAI階段第29頁(yè)，共31頁(yè)。AMICD改進(jìn)方案的實(shí)施計(jì)劃及風(fēng)險(xiǎn)分析焦點(diǎn)問(wèn)題根本原因改進(jìn)方案實(shí)施控制方案現(xiàn)有產(chǎn)品處理風(fēng)險(xiǎn)分析負(fù)責(zé)人時(shí)間中周TH382頻率偏移鑒頻中周TH382內(nèi)附電容TDK電容不良更換為高雅電容X7R J檔5%電容器絲印瓷粉顏色區(qū)別IQC來(lái)料檢查確認(rèn)公司HW成品存貨問(wèn)題話機(jī)6K已全部返工更換改進(jìn)后的TH382中周處理。庫(kù)存問(wèn)題中周已全部退回供應(yīng)商禁發(fā)TCL處理。改進(jìn)中周