LabVIEW的三極管老化測試系統(tǒng)設計

1、【W(wǎng)ord版本下載可任意編輯】 LabVIEW的三極管老化測試系統(tǒng)設計 針對一些功率器件(功率三極管、VDMOS,IGBT等),通過有規(guī)律給元器件通電和斷電,循環(huán)施加電應力和熱應力,可以檢驗其承受循環(huán)應力的能力。基于上述原理,借助可視化編程語言LabVIEW和NI系列sb RIO-9612板卡,本文設計了一種三極管老化測試系統(tǒng),該系統(tǒng)滿足國軍標GJB1036的試驗要求,每個工位的采樣時間不大于4s,總共64工位的采樣周期不大于300s,滿足了快速控制的要求,同時還不失精準,電壓和電流的采樣分辨率到達了12 bit,精度到達1%,從而控制了器件結溫誤差。目前系統(tǒng)已經(jīng)交付運行,實驗結果到達了用戶的

2、需求,具有很高的實用價值。 隨著航空，航天，能源工業(yè)等領域?qū)﹄娮赢a(chǎn)品質(zhì)量的要求日益提高，電子產(chǎn)品的可靠性問題受到越來越廣泛的重視。電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同環(huán)境條件，在熱脹冷縮的應力作用下，熱匹配性能力差的電子元器件就容易失效，導致電子產(chǎn)品故障，造成巨大的人力和財力損失。電子元器件的老化測試就是仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài)，通過測試，將不符合器件剔除，將電子產(chǎn)品的質(zhì)量在加工初期開展有效地控制，以保證電子產(chǎn)品使用的可靠性和穩(wěn)定性。 針對電子元器件的這種情況，我們開發(fā)了一種老化測試系統(tǒng)，可以主要針對功率器件(功率三極管、VDMOS，IGBT等)，通過有規(guī)律給元器件通電和斷電，循環(huán)施加電應力和熱應

3、力，檢驗其承受循環(huán)應力的能力。 1 工作原理 通過給晶體管通電加熱，使晶體管在當前恒定功率下工作，通過一段時間后，晶體管因為發(fā)熱而使得器件的結溫持續(xù)升高，到達設定值后，斷開恒流源和恒壓源，給器件通風，使其溫度降低到設定值，反復這個過程，就可以較為準確的算出該器件的加熱時間和冷卻時間，到達了間歇測試的目的?；镜墓ぷ髟韴D如1所示。 半導體器件的熱阻通常定義為： 其中RJX=器件結點到具體環(huán)境的熱阻(替代符號是JX); TJ=穩(wěn)定狀態(tài)測試條件下的器件結溫; TX=環(huán)境的參考溫度; PH=設備功耗; 測試條件下器件結溫可表示為： Tj=TJ0+TJ 其中TJ0=器件加熱前的初始結溫; TJ=器件結

4、溫變化量 通過溫度敏感參數(shù)(TSP)來表示結溫變化量，公式為： TJ=KTSP 其中TSP=溫度敏感參數(shù)的變化量; K=定義TJ和TSP變化關系的常量; 溫度敏感參數(shù)可表示為： TSP=Ie-4Vce 其中Ie=冷卻測量時刻加的恒流源值; Vce=器件的結電壓值; K系數(shù)為結溫隨結電壓的變化關系，固定器K件系數(shù)為常量，不同器件K的系數(shù)不同，可在試驗器件的資料中查出，或者廠家給出。其計算公式可表示為： 其中TJ1和TJ2為兩個時刻的結溫，Vce1和Vce2為結溫對應的結電壓。 2 系統(tǒng)架構 系統(tǒng)采用PC機+sbRIO-9612+主控板+驅(qū)動板+老化板的構造，如圖2所示，PC和9612之間通過網(wǎng)口

5、通信，9612與主控板之間通過數(shù)字I/O口通信，sbRIO-9612，主控板，驅(qū)動板供電都是由開關穩(wěn)壓電源完成，程控電源為老化板上的器件提供工作電源，16路差分AD用于采集老化板上待測器件的電流，電壓以及電源溫度等信號。系統(tǒng)使用sbRIO-9612加擴展板構成下位機，作為系統(tǒng)的主控板;主控板與驅(qū)動板采用總線通訊，驅(qū)動板主要功能是將主控板進來的20對差分信號轉(zhuǎn)換后(硬件實現(xiàn))給驅(qū)動板FPGA，用20路信號與sbRIO-9612實現(xiàn)通信，sbRIO-9612通過控制FPGA中的存放器來實現(xiàn)電源、恒流源、漏/源的通斷，從而建立功率循環(huán)及合適的采樣條件，硬件示意圖如3所示。 驅(qū)動板和老化板分別采用兩個

6、對接座連接，電流電壓采樣信號回傳到sbRIO-9612板上開展AD變換后發(fā)送到上位機。 3 工作流程及實現(xiàn) 3.1 LabVIEW簡介 LabVIEW是一個程序開發(fā)環(huán)境。它使用圖形化編程語言G在流程圖中創(chuàng)立源程序，LabVIEW FPGA模塊將LabVIEW圖形化開發(fā)平臺擴展到基于NI可重配置I/O(RIO)架構的硬件平臺上的現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)。 3.2 工作流程 工作開始，上位機按照TCP/IP協(xié)議將控制命令發(fā)送給sbRIO-9612，接收到指令后，根據(jù)上位機操作，sbRIO-9612將相應指令和相關參數(shù)下發(fā)到主控板，主控板控制驅(qū)動板執(zhí)行指令，進而控制老化板執(zhí)行相關操作。 sbRI

7、O-9612主要由兩大部分組成，即FPGA部分和RT部分;在工作的劃分上，由于系統(tǒng)對速度的要求，其中風扇控制，程控電源控制，溫度頻率量讀取，ADC采集，DAC發(fā)數(shù)，差分數(shù)據(jù)傳輸?shù)饶K分配到速度很快的FPGA部分執(zhí)行，而速度稍慢的RT部分主要實現(xiàn)的是上位機指令的解析，老化工作控制和下位機向上位機的數(shù)據(jù)傳輸工作的開展。LabVIEW FPGA工作流程圖如圖4所示。 3.3 工作過程的實現(xiàn) 3.3. 1 綜述 工作開始前，先連接下位機，連接成功后，調(diào)用自檢模塊，對將要做老練測試的老化板開展自檢，自檢成功后，上位機將參數(shù)下發(fā)到下位機，然后下發(fā)開始控制命令，下位機輪詢每塊板子的控制命令字，板子開始工作后

8、，將工作需要的加熱電流和測量電流以及程控電壓等通過串行數(shù)據(jù)傳輸模塊下發(fā)到驅(qū)動板，通過驅(qū)動板加載到相應的老化板上，給器件加熱，記錄此時的時間，即為加熱開始時刻，當前時刻與加熱開始時刻之差大于等于開時間的時候，停止加熱，打開風扇，記錄加熱結束時刻，開始AD采集，根據(jù)采集的電流和電壓計算出結溫，將數(shù)值傳回上位機，上位機根據(jù)溫度變化繪出一條曲線。當前時刻與加熱結束時刻之差大于等于關時間時，冷卻完成并結束測量，進入下循環(huán)，循環(huán)次數(shù)到達后，將此板子置于空閑狀態(tài)。 3.3.2 精度和切換速度的實現(xiàn) 1)高速ADC采集 SbRIO-9612上集成有AD采集芯片，16位的AD可以保證其采樣分辨率到達1，同時，4

9、s的轉(zhuǎn)換時間，保證了AD的采樣速度;為了消除共模噪聲的影響，將32路AD轉(zhuǎn)換為16路的差分輸入，采集時每次每個通道連續(xù)取8個數(shù)值求均值為本次采集的結果，同時配合老化板中采用的高速開關開展切換，保證了采集數(shù)據(jù)的精度要求。下列圖是在設定的10 mA的測量電流和12 V的程控電壓，通過LabVIEW顯示出當前NMOS管(型號為IRFP460)的結電壓和當前時刻測量得到的管子結溫，室溫通過安裝在每塊老化板上的溫度傳感器得出為17.3 20 6攝氏度，從圖5中看出，AD采集回來的16通道的值都在小數(shù)點三位后開始波動，保證了計算得到的Vf的值在小數(shù)點后二位開始波動。 系統(tǒng)在加熱狀態(tài)切入到測量狀態(tài)后20s內(nèi)

10、可完成所有工位結電壓的采集，為到達快速采集要求，編寫程序時候，考慮到ADC高實時性問題，將采集部分分配到sbRIO-9612的FPGA上完成，sbRIO-9612的Onboard Clock為40 MHz，即0.025s的周期，寫FPGA程序時，將ADC采集配置(即開關的切換命令執(zhí)行)和采集數(shù)據(jù)放到順序構造的相鄰的兩幀之間，考慮到開關切換時間，中間加1s的等待，保證數(shù)據(jù)的可靠性，然后開始數(shù)據(jù)采集，ADC采集部分程序如圖6所示。 2)差分數(shù)據(jù)傳輸 此模塊實現(xiàn)sbRIO-9612與FPGA之間的通信，通信方式為總線異步訪問的方式，通過串行DAC方式收發(fā)數(shù)據(jù)，所謂串行DAC，即在一定的時鐘下(時鐘周

11、期為80 MHz)，按照固定的時序開展串行發(fā)數(shù)，先將地址分配到端口，地址總共為六位，即A0-A5，高四位為地址位(控制板號)，低兩位為驅(qū)動板存放器地址;然后將數(shù)據(jù)放到數(shù)據(jù)總線上，數(shù)據(jù)格式為U8，置高WR/RD，然后：DR位置低，保持兩個時鐘周期，DR置高，完成串行DAC寫數(shù)據(jù);同理，讀數(shù)據(jù)時先設置地址總線，WR/RD置低，DR置低，保持兩個時鐘周期，在兩個周期內(nèi)完成數(shù)據(jù)的讀取，DR置高，完成串行DAC讀數(shù)據(jù)。整個通信模塊按照通信協(xié)議，實現(xiàn)了SbRIO-9612對FPGA的控制。 4 實驗結果 在環(huán)境溫度為25，溫升為80，加熱恒流源設置為50 mA，恒壓源設置為5 V，開時間設置為2 300 s，關時間設置為7700 s，定時模式下，每隔50 ms采樣得到結溫圖，如圖9，結束時刻溫度由于周圍溫度升高，基本很難到達初始的25，但是在溫度降低到了誤差允許范圍內(nèi)。圖中，紅線由NMOS管背部貼的傳感器測量得出的溫度變化數(shù)據(jù)繪出，黑線由采