電成像資料質(zhì)量控制

聲電成像測(cè)井資料質(zhì)量控制祗淑華華北事業(yè)部解釋中心精選課件電成像測(cè)井原理簡(jiǎn)介電成像測(cè)井資料質(zhì)量控制精選課件斯倫貝謝阿特阿斯國(guó)產(chǎn)技術(shù)指標(biāo)EMIFMISTAR-ⅡMCI－AMCI－B連接長(zhǎng)度(cm)7348029351039小于8米重量(kg)225211272223－關(guān)腿直徑(mm)127127140127127最小井眼(cm)160160165160160最大井眼(cm)533533406500500最大壓力(MPa)138138138100100最大溫度(oC)175175175155150井別裸眼井裸眼井裸眼井裸眼井裸眼井泥漿類(lèi)型水基水基水基水基水基測(cè)井速度(m/h)550550365225225儀器是否居中居中居中居中居中居中傳感器類(lèi)型微電阻率電極微電阻率電極微電阻率電極微電阻率電極微電阻率電極鈕式電極數(shù)(個(gè))150(25/極板)192(24/極板)144(24/極板)120(20/極板)144(24/極板)垂直分辨率(cm)0.50.50.50.50.5覆蓋率(8”井眼)60%80%60%48%60％1、常見(jiàn)儀器及性能精選課件1、極板和測(cè)量電極向地層發(fā)射同極性電流，極板對(duì)測(cè)量電極的電流起著聚焦作用；2、電流通過(guò)井筒鉆井液和地層構(gòu)成回路，回到回路電極；3、極板測(cè)量電極電位是恒定的，回路電極離供電電極較近，測(cè)量電極的電流大小主要反映井壁附近地層電阻率的大小。極板推靠器電子線(xiàn)路短節(jié)絕緣短節(jié)絕緣外套遙測(cè)/測(cè)斜

電流電流線(xiàn)等位面⊿URa=KI測(cè)量電極回路電極2、數(shù)據(jù)采集與圖像形成（以MCI為例）精選課件

MCI儀器主要指標(biāo)最高溫度：155℃最大壓力：100MPa數(shù)據(jù)傳輸：100Kbps/430Kbps最大外徑：127mm儀器長(zhǎng)度：8.3m井眼范圍：160～500mm井眼覆蓋率(8in)：60％(Pad6,24/Pad)測(cè)量模式：慢掃/傾角模式（100K），慢掃/快掃/傾角模式（430K)測(cè)速：100K-225m/h(慢掃），900m/h（傾角）430K-225m/h(慢掃），450m/h(快掃)，900m/h（傾角）測(cè)斜測(cè)量范圍：井斜角：0°～90°±0.2°(井斜大于3°)，井斜方位：0°～360°±2°電阻率測(cè)量范圍0.2～5000m縱向分辨率：5mm精選課件MCI采集信息原始采集數(shù)據(jù)快道：6組陣列電扣曲線(xiàn)；測(cè)斜：11條（三加速、三磁通，四條方位曲線(xiàn)）；監(jiān)控曲線(xiàn)：張力、測(cè)速、6條井徑、6條用于傾角計(jì)算的曲線(xiàn)及其它監(jiān)控曲線(xiàn)等。精選課件原始采集曲線(xiàn)曲線(xiàn)名曲線(xiàn)意義GR1GR曲線(xiàn)(GR)SPD1測(cè)速曲線(xiàn)(SPD)TEN_CABLE1張力曲線(xiàn)(TEN)DEV40/HAZ40/P1AZ40/RB401快道井斜角、井斜方位、P1AZ方位、相對(duì)方位DEV/HAZ/P1AZ/RB1慢道井斜角、井斜方位、P1AZ方位、相對(duì)方位AX,AY,AZ,MX,MY,MZ3三軸加速度、三軸磁分量曲線(xiàn)TIME_MCI1MCI幀采樣時(shí)間曲線(xiàn)WDS1144個(gè)點(diǎn)陣列數(shù)據(jù)（IBTN1-IBTN6）IWDS1現(xiàn)場(chǎng)處理圖像陣列數(shù)據(jù)(I_IBTN1-I_IBTN6)DB401-DB4066六條極板單電扣快道曲線(xiàn)，用于傾角計(jì)算DB1-DB6,DB6六條極板單電扣或平均慢道曲線(xiàn)，用于監(jiān)控；D1-D33三條直徑CAL1-66六條半徑EI1EMEX電流曲線(xiàn)EV1EMEX發(fā)射電壓曲線(xiàn)MCI監(jiān)控曲線(xiàn)…1監(jiān)控儀器工作狀態(tài)…1…三參數(shù)短節(jié)測(cè)量曲線(xiàn)1井溫、泥漿電阻率、張力曲線(xiàn)7Ib1VEmexIEmex23456891011211精選課件曲線(xiàn)名轉(zhuǎn)換到DLIS下名稱(chēng)曲線(xiàn)意義用途GR1GRGR曲線(xiàn)校深A(yù)X,AY,AZ3RAX,RAY,RAZ-or-GAZF三軸加速度曲線(xiàn)質(zhì)量檢測(cè)；加速度校正；TEN_CABLE1TEN張力曲線(xiàn)MX,MY,MZ3FX,FY,FZ三軸磁分量曲線(xiàn)EV1EVEMEX發(fā)射電壓曲線(xiàn)EMEX校正DEV401DEV井斜角圖像獲取及傾角計(jì)算HAZ401DAZ井斜方位圖像獲取及傾角計(jì)算P1AZ401AZ1號(hào)極板方位圖像獲取RB401RB1號(hào)極板相對(duì)方位傾角計(jì)算D1-D33CAL1,CAL2,CAL3三條直徑圖像獲取及傾角計(jì)算CAL1-66RAD1,RAD2,…,RAD6六條半徑圖像獲取及傾角計(jì)算WDS1IBTN1-IBTN6或P1BTN-P6BTN144個(gè)點(diǎn)陣列數(shù)據(jù)圖像獲取及傾角計(jì)算DB401-DB4066DIP1-DIP6六條極板單電扣曲線(xiàn)，監(jiān)控，傾角計(jì)算EI1EIEMEX電流曲線(xiàn)監(jiān)控用SPD1SPD測(cè)速曲線(xiàn)監(jiān)控用其它曲線(xiàn)…監(jiān)控用

參與處理及解釋的重要曲線(xiàn)說(shuō)明精選課件地層中不同的巖石（泥巖、砂巖、石灰?guī)r）、流體，其電阻率是不一樣的，通過(guò)測(cè)量井壁各點(diǎn)的電阻率值，然后把電阻率值的相對(duì)高低用灰度（黑白圖）或色度（彩色圖）來(lái)表示，那么，井壁就可表示成一張黑白圖象或彩色圖象。高阻低阻圖像生成精選課件成像圖一般分為靜態(tài)平衡圖像和動(dòng)態(tài)加強(qiáng)圖像兩種。靜態(tài)平衡圖像采用全井段統(tǒng)一配色，目的是反映全井段的相對(duì)電阻率的變化，一般與淺側(cè)向測(cè)井值相對(duì)應(yīng)，用于巖相分析和地層劃分。動(dòng)態(tài)加強(qiáng)圖像是一種在用戶(hù)選定的滑動(dòng)深度窗口內(nèi)（一般不超過(guò)3ft）進(jìn)行重新配色，突出局部井段電阻率的變化，顯示更詳細(xì)的局部靜態(tài)（全井段動(dòng)態(tài)）的圖像，此時(shí)顏色變化更能揭示各種地質(zhì)事件，如結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、裂縫、溶孔、層理、粒序等，但顏色不再與電阻率具有一一對(duì)應(yīng)關(guān)系。精選課件電成像測(cè)井原理簡(jiǎn)介電成像測(cè)井資料質(zhì)量控制精選課件“綜合圖像效果”影響因素多樣化：全過(guò)程質(zhì)量控制!MCI系統(tǒng)用戶(hù)關(guān)注核心穩(wěn)定性、可靠性綜合圖像效果定量化評(píng)價(jià)手段儀器采集系統(tǒng)施工/測(cè)前設(shè)計(jì)資料驗(yàn)收處理解釋極板性能EMEX控制發(fā)射功率采集數(shù)字化高精度測(cè)斜MCI質(zhì)量控制快速處理極板壓力優(yōu)選采集質(zhì)量控制深度校正預(yù)處理圖像生成定量化評(píng)價(jià)高精度沉積分析構(gòu)造分析孔洞縫參數(shù)量化評(píng)價(jià)……成果提交圖像顯示平臺(tái)接口1、影響成像測(cè)井資料質(zhì)量主要因素精選課件1)要求導(dǎo)電的井眼流體，不能在油基泥漿中測(cè)井。2)井中泥餅不能太厚，否則成像效果差。3)附在極板鈕扣上的油污會(huì)影響成像質(zhì)量。（1）外界環(huán)境因素精選課件（2）現(xiàn)場(chǎng)采集采集模式現(xiàn)場(chǎng)施工控制參數(shù)優(yōu)選極板壓力試驗(yàn)；EMEX與測(cè)量信號(hào)監(jiān)控控制；確保居中測(cè)量；精選課件韓15-10向1（中石油煤層氣）采集模式錯(cuò)誤，圖像與深度無(wú)法匹配，無(wú)法處理，為不合格資料原因：數(shù)據(jù)采集選取測(cè)量模式、參數(shù)有誤，使原始數(shù)據(jù)均進(jìn)行了5倍加密，但是測(cè)速?zèng)]有相應(yīng)的降低倍數(shù)，在數(shù)據(jù)量增加的過(guò)程中又丟失了大量數(shù)據(jù)，造成圖像質(zhì)量難以保證。精選課件測(cè)井過(guò)程中，理想狀態(tài)是始終保持儀器用最小的極板壓力獲得最佳的極板井壁接觸。增大極板壓力可使成像效果圖更為理想，但過(guò)大的極板壓力將導(dǎo)致極板的過(guò)早磨損以及工程安全問(wèn)題。理想的成像效果圖和工程安全問(wèn)題之間存在矛盾。極板壓力精選課件極板與井壁間隙會(huì)嚴(yán)重影響圖像質(zhì)量！間隙過(guò)大推靠力過(guò)小，圖像會(huì)模糊；推靠力過(guò)大則遇卡。遇卡中如調(diào)整極板張力將導(dǎo)致無(wú)法進(jìn)行加速度校正。因此，使用多大的推靠力來(lái)平衡施工安全和測(cè)井質(zhì)量是MCI測(cè)井的一個(gè)關(guān)鍵。極板壓力試驗(yàn)極板與井壁間隙對(duì)圖像質(zhì)量的影響精選課件極板壓力（PF）施工控制：推靠力---質(zhì)量控制、施工安全的統(tǒng)籌平衡關(guān)系；遇卡特征湖46-5井PF施工測(cè)試PF=4.5PF=5.8PF=7.6小卡4次卡6次卡16次精選課件不同PF下其平均井徑數(shù)值逼近常規(guī)平均井徑！如果MCI儀器測(cè)量的井徑在合理的刻度情況下，和常規(guī)井徑存在很大差異，說(shuō)明PF可能偏小，圖像質(zhì)量有可能受到影響!精選課件MCI-PF=2.9MCI-PF=4.6使用多大的推靠力來(lái)平衡施工安全和測(cè)井質(zhì)量是MCI測(cè)井的一個(gè)關(guān)鍵。推靠力過(guò)小，圖像會(huì)模糊；推靠力過(guò)大則遇卡，且難以校正。施工推薦:小井眼PF數(shù)值為3-4；8"井眼為4-5.5；任91井PF測(cè)試(3930-3940m)卡21次，9次大卡小卡14次PF=4.6PF=2.9精選課件PF=6.0PF=5.0PF=4.1鄂東3井PF實(shí)驗(yàn)精選課件EMEX與測(cè)量信號(hào)監(jiān)控控制EMEX發(fā)射信號(hào)過(guò)小導(dǎo)致圖像質(zhì)量欠佳EMEX控制提高圖像質(zhì)量,施工推薦：EMEX采取自動(dòng)方式；測(cè)量信號(hào)(DB系列曲線(xiàn))控制在1.5-6V；精選課件儀器出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題沒(méi)有補(bǔ)測(cè)—吉林伊23-1井問(wèn)題：處理的圖像全井段嚴(yán)重變形，無(wú)法反映任何地質(zhì)特征原因：半徑極板出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題預(yù)防方法：現(xiàn)場(chǎng)施工首先注意1、半徑、井徑曲線(xiàn)數(shù)值是否異常；2、儀器上井狀態(tài)是否正常；2、成像測(cè)井資料問(wèn)題（2011年）精選課件井徑曲線(xiàn)異常---伊12-1井（吉林）問(wèn)題：1、處理處理的圖像全井段嚴(yán)重呈有規(guī)律的弧形變化，反映的不是地質(zhì)特征；原因：井徑曲線(xiàn)出現(xiàn)問(wèn)題預(yù)防方法：現(xiàn)場(chǎng)施工首先注意如果不是斜井，某一條井徑出現(xiàn)數(shù)值變化較大的情況，應(yīng)該引起注意精選課件儀器旋轉(zhuǎn)過(guò)快池66-FMI/MCI7#旋轉(zhuǎn)陜350和陜347－7#儀器旋轉(zhuǎn)(24m/1次)精選課件極板深度不匹配--廟島3井（冀東）問(wèn)題：處理處理的圖像信息不能反映地層地質(zhì)特征處理出來(lái)的圖像不能正確反映裂縫、層理的角度、方位變化。原因：極板深度匹配出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題建議重新測(cè)井驗(yàn)證精選課件問(wèn)題：圖像出現(xiàn)沒(méi)有地質(zhì)意義的條紋問(wèn)題：圖像出現(xiàn)沒(méi)有地質(zhì)意義的條紋原因：電阻率曲線(xiàn)數(shù)據(jù)有問(wèn)題；建議重新測(cè)井驗(yàn)證精選課件數(shù)據(jù)不規(guī)范引起圖像畸變-----伊23-1井（吉林）問(wèn)題：1、某一道極板圖像發(fā)生變形原因：數(shù)據(jù)亂碼過(guò)長(zhǎng)。預(yù)防方法：現(xiàn)場(chǎng)操作工程師按照操作規(guī)范操作，測(cè)量井段樣按照規(guī)定，交付的數(shù)據(jù)必須是規(guī)范的數(shù)據(jù)。（包括曲線(xiàn)名稱(chēng)，采樣間隔、測(cè)量井段等等）精選課件問(wèn)題：1、處理處理的圖像無(wú)法指示正北方向，在方位圖像道，圖像不能顯示；原因：傾角、方位曲線(xiàn)定名不規(guī)范，采樣間隔與電阻率曲線(xiàn)不一致。預(yù)防方法：現(xiàn)場(chǎng)操作工程師按照操作規(guī)范操作，曲線(xiàn)名稱(chēng)、采樣間隔不要隨意改變。電阻率曲線(xiàn)采樣間隔為0.00254而傾角曲線(xiàn)采樣間隔為0.0762數(shù)據(jù)不規(guī)范傾角類(lèi)曲線(xiàn)無(wú)法參與計(jì)算---伊18-2井精選課件3、成像測(cè)井資料驗(yàn)收儀器刻度檢查：井徑刻度；ＧＲ刻度；儀器連接及電扣檢查；測(cè)前、測(cè)后應(yīng)在地面用井徑刻度器對(duì)六個(gè)獨(dú)立的井徑進(jìn)行檢查，與井徑刻度器標(biāo)稱(chēng)值對(duì)比，誤差在士0.762cm(士0.3in)以?xún)?nèi)。重要的現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量要求測(cè)井控制：測(cè)速；PF控制；EMEX調(diào)整;＜225m/h(MCI)；＜365m/h(STARⅡ);小井眼PF數(shù)值為3-4；8"井眼為4-5.5；精選課件所有曲線(xiàn)不能出現(xiàn)有規(guī)律的丟點(diǎn)或空值,典型為是:-999；EV曲線(xiàn)不能有單個(gè)跳點(diǎn)或負(fù)值；AZ曲線(xiàn)數(shù)值不能小于0;DEV復(fù)測(cè)誤差小于±0.4度；HAZ復(fù)測(cè)誤差小于±10度；原始資料的驗(yàn)收基本要求精選課件重點(diǎn)關(guān)注：（1）測(cè)斜質(zhì)量（按行標(biāo)要求）

方位曲線(xiàn)與微電阻率成像測(cè)井應(yīng)在同一組合內(nèi)測(cè)量，井斜角、方位角曲線(xiàn)無(wú)異常變化，無(wú)臺(tái)階和負(fù)值。

在12m井段內(nèi)，Ⅰ號(hào)極板方位角變化不應(yīng)大于360°。

重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井井斜角重復(fù)誤差在士0.4°以?xún)?nèi);當(dāng)井斜角大于0.5°時(shí)，井斜方位角重復(fù)誤差在士10°以?xún)?nèi)。重復(fù)儀器旋轉(zhuǎn)精選課件三加速度分量Ax、Ay、Az和三磁通門(mén)分量Fx、Fy、Fz的值應(yīng)連續(xù)變化，不能有突變；Ax、Ay、Az的絕對(duì)值小于10V。在垂直井中（井斜一般小于5度），Ax大于9V，Ay、Az小于1V;Fx、Fy、Fz的值視不同地區(qū)而不同。一號(hào)極板正對(duì)著北時(shí)，P1AZ為0度；儀器在水平面的投影根部指向北時(shí)，HAZ為0度。測(cè)斜信號(hào)質(zhì)量控制精選課件城深601井加速度曲線(xiàn)異常，無(wú)法做加速度校正。精選課件（2）井徑質(zhì)量（按行標(biāo)要求）

三井徑曲線(xiàn)變化正常（六條半徑曲線(xiàn)），除橢圓井眼外，在井眼規(guī)則處應(yīng)基本重合。

重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井井徑重復(fù)誤差在士0.762cm(士0.3in)以?xún)?nèi)

精選課件（3）圖像質(zhì)量（按行標(biāo)）極板數(shù)據(jù)未發(fā)現(xiàn)死電扣現(xiàn)象,無(wú)效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)四個(gè)；圖像極板整體匹配性良好；靜態(tài)圖像和電性剖面吻合；重復(fù)性精選課件微電阻率曲線(xiàn)變化正常，有相關(guān)性，不應(yīng)出現(xiàn)負(fù)值，并與其他微電阻率曲線(xiàn)有對(duì)應(yīng)性。電成像反映地層特征(裂縫、溶洞、層界面等)清晰，與聲成像具有一致性，與其他資料具有對(duì)應(yīng)性。重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的圖像特征一致圖像壓縮；與伽馬、電阻率的匹配精選課件精選課件3.26.1測(cè)前應(yīng)對(duì)垂直懸掛在井架上的儀器器進(jìn)行偏轉(zhuǎn)、旋轉(zhuǎn)檢查;對(duì)電極進(jìn)行靈敏度檢查，并記錄檢查結(jié)果。3.26.2測(cè)前、測(cè)后應(yīng)在地面用井徑刻度器對(duì)六個(gè)獨(dú)立的井徑進(jìn)行檢查，與井徑刻度器標(biāo)稱(chēng)值對(duì)比，誤差在士0.762cm(士0.3in)以?xún)?nèi)。3.26.3按井眼條件選擇扶正器，測(cè)井時(shí)極板壓力適當(dāng)。3.26.4無(wú)效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)四個(gè)。3.26.5微電阻率曲線(xiàn)變化正常，有相關(guān)性，不應(yīng)出現(xiàn)負(fù)值，并與其他微電阻率曲線(xiàn)有對(duì)應(yīng)性