基本原理與質譜儀

1、基本原理與質譜儀第1頁，共11頁，2022年，5月20日，12點24分，星期二一、 質譜分析原理進樣系統(tǒng)離子源質量分析器檢測器1.氣體擴散2.直接進樣3.氣相色譜1.電子轟擊2.化學電離3.場致電離4.激光 1.單聚焦 2.雙聚焦 3.飛行時間4.四極桿 質譜儀需要在高真空下工作：離子源（10-3 10 -5 Pa ） 質量分析器（10 -6 Pa ）(1) 大量氧會燒壞離子源的燈絲；(2) 用作加速離子的幾千伏高壓會引起放電；(3) 引起額外的離子分子反應，改變裂解模型，譜圖復雜化。第2頁，共11頁，2022年，5月20日，12點24分，星期二原理與結構電離室原理與結構儀器原理圖第3頁，共1

2、1頁，2022年，5月20日，12點24分，星期二質量分析器原理在磁場存在下，帶電離子按曲線軌跡飛行； 離心力 =向心力；m 2 / R= H0 e V曲率半徑： R= (m ) / e H0 質譜方程式：m/e = (H02 R2) / 2V離子在磁場中的軌道半徑R取決于： m/e 、 H0 、 V改變加速電壓V, 可以使不同m/e 的離子進入檢測器。質譜分辨率 = M / M （分辨率與選定分子質量有關）加速后離子的動能 :(1/2)m 2= e V = (2V)/(m/e)1/2第4頁，共11頁，2022年，5月20日，12點24分，星期二四極桿質量分離器第5頁，共11頁，2022年，5

3、月20日，12點24分，星期二二、儀器與結構第6頁，共11頁，2022年，5月20日，12點24分，星期二三、聯用儀器儀器內部結構第7頁，共11頁，2022年，5月20日，12點24分，星期二聯用儀器（ THE GC/MS PROCESS ）SampleSample 58901.0 DEG/MINHEWLETTPACKARDHEWLETTPACKARD5972AMass Selective DetectorDCBA ABCDGas Chromatograph (GC)Mass Spectrometer (MS)SeparationIdentificationBACD第8頁，共11頁，2022年，5月20日，12點24分，星期二聯用儀器（ THE LC/MS PROCESS ）第9頁，共11頁，2022年，5月20日，12點24分，星期二聯用儀器Figure . API - Ion Trap Interface (Esquire-LC)第10頁，共11頁，2022年，5月20日，12點24分，星期二 內容選擇：第一節(jié) 基本原理與質譜儀第二節(jié) 離子峰的主要類型 第