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文檔簡介
1、86/86無損檢測通用工藝規(guī)程編制: 審核: 批準: 日期: 目 錄第1章 編制講明 .3第2章 射線檢測通用工藝規(guī)程 .5第3章超聲波檢測通用工藝規(guī)程 .21 第1節(jié) 承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測及質(zhì)量分級.24 第2節(jié) 承壓設(shè)備鋼板超聲檢測及質(zhì)量分級.29 第3節(jié) 承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測及質(zhì)量分級.32第4章磁粉檢測通用工藝規(guī)程 .35第5章滲透檢測通用工藝規(guī)程 39第6章 工藝卡附表.44 第1節(jié) 射線檢測工藝卡.44第2節(jié) 超聲檢測工藝卡45 第3節(jié) 磁粉檢測工藝卡46第4節(jié) 滲透檢測工藝卡47第一章 編制講明1.1 范圍本規(guī)程規(guī)定了對金屬原材料、零部件和焊接接頭進行射線檢測、超聲檢
2、測、磁粉檢測、滲透檢測的差不多要求。本規(guī)程適用于本公司鋼制壓力容器產(chǎn)品的無損檢測工作。1.2 引用標準和編制依據(jù)下列標準包含的條文,通過在本規(guī)程中引用而構(gòu)成本規(guī)程的條文,在規(guī)程出版時,所有版本均為有效。所有標準都會被修訂,使用本規(guī)程的各方應(yīng)探討使用下列標準最新版本的可能性。壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程(1999年版)GB150-1998 鋼制壓力容器GB151-1999 管殼式換熱器JB/T4730.14730.6-2005 承壓設(shè)備無損檢測特種設(shè)備無損檢測人員資格考核實施細則放射衛(wèi)生防護差不多標準Q/JS.YLRQ-2008質(zhì)量保證手冊1.3 人員資格及職責(zé)1.3.1從事無損檢測的人員必須持有國
3、家質(zhì)量監(jiān)察機構(gòu)頒發(fā)的并與其工作相適應(yīng)的資格等級1.3.2從事無損檢測的人員校正視力不得低于5.01.3.3檢測人員1.3.4評片人員的視力應(yīng)每年檢查一次,要求距離400mm能讀出0.5mm1.3.51.3.3 無損檢測責(zé)任工程師的職責(zé)見崗位職責(zé)。1.4 無損檢測方法使用原則1.4.1 射線和超聲檢測要緊用于承壓設(shè)備的內(nèi)部缺陷的檢測;磁粉檢測要緊用于鐵磁性材料制承壓設(shè)備的表面和近表面缺陷的檢測;滲透檢測要緊用于非多孔性金屬材料和非金屬材料制承壓設(shè)備的表面開口缺陷的檢測。1.4.2 鐵磁性材料表面檢測時,宜采納磁粉檢測。1.4.3 當(dāng)采納兩種或兩種以上的檢測方法對承壓設(shè)備的同一部位進行檢測時,應(yīng)按
4、各自的方法評定級不。1.4.4 采納同種檢測方法按不同檢測工藝檢測時,假如檢測結(jié)果不一致,應(yīng)以危險度大的評定級不為準。第2章 射線檢測通用工藝規(guī)程2.1 適用范圍2.1.1本規(guī)程適用于母材厚度2-400mm2.1.2射線檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝的有關(guān)標準及設(shè)計圖樣規(guī)定。當(dāng)技術(shù)條件沒有注明時,承壓設(shè)備及受壓元件焊接接頭的射線檢測,一般采納NB/T47013.2-20152.1.32.2 檢測時機2.2.1當(dāng)被探工件表面溫度402.2.2有延遲裂紋傾向的材料至少應(yīng)在焊接完成24小時后才能進行檢測。2.3 表面要求2.3.1焊縫及離其邊緣30mm范圍內(nèi)不能有掩蓋缺陷或與之相混淆的表面缺陷,如
5、弧坑、凹陷、焊瘤、高度突變的焊波、飛濺、溶渣,嚴峻的機械損傷。2.3.2焊接接頭須經(jīng)焊接檢查員檢查合格,并在檢測托付單上簽名確認。2.4 檢測設(shè)備及儀器2.4.1 一般情況下盡量選用射線探傷機透照,且至少應(yīng)有10%的管電壓余量,當(dāng)射線探傷機穿透力難以達到要求或擺放有困難時,可選用射線探傷機透照。2.4.2 觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評片的要求。2.4.3 黑度計可測的最大黑度應(yīng)不小于4.5,測量值的誤差應(yīng)不超過0.05。每一班工作前應(yīng)進行驗證,每6個月參照NB/T47013.2-2015附錄B的規(guī)定校驗一次,并作好記錄。2.5 膠片和增感屏的預(yù)備2.5.12.5.2用X射線探傷機透照時,一般采納
6、前屏為0.03mm,后屏為2.52.52.6像質(zhì)計的選用及放置2.6.1線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合JB/T7902的規(guī)定,JB/T7902中未包含的絲號、線徑等內(nèi)容,應(yīng)符合HB7684的有關(guān)規(guī)定。2.6.2像質(zhì)計按透照厚度選用NB/T47013.2-2015表1、表2、表3選用表1 像質(zhì)計靈敏度值 單壁透照、像質(zhì)計置于源測應(yīng)識不絲號(絲徑,mm)公稱厚度(T)范圍,mmA級AB級B級182.5172.02.02.0162.02.03.546152.03.53.55.068143.55.05.07812135.077101220127101015203011101515253035101525
7、253235459253232404565832404055651207405555851202006558585150200350585150150250350415025025035032503503502350表2 像質(zhì)計靈敏度值 雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于源測應(yīng)識不絲號(絲徑,mm)透照厚度(W)范圍,mmA級AB級B級182.5172.02.52.0162.02.03.046152.03.03.02.569143.02.52.57915132.577111522127111115223111111515223140101522223240489223232444856832444454
8、74454表3 像質(zhì)計靈敏度值 雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于膠片測應(yīng)識不絲號(絲徑,mm)透照厚度(W)范圍,mmA級AB級B級162.02.03.546152.03.53.55.5612143.55.55.5111218135.511111718301211171726304211172626394255102639395155709395151647010085164648510018076485851251803006851251252253005125225225375422537537533752.6.3不同材料的像質(zhì)計適用的工件材料范圍應(yīng)符合下表的規(guī)定像質(zhì)計材料代號FeNiA
9、l像質(zhì)計材料碳鋼或奧氏體不銹鋼鎳-鉻合金工業(yè)純鋁適用材料范圍碳鋼、低合金鋼、不銹鋼鎳及鎳合金鋁及鋁合金2.6.4像質(zhì)計一般應(yīng)放置在射源一側(cè)被檢焊接接頭的一端(被檢區(qū)長度的1/4部位),金屬絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫方向垂直,細絲置于外側(cè)。一張膠片同時透照多條焊接接頭時,像質(zhì)計應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。2.6.5單壁透照規(guī)定像質(zhì)計放置在源側(cè)。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計放置在膠片側(cè)。雙壁雙影透照規(guī)定像質(zhì)計可放置在源側(cè),也可放置在膠片側(cè)。2.6.6單壁透照中,假如像質(zhì)計無法放置在源側(cè),同意放置在膠片側(cè),但應(yīng)進行對比試驗,以保證實際使實際的底片靈敏度符合要求。像質(zhì)計放在膠片側(cè)時,應(yīng)附加“ F ”標記以示區(qū)不
10、。2.6.7 像質(zhì)計的數(shù)量a. 平直縱縫透照每張片至少一個。b. 弧形縱縫透照每段至少三個(分不置于二端及中部)。c. 環(huán)縫中心法透照,至少在內(nèi)壁上等間隔放置三個。d. 環(huán)縫偏心法透照,每段至少三個(分不置于二端及中部)。4.4、射線能量4.4.1、依照被檢工件的厚度、材質(zhì)選用不同的曝光參數(shù),曝光參數(shù)應(yīng)參照本機的曝光曲線選取,不同意用提高管電壓縮短曝光時刻的方法照相,或憑經(jīng)驗任意選取曝光參數(shù)。射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。在采納較高管電壓時,應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?,?yīng)符合本規(guī)程4.6.1的規(guī)定。NB/T47013.2-2015中規(guī)定了不同透照厚度同意的射線最高透照管電壓.。 對截面厚度變化大的承
11、壓設(shè)備,在保證靈敏度要求的前提下,同意采納超過規(guī)定的射線管電壓,但對鋼管電壓增量不應(yīng)超過50KV。4.5、射線源至工件表面的最小距離4.5.1、所選用的射線源至工件表面的距離f應(yīng)滿足下述要求:AB級射線檢測技術(shù):f10db2/3 B級射線檢測技術(shù):f15db2/34.5.2、采納源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時,只要得到的底片質(zhì)量符合NB/T47013.2-2015的要求,f值能夠減小,但AB級:f5db2/3 ,B級:f7.5db2/3。4.5.3、采納源在內(nèi)單壁透照方式曝光時,只要得到的底片質(zhì)量符合NB/T47013.2-2015的要求,f值能夠減小,但AB級:f8db2/3 ,B級:f12d
12、b2/3。4.6、曝光量4.6.1、射線照相,當(dāng)焦距為700mm時,曝光量的推舉值為:AB級不小于15mAmin;B級不小于20mAmin。當(dāng)焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推舉值進行換算。但曝光時刻不小于2min。4.6.2、采納射線源透照時,總的曝光時刻應(yīng)許多于3min。4.7、曝光曲線4.7.1、對每臺在用射線設(shè)備均應(yīng)作出經(jīng)常檢測的曝光曲線,依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。4.7.2、制作曝光曲線所采納的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應(yīng)達到的靈敏度、黑度等參數(shù)均應(yīng)符合NB/T47013.2-2015的規(guī)定。4.7.3、對使用中的曝光曲線,每年至少應(yīng)校驗一次。射線設(shè)備更換重要部件
13、或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時對曝光曲線進行校驗或重新制作。2.7 標記2.7.1 定位標記a. 包括中心標記( )和搭接標記( )。當(dāng)抽查時搭接標記稱為有效區(qū)段標記。b. 檢測范圍標記( - ),當(dāng)焊縫余高為零或平板狀零件時使用。2.7.2 識不標記包括產(chǎn)品編號、檢測編號、透照日期。其中檢測編號由以下標記組成:a. 焊縫編號標記用焊縫號表示。例如焊縫號為A8,則檢測用A8表示。b. 底片序號標記以每條焊縫為單位用阿拉伯?dāng)?shù)字表示,排在焊縫編號之后。c. 擴檢標記用Z表示,排在焊縫片號之后,用A8-3Z表示。d. 返修標記用R及阿拉伯?dāng)?shù)字表示,數(shù)字指返修次數(shù),排在底片序號之后。例如A8-3片位返修二次,檢
14、測編號用A8-3R2表示。2.7.3 背散射線確定標記“B”一般“B” 鉛字高度為13mm、厚度1.6mm。2.7.4 標記放置與追蹤a.透照小徑管對接接頭在焊縫旁放置出廠編號、檢測編號、中心標記。見圖a所示。 產(chǎn)品編號 像質(zhì)計 檢測編號 中心標記 焊縫 圖ab.透照其它焊接接頭在焊縫旁放置出廠編號、試件編號(透照試件時)、檢測編號、中心標記、搭接標記、每條焊縫第1號片或所有片上還須放置透照日期。見圖b所示。 拍片日期 焊工代號 像質(zhì)計 年月日 JB/T4730 2005 搭接標記 產(chǎn)品編號 中心標記 檢測編號 搭接標記 圖bc. 關(guān)于縱焊縫,搭接標記及中心標記均應(yīng)位于射線源側(cè)的工件表面上,關(guān)
15、于環(huán)焊縫,采納周向曝光時,搭接標記和中心標記既可置于工件內(nèi)側(cè),也可置于工件外側(cè),當(dāng)采納外透法,搭接標記和中心標記應(yīng)放在射線源一側(cè),當(dāng)采納雙壁雙影法時,搭接標記和標記應(yīng)放在膠片一側(cè)。 d. “B”鉛字在嚗光時貼到每個膠片暗盒的背面。e.上述標記均應(yīng)落在底片上的適當(dāng)位置,并離焊縫邊緣至少5mm。搭接標記的擺放位置見NB/T47013.2-2015附錄G。f.應(yīng)在工件表面用鋼印打上中心標記及底片序號,以作為對每張底片定位的追蹤依據(jù)。不適合打鋼印時,用詳細透照部位圖標注。 2.8 貼片、屏蔽、對位2.8.2.82.8.3必要時暗袋背面襯以2.8.42.8.52.8.62.8.72.9 檢測比例及部位2
16、.9.1 檢測比例按托付單位要求進行,并滿足相應(yīng)技術(shù)要求。2.9.2 局部檢測的焊縫,檢測部位由焊接檢查員指定,若無指定則由檢測人員依照實際情況選定。但對所有的交叉部位,以及拼接封頭(管板)的對接接頭,必須百分百檢測。2.9.3 壓力容器局部檢測的焊縫,發(fā)覺有超標缺陷時,應(yīng)在該缺陷的延伸部位進行擴檢,擴檢長度為該焊縫長度的10%,且不小于250mm,如仍不合格,則對該焊縫進行100%檢測。2.9.4 壓力容器壁厚大于38mm(或38mm,但20mm且使用材料抗拉強度規(guī)定值下限540MPa)時,如選用超聲檢測,則每條焊縫還應(yīng)進行局部射線探傷,其中應(yīng)該包括所有交叉部位.2.10 布片規(guī)則2.10
17、依照工件尺寸、射線設(shè)備情況及現(xiàn)場條件,射線檢測透照方式可在下列方式中選取:a. 縱、環(huán)向焊接接頭源在外單壁透照方式 b. 縱、環(huán)向焊接接頭源在內(nèi)單壁透照方式 c. 環(huán)向焊接接頭源在中心周向透照方式 d. 環(huán)向焊接接頭源在外雙壁單影透照方式 e. 縱向焊接接頭源在外雙壁單影透照方式 f. 小徑管環(huán)向焊接接頭傾斜透照方式(橢圓成像) g. 小徑管環(huán)向焊接接頭垂直透照方式(重疊成像)2.10.2 透照方法的選擇應(yīng)首先考慮缺陷的檢出率,其次要考慮到工作效率,并應(yīng)結(jié)合現(xiàn)場條件的可能而選用行之有效的透照方法。有條件許可的情況下,應(yīng)首先考慮采納周向曝光,其次采納單壁單影法,關(guān)于射線源既可置于容器內(nèi),又可置于
18、容器外的情況下,應(yīng)優(yōu)先采納內(nèi)透法,在工件無法滿足上述條件時,方可采納雙壁透照技術(shù)。2.10 同一部件所有縱縫及環(huán)縫在拍照時中心標記均應(yīng)放置在同一方位的同一側(cè)。2.10a. 全檢縱縫的第1號片應(yīng)從焊縫端頭開始,從左到右按流水號布片(即中心標記縱向箭頭指向焊縫,橫向箭頭指向右端,下同)。b. 全檢環(huán)縫的第1號片從交叉部位開始(沒有交叉部位時應(yīng)選焊縫旁有特不附件處,下同),順時針方向按流水號布片;同一部件各條環(huán)縫的第1號片應(yīng)盡量靠近同一直線。2.10a. 局部檢測的縱縫必須拍到左右兩端,并以左端為第1號片。b. 局部檢測的環(huán)縫應(yīng)以交叉部位為第1號片,順時針方向按流水號布片,并拍齊全部交叉部位;同一部
19、件各條環(huán)縫的第1號片應(yīng)盡量靠近同一直線。c. 擴檢時應(yīng)在缺陷延伸部位(返修位置附近未拍片的部位)布片。2.102.102.11 一次透照長度L32.11.1 一次透照長度應(yīng)以透照厚度比K進行操縱,透照厚度比應(yīng)符合下表的規(guī)定。射線檢測技術(shù)級不A級、AB級B級縱向焊接接頭K1.03K1.01環(huán)向焊接接頭K1.1*K1.06* 對100mm D0400mm的環(huán)向焊接接頭(包括曲率相同的曲面焊接接頭),A級、AB級同意采納K1.2。2.11.2 L3依照不同透照方式按以下公式計算(或依照a) 縱縫一次透照長度的確定(K=1.03)。一次透照長度L3=2L1tg13.86即L30.5 L1(應(yīng)同時滿足L
20、110df L22/3,ug1/10L21/3);b) 環(huán)縫單壁一次透照長度的規(guī)定:L3=D0cos-1k-1-sin-1 D0 sin (cos-1k-1)/ D0+2L1/180 c)環(huán)縫雙壁單影透照長度的規(guī)定:L3=D0(cos-1k-1+sin-1 D0 sin (cos-1k-1)/ 2F - D0/180d) 中心透照法時: 等份環(huán)焊縫,一次透照長度為整條環(huán)焊縫長度。注:1、D0圓筒件外徑2、L1焦點至工件的距離3、F 焦點至膠片的距離4、L2工件表面至膠片的距離5、L3一次透照長度6、K焊縫透照厚度比(NB/T47013.2-2015要求)7、df焦點尺寸8、ug幾何不清晰度2.
21、11.3 透照條件滿足時,應(yīng)選用36080mm膠片,L3取300mm。環(huán)縫透照盡量采納中心法。2.12 管子(筒體環(huán)焊縫)透照2.12.1 DN100以下管焊縫透照a)小徑管(D0100mm)環(huán)向焊接接頭同時滿足壁厚T8 mm及焊縫寬度gD04時應(yīng)采納雙壁雙影法透照(橢圓成像),橢圓開口度應(yīng)操縱在1倍焊縫寬度左右;不滿足上述條件或橢圓成像有困難時,可做垂直透照,現(xiàn)在可適當(dāng)提高管電壓。b) 小徑管(D0100mm)環(huán)向焊接接頭100%檢測,采納橢圓成像時,當(dāng)T/D00.12時,相隔90透照2次。當(dāng)T/D00.12時,相隔120或60透照3次。重疊成像時,一般應(yīng)相隔120或60透照3次。2.12.
22、2 DN100管對接焊縫及環(huán)向焊接接頭100%透照幾何參數(shù)見下對比表序號直徑有效長度透照方式100%張數(shù)序號直徑有效長度透照方式100%張數(shù)110850雙壁單影7301800320單壁單影18213363雙壁單影7311900320單壁單影19315977雙壁單影7322000320單壁單影204219111雙壁單影7332100320單壁單影215273145雙壁單影6342200320單壁單影226325180雙壁單影6352300320單壁單影237377220雙壁單影6362400320單壁單影248426261雙壁單影6372500320單壁單影259500322雙壁單影538260
23、0320單壁單影2610550172單壁單影10392700320單壁單影2711600183單壁單影11402800320單壁單影2812650193單壁單影11412900320單壁單影2913700203單壁單影11423000320單壁單影3014750213單壁單影11433100320單壁單影3115800222單壁單影12443200320單壁單影3216850231單壁單影12453300320單壁單影3317900239單壁單影12463400320單壁單影3418950247單壁單影12473500320單壁單影35191000255單壁單壁單影3
24、6201050263單壁單壁單影37211100267單壁單壁單影38221150277單壁單壁單影39231200283單壁單壁單影40241250290單壁單壁單影41251300296單壁單壁單影42261400308單壁單壁單影43271500319單壁單壁單影44281600320單壁單影16574500320單壁單影45291700320單壁單影17注:1)以上透照參數(shù)值是以F
25、=700焦距透照作出。2)單壁單影未考慮壁厚。2.13 曝光操作和安全防護2.13.1 射線探傷機開機前應(yīng)檢查冷卻系統(tǒng),各電纜接頭和接地狀態(tài)是否良好,然后按使用講明書方法進行操作。2.13.2 曝光條件應(yīng)依照透照幾何參數(shù)參考設(shè)備的實測曝光曲線進行選擇, 射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。操作人員應(yīng)填寫好當(dāng)班工作日記、設(shè)備運轉(zhuǎn)記錄、簽上名字及注明日期2.13.6安全防護a)凡是能在探傷室拍片的工件,一律要進入探傷室。b)需要在車間或室外拍片的較大工件,操作時應(yīng)在射線源20米外進行,射線源方向30米以內(nèi)禁止有人進入,并懸掛醒目的警告標志。c)操作人職員作時應(yīng)佩帶個人劑量報警儀和個人劑量計,應(yīng)定期檢查
26、軀體,若發(fā)覺由射線源緣故而引起的異?,F(xiàn)象,應(yīng)臨時脫離該工作崗位。2.14 檢驗程序(見流程圖1)2.142.144.1.2、對下列情況應(yīng)拒絕探傷1)、無申請書或申請書未經(jīng)焊接檢驗員簽字認可者;2)、返修無返修申請書,關(guān)于3次及以上返修無技術(shù)總工程師簽字的批準手續(xù)者;3)、雖有焊接檢驗員簽字手續(xù),但在探傷進程中發(fā)覺有超標外觀缺陷阻礙正確評定底片者;4)、酸洗后或維修后容器內(nèi)有介質(zhì)未清洗排放潔凈者。2.142.142.15 暗室處理2.15.1顯影液、定影液配制應(yīng)存放24小時后方可使用。2.15.2顯影液、定影液、停影液按膠片講明書配方配制。2.15.3 標準顯影溫度202標準顯影時刻5分鐘,不得
27、用短時顯影,以免產(chǎn)生花紋,也不得用高溫顯影,以免藥膜皺折、脫落、影紋粗糙。 2.15.4 顯影過程中,洗片架應(yīng)是上、下或前后經(jīng)常移動,以保證顯影作用均勻,特不是開始顯影的一分鐘內(nèi)更需頻繁移動。2.15.5在紅燈下觀看顯影程度的次數(shù)應(yīng)盡量減少(至多二次)距離不能過近,以免增加灰霧。2.15.6膠片顯影完畢,應(yīng)先作短時刻的中間水洗(10秒),再放入停影液中202.15.7膠片在定影液中亦需經(jīng)?;蝿樱ㄓ皶r刻為15分鐘,未到通透時刻不得開白燈。2.15.8膠片在定影后應(yīng)放入流淌的清水沖洗30分鐘。2.15.9膠片沖洗完畢,應(yīng)放在潤濕105%脫水劑中潤濕3秒,然后放入烘片箱進行烘片,注意烘片箱應(yīng)從室溫
28、開始加熱。 2.15.10底片烘干后,按產(chǎn)品編號,片號排列裝袋。2.15.11所有暗室處理直至干燥、排號裝袋均須細心,慎重操作臺面器具應(yīng)保持清潔,防止污染、擦傷,室內(nèi)應(yīng)保持通風(fēng)良好。2.15.12在洗片和分片裝袋過程中,如發(fā)覺有不符質(zhì)量要求的底片,應(yīng)及時通知攝片人員 重照。2.15.13暗室操作人職員作完畢后,應(yīng)做好記錄,簽名,最后將底片等資料整理好,一起交初評人員。 圖1 RT操作流程圖 推舉標準顯影液配方水(4050) 800毫升對甲氨基酚硫酸(米吐爾) 4克無水硫酸鈉(硫氧) 65克對苯二酚(海得爾) 10克無水碳酸鈉(炭氧) 45克溴化鉀 5克水加至(1000毫升) PH10.1-10
29、.2停顯液配方冰醋酸 98% 15毫升水加至 1000毫升推舉定影液配方水(3550) 600毫升硫代硫酸鈉(即海波) 240克冰醋酸 98% 15毫升硼酸 7.5克硫酸鉀鋁(明礬) 15克水加至 1000毫升配制顯定影時,各種藥品按配方順序依次加入,前一種藥液完全溶化后再加入后一種藥品。2.16 底片質(zhì)量2.16.1 底片評定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷影像識不的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。2.16.2 底片評定范圍內(nèi)的黑度D應(yīng)符合下列規(guī)定:A級照相: 1.5D4.0AB級照相: 2.0D4.0B級照相: 2.3D4.0用射線透照小徑管或其它截面厚度變化大的工件時,AB級最低黑度可降至1.5;B
30、級最低黑度可降至2.0。2.16.3 像質(zhì)計像質(zhì)計的選用及擺放正確。依照不同的透照方式,像質(zhì)計靈敏度應(yīng)符合NB/T47013.2-2015表5或表6或表7的規(guī)定。2.16.4 標記齊全每張底片上須有出廠編號或試件編號、檢測編號、中心標記、搭接標記。每條焊縫第1號片還須有透照日期。焊縫余高為零時,還須有檢測位置指示標記。以上標記放置離焊縫邊緣至少5mm,且不應(yīng)干擾有效評定范圍內(nèi)的影像。2.16.5 背散射B字的影像符合NB/T47013.2-2015標準第4.6.2條要求。2.17 底片評定2.17 評片應(yīng)在較暗的環(huán)境下進行,室內(nèi)照明用光不得在底片表面產(chǎn)生反射。2.17.2評定焊接質(zhì)量前應(yīng)按第2
31、.172.172.17.5對超標缺陷應(yīng)予“四定2.17.6當(dāng)發(fā)生難以確定缺陷的真?zhèn)位驅(qū)θ毕?.172.172.17.82.17.8級焊縫內(nèi)不同意裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷存在。、級焊縫內(nèi)不同意裂紋、未熔合、未焊透存在。焊縫缺陷超過級者為級。2.17.8長寬比3的氣孔、夾渣、夾鎢為圓形缺陷。b)用評定區(qū)進行評定,評定區(qū)域的大小見表5,評定區(qū)選在缺陷最嚴峻的部位,當(dāng)缺陷在評定區(qū)邊界線上時應(yīng)把它劃在評定區(qū)內(nèi)計算點數(shù)。c)圓形缺陷分級見表5。表5 圓形缺陷的質(zhì)量分級評定mmmm10101020母材厚度T(mm)1010151525255025100等級123453691215612182430缺陷
32、點數(shù)大于級或缺陷長徑大于1/2T注:當(dāng)母材公稱厚度不同時,取較薄板的厚度。d)缺陷尺寸按表6換成缺陷點數(shù),如缺陷尺寸小于表7規(guī)定則該缺陷不參加缺陷評級。 表6 缺陷點數(shù)換算表缺陷長徑mm112233446688點數(shù)1236101525表7不計點數(shù)的缺陷尺寸母材厚度T缺陷長徑250.525-500.7501.4%Te)不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于10點,超過時對接焊接接頭質(zhì)量等級降低一級。f)對致密性要求高的對接焊接接頭,應(yīng)考慮將圓形缺陷的黑度作為評級的依據(jù),當(dāng)對接接頭存在深孔缺陷時,其質(zhì)量級不應(yīng)評為級。2.1 a) 長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢定義為條形缺陷。 b)條形缺陷分級見
33、表8表8 條形缺陷的質(zhì)量分級級不單個條形缺陷最大長度一組條形缺陷累計最大長度不同意T/3(最小可為4)且20在長度為12T的任意選定條形缺陷評定區(qū)內(nèi),相鄰缺陷間距不超過6L的任一組條形缺陷的累計長度應(yīng)不超過T,但最小可為4。2T/3(最小可為6)且30在長度為6T的任意選定條形缺陷評定區(qū)內(nèi),相鄰缺陷間距不超過3L的任一組條形缺陷的累計長度應(yīng)不超過T,但最小可為6。大于級者注:1)“L”為該組條形缺陷中最長缺陷的長度,“T”為母材公稱厚度,當(dāng)母材公稱厚度不同時取較薄板的厚度值。 2)條形缺陷評定區(qū)是指與焊縫方向平行的、具有一定寬度的矩形區(qū),T25mm,寬 度為4mm;25mmT100m,寬度為6
34、mm;T100mm,寬度為8mm。 3)當(dāng)兩個或兩個以上條形缺陷處于同一直線上、且相鄰缺陷的間距小于或等于較短缺陷長度時,應(yīng)作為1個缺陷處理,且間距也應(yīng)計入缺陷的長度之中。2.1在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi),同時存在圓形和條形缺陷應(yīng)各自評級,將級不之和減1作為最終級不。2.12.17.8.2.1a)級焊縫應(yīng)無裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、根部內(nèi)凹、根部咬邊。b)、級焊縫應(yīng)無裂紋、未熔合、雙面焊以及加墊板單面焊中的未焊透。2.17.8 a)長寬比3的氣孔、夾渣和夾鎢,為圓形缺陷; b)評定區(qū)10mm10mm c)缺陷分級見表52.17.8長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢,定義為條形缺陷,條形缺陷的分級見表
35、8的規(guī)定。2.17.8.2.4 2.17.8.2.4.1管外徑D0100mm表9級不未焊透最大深度,mm單個未焊透最大長度,mm(T為壁厚)未焊透累計長度mm與壁厚的比最大值不同意10%1.0T/3(最小可為4)且20在任意6T長度區(qū)內(nèi)應(yīng)不大于T(最小可為4),且任意300長度范圍內(nèi)總長度不大于3015%1.52T/3(最小可為6)且30在任意3T長度區(qū)內(nèi)應(yīng)不大于T(最小可為6),且任意300長度范圍內(nèi)總長度不大于40大于級者注:對斷續(xù)未焊透,以未焊透本身的長度累計計算總長度。2.17.8.2.4.2管外徑D0100mm表10級不未焊透最大深度,mm未焊透總長度與焊縫總長度的比與壁厚的比最大值
36、不同意10%1.010%15%1.515%大于級者注:對斷續(xù)未焊透,以未焊透本身的長度累計計算總長度。2.17.82.17.8.2.5.1管外徑D0100mm時,不加墊板單向焊的根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷按表表11 外徑D0100mm時根部內(nèi)凹和根部咬邊分級級不根部內(nèi)凹和根部咬邊最大深度,mm根部內(nèi)凹和根部咬邊累計長度,mm與壁厚的比最大值不同意15%1.5在任意3T長度區(qū)內(nèi)不大于T總長度不大于10020%2.0大于級者注:對斷續(xù)根部內(nèi)凹和根部咬邊,以根部內(nèi)凹和根部咬邊本身的長度累計計算總長度。2.17.8.2.5.2管外徑D0100mm時,不加墊板單向焊的根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷按表表12外徑D0
37、100mm時根部內(nèi)凹和根部咬邊分級級不根部內(nèi)凹和根部咬邊最大深度,mm根部內(nèi)凹和根部咬邊最大總長度與焊縫總長度的比與壁厚的比最大值不同意15%1.530%20%2.030%大于級者注:對斷續(xù)根部內(nèi)凹和根部咬邊,以根部內(nèi)凹和根部咬邊本身的長度累加計算總長度。2.17.8 在條形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在多種缺陷時,應(yīng)進行綜合評級。對各類缺陷分不評定級不,取質(zhì)量級不最低的級不作為綜合評級的級不;當(dāng)各類缺陷的級不相同時,則降低一級作為綜合評級的級不。2.18資料整理和歸檔2.18.12.182.18.3 整臺壓力容器檢測合格后,由無損檢測責(zé)任工程師審核簽發(fā)“無損檢測報告”和“無損檢測焊縫布片圖2.182.
38、19關(guān)于執(zhí)行探傷比例的補充規(guī)定2.19.1除了容規(guī)和GB150標準中規(guī)定100%RT探傷或UT探傷以外的容器,同意對其A類及B類焊接接頭進行局部RT或UT檢測,檢測方法按圖樣規(guī)定,檢測長度不得少于各條焊接接頭長度的20%,且不小于250mm,焊縫交叉部位及以下部位應(yīng)全部檢測,其檢測長度可計入局部檢測長度之內(nèi)。下述接頭,必須進行a)先拼板后成型凸形封頭上的所有拼接接頭。b)凡被補強圈、支座、墊板、內(nèi)件等所覆蓋的焊接接頭。c)以開孔中心為圓心,1.5倍開孔直徑為半徑的圓中所包含的焊接接頭。d)嵌入式接管與圓筒或封頭對接連接的焊接接頭。e)拼接管板的對接接頭。2.19.2潔凈后,進行補焊,并對該部位
39、采納原檢測方法重新檢測,直至合格,進行局部探傷的焊接接頭,發(fā)覺有不同意的缺陷時,應(yīng)在該缺陷兩端的延伸部位增加檢查長度,增加的長度為該接接頭的10%,且不小于250mm。若仍有不同意的缺陷時,則該焊接接頭做100%檢測。第3章 超聲檢測通用工藝規(guī)程3.1 適用范圍 本規(guī)程適用于采納A型脈沖反射式超聲波探傷儀,對金屬原材料、零部件和焊接接頭進行超聲波檢測。3.2 檢測時機3.2.1有延遲裂紋傾向的材料其焊接接頭應(yīng)在焊接完成24小時后才能進行檢測。3.2.2 鍛件檢測原則上應(yīng)在熱處理后,槽孔、臺階加工前進行。表面粗糙度Ra6.3m。3.3 工件要求3.3.1 焊接接頭探頭移動區(qū)應(yīng)由送檢單位清除焊接飛
40、濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì),對咬邊、較大的隆起和凹陷等應(yīng)作適當(dāng)?shù)男弈ブ翀A滑過渡。3.3.2 原材料及零件部、鍛件應(yīng)由送檢單位打磨清除鐵屑、銹蝕、油垢等其它雜質(zhì)。檢測表面應(yīng)平坦光滑、便于探頭自由掃查,表面粗糙度Ra應(yīng)為6.3m。3.4 探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能3.4.1 探傷儀采納A型脈沖反射式超聲波探傷儀,其工作頻率范圍為15MHz,儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)的衰減器,步進級每檔不大于2dB,其精度為任意相鄰12dB誤差在1dB以內(nèi),最大累計誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%,垂直線性誤差不大于5%。3.4.2 探頭a. 超聲檢測常用單直
41、探頭、單斜探頭、雙晶探頭和聚焦探頭等。b. 晶片有效面積一般不應(yīng)大于500mm2,且任一邊長不應(yīng)大于25mm。c. 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2,主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。d. 雙晶直探頭性能應(yīng)符合JB/T4730.3-2005附錄A的要求。3.4.3 超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能。a. 在達到所探工件的最大檢測聲程時,其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。b. 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度:關(guān)于頻率為5MHz的探頭,寬度不大于10mm;關(guān)于頻率為2.5MHz的探頭,寬度不大于15mm。c. 直探頭的遠場分辨力應(yīng)不小于30dB,斜探頭的遠場分辨力應(yīng)不小于6dB。d. 儀器和探頭的系統(tǒng)性
42、能應(yīng)按JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進行測試。3.5 超聲檢測一般方法3.5.1 檢測覆蓋率檢測時,應(yīng)盡量掃查到整個被檢區(qū)域,探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。3.5.2 所確定檢測面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。3.5.3 探頭的移動速度。 探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/S。當(dāng)采納自動報警裝置掃查時,不受此限。3.5.4 掃查靈敏度不得低于基準靈敏度。3.5.5 耦合劑 采納機油、漿糊、水等透聲性好且不損傷檢測表面的耦合劑。3.5.6 靈敏度補償耦合補償在檢測和缺陷定量時,應(yīng)對由表面粗糙度引起的能量損耗進行補償。b.衰減補償在檢測和缺陷定量時,應(yīng)對材質(zhì)衰減引起
43、的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償。c.曲面補償關(guān)于檢測面是曲面的工件,應(yīng)采納曲率半徑與工件相同或相近(0.91.5)的參考試塊,對比進行曲率補償。 3.6 系統(tǒng)校準和復(fù)核3.6系統(tǒng)校準應(yīng)在基準試塊上進行,校準中應(yīng)使超聲波主聲束垂直對準反射體的軸線,以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號。3.6 在儀器開始使用時,應(yīng)對儀器的水平線性按JB/T10061的規(guī)定進行測定。在使用過程中,每隔3個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進行一次測,定并作好記錄(表2924)。3.6 新探頭使用前應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力的測定。3.63.63.6校準后的探頭、
44、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時;檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時;連續(xù)工作4小時以上時;工作結(jié)束時。3.5.6、檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核每次檢測結(jié)束前,應(yīng)對掃描量程進行復(fù)核。假如任意一點在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%,則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整,并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進行復(fù)核。. 每次檢測結(jié)束前,應(yīng)對掃查靈敏度進行復(fù)核。一般對距離波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點。如曲線上一點幅度下降2db,則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進行復(fù)核;如幅度上升2db,則應(yīng)對所有的記錄信號進行重新評定。3.5.7、校準、復(fù)核的有關(guān)注意事項 校準、復(fù)核和對儀器進行線性檢測時,任何阻礙儀器線性的
45、操縱器都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。3.6假如距離波幅曲線上任意一點在掃描線上的偏移超過掃描讀數(shù)的10%。則掃描量程應(yīng)予以修正,并在檢測記錄中加以標明。3.6.8 距離復(fù)核時,校核應(yīng)許多于3點。如曲線上任何一點幅度下降2dB,則應(yīng)對上一次以來所有的檢測結(jié)果進行復(fù)檢;如幅度上升2dB,則應(yīng)對所有的記錄信號進行重新評定。3.6校準、復(fù)核和線性檢驗時,任何阻礙儀器線性的操縱器(如抑制或濾波開關(guān)等)都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。3.7 試塊3.7.1 試塊應(yīng)采納與被檢工件相同或相近似聲學(xué)性能的材料制成。該材料用直探頭檢測時,不得有大于3.7a.鋼板用標準試塊: CB、CB;b.鍛件用標
46、準試塊: CS、CS;c.焊接接頭用標準試塊: CSK-A、CSK-A、CSK-A。3.7第一節(jié) 承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級3.8.適用范圍3.8.1本工藝適用于使用A型脈沖反射式超聲波探傷儀,以單斜探頭接觸法為主進行探傷。焊接件對接處厚度8400mm的鋼制承壓設(shè)備圖 2 UT操作流程圖3.8.2本工藝規(guī)程不適用于鑄鋼對接焊接接頭、外徑小于159mm的鋼管環(huán)向?qū)雍附咏宇^、內(nèi)徑小于或等于200mm的管座角焊縫的超聲檢測,也不適用于外徑小于3.8.3 A級僅適用母材厚度為8mm3.8.4母材厚度為8mm46mm時,一般用一種K值探頭采納直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面雙側(cè)進
47、行檢測。母材厚度大于46mm120mm時,一般用一種K值探頭采納直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進行檢測,如受幾何條件限制,也可要焊接接頭的雙面單側(cè)采納兩種K值探頭進行檢測。母材厚度大于120mm400mm時,一般用兩種K值探頭采納直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10。應(yīng)進行橫向缺陷的檢測。檢測時,可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成1020作兩個方向的斜平行掃查。如焊接接頭余高磨平,探頭應(yīng)在焊接接頭及熱阻礙區(qū)上作兩個方向的平行掃查。3.采納C級檢測時應(yīng)將焊接接頭的余高磨平,對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查通過的母材區(qū)域要有直探頭進行檢測a)母材厚度為8mm46m
48、m時,一般用兩種K值探頭采納直射波法和一次反射波法在焊接接頭單面雙側(cè)進行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10,其中一個折射角為45。b)母材厚度大于46mm400mm時,一般用兩種K值探頭采納直射波法在焊接 接頭的雙面雙側(cè)進行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10。關(guān)于單側(cè)坡口角度小于5的窄間隙焊縫,如有可能應(yīng)增加對檢測與坡口表面平行缺陷的有效檢測方法。c)應(yīng)進行橫向缺陷的檢測。檢測時,將探頭放在焊縫及熱阻礙區(qū)上作兩個方向 的平行掃查。3.8.63.8.6.1儀器和探頭性能符合5.1.3和5.1.3.8.6.2探頭K值選取符合表表16 推舉采納的斜探頭K值板厚T,mmK值6253.02.0(
49、7260)25462.51.5(6856)461202.01.0(6045)1204002.01.0(6045)3.83.8.3.1 采納的標準試塊為CSK-A、A、3.8.3.2 CSK-A、CSK-A適用于壁厚83.8.33.83.8.4.1 3.8.4.2 焊縫兩側(cè)的母材表面移動區(qū)域不應(yīng)有干擾檢驗的飛濺、銹蝕和油垢等外來雜物,表面粗糙時,應(yīng)打磨平滑。3.8.4關(guān)于能干擾檢驗的焊縫表面應(yīng)按照檢驗所需的要求進行制備。3.83.8.53.8.5.2耦合補償可實測或按表表17表面狀況致密氧化皮Ra6.3微米表面粗砂輪打磨補償值(dB)0263.83.8.6a)采納一次反射法檢測時,探頭移動區(qū)應(yīng)不
50、小于1.25P;b)采納直射法檢測時,探頭移動區(qū)應(yīng)不小于0.75P;3.8.6掃查時鄰近母材時,以找出阻礙評定斜射波掃查結(jié)果的分層或其它種類缺陷,但那個掃查不能作為驗收或拒收檢驗,檢測要點是:采納2MHz-5MHz、晶片直徑10mm-25mm的直探頭,將母材無缺陷處二次底波100%波幅高作為靈敏度,每個超過20%波幅高的缺陷反射體,均應(yīng)在工件表面作出標記,并記錄下來。3.8.6.3距離3.8.6.4距離3.8.6.5距離復(fù)核時,校準應(yīng)許多于3點,假如曲線上任何一點幅度下降2dB,則應(yīng)對上一次以 來所有的檢測結(jié)果進行復(fù)核;假如幅度上升2dB,則應(yīng)對所有的記錄信號進行重新評定。3.8.6校準、復(fù)核
51、和對儀器線性檢驗時,任何阻礙儀器線性的操縱器(如抑制或濾波開關(guān)等)都應(yīng)放在”關(guān)”的位置或最低水平上。3.8.6.7靈敏度按表表18試塊型式板厚mm評定線定量線判廢線CSK-A646240-18dB240-12dB240-4dB46120240-14dB240-8dB240+2dBCSK-A81516-12dB16-6dB16+2dB154616-9dB16-3dB16+5dB4610016-6dB1616+10dB3.83.8.7依照不同檢測技術(shù)等級選用一種K值接頭或兩種K值接頭3.8.7為確定缺陷的位置、方向和形狀等,可采納前后、左右、轉(zhuǎn)角和圍繞四種探頭掃查方式。3.8.7.23.8.73.
52、8.7探頭修磨后,用曲率試塊實測探頭入射點和K值;選擇探頭K值時,要確保聲束能掃查到整個焊縫;曲面半徑大于W2/4時,可采納平面對比試塊調(diào)節(jié)儀器,但要注意指示熒屏指示的缺陷深度或小于距離與缺陷實際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的誤差,必要時應(yīng)進行修正。3.8.73.3.8.83.8.8.2對所有波幅超過定量線的缺陷,應(yīng)確定其位置、最大反射波幅、缺陷當(dāng)量和指示長度3.8.8.3當(dāng)用直探頭檢測時,缺陷當(dāng)量直徑以平底孔直徑表示可采納公式計算,用斜探頭檢測時,用距離3.8.8.4缺陷指示長度3.8.93.8.93.8.9.2缺陷指示長度小于10mm時按5mm3.8.9陷處理,以兩缺陷長度之和作為指示長度
53、。3.8.10 3.8a) 反射波幅位于判為線及區(qū)的缺陷。b) 檢測人員判定為裂紋等危害性缺陷。3.8.10.2最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺陷,均評為3.8.103.8.11檢測報告應(yīng)至少包括以下內(nèi)容:托付單位、報告編號;工件名稱、編號、材質(zhì)、熱處理狀態(tài)、檢測表面的粗糙度;探傷儀、探頭、試塊和檢測靈敏度;超聲檢測區(qū)域應(yīng)在草圖上予以標明,如有因幾何形狀限制而檢測不到的部位、也應(yīng)加以講明;缺陷的類型、缺陷等級評定及檢測標準名稱;檢測人員和責(zé)任工程師簽字及其技術(shù)資格;檢測日期;第2節(jié) 承壓設(shè)備鋼板超聲檢測及質(zhì)量分級3.9本條適用于板厚為6160mm碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測的質(zhì)
54、量分級。奧氏體鋼板材超聲檢測也可參照本規(guī)程進行。3.9探頭的選用應(yīng)符合表 19表19 承壓設(shè)備用板材超聲檢測探頭選用板厚,mm采納探頭公稱頻率,MHz探頭晶片尺寸6-20雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm220-40單晶直探頭514mm-20mm40-250單晶直探頭2.520mm-25mm3.9 試塊應(yīng)用與被檢工件相同或近似聲學(xué)性能的材料制成3.93.9.43.9.44.1.2、探頭選用4.1.2.1、探頭選用1)、板厚為620mm時采納雙晶直探頭,公稱頻率5MHz,晶片面積不小于150m。2)、板厚2040mm時,采納單晶直探頭,公稱頻率5MHz,圓晶片直徑為1420mm。3)、板厚40
55、250mm時,采納單晶直探頭,公稱頻率2.5MHz,圓晶片直徑為2025mm。4.1.2.2、雙晶直探頭性能應(yīng)符合JB/T4730.3-2005附錄A的要求。4.1.3、標準試塊1)、采納雙晶直探頭時,采納CB標準試塊。2)、采納單晶直探頭時,采納CB標準試塊。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。4.1.4、基準靈敏度1)、超聲檢測人員收到無損檢測申請書后,依照所探鋼板厚度確定探頭和試塊,并調(diào)試檢測靈敏度。2)、板厚為620mm時,用CB試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB作為基準靈敏度。3)、板厚20250mm時,用CB試塊將5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50
56、%作為基準靈敏度。4)、板厚3倍探頭的近場區(qū)時,也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底面反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準靈敏度。4.1.5、檢測方法4.1.5.1、檢測面鋼板的任一軋制面均可作為檢測面進行檢測。若檢測人員認為需要或設(shè)計上要求時,也可選鋼板的上、下兩軋制面分不進行檢測。4.1.5.2、掃查方式1)、檢測儀和探頭調(diào)試合格后,按JB/T4730.3中圖3探頭掃查示意圖規(guī)定,對鋼板進行掃查,要求探頭沿垂直于鋼板壓延方向,間距為100mm平行線進行掃查,在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm(當(dāng)板厚超過100mm時,以板厚的一半為準)內(nèi)應(yīng)作100%掃查,掃查時若發(fā)覺缺陷反射波,則應(yīng)在它的周圍接著
57、進行檢測,以確定缺陷的延伸。2)、在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm(當(dāng)板厚超過100mm時,以板厚的一半為準)內(nèi)應(yīng)作100%掃查。缺陷的指示長度大于或等于50mm時,應(yīng)評為級。 當(dāng)合同、技術(shù)協(xié)議書或設(shè)計圖樣有專門要求時,應(yīng)依照專門要求進行其它型式的掃查。4.1.6、缺陷的測定與記錄掃查過程中,按JB/T4730.3規(guī)定推斷缺陷并測定缺陷的邊界范圍或指示長度,做好原始記錄。原始記錄應(yīng)記錄下缺陷的位置及長度或面積。4.1.7、缺陷的評定1)、缺陷的評定方法和評定規(guī)則按JB/T4730.3中4.1.7條規(guī)定,鋼板缺陷等級評定按JB/T4730.3中4.1.8條規(guī)定。2) 依照檢測結(jié)果出具超聲波探傷檢查
58、報告,報告內(nèi)容和要求應(yīng)符合JB/T4730.3中8條規(guī)定。4.1.8、橫波檢測 在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時,可采納橫波檢測。檢測方法按JB/T4730.3附錄B。3.93.9.53.9.5需100%檢測的區(qū)域,探頭的每次覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。3.9.5探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。3.9.5單直探頭的檢測靈敏度:用5平底孔試塊上5孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為靈敏度。3.9a)探頭沿垂直于鋼板壓延方向,間距不100mm的平行線進行掃查,在鋼板坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm內(nèi)應(yīng)作100%掃查。b)依照合同、技術(shù)協(xié)議或圖樣的要求,也可進行其它形式的掃查
59、。3.93.9.6a)缺陷第一次反射波(F1)波高大于或等于滿刻度的50%,即F150%。b)當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1)波高未達到滿刻度,現(xiàn)在,缺陷第一次反射波 (F1)波高與底面第一次反射波(B1)波高三比大于或等于50%者。c)當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙)50%滿刻度者。3.9.6a)檢出缺陷后,應(yīng)在它的周圍接著進行檢測,以確定缺陷的延伸。b)用雙晶直探頭確定缺陷的邊界或指示長度,探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直,并使缺陷波下降到檢測靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%?,F(xiàn)在,探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心即為缺陷的邊界點,
60、兩種方法測得的結(jié)果以較嚴峻者為準。c)用單直探頭確定缺陷的邊界或指示長度時,移動探頭,使缺陷波第一次反射波高下降到檢測靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50%?,F(xiàn)在,探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心即為缺陷和邊界,兩種方法測得的結(jié)果以較嚴峻者為準。d)確定3.2.6.1Ce)當(dāng)采納第二次缺陷波和第二缺陷波和第二次底波來評定缺陷時,檢測靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反向波來核準。3.93.9.7一個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。3.9.7一個缺陷按其指示的最大面積作為該缺陷的單個指示面積,當(dāng)其小于表17的規(guī)定時,可不作記錄。多個缺陷其
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