GBT3323與JBT 4730的對(duì)比解析課件

1、GB/T33232005 與JB/T 4730.2005的對(duì)比解析強(qiáng)天鵬 江蘇省特種設(shè)備安全監(jiān)督檢驗(yàn)研究院20081、名稱、性質(zhì)1、名稱及內(nèi)容2、標(biāo)準(zhǔn)的性質(zhì)與地位說(shuō)明：推薦性標(biāo)準(zhǔn)與強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)背景資料：2006年3月27日，國(guó)家質(zhì)檢總局質(zhì)檢辦特函（2006）144號(hào)關(guān)于鍋爐壓力容器安全監(jiān)察工作有關(guān)問題的意見中規(guī)定：承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)執(zhí)行JB/T47302005，因此在承壓設(shè)備領(lǐng)域，JB/T4730實(shí)質(zhì)上變?yōu)閺?qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)。3、標(biāo)準(zhǔn)體系和技術(shù)路線GB/T33232005等同采用歐洲標(biāo)準(zhǔn)EN1435:1997焊接接頭的射線檢測(cè)修改:增加焊接接頭質(zhì)量分級(jí)；刪除了“采用相同的透照和技術(shù)方法能保證射線底片像質(zhì)數(shù)

2、值一樣，不必每張底片放置像質(zhì)計(jì)”；增加了“對(duì)有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊后24h以后進(jìn)行射線照相檢測(cè)?！钡囊?guī)定。3、標(biāo)準(zhǔn)體系和技術(shù)路線JB/T 4730.2005依據(jù)歐洲，參考美國(guó)，兼顧JB/T473094。協(xié)調(diào)性：以歐洲標(biāo)準(zhǔn)EN1435:1997（ISO5579）為主線，解決了與GB/T3323協(xié)調(diào)問題。適用性：在繼承、改進(jìn)、完善的基礎(chǔ)上，保持與JB/T473094的連貫性。特殊性：滿足承壓設(shè)備的一些限制和要求。4、標(biāo)準(zhǔn)適用范圍在檢測(cè)對(duì)象結(jié)構(gòu)、材質(zhì)，檢測(cè)使用的設(shè)備、器材等方面，GB/T3323的限制性規(guī)定更少一些，給出的種類和參數(shù)更多一些，其適用性也更廣一些。JB/T4730只針對(duì)承壓設(shè)

3、備所使用的材料；GB/T3323應(yīng)可用于各種金屬材料。JB 4730.2適用的厚度范圍：在評(píng)級(jí)條款中規(guī)定了適用的厚度范圍。GB/T3323未規(guī)定適用的厚度范圍，由像質(zhì)計(jì)適用范圍看，其適用厚度下限可小于1.2mm，適用厚度上限可大于375mm，6、射線照相技術(shù)適用的焊接接頭GB/T3323規(guī)定：適用于熔化焊焊接接頭JB/T4730.2規(guī)定：適用于熔化焊對(duì)接接頭說(shuō)明：按照J(rèn)B /T 4708的定義，焊接接頭有8種型式，分別是：對(duì)接接頭對(duì)接焊縫；T形接頭對(duì)接焊縫；角接接頭對(duì)接焊縫；鎖底接頭對(duì)接焊縫；角接接頭角焊縫；T形接頭角焊縫；搭接接頭角焊縫；對(duì)接接頭角焊縫。GB/T3323對(duì)焊接接頭的8種型式全

4、部適用。JB/T4730.2只適用于全焊透的對(duì)接接頭對(duì)接接頭對(duì)接焊縫（雙面焊、單面焊）鎖底接頭對(duì)接焊縫（加墊板單面焊）。6、射線照相技術(shù)適用的焊接接頭其他各種角接接頭對(duì)接焊縫，各種型接頭對(duì)接焊縫，各種角焊縫均不適用JB/T4730.2。為什么JB/T4730 不包括角接接頭、型接頭和角焊縫？因?yàn)榫帉懡M認(rèn)為：對(duì)角接接頭和型接頭的工藝和評(píng)級(jí)技術(shù)準(zhǔn)備不足。不包括不焊透的角焊縫則是因?yàn)槌袎涸O(shè)備不允許采用。8、射線膠片膠片系統(tǒng)分級(jí)GB/T33232005分為C1 、C2、C3、C4、C5、C6，六個(gè)級(jí)別。JB/T4730.22005 分為T1、 T2、 T3、T4，四個(gè)級(jí)別。GB/T3323附錄給出了C

5、系列和T系列對(duì)應(yīng)關(guān)系：C1 、C2T1；C3、C4T2；C5T3；C6T4。8、射線膠片膠片系統(tǒng)分級(jí)關(guān)于各種標(biāo)準(zhǔn)膠片系統(tǒng)分級(jí)情況：EN584-1：1995分級(jí)：C1,C2,C3,C4,C5,C6；GB/T 19348:1- 2003分級(jí)：T1,T2,T3,T4ISO 11699-1：1998分級(jí)：T1,T2,T3,T4ASME SE-1815（1996）分級(jí)：特,W-A,W-B,W-C JIS K7627-1997分級(jí)：T1,T2,T3,T4,W-A,W-B,W-8、射線膠片膠片系統(tǒng)分級(jí)膠片分類規(guī)定的演變按粒度分級(jí)：二十世紀(jì)7080年代【DIN 54111-1:1977（G1,G2,G3）】；

6、按粒度和感光速度分級(jí)：二十世紀(jì)8090年代【ISO 5579:1985（G,G,G,G）】； 按梯度、顆粒度、梯噪比分級(jí)：二十世紀(jì)90年代中期至今【EN584-1：1995；ASME SE-1815（1996）；ISO 11699-1：1998；JIS K7627-1997】。9、射線膠片膠片使用：為什么在使用膠片方面JB/T4730.2未采用與GB/T3323相同的規(guī)定？1、GB/T3323的規(guī)定太復(fù)雜；2、國(guó)內(nèi)膠片產(chǎn)品品種不多；3、JB/T4730.2編寫組認(rèn)為：膠片選擇的重要依據(jù)應(yīng)是射源種類和材料種類4、JB/T4730編寫組認(rèn)為：對(duì)低能X射線膠片選擇可不作細(xì)分。9、射線膠片膠片使用：為

7、什么JB/T4730.2規(guī)定：使用射線對(duì)裂紋敏感性大的材料進(jìn)行射線檢測(cè)，應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片？使用梯噪比等級(jí)更高的膠片是提高射線照相靈敏度最有效措施實(shí)踐證明，以Ir192或Se75射線源與T3類型膠片（天津）配合使用，裂紋檢出率很低。如以配合使用T2類型膠片（天津）可以明顯提高裂紋檢出率 。10、增感屏GB/T3323關(guān)于增感屏使用厚度的劃分比JB/T4730細(xì)，此外還有以下不同點(diǎn)：（1）GB/T3323規(guī)定的增感屏使用厚度與膠片有關(guān)，而JB/T4730規(guī)定的增感屏使用厚度與膠片基本無(wú)關(guān)。（2）按GB/T3323規(guī)定：Co 60和1MeV以上X射線，一般不使用鉛增感屏。國(guó)內(nèi)1MeV以上

8、X射線照相仍用鉛增感屏，上海鍋爐廠等單位試制過(guò)鋼、銅、鉭金屬屏，用于加速器高能射線照相。 11、像質(zhì)計(jì)GB/T3323采用線型像質(zhì)計(jì)和階梯孔型像質(zhì)計(jì)JB/T4730.2采用線型像質(zhì)計(jì)，有普通和專用（等徑金屬絲）像質(zhì)計(jì)兩種。JB/T4730.2未采用孔型像質(zhì)計(jì)。GB/T3323有可使用“射線吸收系數(shù)小于被檢材料”的像質(zhì)計(jì)，ASME也有“可使用比被透照材料射線吸 收性能低的合金材料制作的像質(zhì)計(jì)”，但JB/T4730.2無(wú)類似規(guī)定。實(shí)際使用時(shí)，鐵（Fe）像質(zhì)計(jì)可用于鎳（Ni）、銅（Cu）材料的照相；不可用于鈦（Ti）、鋁（Al）材料的照相。11、像質(zhì)計(jì)新JB/T7902-2006無(wú)損檢測(cè) 射線照相檢

9、測(cè)用線型像質(zhì)計(jì)：參照:ISO 19232-1:2004 ；EN 462-1:1994制訂。金屬絲直徑擴(kuò)展到：119號(hào)。材料：鋼、鋁、鈦、銅以及其他金屬。 組號(hào)：1號(hào)像質(zhì)計(jì)1 7號(hào)金屬絲（3.20.8mm）；6號(hào)像質(zhì)計(jì)6 12號(hào)金屬絲（1.00.25mm）；10號(hào)像質(zhì)計(jì)10 16號(hào)金屬絲（0.40.1mm ）；13號(hào)像質(zhì)計(jì)13 19號(hào)金屬絲（0.20.05mm ； 浙江縉云像質(zhì)計(jì)廠開發(fā)的多種像質(zhì)計(jì)，精度滿足要求，其絲徑從0.05mm至3.2mm；材質(zhì)包括碳鋼、不銹鋼、鋁、銅、鈦、鎳、鋯等。12、檢測(cè)時(shí)機(jī) GB/T3323：除非另有規(guī)定，射線檢測(cè)應(yīng)在制造完工后進(jìn)行。對(duì)有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在

10、焊后24h以后進(jìn)行射線照相檢測(cè)。 JB/T4730.2 ：除非另有規(guī)定，射線檢測(cè)應(yīng)在焊后進(jìn)行。有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊接完成24h后進(jìn)行射線檢測(cè)。說(shuō)明：GB/T3323射線檢測(cè)應(yīng)在“制造完工后進(jìn)行”的規(guī)定是參照EN1435的描述。EN1435規(guī)定的全文是：除非另有規(guī)定，射線照相應(yīng)在制造完工后進(jìn)行，例如在拋光后或熱處理后進(jìn)行。JB/T4730編寫組認(rèn)為：射線檢測(cè)是針對(duì)焊接接頭的，因此，用“焊后”比“制造完工后”清晰。 13、射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇GB/T3323：射線透照技術(shù)等級(jí)的選擇，應(yīng)按相關(guān)規(guī)程及設(shè)計(jì)要求由合同各方商定當(dāng)A級(jí)靈敏度不能滿足檢測(cè)要求時(shí)，應(yīng)采用B級(jí)透照技術(shù)。當(dāng)需要采用優(yōu)于B

11、級(jí)的透照技術(shù)時(shí)，相應(yīng)的檢測(cè)參數(shù)可由合同各方商定。13、射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇GB/T3323檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的選擇的其它規(guī)定：當(dāng)B級(jí)規(guī)定的透照條件（例如射源種類或射源-工件表面距離f）無(wú)法實(shí)現(xiàn)時(shí)，經(jīng)合同各方商定，也可選用A級(jí)規(guī)定的條件，此時(shí)靈敏度的損失可通過(guò)將底片黑度增高至3.0，或選用較高對(duì)比度的膠片系統(tǒng)來(lái)補(bǔ)償，因所得靈敏度優(yōu)于A級(jí)，工件可認(rèn)為是按B級(jí)技術(shù)透照的。但對(duì)6.1.4和6.1.5所規(guī)定的透照布置，要按6.6所述縮短fmin時(shí)，上述靈敏度補(bǔ)償法不適用。13、射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇承壓設(shè)備在用檢測(cè)中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制,檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí), 經(jīng)檢測(cè)

12、方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn),在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用A級(jí)技術(shù)進(jìn)行射線檢測(cè)，但應(yīng)同時(shí)采用其他無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)。13、射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇GB/T3323的射線透照技術(shù)等級(jí)除A級(jí)、B級(jí)外，還可采用優(yōu)于B級(jí)的透照技術(shù)。JB/T4730.2對(duì)承壓設(shè)備射線透照技術(shù)等級(jí)應(yīng)采用AB級(jí)的強(qiáng)制規(guī)定，是國(guó)家特種設(shè)備安全監(jiān)察法規(guī)的規(guī)定。GB/T3323規(guī)定，如透照條件需要縮短fmin，則靈敏度補(bǔ)償法不適用。JB/T4730.2未做此規(guī)定。對(duì)承壓設(shè)備在用檢測(cè)，在特殊情況下，JB/T4730.2中允許采用A級(jí)技術(shù)進(jìn)行射線檢測(cè)， 但必須經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)；要求采取有效補(bǔ)償措施；同時(shí)要求采用其

13、他無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)。14、輻射防護(hù) GB/T3323：射線照相的輻射防護(hù)應(yīng)遵循GB4792、GB 16357和GB 18465。 JB/T4730.2：放射衛(wèi)生防護(hù)應(yīng)符合GB18871、GB 16357和GB 18465的有關(guān)規(guī)定。 說(shuō)明：GB 4792放射衛(wèi)生防護(hù)基本標(biāo)準(zhǔn)已被GB 188712002電離輻射防護(hù)及輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)取代。15、透照布置 GB/T3323：列出19種透照布置，包括插入式管座填角焊縫的4種透 照方法（單壁外透法 單壁內(nèi)透法 單壁內(nèi)透偏心法 雙壁單影法）；和騎座式管座填角焊縫的3種透照方法：（單壁外透法 單壁內(nèi)透法 單壁內(nèi)透偏心法）。 JB/T4730.2：

14、附錄C（資料性附錄），列出了8種透照布置。說(shuō)明：角接接頭對(duì)接焊縫是承壓設(shè)備采用的，而JB/T4730.2 比GB/T3323少列了此類焊接接頭，今后應(yīng)考慮增補(bǔ)。JB/T4730沒有列入的幾種透照布置插入式管座填角焊縫（4種）1、單壁外透法 2、單壁內(nèi)透法3、單壁內(nèi)透偏心法 4、雙壁單影法 騎座式管座填角焊縫（3種） 1 單壁外透法2單壁內(nèi)透法 3 單壁內(nèi)透偏心法16、透照方式中單壁透照優(yōu)先的基本原則 GB/T3323：未規(guī)定透照方式中單壁透照優(yōu)先的基本原則。 JB/T4730.2-2005：“在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式,在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式”背景資料： ASME

15、：在任何可以實(shí)施的情況下，應(yīng)當(dāng)采用單壁透照技術(shù)。當(dāng)單壁透照技術(shù)無(wú)法實(shí)施時(shí)，應(yīng)采用雙壁透照技術(shù)。17、環(huán)焊縫最少曝光次數(shù)和K值GB/T3323：外徑大于100的對(duì)接環(huán)焊縫100%透照的最少曝光次數(shù)可參閱圖A.1至圖A.4。當(dāng)壁厚增加量與公稱厚度之比t/t小于等于20%（等級(jí)A）時(shí)，最少曝光次數(shù)可參閱圖A.3至圖A.4。當(dāng)壁厚增加量與公稱厚度之比t/t小于等于10%（等級(jí)B）時(shí)，最少曝光次數(shù)可參閱圖A.1至圖A.2。 JB/T4730：一次透照長(zhǎng)度應(yīng)以透照厚度比K進(jìn)行控制。不同級(jí)別射線檢測(cè)技術(shù)和不同類型對(duì)接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表3的規(guī)定。整條環(huán)向?qū)雍附咏宇^所需的透照次數(shù)可參照附錄D（資料性

16、附錄）的曲線圖確定。18、小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照 GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本相同：（1）適合雙壁雙影透照布置的小徑管直徑為100 mm以下；（2）橢圓成像時(shí)，應(yīng)控制影像的開口寬度為一個(gè)焊縫寬；（3）傾斜透照方式橢圓成像和垂直透照重疊成像的選擇依據(jù)是 “滿足兩條件：T（壁厚）8mm； g（焊縫寬度）De /4應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像，不滿足上述條件或橢圓成像困難時(shí)可采用垂直透照方式重疊成像；（4）要求100%檢測(cè)時(shí)，采用傾斜透照方式橢圓成像，對(duì)t8mm的管子，若t/De0.12，相隔900透照2次；若t/De0.12，相隔1200或600透照3次；采用垂直透照重疊成像，要

17、求透照3次。19、最高X 射線管電壓的限制 GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本相同：（1）使用同樣的最高管電壓限制的曲線圖；（2）對(duì)厚度變化較大的工件，允許使用更高的管電壓，對(duì)鋼、鈦、鋁的管電壓增量相同。背景資料：ASME對(duì)輻射能量幾乎不作控制，在96版即取消了透照不同厚度材料時(shí)允許使用的最高X 射線管電壓的規(guī)定內(nèi)容。20、射線源及透照厚度范圍的限制射線源品種: JB/T4730列入三種射線源：Co- 60 、Ir-192、Se-75。GB/T3323比JB/T4730多兩種射線源，Tm170、Yb169；射線適用穿透厚度范圍下限：GB/T3323與JB/T4730基本一致，JB/T4

18、730的A、AB級(jí)與GB/T3323A級(jí)相同。但GB/T3323規(guī)定了Se75和Yb169透照鋁和鈦的穿透厚度。 JB/T4730未規(guī)定Se75透照鋁和鈦的穿透厚度。兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)均規(guī)定：在特定條件和前提下，穿透厚度范圍下限可進(jìn)一步降低，Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm, Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。21、高能X射線（1MeV以上射線設(shè)備）的透照厚度范圍GB/T3323 A級(jí)與JB/T4730A級(jí)和AB級(jí)一致；GB/T3323 B級(jí)與JB/T4730 B級(jí)一致。22、射線源至工件表面的最小距離 GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本相同：A 級(jí)檢測(cè)技術(shù)：f 7.5db 2/

19、3 ；B 級(jí)檢測(cè)技術(shù)： f 15db 2/3；JB/T4730 比GB/T3323 多一項(xiàng)AB級(jí)規(guī)定: AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)： f 10db 2/3GB/T3323比JB/T4730多一項(xiàng)對(duì)裂紋檢出的規(guī)定: 用A級(jí)技術(shù)時(shí)，若須檢出平面型缺陷，則最小距離fmin應(yīng)與B級(jí)同，以使Ug減半。對(duì)裂紋敏感性大的材料有更為嚴(yán)格的技術(shù)要求的，應(yīng)使用靈敏度比B級(jí)更優(yōu)的技術(shù)進(jìn)行透照。焦距F和工件表面至膠片距離b對(duì)小缺陷對(duì)比度的影響歐洲學(xué)者描述幾何因素對(duì)小缺陷對(duì)比度的影響當(dāng)缺陷寬度W小于幾何不清晰度Ug，缺陷對(duì)比度將減少：C=C0 UgW（3-13a）C=C0W/Ug UgW（3-13b）式中：C0影像初始對(duì)比度； W

20、缺陷寬度。焦距F和工件表面至膠片距離b對(duì)小缺陷對(duì)比度的影響W為到達(dá)膠片P點(diǎn)的射線在缺陷位置平面上的截距，W=dfL2/（L1+L2) 當(dāng)缺陷寬度W W時(shí)，缺陷本影消失。 =0 WW =0 W / W WWUg是W 的近似圖3-18 W的幾何意義缺陷的本影消失，影像只由半影構(gòu)成，對(duì)比度將顯著下降。 圖3-2 射線照相幾何條件對(duì)小缺陷對(duì)比度的影響23、射線照相曝光量JB/T4730規(guī)定了各技術(shù)級(jí)別射線照相曝光量：當(dāng)焦距為700mm時(shí)，曝光量的推薦值為：A級(jí)和AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)不小于15mAmin；B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)不小于20mAmin。當(dāng)焦距改變時(shí)可按平方反比定律對(duì)曝光量的推薦值進(jìn)行換算。GB/T3

21、323未規(guī)定射線照相曝光量。24、射線照相曝光量GB/T3323與JB/T4730基本一致：GB/T3323：用射線照相時(shí)，射源到位的往返傳送時(shí)間應(yīng)不超過(guò)總的曝光時(shí)間的10%。JB/T4730：采用射線源透照時(shí), 總的曝光時(shí)間應(yīng)不少于輸送源往返所需時(shí)間的10倍。25、散射線控制GB/T3323提出使用鉛光闌和濾板。為減少散射線的影響，應(yīng)利用鉛光闌等將照射線盡量限制在被檢區(qū)段；采用Ir 192和 Co 60射源或有邊緣散射時(shí)，可將鉛箔或薄鉛板插在工件與暗袋之間，作為低能散射線的濾板。按透照厚度的不同，此濾板厚度可為0.52。JB/T4730：應(yīng)采用金屬增感屏、鉛板、濾波、準(zhǔn)直器等適當(dāng)措施，屏蔽散

22、射線和無(wú)用射線，限制照射場(chǎng)范圍。背散射監(jiān)控背散射監(jiān)控GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本一致。 對(duì)背散射監(jiān)控采用ASME在暗盒背面貼附“B”鉛字標(biāo)記方法。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B”字影象，則說(shuō)明背散射防護(hù)不夠；若底片上不出現(xiàn) “B”字影象或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影象，則說(shuō)明背散射防護(hù)符合要求。GB/T3323每當(dāng)采用新的透照布置時(shí)，應(yīng)在每個(gè)暗袋后背貼上鉛標(biāo)記“B”,以此驗(yàn)證背散射的存在與否。 JB/T4730對(duì)初次制定的檢驗(yàn)工藝或檢驗(yàn)工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變時(shí), 應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查。 26、像質(zhì)計(jì)的使用像質(zhì)計(jì)放置原則、各種透照方式像質(zhì)計(jì)放置位置、數(shù)量、單壁透

23、照中像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)要進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)、像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)應(yīng)放置鉛字“F” 標(biāo)記，以及像質(zhì)計(jì)的識(shí)別等方面，GB/T3323與JB/T4730基本一致。GB/T3323與JB/T4730在像質(zhì)計(jì)的使用方面存在的差異：（1）GB/T3323有孔型像質(zhì)計(jì)使用的規(guī)定，JB/T4730沒有；（2）JB/T4730規(guī)定：小徑管可選用專用（等徑金屬絲）像質(zhì)計(jì)， GB/T3323沒有采用等徑像質(zhì)計(jì)；（3）JB/T4730規(guī)定：小徑管照相，無(wú)論通用型像質(zhì)計(jì)還是專用（等徑金屬絲）像質(zhì)計(jì)，金屬絲都應(yīng)橫跨焊縫放置。而GB/T3323的規(guī)定是：小徑管照相，金屬絲應(yīng)平行焊縫放置。（4）JB/T4730對(duì)球罐焊縫全景曝光允

24、許減少使用象質(zhì)計(jì)數(shù)量作出規(guī)定：球罐焊縫采用源置于球心全景曝光時(shí)，至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置3個(gè)象質(zhì)計(jì)，在南北極板拼縫上各放置1個(gè)象質(zhì)計(jì)。GB/T3323未作規(guī)定。27、標(biāo)記GB/T3323規(guī)定：為保證底片可準(zhǔn)確定位工件表面應(yīng)作出永久性標(biāo)記，為保證相鄰區(qū)域搭接，射線底片應(yīng)能出現(xiàn)搭接標(biāo)記。JB/T4730規(guī)定：透照部位的標(biāo)記由識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。識(shí)別標(biāo)記一般包括：產(chǎn)品編號(hào)、焊縫編號(hào)、部位編號(hào)和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標(biāo)記,擴(kuò)大檢驗(yàn)比例的透照還應(yīng)有擴(kuò)大檢驗(yàn)標(biāo)記。定位標(biāo)記主要是搭接標(biāo)記,需要時(shí)還可采用中心標(biāo)記。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢驗(yàn)時(shí)的透照分段標(biāo)記，可用符號(hào)“

25、”或其他能顯示搭接情況的方法表示。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號(hào)的方向,一般用十字箭頭“ ”表示。JB/T4730與GB/T3323關(guān)于標(biāo)記的規(guī)定的主要差別（1） JB/T4730明確了識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記，具體要求了識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記的內(nèi)容，GB/T3323只籠統(tǒng)要求底片的標(biāo)記和搭接標(biāo)記。（2） JB/T4730規(guī)定了擴(kuò)大檢測(cè)比例的透照標(biāo)記，GB/T3323沒有。（3）JB/T4730規(guī)定中心標(biāo)記用十字箭頭表示。搭接標(biāo)記用符號(hào)“” 表示，GB/T3323沒有。28、透過(guò)底片的亮度GB/T3323規(guī)定：觀片燈亮度應(yīng)保證底片透過(guò)亮度不低于30cd/m2，盡量達(dá)到100cd/m2JB/

26、T4730規(guī)定： 底片黑度 D2.5時(shí)，透過(guò)底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m2；底片黑度 D2.5時(shí),透過(guò)底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m2。GB/T3323規(guī)定不符合實(shí)際人眼影像識(shí)別能力試驗(yàn)表明：透過(guò)底片的光亮度超過(guò)30cd/m2時(shí)，人眼對(duì)底片上影像有很好的識(shí)別能力；當(dāng)透過(guò)底片的光亮度低于10cd/m2時(shí)，人眼對(duì)底片上影像識(shí)別能力隨著透過(guò)底片的光亮度減弱急劇下降。觀察高黑度底片，要求透過(guò)底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度不低于30cd/m2，觀片燈亮度達(dá)不到，例如黑度 D=4.0底片就要求觀片燈亮度達(dá)到300000cd/m2，而目前國(guó)內(nèi)外的各種觀片燈亮度都達(dá)不到30萬(wàn)cd/m2這樣的水平，

27、最亮的觀片燈其亮度大致在7萬(wàn)至8萬(wàn)cd/m2之間。國(guó)內(nèi)人眼影像識(shí)別能力試驗(yàn)數(shù)據(jù)：人眼底片影像最佳識(shí)別感覺是透過(guò)底片亮度在6070cd/m2。透過(guò)底片的亮度要求的背景資料各種標(biāo)準(zhǔn)對(duì)透過(guò)底片的亮度要求（1）IIS/IIW-335-69、ISO 2504:1973：30cd/m2，盡量達(dá)到 100cd/m2 或更高。（2）BS 2600-1:1983 30cd/m2。（3）DIN 54116-1:1973、ISO 5580:1985、EN 25580:1992、ASTM E1390-2000： D2.5時(shí)，30cd/m2 ； D 2.5時(shí)，10cd/m2； 盡量達(dá)到 100cd/m2 或更高。一組試

28、驗(yàn)結(jié)果最佳亮度：透過(guò)光強(qiáng)在30cd/m2以上評(píng)片靈敏度較高,對(duì)缺陷的敏感性較強(qiáng),當(dāng)透過(guò)光強(qiáng)達(dá)到60-75cd/m2時(shí)多數(shù)評(píng)片人員感覺最佳;評(píng)片效果：透過(guò)底片的亮度為2 cd/m2時(shí),對(duì)于B25底片,裂紋漏評(píng)9條次;對(duì)于B28底片,裂紋漏評(píng)12條次;透過(guò)底片的亮度為10 cd/m2時(shí),對(duì)于B25底片,裂紋漏評(píng)2條次;對(duì)于B28底片,裂紋漏評(píng)4條次;透過(guò)底片的亮度為30 cd/m2時(shí),對(duì)于B25底片,裂紋漏評(píng)0條次;對(duì)于B28底片,裂紋漏評(píng)3條次;29、底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度GB/T3323： A 級(jí)：2.0；B 級(jí)：2.3；（經(jīng)合同各方商定，可降為1.5和2.0）JB/T473

29、0：A 級(jí)：1.5D4.0；AB級(jí)：2.0D4.0 ；B 級(jí)：2.3D4.0。（用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí)，AB級(jí)最低黑度允許降至1.5；B級(jí)最低黑度可降至2.0。對(duì)黑度D4.0的底片，如觀片燈能保證底片亮度滿足要求，允許進(jìn)行評(píng)定。 ）29、底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度JB/T4730A級(jí)黑度允許值低于GB/T3323A級(jí)；JB/T4730AB級(jí)與GB/T3323A級(jí)黑度允許值比較：JB/T4730規(guī)定：只有在使用X射線，透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí)，AB級(jí)最低黑度允許降至1.5。而GB/T3323規(guī)定是：經(jīng)合同各方商定，A級(jí)可降為1.5。應(yīng)該說(shuō)JB/T4730規(guī)定更嚴(yán)一

30、些。GB/T3323未規(guī)定底片黑度上限，JB/T4730規(guī)定底片黑度上限為4.0，從當(dāng)前國(guó)內(nèi)外各種觀片燈亮度來(lái)看，底片黑度超過(guò)4.0是有問題的。30、關(guān)于多膠片技術(shù)GB/T3323規(guī)定：對(duì)截面厚度均勻的工件，不得用多膠片法來(lái)減少曝光時(shí)間。用多膠片透照，而用單張底片觀察評(píng)定時(shí)，每張底片的黑度應(yīng)滿足表4規(guī)定。用多膠片透照，且用兩張底片重迭觀察評(píng)定時(shí)，單張底片的黑度應(yīng)1.3。 JB/T4730.2規(guī)定：用多膠片方法時(shí)，單片觀察的黑度應(yīng)符合以上要求。雙片疊加觀察僅限于A級(jí)，疊加觀察時(shí)，單片的黑度應(yīng)不低于1.3。30、關(guān)于多膠片技術(shù)說(shuō)明：GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本一致 （1）單片觀察和雙片疊加觀察的底片黑度值兩標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定一致。（2）JB/T4730規(guī)定：“雙