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系統(tǒng)對任意輸入信號響應(yīng)系統(tǒng)對單位階躍輸入信號響應(yīng)§2.4測試裝置對任意輸入響應(yīng)10/10/1§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第1頁一、系統(tǒng)對任意輸入信號響應(yīng)10/10/2§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第2頁y(t)=X(t)*h(t)即卷積分對△τ取極限,此式表明,從時域看,系統(tǒng)輸出就是輸入與系統(tǒng)脈沖響應(yīng)函數(shù)卷積,是系統(tǒng)輸入—輸出關(guān)系最基本表示式。10/10/3§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第3頁
卷積積分是一個數(shù)學(xué)方法,在信號與系統(tǒng)理論研究中占有主要地位。尤其是關(guān)于信號時間域與變換域分析,它是溝通時域-頻域一個橋梁。1、卷積分基礎(chǔ):10/10/4§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第4頁1)將信號x(t)分解為許多寬度為t窄條面積之和,t=nt時第n個窄條高度為x(nt),在t趨近于零情況下,窄條能夠看作是強(qiáng)度等于窄條面積脈沖。tx(t)nt
x(nt)t2、卷積物理意義:10/10/5§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第5頁2)在t=nt時刻,窄條脈沖引發(fā)響應(yīng)為:
x(nt)th(t-nt)tx(nt)th(t-nt)010/10/6§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第6頁3)各脈沖引發(fā)響應(yīng)之和即為輸出y(t)ty(t)010/10/7§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第7頁案例:音響系統(tǒng)性能評定y(t)=x(t)*h(t)Y(f)=X(f)H(f)
改進(jìn):脈沖輸入/白噪聲輸入,測量輸出,再求輸出頻譜。飛機(jī)模態(tài)分析10/10/8§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第8頁案例:鏜桿固有頻率測量10/10/9§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第9頁試驗(yàn):懸臂梁固有頻率測量10/10/10§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第10頁案例:橋梁固頻測量原理:在橋中設(shè)置一三角形障礙物,利用汽車礙時沖擊對橋梁進(jìn)行激勵,再經(jīng)過應(yīng)變片測量橋梁動態(tài)變形,得到橋梁固有頻率。10/10/11§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第11頁二、系統(tǒng)對單位階躍輸入響應(yīng)單位階躍輸入一階系統(tǒng)響應(yīng)二階系統(tǒng)響應(yīng)輸出輸入X(s)=1/sx(t)=u(t)0t<0=1t>010/10/12§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第12頁單位階躍激勵下穩(wěn)態(tài)輸出誤差理論上為零系統(tǒng)初始上升斜率為
在理論上,系統(tǒng)響應(yīng)到達(dá)穩(wěn)態(tài)—無意義∴對一階裝置越小越好,達(dá)穩(wěn)態(tài)時間越短。一階系統(tǒng):10/10/13§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第13頁二階系統(tǒng):
在單位階躍激勵下穩(wěn)態(tài)輸出誤差也為零,但其響應(yīng)主要決定于,。↑,響應(yīng)越快;
,連續(xù)振蕩,達(dá)不到穩(wěn)態(tài);
,雖不發(fā)生振蕩,但也需要較長時間才能到達(dá)穩(wěn)態(tài);
響應(yīng)在偏離穩(wěn)態(tài)不到2%~5%范圍內(nèi)?!?0/10/14§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第14頁
若系統(tǒng)輸入信號為單位階躍信號,即:x(t)=u(t),則X(s)=1/s,此時Y(s)=H(s)/sH(f)時域波形參數(shù)識別階躍響應(yīng)函數(shù)10/10/15§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第15頁階躍響應(yīng)函數(shù)測量
試驗(yàn)求階躍響應(yīng)函數(shù)簡單明了,產(chǎn)生一個階躍信號,再測量系統(tǒng)輸出就能夠了。原理:在橋中懸掛重物,然后突然剪斷繩索,產(chǎn)生階躍激勵,再經(jīng)過應(yīng)變片測量橋梁動態(tài)變形,得到橋梁固有頻率。案例:橋梁固有頻率測量10/10/16§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第16頁§2.5實(shí)現(xiàn)不失真測試條件設(shè)有一個測試裝置,其輸出與輸入滿足:-----------------⑴輸出和輸入波形一致,只是幅值放大了倍,
時間延遲—測試裝置實(shí)現(xiàn)了不失真測量對⑴作傅立葉變換:若
10/10/17§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第17頁則所以,測試裝置實(shí)現(xiàn)不失真測試條件:
—稱幅值失真
成線性關(guān)系—稱相位失真10/10/18§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第18頁注:滿足不失真測試條件后,裝置輸出仍滯后于輸入若測試結(jié)果用作反饋控制信號,則此滯后影響系統(tǒng)穩(wěn)定性。應(yīng)使滯后↓。實(shí)際裝置極難實(shí)現(xiàn)完全理想不失真常測試—有誤差—只能將波形失真限制在一定誤差范圍內(nèi)。一階裝置:
時間常數(shù)愈小,裝置響應(yīng)愈快,近于滿足不失真測試條件通頻帶愈寬。所以時間常數(shù)標(biāo)準(zhǔn)上愈小愈好。10/10/19§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第19頁二階裝置:⒈,數(shù)值較小,且靠近直線,改變不超出10%,
波形輸出失真很小。,靠近,且隨改變甚小,此時將實(shí)測電路反相,
則基本滿足不失真條件。但此時過小,輸出幅值太小。⒉,可取得較為適當(dāng)綜合特征;~~頻率范圍內(nèi),
改變不超出5%,同時也靠近于直線,所以相位失真也很小。10/10/20§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第20頁
設(shè)測試系統(tǒng)輸出y(t)與輸入x(t)滿足關(guān)系
y(t)=A0x(t-t0)系統(tǒng)不失真測量條件
該系統(tǒng)輸出波形與輸入信號波形準(zhǔn)確地一致,只是幅值放大了A0倍,在時間上延遲了t0而已。這種情況下,認(rèn)為測試系統(tǒng)含有不失真特征。tAx(t)y(t)=A0x(t)y(t)=A0x(t-t0)時域條件10/10/21§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第21頁
y(t)=A0x(t-t0)Y(ω)=A0e-jωt0X(ω)不失真測試系統(tǒng)條件幅頻特征和相頻特征應(yīng)分別滿足
A(ω)=A0=常數(shù)φ(ω)=--t0ω做傅立葉變換
頻域定義10/10/22§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第22頁§2.6測試裝置動態(tài)特征測試§2.6.1頻率響應(yīng)法§2.6.2階躍響應(yīng)法
主要敘述對裝置本身動態(tài)特征測試方法10/10/23§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第23頁§2.6.1頻率響應(yīng)法經(jīng)過穩(wěn)態(tài)正弦激勵試驗(yàn)求其幅頻和相頻特征曲線,。對于一階裝置:主要確定其時間常數(shù),10/10/24§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第24頁對于二階裝置:1)從相頻特征直接預(yù)計其動態(tài)特征參數(shù),——但準(zhǔn)確測定相角較難。2)從幅頻特征曲線預(yù)計動態(tài)特征參數(shù):對欠阻尼系統(tǒng),峰值稍偏離處,或10/10/25§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第25頁當(dāng)甚小時,先求,再求。由
當(dāng)時,,當(dāng)甚小時靠近峰值。令,代入中:10/10/26§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第26頁在曲線上,在峰值處作水平線交曲線于a,b對應(yīng)頻率
則10/10/27§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第27頁§2.6.2階躍響應(yīng)法(在工程中慣用)
(一)由一階裝置階躍響應(yīng)求其動態(tài)特征參數(shù)
★估算:測得一階裝置階躍響應(yīng),取輸出值到達(dá)最終穩(wěn)態(tài)值63%所經(jīng)過時間作為時間常數(shù)。★準(zhǔn)確計算:一階裝置階躍響應(yīng)表示式:(不可靠,取決于某瞬時值,有誤差)10/10/28§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第28頁所以成線性關(guān)系,作曲線,依其斜率計算(此法利用了全部測試數(shù)據(jù),測試結(jié)果較可靠)10/10/29§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第29頁(二)由二階裝置階躍響應(yīng)求其動態(tài)特征參數(shù)
10/10/30§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第30頁—有阻尼固有頻率其瞬態(tài)響應(yīng)為以為園頻率作衰減振蕩,
各振蕩峰值對應(yīng)時間,
,
,,……當(dāng)
時,
為超調(diào)量10/10/31§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第31頁所以
作圖,
求阻尼比
若:測響應(yīng)較長瞬變過程,用和求阻尼比,10/10/32§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第32頁當(dāng)時,以1代替,則
10/10/33§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第33頁1、一階系統(tǒng)溫度酒精濕度§2.6.3經(jīng)典系統(tǒng)動態(tài)響應(yīng)10/10/34§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第34頁特征:測量滯后階躍響應(yīng)傳遞函數(shù)10/10/35§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第35頁一階系統(tǒng)時間常數(shù)測量:階躍響應(yīng)0.6310/10/36§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第36頁試驗(yàn):一階系統(tǒng)時間常數(shù)對測量影響10/10/37§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第37頁2二階系統(tǒng)稱重(應(yīng)變片)F加速度10/10/38§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第38頁特征:震蕩脈沖響應(yīng)傳遞函數(shù)§2.6.4經(jīng)典系統(tǒng)動態(tài)響應(yīng)10/10/39§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第39頁二階系統(tǒng)參數(shù)測量脈沖響應(yīng)/階躍響應(yīng)函數(shù)法:tbM1M2fn=1/tb10/10/40§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第40頁傳遞函數(shù)法0.70710/10/41§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第41頁阻尼系數(shù)和固頻作用10/10/42§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第42頁試驗(yàn):二階系統(tǒng)參數(shù)對測量影響10/10/43§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第43頁§2.7負(fù)載效應(yīng)
§2.7.1定義:大多數(shù)測量元件(或儀表)總要從被測對象中吸收一些能量,它會或多或少地改變被測量數(shù)值,這種效應(yīng)稱為測試裝置負(fù)載效應(yīng)。為比較各種儀表負(fù)載效應(yīng),在電測儀表中慣用輸入阻抗來表示:10/10/44§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第44頁——測量元件消耗功率,為使,需使儀表含有很大輸入阻抗§2.7.2辦法:1、采取輔助能源放大器,使測量元件只從被測環(huán)節(jié)上取得微小功率,再借助放大器使儀表取得所需功率,降低前一步驟功率損耗。2、利用負(fù)反饋技術(shù)組成零位測量,在到達(dá)平衡時,理論上可認(rèn)為不消耗被測介質(zhì)中能量。3、提升輸入阻抗,使放大器輸出阻抗減小。10/10/45§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第45頁V=ER2/(R2+R1)VRm
實(shí)際測量工作中,測量系統(tǒng)和被測對象會產(chǎn)生相互作用。測量裝置組成被測對象負(fù)載。彼此間存在能量交換和相互影響,以致系統(tǒng)傳遞函數(shù)不再是各組成步驟傳遞函數(shù)疊加或連乘。
ER1R2V=ER2Rm/[R1(Rm+R2)+RmR2]令R1=100K,R2=150K,Rm=150K,E=150V,得:U0=90V,U1=64.3V,誤差達(dá)28.6%。10/10/46§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第46頁案例:物料配重自動測量系統(tǒng)靜態(tài)參數(shù)測量
靈敏度=△y/△x非線性度=B/A×100%回程誤差=(hmax/A)×100%測量范圍:10/10/47§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第47頁§2.8測試裝置抗干擾§2.8.1測量裝置干擾源§2.8.2防供電干擾§2.8.3防信道干擾§2.8.4接地§2.8.5提升系統(tǒng)精度10/10/48§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第48頁
測量過程中,除待測量信號外,各種不可見、隨機(jī)信號可能出現(xiàn)在測量系統(tǒng)中。這些信號與有用信號疊加在一起,嚴(yán)重扭曲測量結(jié)果。測量系統(tǒng)抗干擾
測量系統(tǒng)信道干擾電磁干擾電源干擾10/10/49§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第49頁1)電磁干擾:干擾以電磁波輻射方式經(jīng)空間串入測量系統(tǒng)。2)信道干擾:信號在傳輸過程中,通道中各元件產(chǎn)生噪聲或非線性畸變所造成干擾。2)電源干擾:這是因?yàn)楣╇婋娫床▌訉y量電路引起干擾。
普通說來,良好屏蔽及正確接地可去除大部分電磁波干擾。使用交流穩(wěn)壓器、隔離穩(wěn)壓器可減小供電電源波動影響。信道干擾是測量裝置內(nèi)部干擾,能夠在設(shè)計時選取低噪聲元器件,印刷電路板設(shè)計時元件合理排放等方式來增強(qiáng)信道抗干擾性。10/10/50§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第50頁其它應(yīng)用:
肌電誘發(fā)電位儀T生理信號傳導(dǎo)速度60m/s-70m/s10/10/51§24測試裝置對任意輸入的響應(yīng)第51頁§2.8.1測量裝置干擾源
電磁場干擾——外部電磁波輻射;信道干擾——裝置
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