SPC統(tǒng)計過程控制-講解的非常全-超好課件

統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCMonday,December12,2022統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessCont1統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC有一組數(shù)據(jù)不知道是什么?統(tǒng)計過程控制SPC有一組數(shù)據(jù)不知道是什么?2統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC描點作圖仍然不知道是什么!統(tǒng)計過程控制SPC描點作圖仍然不知道是什么!3統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC數(shù)據(jù)有問題?原來數(shù)據(jù)來源于兩個班次!統(tǒng)計過程控制SPC數(shù)據(jù)有問題?原來數(shù)據(jù)來源于兩個班次!4統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC整理一下數(shù)據(jù)原來是這樣!統(tǒng)計過程控制SPC整理一下數(shù)據(jù)原來是這樣!5統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC找出數(shù)據(jù)規(guī)律可以預(yù)測和控制了!Y=X+3Y=1.5X+1Y=kX+b3=0k+b(0,3)9=6k+b(6,9)k=1b=3Y=kX+b10=6k+b(6,10)7=4k+b(4,7)k=1.5b=1統(tǒng)計過程控制SPC找出數(shù)可以預(yù)測和控制了!Y=X+36統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC統(tǒng)計過程控制概述統(tǒng)計過程控制SPC統(tǒng)計過程控制7統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC持續(xù)改進是一切管理的核心一切管理的核心是能保持持續(xù)改進變差規(guī)律是通過數(shù)據(jù)分析得到揭示為尋求改進機會要研究變差的規(guī)律數(shù)據(jù)分析的基礎(chǔ)是測量系統(tǒng)的準(zhǔn)確統(tǒng)計過程控制SPC持續(xù)改進是一切管理的核心一切管理的核心是能8統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC持續(xù)改進是一切管理的核心持續(xù)改進的最基本特征------消除浪費控制預(yù)防----避免浪費----積極控制測試檢驗----容忍浪費----消極阻攔改進策劃----杜絕浪費----源頭根除統(tǒng)計過程控制SPC持續(xù)改進是一切管理的核心持續(xù)改進的最基本特9統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC持續(xù)改進是一切管理的核心持續(xù)改進的最基本特征------消除浪費避免浪費杜絕浪費SPCSPDStatisticalProcessControlStatisticalProcessDiagnosis統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程診斷統(tǒng)計過程控制SPC持續(xù)改進是一切管理的核心持續(xù)改進的最基本特10統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程管理的基本模型作業(yè)過程過程輸入過程輸出融合資源控制方法客戶呼聲產(chǎn)品服務(wù)人員機器材料環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)方法測量

滿足輸入改進提高統(tǒng)計過程控制SPC過程管理的基本模型作業(yè)過程過程輸入過程輸出11統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC統(tǒng)計過程控制系統(tǒng)的基本模型作業(yè)系統(tǒng)系統(tǒng)輸入系統(tǒng)輸出融合資源控制方法綜合處理后的數(shù)據(jù)人員機器材料環(huán)境方法測量的運行原始數(shù)據(jù)

特殊變差系統(tǒng)變差運行模型MSA統(tǒng)計技術(shù)計算軟件統(tǒng)計過程控制SPC統(tǒng)計過程控制系統(tǒng)的基本模型作業(yè)系統(tǒng)系統(tǒng)輸入12統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程控制的原理統(tǒng)計過程控制SPC過程控制的原理13統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程控制系統(tǒng)的四個基本原理

一.過程1.過程的定義:合理配置資源,能有效控制地將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的集合2.過程性能的體現(xiàn):取決于供需雙方的溝通過程的設(shè)計和實施方式過程的運作和管理方式統(tǒng)計過程控制SPC過程控制系統(tǒng)的四個基本原理14統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程控制系統(tǒng)的四個基本原理

二.性能的信息過程的廣域信息由過程輸出直接獲得廣域信息是揭示過程的客觀運行實況過程的有用信息由過程本質(zhì)分析獲得有用信息是顯示過程實際與目標(biāo)差異過程的特征信息由過程變化波動獲得特征信息是采取改善輸出措施的依據(jù)統(tǒng)計過程控制SPC過程控制系統(tǒng)的四個基本原理二.性15統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程控制系統(tǒng)的四個基本原理

三.對過程采取措施對過程采取措施可以防止偏離目標(biāo)值對過程采取措施可以保持過程的穩(wěn)定對過程采取措施可以確保變差可接受統(tǒng)計過程控制SPC過程控制系統(tǒng)的四個基本原理三.對過程16統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程控制系統(tǒng)的四個基本原理

四.對輸出采取措施僅對輸出采取措施只能是臨時的管理方法僅對輸出采取措施不能改善產(chǎn)品質(zhì)量特性僅對輸出采取措施不能改善過程的穩(wěn)定性統(tǒng)計過程控制SPC過程控制系統(tǒng)的四個基本原理四.對17統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程變差統(tǒng)計過程控制SPC過程變差18在菜市場買瓜稱瓜的過程沒有兩個瓜的重量是一樣的日復(fù)一日同一個瓜也在發(fā)生著變異一根藤上的瓜各自重量也不一樣的同一個人用同一個秤對同一個瓜稱重存在差異秤的精度能長時間保持不變不同稱量單位都能保持準(zhǔn)確長期不作調(diào)整或作過度調(diào)整不同的人用同一個秤對同一個瓜稱重存在差異賣家和買家對同一瓜稱的結(jié)果也不同？稱瓜過程過程短期的變差測量的變差重復(fù)性穩(wěn)定性線性校正過程的變差樣本之間的變差過程長期的變差量具的變差測量人之間的變差交互作用的變差測量人自身的變差測量到的過程變差同一把秤也無法保證稱重的結(jié)果一樣兩次稱重的結(jié)果會完全一樣SPCMSA測量系統(tǒng)分析MSAMeasurementSystemsAnalysis19在菜市場買瓜稱瓜的過程沒有兩個瓜的重量是一樣的日復(fù)一日同一個統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差變差形成的原因即使是相同的研究對象之間,也都存在著差異.任何一個過程,都會受到外界客觀條件的影響.對象或過程是動態(tài)的,對過程研究也是動態(tài)的.受影響有偶然的,短期的;也有必然的,長期的.統(tǒng)計過程控制SPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差變差形成的原因20統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差普通變差由于研究對象其存在固有的特征而產(chǎn)生的差異特殊變差由于過程中不確定因素短期作用而產(chǎn)生的差異系統(tǒng)變差過程中存在的有一定規(guī)律長期作用所致的差異統(tǒng)計過程控制SPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差普通變差特殊變21統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差普通變差------穩(wěn)定狀態(tài)的分布模型統(tǒng)計過程控制SPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差普通變差--22統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差足夠的樣本樣本的輪廓樣本的數(shù)學(xué)模型普通變差------穩(wěn)定狀態(tài)的分布模型統(tǒng)計過程控制SPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差足夠的樣本樣本23統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差普通變差------穩(wěn)定狀態(tài)的分布模型由于研究對象其存在固有的特征而產(chǎn)生的差異統(tǒng)計過程控制SPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差普通變差--24Distribution／分布狀態(tài)Diameter50mm60mm70mm80mm90mm50mm60mm70mm80mm90mm統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlDistribution／分布狀態(tài)Diameter50mm625如果樣本規(guī)模足夠大，對于任意總體，樣本平均數(shù)的取樣分布類似于正態(tài)分布。中心極限定理總體樣本平均數(shù)統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControl如果樣本規(guī)模足夠大，對于任意總體，樣本平均數(shù)的取樣分布類似于26正式定義：如果從一個有限的平均數(shù)為μ和標(biāo)準(zhǔn)差?的總體中重復(fù)地抽取數(shù)量為n的隨機樣本，那么，當(dāng)n足夠大時，各個樣本平均數(shù)(從重復(fù)和樣本中計算得來)的分布將近似正態(tài)，其平均數(shù)為μ并且標(biāo)準(zhǔn)疘等于總體標(biāo)準(zhǔn)差?除以n的平方根。(注：當(dāng)n增加時，近似值變得更精確)。中心極限定理統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControl正式定義：中心極限定理統(tǒng)計過程控制27我們?yōu)槭裁匆弥行臉O限定理?

它意味著正態(tài)總體的假定經(jīng)常并不是很關(guān)鍵的，且我們能在更廣的范圍內(nèi)應(yīng)用統(tǒng)計學(xué)方法。中心極限定理是違反直覺的。中心極限定理統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControl我們?yōu)槭裁匆弥行臉O限定理?中心極限定理統(tǒng)計過程控制28統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差位置發(fā)生變化寬度發(fā)生變化形狀發(fā)生變化理想狀態(tài)實際狀態(tài)特殊變差------非穩(wěn)定狀態(tài)的分布模型由于過程中不確定因素短期作用而產(chǎn)生的差異典型值變化最值距離變化對稱值變化統(tǒng)計過程控制SPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差位置發(fā)生變化寬29統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差時間設(shè)定目標(biāo)過程中存在的有一定規(guī)律長期作用所致的差異系統(tǒng)變差---穩(wěn)定但不能接受的分布模型實現(xiàn)目標(biāo)統(tǒng)計過程控制SPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差時間設(shè)定目標(biāo)過30統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差如果只存在普通變差,隨著時間的推移,過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布,并且可以預(yù)測.時間目標(biāo)測量的實際狀態(tài)可以推斷的狀態(tài)統(tǒng)計過程控制SPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差如果只存在普通31統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差如果存在特殊變差,隨著時間的推移,過程的輸出是一個不穩(wěn)定的分布,并且不可預(yù)測.時間目標(biāo)測量的實際狀態(tài)狀態(tài)無法推斷?統(tǒng)計過程控制SPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差如果存在特殊變32統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差時間設(shè)定目標(biāo)系統(tǒng)變差實現(xiàn)目標(biāo)如果存在系統(tǒng)變差,隨著時間的推移,過程的輸出是一個趨勢性穩(wěn)定的分布,并且可以預(yù)測.統(tǒng)計過程控制SPC普通變差,特殊變差和系統(tǒng)變差時間設(shè)定目標(biāo)系33統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程控制統(tǒng)計過程控制SPC過程控制34統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程控制如果過程保持統(tǒng)計控制狀態(tài),并且其分布的位置,離散度、起始點都不發(fā)生變化則過程表現(xiàn)為服從可預(yù)測分布,那么其性能是可預(yù)測的.連續(xù)作業(yè)的工程規(guī)范符合的比例是可以估算的統(tǒng)計過程控制SPC過程控制35統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程控制過程控制是管理者所關(guān)注的焦點旨在建立起一個穩(wěn)定的作業(yè)體系

統(tǒng)計過程控制SPC過程控制過程控制是管理者所關(guān)注的焦點36統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程控制過程控制:消除過程中的特殊原因,建立穩(wěn)定的狀態(tài)時間目標(biāo)找出原因采取糾正措施統(tǒng)計過程控制SPC過程控制過程控制:消除過程中的特殊原時間目37統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程中局部控制措施和系統(tǒng)控制措施局部控制措施消除過程中引起變差的特殊原因局部措施通常由直接相關(guān)人員實施局部措施一般可以糾正15%的過程問題統(tǒng)計過程控制SPC過程中局部控制措施和系統(tǒng)控制措施局部控制措38統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程中局部控制措施和系統(tǒng)控制措施系統(tǒng)控制措施消除過程中引起變差的普通或有規(guī)律的原因系統(tǒng)措施是改善管理,通常由管理人員實施系統(tǒng)措施一般可以糾正85%的過程問題統(tǒng)計過程控制SPC過程中局部控制措施和系統(tǒng)控制措施系統(tǒng)控制措39統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程能力過程能力指數(shù)統(tǒng)計過程控制SPC過程能力40統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC消除過程中的普通原因,使過程受控并具有符合規(guī)范的能力過程能力ProcessCapability統(tǒng)計過程控制SPC消除過程中的普通原因,使過過程能力41統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程能力ProcessCapability是過程本身所固有的最佳性能.由普通原因綜合作用后確定的過程能力固有的最佳狀態(tài)是相對的,并不說明能符合規(guī)范要求規(guī)范要求過程實況統(tǒng)計過程控制SPC過程能力是過程本身所固有的最佳性能.由普42統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程是否具有能力是客戶關(guān)注的焦點客戶希望能得到符合自己要求的產(chǎn)品

過程能力ProcessCapability統(tǒng)計過程控制SPC過程是否具有能力是客戶關(guān)注的焦點過程能力43統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程能力過程能力:消除過程中的普通原因,使過程受控并具有符合規(guī)范的能力時間目標(biāo)受控具有能力具有能力統(tǒng)計過程控制SPC過程能力過程能力:消除過程中的普通原因,使44統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程性能指數(shù)ProcessPerformance一個過程總偏差的總范圍短期的性能指數(shù):PpPpk是從一個操作循環(huán)中獲取測量結(jié)果進行計算出來的過程固有的,無容差約束的性能:Pp:分布中心與理論中心重合Ppk:分布中心與理論中心不重合指數(shù)的計算數(shù)據(jù)不能包含特殊的奇異數(shù)據(jù)過程能力和過程能力指數(shù)統(tǒng)計過程控制SPC過程性能指數(shù)ProcessPerfor45統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程能力指數(shù)ProcessCapability一個穩(wěn)定過程的固有偏差的總范圍長期的能力指數(shù):CpCpk是從長期穩(wěn)定操作循環(huán)中獲取的測量結(jié)果進行計算出來的過程特有的,有容差約束的能力:Cp:分布中心與容差中心重合Cpk:分布中心與容差中心不重合指數(shù)的計算數(shù)據(jù)不能包含特殊的奇異數(shù)據(jù)過程能力和過程能力指數(shù)統(tǒng)計過程控制SPC過程能力指數(shù)ProcessCapabi46統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程能力指數(shù)雙側(cè)公差情況的過程能力指數(shù)計算公式Cp=

T6σ=6σTU-TL=6σTU-TLT為技術(shù)公差的幅度,TUTL分別為上下公差界限σ為質(zhì)量特性值分布的總體標(biāo)準(zhǔn)差.用:R/d2

或s/c4來估計R為樣本極差R為其平均值,S為樣本標(biāo)準(zhǔn)差S為其平均值D2和C4為表定系數(shù),因為σ是總體參數(shù),所以必須在穩(wěn)態(tài)估計統(tǒng)計過程控制SPC過程能力指數(shù)雙側(cè)公差情況的過程能力指數(shù)計47統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC各種分布情況下的Cp值過程能力指數(shù)雙側(cè)公差情況的過程能力指數(shù)Cp<1Cp=0.67σ=1.5p=4.45%TLTLTLTUTUTUCp=1Cp=1σ=1.0p=0.27%Cp>1Cp=1.33σ=0.75p=60ppmCp>1Cp=1.67σ=0.60p=0.6ppm統(tǒng)計過程控制SPC各種分布情況下的Cp值過程能力指數(shù)雙側(cè)公48SPC統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControl過程能力指數(shù)雙側(cè)公差情況的過程能力指數(shù)SPC統(tǒng)計過程控制過程能力指數(shù)雙側(cè)公差情況的過程能力指數(shù)49統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程能力指數(shù)單側(cè)公差情況的過程能力指數(shù)計算公式CPU=

3σTU-μ=3sTU-XT為技術(shù)公差的幅度,TUTL分別為上下公差界限σ為質(zhì)量特性值分布的總體標(biāo)準(zhǔn)差,S為樣本標(biāo)準(zhǔn)差(X<TU)只有上限要求沒有下限要求CPL=

3σμ-TL

=3sX-TU(TU<X)沒有上限要求只有下限要求統(tǒng)計過程控制SPC過程能力指數(shù)單側(cè)公差情況的過程能力指數(shù)計50(1-K)(1-K)=統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程能力指數(shù)有偏移情況的過程能力指數(shù)計算公式CPK=

T6σ=6σ(1-K)CP=TM-μK=

T/22T(0<K<1)T/2εMμPU顯然:當(dāng)

μ=M

時,K=0CPK=CPM-μ(1-K)(1-K)51SPC統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControl過程能力指數(shù)雙側(cè)公差情況的過程能力指數(shù)

例題已知:過程處于穩(wěn)定狀態(tài),計算過程能力指數(shù)CP和CPK給定公差:TL=100TU=200

R=13.435X=13.687SPC統(tǒng)計過程控制過程能力指數(shù)雙側(cè)公差情況的過程能力指數(shù)52統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC統(tǒng)計過程控制SPC53SPC統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControl解:由題給定:

R=13.435當(dāng)n=5時,查表得:d2=2.326σ=R/

d2=13.435/2.326=5.776μ=X=163.687M=(100+200)/2=150故:CP====2.89T6σTU-TL6σ6*5.776200-100ε=μ-M=X-M=163.687-150=13.687K=εT/2=13.68750=0.27374所以:CPK=(1-K)CP=(1-0.27374)*2.89=2.10SPC統(tǒng)計過程控制解:由題給定:R=13.435σ=R54過程性能指數(shù)PP=(USL-LSL)/6σS

PPK=min[(USL-X)/3σS,(X-LSL)/3σS]此時：∑ni=1n－1(Xi－X)2σS=統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControl過程性能指數(shù)∑ni=1n－1(Xi－X)2σS=統(tǒng)計過程控制55CPK與PPK的區(qū)別過程固有變差—僅由于普通原因產(chǎn)生的那部份過程變差，可以從控制圖上通過R/d2來估計。過程變差—由于普通和特殊兩種原因所造成的變差，本變差可用樣本標(biāo)準(zhǔn)差S來估計：Xi為單值讀數(shù)∑ni=1n－1(Xi－X)2σS=S=統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlCPK與PPK的區(qū)別∑ni=1n－1(Xi－X)2σS=S=56CMK指數(shù)：驗證設(shè)備能力CMK=(USL-LSL)/6σcmk其中σcmk=∑ni=1n－1(Xi－T)2T為規(guī)范的目標(biāo)值統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlCMK指數(shù)：驗證設(shè)備能力σcmk=∑ni=1n－1(Xi－T57統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程改進統(tǒng)計過程控制SPC過程改進58統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程改進既不受統(tǒng)計控制,又受到多種變差的影響,過程波動很大,不具有滿足要求的能力有特殊變差造成過程波動但還具有滿足要求的能力雖受統(tǒng)計控制,但由于普通變差造成過程的波動過大,不具有滿足要求的能力受統(tǒng)計控制,且具有滿足要求的能力不受控制受控制具備能力不具備能力控制能力過程類型統(tǒng)計過程控制SPC過程改進既不受統(tǒng)計控制,又受到多有特殊變差59統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC過程持續(xù)改進的三階段循環(huán)分析階段過程的現(xiàn)狀,受統(tǒng)計控制的能力,滿足要求的能力維護階段發(fā)現(xiàn),認(rèn)識和理解特殊變差,并盡量消除這些變差改進階段發(fā)現(xiàn),認(rèn)識和理解普通變差,并盡量消除這些變差進入下一個改進的分析階段統(tǒng)計過程控制SPC過程持續(xù)改進的三階段循環(huán)分析階段維護階段改60統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC分析階段維護階段改進階段搜集數(shù)據(jù)確定界限畫控制圖識別特殊變差識別普通變差采取措施消除特殊變差監(jiān)視過程監(jiān)視過程趨勢消除普通變差改進過程上控制限上控制限中心線8奇異點對奇異點采取措施后奇異點過程受控制并且具有滿足要求的能力統(tǒng)計過程控制SPC分析階段維護階段改進階段搜集數(shù)據(jù)確定界限畫61統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC統(tǒng)計過程控制實施統(tǒng)計過程控制SPC統(tǒng)計過程控制62統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC統(tǒng)計過程控制實施概述SPC就是應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)對過程中的各個階段進行監(jiān)測和評估,及時發(fā)現(xiàn)和修正偏差,從而來保證過程滿足要求的均勻性和穩(wěn)定性統(tǒng)計過程控制SPC統(tǒng)計過程控制實施SPC就是應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)對過63統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC數(shù)據(jù)的二種類型統(tǒng)計過程控制SPC數(shù)據(jù)的二種類型64統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC數(shù)據(jù)的二種類型連續(xù)型隨機變量全部可能取到的值是充滿一個區(qū)間無法按一定的次序一一加以列出統(tǒng)計規(guī)律符合正態(tài)分布(Normaldistribution)一般稱之為:計量型數(shù)據(jù)統(tǒng)計過程控制SPC數(shù)據(jù)的二種類型連續(xù)型隨機變65統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC數(shù)據(jù)的二種類型離散型隨機變量全部可能取到的值是有限個或是可列無限多個

一般稱之為:計數(shù)型數(shù)據(jù)統(tǒng)計過程控制SPC數(shù)據(jù)的二種類型離散型隨機變量一般稱之為66統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC數(shù)據(jù)的二種類型離散型隨機變量又細(xì)分二種計件特性--測量結(jié)果只分:是與否兩種統(tǒng)計規(guī)律符合二項分布(Binomialdistribution)計點特性--測量同類缺陷的個(點)數(shù)統(tǒng)計規(guī)律符合泊松分布(Poissondistribution)統(tǒng)計過程控制SPC數(shù)據(jù)的二種類型離散型隨機變量又細(xì)分二種67統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC計量型數(shù)據(jù)控制圖統(tǒng)計過程控制SPC計量型數(shù)據(jù)控制圖68統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC計量型數(shù)據(jù)控制圖計量型數(shù)據(jù)的特征假如X服從正態(tài)分布,則X也服從正態(tài)分布.若X不服從正態(tài)分布,則根據(jù)中心極限定理,可證明X近似服從正態(tài)分布.因此,用正態(tài)分布的理論去研究現(xiàn)場計量數(shù)據(jù)的特征是非常有效和科學(xué)的統(tǒng)計過程控制SPC計量型數(shù)據(jù)控制圖計量型數(shù)據(jù)的特征69統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC計量型數(shù)據(jù)控制圖計量型數(shù)據(jù)的特征測量值可能各不相同，但是都具有相同的數(shù)據(jù)特征,形成一組以后,它們趨向于形成一個可描述的圖形,并能建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型揭示其分布規(guī)律統(tǒng)計過程控制SPC計量型數(shù)據(jù)控制圖計量型數(shù)據(jù)的特征70統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC計量型數(shù)據(jù)控制圖計量型數(shù)據(jù)分析的特征大多過程的輸出具有可測量的特性表達量化的值比簡單地表達信息更直觀通過對少量子樣的分析,可以推斷母樣的狀態(tài)可以確定量化的改進措施縮短采取糾正措施的時間統(tǒng)計過程控制SPC計量型數(shù)據(jù)控制圖計量型數(shù)據(jù)分析的特征71統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC計量型數(shù)據(jù)控制圖計量型數(shù)據(jù)控制圖的特征為了更直觀了解數(shù)據(jù)的位置離散寬度和圖形對稱等情況計量型數(shù)據(jù)控制圖一般都把描述位置變化的圖和描述離散寬度的圖配成對一起使用統(tǒng)計過程控制SPC計量型數(shù)據(jù)控制圖計量型數(shù)據(jù)控制圖的特征72計量型數(shù)據(jù)控制圖均值-極差圖(X-R)均值-標(biāo)準(zhǔn)差圖(X-s)中位數(shù)-極差圖((X-R)單值-移動極差圖(X-MR)?統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX計量型數(shù)據(jù)控制圖?統(tǒng)計過程控制SPCX73統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC計量型數(shù)據(jù)控制圖均值-極差圖(X-R)過程現(xiàn)場最常用的控制圖,它廣泛運用于控制長度,重量,強度,純度,時間等場合統(tǒng)計過程控制SPC計量型數(shù)據(jù)控制圖過程現(xiàn)場最常用的控制圖,它74統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖準(zhǔn)備工作建立適合控制實施的環(huán)境資源,支持,配合定義所研究的過程因果分析,流程明確要控制的特性客戶要求,特性之間的關(guān)系分析和確定測量系統(tǒng)測量系統(tǒng)的標(biāo)定統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖準(zhǔn)備工作75統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集2.計算控制界限3.過程控制解釋4.過程能力解釋統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集76統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集1.1、選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)1.1.1子組大?。耗艽_定合理的子組是控制效果和效率的關(guān)鍵子組的變差是代表在很短時間內(nèi)對象的變差子樣特征應(yīng)能體現(xiàn)子樣是在相同條件下生成統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集77統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集1.1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)1.1.2子組頻率：

在初期研究時，組與組之間間隔時間很短，以檢查和判斷有無不穩(wěn)定因素的存在。當(dāng)確認(rèn)過程是穩(wěn)定的以后,根據(jù)穩(wěn)定的情況可適當(dāng)放長間隔時間.統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集78合理子群包括：

子群內(nèi)的共有原因誤差子群之間的可指出原因誤差時間Y因變量共有原因誤差可指出(特殊)原因誤差使子群內(nèi)的誤差最小化使子群間的誤差最大化合理子群每個方格都代表一個子群的數(shù)據(jù)合理子群包括：

子群內(nèi)的共有原因誤差時間Y因變量共有原79統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集1.1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)1.1.3原始數(shù)據(jù)：決定子組數(shù)多少的二個原則要確保產(chǎn)生變差的原因有機會出現(xiàn)要能夠檢驗和判斷過程的穩(wěn)定狀態(tài)一般情況下子組數(shù)25個以上,零件總數(shù)150個以上統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集80統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集1.1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)1.1.4原始數(shù)據(jù)：統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集81統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集1.2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)1.2.1建立控制圖應(yīng)先作R圖,等R圖穩(wěn)定以后,再作X圖.(GB/T4091-2001)

統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集82統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集1.2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)1.2.2建立控制圖X-R圖:X圖在上R圖在下縱坐標(biāo)為XR值,橫坐標(biāo)為子組取樣時間統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集83統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集1.2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)1.2.3記錄原始數(shù)據(jù)與控制有關(guān)的數(shù)據(jù):讀數(shù)的和,均值,極差與管理有關(guān)的數(shù)據(jù):日期,時間,對象,記錄者統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集84統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX均值圖R極差圖數(shù)據(jù)表讀數(shù)數(shù)值子樣時間管理數(shù)據(jù)統(tǒng)計過程控制SPCX均值圖R極差圖數(shù)據(jù)表讀數(shù)數(shù)值子樣時間85統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集1.3計算每個子組的均值(X)和極差(R)

nΣi=1XX1Xi==+X2X3Xn+++…nR=XminXmaxn1X為子樣測量值n為子樣總量值統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集nXX1Xi=86統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集1.4選擇控制圖刻度

均值圖(X圖):最大與最小刻度值差是均值最大與最小值差的2倍極差圖(R圖):最小值為零與最大值的差為最大極差值的2倍極差圖(R圖)的刻度值設(shè)置為均值圖(X圖)刻度值的2倍(使二圖的控制限寬度相近,便于觀察和分析)統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集87統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集1.5將均值(X)和極差值(R)畫到控制圖上

先在表上找到數(shù)據(jù)的坐標(biāo),畫點,然后用線段依次將各點連起來形成一個折線圖形.同一數(shù)據(jù)的均值圖縱坐標(biāo)和極差圖縱坐標(biāo)應(yīng)縱向?qū)?yīng)在搜集到的數(shù)據(jù)還未能計算控制限的初期,圖形不能作為改進分析的依據(jù)統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖1.原始數(shù)據(jù)收集88統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖2.計算控制界限2.1計算過程均值(X)和平均極差值(R)

kΣi=1X=XkX3X2X1=k1Xi++++….kRRiRkR3R2R1k++++….=kΣi=1k1=k為子組數(shù)統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖2.計算控制界限kX=XkX389統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖2.計算控制界限2.2計算控制界限控制界限是為了顯示僅存在普通變差時子組可變化的范圍X上限UCLx=X+A2RX下限LCLx=X-A2RR上限UCLR=D4RR下限LCLR=D3RD4,D3,A2為常數(shù)注:n<7時LCLR可能為負(fù)值,此時沒有下控制限統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖2.計算控制界限控制界限是為了90統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖2.計算控制界限2.3在控制圖上作控制界限UCLRLCLUCLLCLR受控過程的極差不受控過程的極差奇異點UCLRLCL受控過程但有不良趨勢的極差統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖2.計算控制界限UCLRLCL91統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.1首先分析極差圖(R)上的數(shù)據(jù)受控制過程的極差點隨機均勻地分布在中心線兩側(cè),控制界限以內(nèi)適當(dāng)?shù)膮^(qū)域統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋92統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.1首先分析極差圖(R)上的數(shù)據(jù)有非周期性超出控制上,下限的點：是偶然特殊原因造成的，要調(diào)查、分析、糾正。統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋93統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.1首先分析極差圖(R)上的數(shù)據(jù)有周期性超出控制上,下限的點：是某個特殊原因作用造成的，要尋找、分析、糾正。統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋94統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.1首先分析極差圖(R)上的數(shù)據(jù)連續(xù)7個點有上升或下降趨勢說明離散度正在變化，系統(tǒng)原因在逐步起作用統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋95統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.1首先分析極差圖(R)上的數(shù)據(jù)連續(xù)7個點在平均值上側(cè)或下側(cè),但趨勢平穩(wěn)說明離散度不在變化，某個普通原因在持續(xù)起作用統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋96統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.1首先分析極差圖(R)上的數(shù)據(jù)出現(xiàn)明顯非隨機圖形：一般情況下三分之二的點落在控制線的三分之一的區(qū)域內(nèi)三分之一的點落在控制線的三分之二的區(qū)域內(nèi)統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋97統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.1首先分析極差圖(R)上的數(shù)據(jù)出現(xiàn)明顯非隨機圖形：一般情況下三分之二的點落在控制線的三分之一的區(qū)域內(nèi)三分之一的點落在控制線的三分之二的區(qū)域內(nèi)統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋98統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.2識別并標(biāo)注特殊原因（極差圖）

在發(fā)生特殊原因時，在控制圖上進行標(biāo)注應(yīng)用直方圖,因果圖等.分析特殊原因應(yīng)用排列圖,對策表等.擬定針對措施應(yīng)用矩陣圖,系統(tǒng)圖等.落實改進措施統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋99統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.3重新計算控制界限（極差圖）通過初次研究把已被識別的特殊原因,從R和X中去除重新計算新的平均極差和上下控制界限注意:不明原因的“壞數(shù)據(jù)”不能輕易去除,否則會掩蓋某些因素統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋100統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.4分析均值圖(X)上的數(shù)據(jù)超出控制界限：是特殊原因造成的。要尋找、分析、糾正。出現(xiàn)趨勢性傾向:連續(xù)7個點上升或下降，連續(xù)7個點在平均值一側(cè)，要查清原因，予以糾正。明顯非隨機圖形：一般情況下,點集中在中心線兩側(cè)或控制線內(nèi)側(cè)

過度調(diào)整也可能是原因之一統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋101統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.5識別并標(biāo)注特殊原因（均值圖）

在發(fā)生特殊原因時，在控制圖上進行標(biāo)注應(yīng)用直方圖,因果圖等.分析特殊原因應(yīng)用排列圖,對策表等.擬定針對措施應(yīng)用矩陣圖,系統(tǒng)圖等.落實改進措施統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋102統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.6重新計算控制界限（均值圖）通過初次研究把已被識別的特殊原因,從R和X中去除重新計算新的平均極差和上下控制界限注意:不明原因的“壞數(shù)據(jù)”不能輕易去除,否則會掩蓋某些因素統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋103統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.7延長控制界限子組容量沒有發(fā)生變化,數(shù)據(jù)都在控制界限內(nèi)可延長控制界限,實施對過程進行控制統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋104統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.7延長控制界限如子組容量發(fā)生變化應(yīng)重新估算新的極差和控制界限按原子組容量找出d2

并求出標(biāo)準(zhǔn)偏差：

=R/d2按新的子組容量得到d2,D3,D4,A2重新求出：Rnew=

*d2計算出新的極差和均值的控制界限UCLR=D4*RnewUCLX=X

+A2*Rnew

UCLR=D3*RnewLCLX=X

–A2*Rnew統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋105統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.8有關(guān)“控制”的理念完美無瑕的過程控制是不存在的從來不出現(xiàn)失控點的控制圖是多余的控制的目的不是強求完美,而是要求合理.統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋106統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖4.過程能力解釋解釋過程能力的前提:過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)過程中測量值服從正態(tài)分布測量變差相對較小,一般可以忽略不計

統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖4.過程能力解釋107統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖4.過程能力解釋解釋過程能力的要求:

工程及其他規(guī)范準(zhǔn)確地代表顧客的需求設(shè)計目標(biāo)值位于規(guī)范中心

統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖4.過程能力解釋108統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖4.過程能力解釋解釋過程能力的目的:

實施的過程是否有能力滿足顧客的要求過程是否有改進的可能統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖4.過程能力解釋109統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖4.過程能力解釋4.1、計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差=R/d2過程標(biāo)準(zhǔn)偏差R平均極差n子組樣本容量

如果過程的極差和均值都處于統(tǒng)計控制狀態(tài),則可以用估計的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差來評價過程的能力統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖4.過程能力解釋110統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖4.過程能力解釋4.2.1計算過程能力過程能力Z:以標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述過程均值X與規(guī)范界限SL的距離單邊容差:雙邊容差:Z=USL-X或Z=X-LSLZ=Z=USL-XX-LSLUSLLSLZmin=取ZUSL,ZLSL的最小值過程能力是按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值與規(guī)范界限的距離用Z來表示統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖4.過程能力解釋Z=USL-X111統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖4.過程能力解釋4.2.1計算過程能力指數(shù)過程能力指數(shù)Cpk:在穩(wěn)定的過程中,定義為:過程能力上下限CPU,CPL中的較小值:CPU=USL-XCPL=X-LSLZ=Z=USL-XX-LSLUSLLSLZmin=取ZUSL,ZLSL的最小值33因此:Cpk=Zmin3Zmin=4,Cpk=1.33Zmin=3,Cpk=1.00統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖4.過程能力解釋CPU=USL-112統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖4.過程能力解釋4.3

評價過程能力評價過程能力的前提:該過程已經(jīng)處于統(tǒng)計控制狀態(tài)評價過程能力的目的:對過程的性能進行可持續(xù)改進評價過程能力的要求:若評價過程的全面能力指數(shù)則Cpk>1.00若評價重要過程的特殊特性則Cpk>1.33統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖4.過程能力解釋113統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖4.過程能力解釋4.3

評價過程能力對未能滿足過程能力的評價采取措施減少各種普通原因引起的變差把過程均值調(diào)整到接近目標(biāo)值緊急措施 對產(chǎn)品進行分揀返工或返修缺陷改變或放寬規(guī)范

顯然:這是放縱缺陷,容忍浪費,不思改進是不應(yīng)采取的下策。統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖4.過程能力解釋114統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖4.過程能力解釋4.4

提高過程能力造成過程變異是特殊原因和普通原因綜合影響的結(jié)果特殊原因是突發(fā)的,顯見的.便于采取措施的短期作用普通原因才是頻發(fā)的隱性的難以采取措施的長期作用因此:要提高過程能力,應(yīng)集中精力減少普通原因的作用通常是對系統(tǒng)采取改善管理的措施,調(diào)整資源配置培訓(xùn)各類人員,改進工藝,改善測量系統(tǒng)和作業(yè)環(huán)境,來加以糾正統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖4.過程能力解釋115統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖4.過程能力解釋4.5對修改后的過程重新分析并繪制新控制圖采取改善管理系統(tǒng)措施后的過程,要重新抽取子樣進行計算，建立新的控制界限,并繪制新的控制圖.新控制圖應(yīng)該能體現(xiàn)出糾正措施有效,并得到驗證統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖4.過程能力解釋116統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC計量型數(shù)據(jù)控制圖均值-極差圖(X-R)例題統(tǒng)計過程控制SPC計量型數(shù)據(jù)控制圖117統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集2.計算控制界限3.過程控制解釋4.過程能力解釋統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集118統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集1.1確定樣本容量子組大小:n=5子組頻率:5個/每2小時子組數(shù):25組統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集119統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集1.2建立控制圖和數(shù)據(jù)表同一數(shù)據(jù)的均值圖縱坐標(biāo)和極差圖縱坐標(biāo)縱向?qū)?yīng)均值圖在上,極差圖在下統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集同一數(shù)據(jù)的120統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題確定樣本容量

n=5原始數(shù)據(jù)收集表統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題確定樣本容量n=5原始數(shù)據(jù)121統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集1.3計算子組的均值X和極差RnΣi=1XiXR===0.65+.070+0.65+0.65+0.85=3.503.50/5=0.700.85-0.65=0.20統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集nXiXR122統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集1.4選擇控制圖刻度

均值圖(X圖):最大與最小刻度值差是均值最大與最小值差的2倍極差圖(R圖):最小值為零與最大值的差為最大極差值的2倍極差圖(R圖)的刻度值設(shè)置為均值圖(X圖)刻度值的2倍(使二圖的控制限寬度相近,便于觀察和分析)統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集123統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集1.5將均值(X)和極差值(R)畫到控制圖上統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題1.原始數(shù)據(jù)收集124統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題2.計算控制界限2.1計算過程均值(X)

kΣi=1X==k1Xi25k為子組數(shù)=250.70+0.77+0.76+…….+0.66=0.716統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題2.計算控制界限kX==k125統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題2.計算控制界限2.1平均極差值(R)

kΣi=1R==k1Ri25k為子組數(shù)=250.20+0.20+0.10+…….+0.10=0.178統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題2.計算控制界限kR==k126統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題2.計算控制界限2.2計算控制界限X上限UCLx=X+A2RX下限LCLx=X-A2RR上限UCLR=D4R=2.11*0.178=0.376R下限LCLR(n<7不設(shè))D4,D3,A2為常數(shù)注:n<7時LCLR可能為負(fù)值,此時沒有下控制限=0.716+(0.58*0.178)=0.819=0.716-(0.58*0.178)=0.613統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題2.計算控制界限X上限127統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題2.計算控制界限2.3在控制圖上作控制界限UCLRLCLUCLLCLX統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題2.計算控制界限UCLRL128統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題3.過程控制解釋3.1首先分析極差圖(R)上的數(shù)據(jù)超出界限的奇異點,要找特殊原因本例題中無傾向性的長鏈出現(xiàn),無明顯的系統(tǒng)變差統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題3.過程控制解釋超出界限的奇129統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題3.過程控制解釋3.1首先分析極差圖(R)上的數(shù)據(jù)雖然本例題中無傾向性的長鏈出現(xiàn),無明顯的系統(tǒng)變差但25個數(shù)據(jù)中有16個介于0.112和0.244之間.(控制界限的三分之一區(qū)域內(nèi))存在明顯的非隨機圖形統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題3.過程控制解釋雖然本例題中130統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題3.過程控制解釋3.2識別并標(biāo)注特殊原因

圖中可以看出:奇異點是偶然因素所致可以排除統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題3.過程控制解釋圖中可以看出131統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖3.過程控制解釋3.3重新計算控制界限如子組容量發(fā)生變化應(yīng)重新估算新的極差和控制界限按原子組容量找出d2

并求出標(biāo)準(zhǔn)偏差：

=R/d2=0.169/2.33=0.0725按新的子組容量得到d2,求出：Rnew=

*d2=0.725*1.69=0.123計算出新的極差和均值的控制界UCLR=D4*Rnew=2.57*0.123=0.316

UCLR=D3*Rnew(n=3<7,不設(shè))UCLX=X

+A2*Rnew=0.863 LCLX=X

–A2*Rnew=0.613在去除了特殊點以后可以增加抽樣的頻率在樣本總量不變的情況下可減小子組容量n=3X=0.738A2=1.02R=0.123統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖3.過程控制解釋在去除了特殊點以132統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.1計算初始過程的控制參數(shù)R=0.169d2=2.33=0.0725X=0.738LSL=0.500n

=5USL=0.900LSLUSL0.5000.9000.7000.73800725R0.169X0.6130.863LCLUCLMLCL=0.613LCL=0.863M=0.700統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋R=0.133統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.2.1計算初始過程能力本例為雙邊容差其過程能力Z:Z=Z=USL-XX-LSLUSLLSLZmin=取ZUSL,ZLSL的最小值==0.738-0.5000.07250.900-0.7380.0725==2.233.28Zmin=2.23過程能力是按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值與規(guī)范界限的距離用Z來表示統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋Z=Z=134統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.2.1計算初始過程能力本例為雙邊容差其過程能力Z=2.23時超出規(guī)范的比例:PZUSL=0.0129(查自正態(tài)分布表)PZLSL=0.0005(查自正態(tài)分布表)Ptotal=0.0134(1.3%)出界概率統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋PZUSL=135統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.2.1計算初始過程能力LSLUSL0.5000.9000.7000.7380.0725XZLSL-3.28ZUSL2.23PZUSL0.0129PZlSL0.0005PZUSL=0.0129(查自正態(tài)分布表)PZLSL=0.0005(查自正態(tài)分布表)Ptotal=0.0134(1.3%)能力指數(shù)Cpk=Zmin3=2.233=0.74出界概率出界概率統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL136統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.3.評價過程能力LSLUSL0.5000.9000.7000.0725XZLSL-2.76ZUSL2.76PZUSL0.0029PZlSL0.0029能力指數(shù)Cpk=0.74<1.33(不滿足)采取緊急臨時措施:過程中心向規(guī)范中心調(diào)整0.700能力指數(shù)Cpk=Zmin3=2.763=0.92PZUSL=0.0029

PZLSL=0.0029

Ptotal=0.0058(0.6%)(仍然不能滿足)統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL137統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.3.評價過程能力LSLUSL0.5000.9000.7000.0725XZLSL-2.76ZUSL2.76PZUSL0.0029PZlSL0.0029對產(chǎn)品技術(shù)要求不高的過程采取過程中心向規(guī)范中心調(diào)整的措施提高合格率同時保證均勻性0.700統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL138統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.4過程能力提高-不改變過程中心

LSLUSL0.5000.9000.7000.7380.0405XZLSL-5.88ZUSL4.00要使過程能力達到Cpk>1.33,即Zmin=4為了消除普通變差的影響,提高實際過程能力,起到預(yù)期目標(biāo)的長期管理重新計算σnewσnew=USL-XZmin=0.900-0.7384=0.0405new標(biāo)準(zhǔn)偏差從0.0725減小到0.0405出界概率降低44%減小偏差統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL139統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.4過程能力提高-不改變過程中心

LSLUSL0.5000.9000.7000.7380.0405XZLSL-5.88ZUSL4.00new減小偏差對產(chǎn)品合格率要求高的過程采取不改變過程中心減小過程偏差的措施來提高產(chǎn)品的合格率統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL140統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.4.過程能力提高--改變過程中心

LSLUSL0.5000.9000.7000.0500XZLSL-4.00ZUSL4.000.700要使過程能力達到Cpk>1.33,即Zmin=4為了消除普通變差的影響,提高實際過程能力,起到預(yù)期目標(biāo)的長期管理重新計算σnewσnew=USL-XZmin=0.900-0.7004=0.0500標(biāo)準(zhǔn)偏差從0.0725減小到0.0500出界概率降低31%減小偏差統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL141統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.4.過程能力提高--改變過程中心

LSLUSL0.5000.9000.7000.0500XZLSL-4.00ZUSL4.000.700減小偏差對產(chǎn)品技術(shù)要求和合格率要求都比較高的過程采取既改變過程中心又減小過程偏差的措施來保證技術(shù)穩(wěn)定性和提高產(chǎn)品的合格率統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL142統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.4.過程能力提高-不變中心,放寬界限

LSLUSL0.5000.9000.7000.7380.0725XZLSL4.00ZUSL4.00這只能作為臨時措施容忍浪費和缺陷存在用返工和剔除來滿足USL=X+4σ=0.738+4*0.725=1.028LSL=X-4σ=0.738-4*0.725=0.4480.4481.028統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL143統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.4.過程能力提高-不變中心,放寬界限

LSLUSL0.5000.9000.7000.7380.0725XZLSL4.00ZUSL4.00在緊急或讓步情況下臨時放寬技術(shù)規(guī)范的界限保證適量的供貨告知和取得客戶同意這只能作為臨時措施容忍浪費和缺陷存在用返工和剔除來滿足0.4481.028統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL144統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.4過程能力提高-調(diào)整中心放寬規(guī)范界限LSLUSL0.5000.9000.7000.0725XZLSL-4.00ZUSL4.00USLnewLSLnew0.9900.410放寬控制界限是一種消極的辦法適當(dāng)調(diào)整中心比單純放寬要積極0.700USL=X+4σ=0.700+4*0.725=0.990LSL=X-4σ=0.700-4*0.725=0.410統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL145統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.4過程能力提高-調(diào)整中心放寬規(guī)范界限LSLUSL0.5000.9000.7000.0725XZLSL-4.00ZUSL4.00USLnewLSLnew0.9900.410放寬控制界限是一種消極的辦法適當(dāng)調(diào)整中心比單純放寬要積極0.700與產(chǎn)品價值相比改進成本相對較高的情況調(diào)整過程中心同時等距放寬規(guī)范界限以較小的成本提高合格率并保持均衡統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋LSLUSL146統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-R圖例題4.過程能力解釋4.4過程能力提高

過程能力的改進和提高要從幾個方面綜合考慮客戶的利益需求產(chǎn)品的重要程度供貨的緊急情況過程改進的成本統(tǒng)計過程控制SPCX-R圖例題4.過程能力解釋過程能力的改147統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPC計量型數(shù)據(jù)控制圖均值-標(biāo)準(zhǔn)差圖(X-s)適用于過程數(shù)據(jù)自動采集,計算.子組樣本容量較大統(tǒng)計過程控制SPC計量型數(shù)據(jù)控制圖適用于過程數(shù)據(jù)自動采集,計148統(tǒng)計過程控制StatisticalProcessControlSPCX-s圖1.原始數(shù)據(jù)收集計算每個子組的均值(X)