實驗52勞厄照相法2

1、實驗5-2勞厄照相法1010164譚曉宇物理學理論物理實驗背景勞厄照相法是勞厄早在1912年提出X射線衍射理論時，和他的助手完成的實驗。勞厄照相法是采用連續(xù)X射線譜照射固定的單晶體試樣上產(chǎn)生衍射，再用平面或圓筒形照相底片記錄衍射圖樣的一種實驗方法。要求試樣一定要是單晶的。勞厄法主要用于測定單晶體的取向、晶體的對稱性、單晶體的完整性等，也可用于壓電晶體、金剛石和其他寶石的定向、切割、安置等。實驗原理當x射線連續(xù)譜從一定方向入射到固定的單晶試樣上時，晶體中個晶面族凡滿足布拉格衍射公式的條件，都會產(chǎn)生衍射線。當它們與底片相遇時，底片上便會感光留下衍射斑。仿照粉末照相法中的厄瓦爾德圖解，將式 改寫為

2、便可以做出勞厄照相法的圖解：實驗原理圖中，每個倒易陣點變成了線段，反射球的半徑為單位長度，即1/。凡是與反射球的球面相交的倒易線段，都能產(chǎn)生衍射線（即圖中的反射線）。實驗原理本次實驗采用透射勞厄法拍攝。如圖所示，單晶體試樣位于X射線源和底片之間。實驗原理在晶體中，凡與某一晶向平行的所有晶面的集合成為晶帶，該晶向稱為晶帶軸。同一晶帶的晶面族的反射線都位于以晶帶軸為軸的圓錐面上，入射線也在。當衍射線圓錐與垂直于入射線的底片相交時，交點軌跡形成斷續(xù)的橢圓。實驗原理用投射投影尺量出各勞厄斑點到原點的距離，在投影尺上讀出相應的距離，在網(wǎng)格紙上作出極射赤面投影圖。實驗裝置X射線晶體分析儀勞厄相機投射投影尺

3、各種極射赤面標準投影圖實驗內(nèi)容使用Cu靶X光管，采用連續(xù)譜和面心立方NaCl晶體拍攝投射勞厄相。樣品距離底片4cm，曝光1小時；參考坐標系：入射線為Z軸，豎直方向為Y軸，水平方向為X軸；制備樣品：晶體厚度約1mm，表面為解理面；測角頭調整：使最頂部的圓弧垂直于入射線，同時使三個圓弧的指針讀數(shù)為零。曝光拍攝：用可移動的熒光屏檢驗X光是否通過晶體后射到勞厄相機中心的鉛片上。沖印底片：對底片進行顯影、定影、沖洗、晾干，準備測量。底片處理（1）步驟一：把投射勞厄底片的正面向上，將一張透明描圖紙蓋在上面，把勞厄斑、勞厄圖的中心及參考坐標系一起描繪到圖紙上。將透射投影尺的零點與圖紙的中心重合，等間隔刻度對

4、準勞厄斑點，在另一端作出透射勞厄相圖中各衍射斑點的極射赤面投影圖。以底片上的一條暗影為Y軸，作其延長線15cm。利用烏氏網(wǎng)，作出X軸；步驟二：將已完成的極射赤面投影圖的中心與烏氏網(wǎng)的中心重合，選取一條最明顯的晶帶，使其與烏氏網(wǎng)的一條經(jīng)線基本重合。步驟三：把位于同一條經(jīng)線上的各投影點沿各自所在緯線轉動至基圓上，將其他的投影點轉動相同角度。若轉動到基圓外，則反轉回來。在圖上標出任意一點的緯度值。底片處理（2）步驟四：將所得投影圖與指數(shù)較低的標準投影圖進行對比。使兩圖中心重合，使各點與標準圖上的各點完全或基本重合，將主晶軸100、010、001的點描在圖上，將其他對應點的指數(shù)也一起描下來（對應于衍射指數(shù)）步驟五：使投影圖上主晶軸的點沿各自緯線向相反方向轉動相同的角度，描下轉動后的主晶軸的投影點。步驟六：將完成的投影圖的中心與烏氏網(wǎng)中心重合