TI利用常用的微控制器設(shè)計(jì)技術(shù)更大限度地提高熱敏電阻

1、【W(wǎng)ord版本下載可任意編輯】 TI利用常用的微控制器設(shè)計(jì)技術(shù)更大限度地提高熱敏電阻 作為支持模擬和數(shù)字溫度傳感器的 應(yīng)用/系統(tǒng)工程師，在工作中經(jīng)常被問到有關(guān)溫度傳感器應(yīng)用的問題。其中有很多是關(guān)于模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）的，由于ADC在系統(tǒng)應(yīng)用中的重要性，我花費(fèi)很多時(shí)間在解釋ADC對系統(tǒng) 有何意義，以及如何理解并實(shí)現(xiàn)所選傳感器的更大系統(tǒng) 上。 溫度傳感器用于大功率開關(guān)電源設(shè)計(jì)中，需要監(jiān)測功率晶體管和散熱器。電池充電系統(tǒng)需要溫度傳感器監(jiān)測電池溫度，以便安全充電并優(yōu)化電池壽命，家庭恒溫器則需要溫度傳感器監(jiān)測房間溫度，以相應(yīng)控制供暖，通風(fēng)和空調(diào)系統(tǒng)。 這些應(yīng)用中，常用的溫度測量方法是使用負(fù)溫度系數(shù)（NT

2、C）熱敏電阻。NTC是電阻器件，其電阻隨著溫度的改變而改變。為了滿足當(dāng)今溫度傳感器需求，一種更新、更高效、更準(zhǔn)確的方法是使用硅基熱敏電阻，它是一種正溫度系數(shù)（PTC）器件。并且PTC不是電阻器件，而是電流模式器件；在電流模式下工作的硅提供基于溫度的線性輸出電壓。 無論您使用NTC還是PTC，您的設(shè)計(jì)都需要一個(gè)ADC和一個(gè)MCU來測量熱敏電阻的電壓輸出。本文的重點(diǎn)是將硅基熱敏電阻與MCU結(jié)合使用帶來的許多優(yōu)勢。我們將探討NTC和PTC熱敏電阻的優(yōu)缺點(diǎn)。 選擇微控制器 MCU選型具有諸多項(xiàng)選擇擇，但很可能在選擇溫度傳感器時(shí)這個(gè)組件已經(jīng)被確定。你可以關(guān)注溫度傳感的ADC外設(shè)的具體情況。 選擇ADC

3、ADC有很多不同的類型。 的兩種為逐次逼近存放器（SAR）和 Delta-Sigma模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器。Delta-Sigma提供高分辨率（8-32位分辨率），但采樣速度較慢。SAR類型 古老、 常見，分辨率為8-18位，采樣速度更快。對于溫度傳感，任意一種ADC都是不錯(cuò)的選擇。 ADC分辨率 ADC的位數(shù)將決定分辨率而非 。分辨率是ADC用來測量施加到ADC管腳的模擬電壓的步長。分辨率的位數(shù)以及參考電壓（VREF）將設(shè)置ADC的步長值。 比方，一個(gè)10位ADC將具有210=1024位，而3.3VDC的VREF將為每個(gè)ADC位提供3.3/1024=0.003226VDC的分辨率。一個(gè)16位ADC將

4、具有65536位的總分辨率，每位分辨率為0.000005035VDC。ADC位數(shù)越多將意味著更高的測量分辨率。 請勿將 與分辨率混淆。分辨率是指能夠看到被測電路值的變化。用于溫度測量的典型ADC的分辨率為12-16位。您會(huì)發(fā)現(xiàn)8位或10位ADC不能提供足夠的分辨率來查看熱敏電阻的 ，且具有較大的溫度步長，通常不可承受。 過采樣以獲得更高分辨率 過采樣是一種平均測量值的方法，可提高分辨率和信噪比。過采樣的工作原理是將多個(gè)帶有噪聲的溫度測量值相加，然后開展平均，得到一個(gè)更 的數(shù)值。每超過8個(gè)過采樣，分辨率將增加2位。16次過采樣會(huì)將10位ADC的總分辨率提高到14位。如果噪聲高于Nyquist頻率

5、，則可在應(yīng)用程序中使用任意數(shù)量的樣本（N份樣本）來獲得設(shè)計(jì)所需的分辨率。Nyquist速率是您期望獲得實(shí)際溫度讀數(shù)的頻率。樣本總數(shù)必須比實(shí)際所需溫度結(jié)果快至少N倍。 在使用過采樣方法時(shí)，在輸入信號中添加一些抖動(dòng)噪聲可改善分辨率誤差。許多實(shí)際應(yīng)用中，噪聲小幅增加可大幅提高測量分辨率。在實(shí)踐中，將抖動(dòng)噪聲置于測量感興趣的頻率范圍之外，隨后可以在數(shù)字域中濾除這些噪聲，從而在感興趣的頻率范圍內(nèi)開展 終的測量，同時(shí)具有更高的分辨率和更低的噪聲。 提供抖動(dòng)噪聲的更佳方法是將熱敏電阻分壓器的Vcc和VREF.分開（將MCU的內(nèi)部VREF用于ADC）。請勿在電阻分壓器電壓檢測線上放置電容器。許多情況下，電路噪

6、聲將足以使電阻分壓器的電壓抖動(dòng)，以求平均值。抖動(dòng)噪聲必須等于4位或更多位振幅。10位具有3.3VDC VREF的ADC將擁有0.0032VDC的電壓步長。抖動(dòng)噪聲必須至少是預(yù)期溫度測量值上下的4位分辨率。10位ADC的 抖動(dòng)噪聲必須高于ADC的 有效位（LSB）+/- 0.0128VDC（0.0256VDC p-p）或更高，以提供必要的電平，從而通過求平均值適當(dāng)提高ADC的位分辨率。 在ADC讀取一個(gè)位值并計(jì)算溫度后，您可將該值存儲(chǔ)在先進(jìn)先出（FIFO）軟件陣列中。當(dāng)新值輸入陣列時(shí)， 舊的樣本將被丟棄，所有其他樣本都將移至下一個(gè)對應(yīng)的單元，從而創(chuàng)立一個(gè)FIFO。該求平均值方法可應(yīng)用于溫度轉(zhuǎn)換過

7、程中使用的任何值，例如溫度、ADC位值、分壓器電壓，甚至計(jì)算得出的電阻。所有這些因素平均下來都將很好地發(fā)揮作用。 定點(diǎn)或浮點(diǎn) 微控制器可在內(nèi)部具有浮點(diǎn)單元硬件，也可具有無需硬件即可開展浮點(diǎn)數(shù)學(xué)運(yùn)算的固件庫。32位非浮點(diǎn)器件的快速例如是Cortex “M4”器件，而帶有浮點(diǎn)的版本將標(biāo)記為“M4F”。與使用定點(diǎn)部件和使用浮點(diǎn)固件庫相比，MCU內(nèi)部具有浮點(diǎn)硬件使計(jì)算速度更快、功耗更低。 具有固定點(diǎn)意味著只能顯示大于零的整數(shù)。例如：如果1 + 1，則得到2，然后取平均值1。如果2 + 1，則得到3，然后取平均值1.5。在定點(diǎn)計(jì)算中，結(jié)果將為“ 1”, 小數(shù)點(diǎn)以下的數(shù)字都不能用1。用固定點(diǎn)測量溫度時(shí)，將

8、只能看到和參考整數(shù)的溫度，即22C，23C，24C。浮點(diǎn)可顯示更高分辨率的溫度，即22.1C或22.15C。使用浮點(diǎn)數(shù)既可更輕松計(jì)算溫度，也可使用帶有插值的查找表。您可使用具有單位數(shù)分辨率的定點(diǎn)查找表，分辨率為一位數(shù)，這對于許多應(yīng)用程序是可承受的。 選擇熱敏電阻 熱敏電阻有兩種類型，基本的NTC和PTC熱敏電阻。通常會(huì)將它們混為一談，被認(rèn)為是同一類型的器件。這并不正確。NTC是一種隨溫度變化的電阻裝置。如圖1的分壓器電路圖中所示，在熱敏電阻頂部放置一個(gè)電阻并施加穩(wěn)定的電壓。溫度變化時(shí)，熱敏電阻中的電阻也會(huì)發(fā)生變化，從而改變頂部電阻兩端的壓降。分壓電阻器中心的輸出為模擬電壓，將由ADC測量。 熱

9、敏電阻 圖1： 分壓電路實(shí)現(xiàn) PTC是一種基于電流工作的硅器件。隨著溫度變化，傳導(dǎo)電流也隨之發(fā)生變化。大多數(shù)PTC的工作都使用恒流源開展，如圖2所示。電流改變時(shí)，由電流源提供的電壓改變。 熱敏電阻 圖2： 恒流電路實(shí)現(xiàn) ADC測量電壓的變化，并將測量值轉(zhuǎn)換為溫度。 你也可以使用PTC，就像NTC熱敏電阻與RBias電阻一樣，見圖1。頂部電阻將如同電流源一樣工作。與相同條件下的NTC相比，PTC通常對溫度變化具有更好的熱敏性，且對較小的變化更敏感。PTC的另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是：它們在Vtemp 連接處具有線性輸出，如下列圖3所示，因此更易于校準(zhǔn)。這也使零件在整個(gè)溫度范圍內(nèi)都更加 。 圖3： PTC熱敏電

10、阻線性電阻斜率 NTC具有類似于下面圖4所示的非線性輸出，且可能需要在溫度室內(nèi)開展三點(diǎn)校準(zhǔn)，以允許斜率補(bǔ)償和偏移誤差調(diào)整，從而在整個(gè)溫度范圍內(nèi)保持 。NTC的非線性斜率無法在未校準(zhǔn)的情況下在整個(gè)溫度范圍內(nèi)提供穩(wěn)定的溫度信息。 耐溫度特性 電阻（） 溫度（） 典型的NTC 圖4： NTC熱敏電阻非線性電阻斜率 在正常條件下，NTC可以使用具有適當(dāng)溫度分辨率的12位ADC，尤其是在較冷溫度下，但是PTC通常需要14位ADC才能獲得足夠的分辨率，以查看溫度步長，從而顯示出 PTC的實(shí)際 。對于所有溫度范圍內(nèi)的PTC都是如此，但NTC將需要一個(gè)14位ADC來測量60C以上的較高溫度。 在PTC頂部增加

11、一個(gè)RBias電阻會(huì)減小PTC的動(dòng)態(tài)范圍。較低的動(dòng)態(tài)范圍使ADC的電壓反應(yīng)降低，這就是PTC需要14位ADC分辨率的原因。但是，由于PTC的線性斜率，較低的動(dòng)態(tài)范圍將導(dǎo)致較大的溫度誤差測量。室溫下的單點(diǎn)偏移將在整個(gè)溫度范圍內(nèi)校準(zhǔn)PTC。對于基于PTC的系統(tǒng)，在整個(gè)溫度范圍內(nèi)，這將使溫度測量比典型的（同等指定的）基于NTC的系統(tǒng)更加 。 比率度 比率度是描述捕獲的ADC值的術(shù)語。該值可與輸入和/或電源電壓的變化成比例地變化。當(dāng)提供應(yīng)溫度感測電路的分壓器的VCC電源也提供用于VREF的電壓時(shí)（如下面圖5所示），則稱其為比率度。VCC的任何變化都將在分壓器和VREF處同等同時(shí)變化，從而影響ADC的測

12、量值，讓這些源之間的潛在差分誤差 。 比率度方法可以增加系統(tǒng)中的總 。在實(shí)現(xiàn)不使用平均或過采樣的基于熱敏電阻的溫度傳感器時(shí)，為分壓器和ADC的VREF使用相同的電源非常重要。 熱敏電阻 圖5：比率度，由同一電源供電的電阻分壓器和VREF供電 濾波 在大多數(shù)情況下，無需在分壓器上使用電容器，在使用單端ADC的比率法時(shí)也不應(yīng)使用。對于差分的VREF/ADC輸入，您通常會(huì)在ADC輸入和VREF輸入之間放置一個(gè)電容。使用比率度方法時(shí)，對Vtemp 開展濾波將改變感測線上的電壓響應(yīng)，但不會(huì)改變ADC VREF 的電壓響應(yīng)。因此，增加一個(gè)濾波器會(huì)增加輸入到電阻分壓器的VREF 和VCC之間的差值，并增加誤

13、差。 不使用比率度方法時(shí)，可以使用在分壓器處增加電容來濾除電壓，以消除噪聲和電壓變化，否則會(huì)在測量中產(chǎn)生誤差。添加一個(gè)電容器來濾除VREF也是一個(gè)不錯(cuò)的方法。有時(shí)，VREF 是內(nèi)部的，無需額外濾波。如果在Vtemp線上添加電容器，則會(huì)增加對溫度變化的響應(yīng)時(shí)間。如果測得的溫度響應(yīng)緩慢且無需立即采取措施，則濾波器可能會(huì)有所幫助。 另一種濾波器解決方案是在電阻分壓器頂部的VCC處增加一個(gè)電容器，以濾除系統(tǒng)中的噪聲以開展溫度測量。如果使用比率度，則在VREF 上添加相同的電容器，以使兩個(gè)電源的電壓變化保持一致。 緩沖器和放大器 放大器可用于增加熱敏電阻的動(dòng)態(tài)范圍。所有運(yùn)算放大器都有潛在的失調(diào)誤差和增益

14、誤差。選擇對 和失調(diào)影響 的運(yùn)算放大器需要付出更多努力。校正失調(diào)和增益誤差所需的校準(zhǔn)可能比升級到更高質(zhì)量的ADC的成本更高。 一些MCU具有內(nèi)部運(yùn)算放大器。許多DS ADC具有集成的PGA，正是為了這個(gè)目的（緩沖/增益）。一些SAR ADC也有這些功能。 有時(shí)會(huì)使用單位增益緩沖器來防止下垂或加載到電阻分壓器電路。當(dāng)ADC對熱敏電阻分壓器電路開展采樣時(shí)，來自ADC的浪涌電容會(huì)導(dǎo)致測量時(shí)幾毫伏的電壓下降。如果在ADC中具有足夠的分辨率，則會(huì)在溫度測量中觀察到這是一個(gè)錯(cuò)誤。如果直接在ADC管腳上增加一個(gè)等于ADC電容10倍的電容器，則無需使用緩沖器就可以補(bǔ)償ADC電容的浪涌電流。典型的ADC電容為3

15、pF-20pF。 在ADC管腳附近添加一個(gè)30pF 200pF的電容，這是一個(gè)很好的解決方案。它將對熱敏電阻的測量或熱響應(yīng)的影響降至 。 漂移 由于PTC熱敏電阻使用硅作為其根底材料且具有線性斜率，因此，流經(jīng)PTC的電流隨時(shí)間和溫度變化具有非常低的漂移。另一方面，NTC通常對所用材料的電阻具有溫度依賴性，且在高溫下會(huì)隨時(shí)間變化。NTC具有一個(gè)beta值，可定義整個(gè)溫度范圍內(nèi)的TCR / PPM，且PPM隨時(shí)間變化。 從ADC導(dǎo)出溫度 NTC熱敏電阻溫度是基于器件的電阻。許多設(shè)計(jì)人員使用查找表尋找特定溫度下的電阻。然后通過插值計(jì)算每個(gè)1C溫度步長之間的實(shí)際溫度。為了更大程度地減少查找表的大小，您

16、可使用5C的查找表，但是內(nèi)插誤差會(huì)高一些。對于大多數(shù)設(shè)計(jì)人員而言，0.5C的 已足夠，因此帶有插值的5C查找表就已足夠。 PTC基于流經(jīng)零件的實(shí)際電流，通常由公式定義。PTC基于三階或四階多項(xiàng)式。四階多項(xiàng)式的 曲線擬合（R2）為1.0000至0.9999，以提供溫度信息。Steinhart Hart方程可由NTC和PTC使用，并采納使用自然對數(shù)來計(jì)算溫度的三階多項(xiàng)式。Steinhart Hart方程式已為更多設(shè)計(jì)人員所認(rèn)可，因?yàn)槎嗄昵捌?初為NTC創(chuàng)立。如今，大多數(shù)高 PTC都依賴于四階多項(xiàng)式。 校準(zhǔn) 所有NTC和PTC都需要校準(zhǔn)才能 ?？少徺I一些具有更嚴(yán)格公差和Beta值的NTC。這似乎可以

17、消除校準(zhǔn)。但是，熱敏電阻不是系統(tǒng)中 的組件。頂部電阻具有容差，且在整個(gè)溫度范圍內(nèi)具有PPM，VCC在電壓以及溫度范圍內(nèi)存在電壓誤差。系統(tǒng)總 可能超出預(yù)期范圍，且 可能并不能到達(dá)期望。 NTC通常需要開展三點(diǎn)校準(zhǔn)以調(diào)整斜率誤差，且需要開展偏移以校正總偏移誤差。 因此，這需要溫度箱和時(shí)間來收集整個(gè)溫度的誤差。首先，由于硅的工藝偏差，PTC將具有較大的偏移誤差，但是可通過單個(gè)偏移調(diào)整在整個(gè)溫度范圍內(nèi)對其開展校正。大多數(shù)情況下，在組裝的 終編程過程中，偏移調(diào)整可于室溫下開展，且無需溫度箱或時(shí)間來開展校準(zhǔn)。 結(jié)論 NTC和PTC因零件數(shù)量少、成本低都易于實(shí)現(xiàn)。但是，NTC可能將需要更昂貴的校準(zhǔn)方法，且隨時(shí)間推移具有更高