SPC統(tǒng)計(jì)過程控制概論

講師：嚴(yán)昭建E-mail:jacky@MobiletatisticalProcessControl

SPC統(tǒng)計(jì)過程控制

1課程行為準(zhǔn)則需要雙向的溝通（講師和學(xué)員）如果您有與課題相關(guān)的經(jīng)歷或資料，請與大家分享有問題作好記錄聯(lián)想式聽講－－我如何在工作中運(yùn)用這種工具或方法休息后準(zhǔn)時(shí)回來關(guān)閉手機(jī)或者使用振動方式如果您認(rèn)為課程過重請及時(shí)告訴講師2課程大綱控制圖的基本理論SPC控制圖的展開與應(yīng)用過程的受失控狀態(tài)過程能力研究SPC導(dǎo)入整體規(guī)劃31.控制圖的基本理論4SPC是英文StatisticalProcessControl的前綴簡稱,即統(tǒng)計(jì)過程控制。SPC就是應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)對過程中的各個(gè)階段收集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并調(diào)整制程，從而達(dá)到改進(jìn)與保證質(zhì)量的目的。什么是SPC5

戰(zhàn)后經(jīng)濟(jì)遭受嚴(yán)重破壞的日本在1950年通過休哈特早期的一個(gè)同事戴明(W.Ed-wardsDeming)博士，將SPC的概念引入日本。從1950～1980年，經(jīng)過30年的努力，日本躍居世界質(zhì)量與生產(chǎn)率的領(lǐng)先地位。美國著名質(zhì)量管理專家伯格(RogerW.Berger)教授指出，日本成功的基石之一就是SPC。

美國貝爾實(shí)驗(yàn)室休哈特博士（W.A.Shewhart）于1924年發(fā)明控制圖，開啟了統(tǒng)計(jì)品管的新時(shí)代。SPC興起的背景：起源1940’s二次世界大戰(zhàn)期間，美國軍工產(chǎn)品使用抽樣方案和控制圖以保證軍工產(chǎn)品的質(zhì)量。6SPC興起的背景：日本1950’s質(zhì)量管理大師戴明博士在日本工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程中全面推行SPC。日本JUSE（科學(xué)家協(xié)會）設(shè)置“戴明”獎，獎勵(lì)那些有效實(shí)施統(tǒng)計(jì)技術(shù)的企業(yè)。

石川磬提出“QC七工具”，幫助生產(chǎn)現(xiàn)場人員分析和改進(jìn)質(zhì)量問題，并推動廣泛應(yīng)用。1970’s

有效地推行“QCC圈”和應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)使日本經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，成為高品質(zhì)產(chǎn)品的代名詞。1980’s美國等其他國家緊隨日本的步伐，開始推行“QC小組”和統(tǒng)計(jì)技術(shù)的應(yīng)用。

美國汽車工業(yè)已大規(guī)模推行了SPC，如福特汽車公司，通用汽車公司，克萊斯勒汽車公司等，上述美國三大汽車公司在ISO9000的基礎(chǔ)上還聯(lián)合制定了QS9000標(biāo)準(zhǔn)，編制了SPC手冊。在與汽車有關(guān)的行業(yè)中，頗為流行。MOTOROLA公司頒布“QC挑戰(zhàn)”，通過SPC的實(shí)施改進(jìn)過程能力，并提出追求“6σ”目標(biāo)。1987ISO9000標(biāo)準(zhǔn)建立并頒布實(shí)施，明確要求實(shí)施統(tǒng)計(jì)技術(shù)。7SixSigmaTree中的統(tǒng)計(jì)技術(shù)….6σ達(dá)成（完美）５σ改善設(shè)計(jì)（果子最集中的地方）４σ過程改善（矮樹上的果子）３σ（地上的果子）全部的果子都在你手中啦能摘到這里的果子，基本上能達(dá)到小康了這里的果子很有限靠天吃飯，撿吃地上不多的果子2→3σ：5倍改善3→4σ：10倍改善4→5σ：27倍改善5→6σ：70倍改善因此：3→6σ：19,600倍改善8品管方法歷程1σ2σ3σ4σ5σ6σ

3.4

233

6,210

697,300

308,700

66,807產(chǎn)品檢查產(chǎn)品管制過程管制品管7手法(5S、QCC、ISO9001:2000)管理改進(jìn)(PDCA)一般公司THREESIGMA改善技術(shù)改進(jìn)(DMAIC)世界標(biāo)竿公司SIXSIGMA改善

方法

管制試驗(yàn)計(jì)劃與制程結(jié)合試驗(yàn)計(jì)劃與設(shè)計(jì)結(jié)合過程管制最佳化設(shè)計(jì)管制最佳化PPMAverageCompany一般公司Bestinclass世界標(biāo)竿公司9規(guī)格管理的危險(xiǎn)性Notjusttomeetcustomerorcontractualrequirements!!!—被BOSS訓(xùn)斥的痛苦!!!10SpecLSLUSLVeryCentered變異是我們的敵人

LCLUCL不良品已經(jīng)產(chǎn)生潛在不良出現(xiàn)控制線管理的益處11SPC統(tǒng)計(jì)的起始階段－直方圖將收集的測定值或數(shù)據(jù)之全距分為幾個(gè)相等區(qū)間作為橫軸，并將各區(qū)間內(nèi)之測定值所出現(xiàn)次數(shù)累積而成的面積以條狀方式排列起來所產(chǎn)生的圖形，稱之為直方圖。用途：1.了解分配型態(tài)2.研究制程能力3.工程解析與控制4.分配型態(tài)的統(tǒng)計(jì)檢定SPC基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì)知識12直方圖的作法收集數(shù)據(jù)計(jì)算組數(shù)組數(shù)＝樣本數(shù)的平方根計(jì)算全距：由全體數(shù)據(jù)中找出最大值與最小值之差。決定組距：組距=全距/組數(shù)

為便于計(jì)算平均數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差,組距常取2、5、10的倍數(shù)。決定各組之上下組界：|

先求出最小一組的下組界，再求出上組界依此類推，計(jì)算至最大一組之組界。

最小一組下組界=最小值-測定值之最小位數(shù)/2

最小一組上組界=下組界+組距決定組中點(diǎn)制作次數(shù)分布表制作直方圖130.6610.6500.6470.6460.6490.6450.6410.6500.6480.6490.6450.6470.6460.6550.6490.6580.6540.6600.6530.6590.6600.6650.6490.6510.6370.6500.6430.6490.6400.6460.6500.6440.6400.6520.6570.6480.6540.6500.6540.6550.6560.6570.6630.6620.6470.6470.6420.6430.6490.6480.6380.6380.6490.6420.6370.6550.6520.6540.6490.6570.6540.6580.6520.6610.6540.6450.6410.6440.6470.6410.6500.6520.6430.6410.6530.6470.6520.6490.6520.6530.6510.6600.6550.6580.6490.6470.6410.6440.6400.6430.6460.6340.6380.6450.6500.6480.6490.6500.6490.655(例)有一機(jī)械廠，為了解制品外徑尺寸之變化，由產(chǎn)品抽取100個(gè)樣本測定其外徑，測定結(jié)果如下表，試作次數(shù)分配表。實(shí)例說明14(1)定組數(shù)：

或(2)求組距：

全距＝Xmax－Xmin＝0.665－0.634＝0.031

組距＝＝0.0031→0.003(3)決定組距

第一組下組界＝最小測定－1/2測定單位

＝0.634－＝0.6335。

以0.6335累加0.003得各組之組界值，如次數(shù)分配表。(4)計(jì)算各組間之中心值

第一組中心值＝＝0.635以0.635累加0.003得各區(qū)間中心值。K=1+3.32Lgn15組數(shù)組界中心值劃記次數(shù)10.6335–0.63650.635120.6365-0.63950.638

530.6395-0.64250.641

1040.6425-0.64550.644

1150.6455-0.64850.647

1560.6485-0.65150.650

2270.6515-0.65450.653

1580.6545-0.65750.656

990.6575-0.66050.659

7100.6605-0.66350.602

4110.6635-0.66650.665

1合計(jì)

1001617演練

某電纜廠有兩臺生產(chǎn)設(shè)備,最近,經(jīng)常有不符合規(guī)格值(135~210g)異常產(chǎn)品發(fā)生,今就A,B兩臺設(shè)備分別測定50批產(chǎn)品,請解析并回答下列回題:1.作全距數(shù)據(jù)的直方圖.2.作A,B兩臺設(shè)備之層別圖3.由直方圖所得的情報(bào)，請

說明哪臺設(shè)備較不佳18收集數(shù)據(jù)如下:A設(shè)備

B設(shè)備17517916816518315614816515216116818818417017216715015013612316918217718615016116217013916217916018518016313211915715716318716919417817615715816516417317317716716617915016614415716217618316317516117217013716915316717417218418817715516015215615417317116216716015116315814616516917615517015314216914815519

雙峰型孤島型高原型

正態(tài)型鋸齒型絕壁型分布狀態(tài)判斷與規(guī)格值或標(biāo)準(zhǔn)值作比較下限上限表示制程之生產(chǎn)完全沒有依照規(guī)格去考慮,或規(guī)格訂得不合理,根本無法達(dá)到規(guī)格.LSLUSL100個(gè)機(jī)螺絲直徑直方圖。圖中的直方高度與該組的頻數(shù)成正比從直方圖到正態(tài)分布如果資料越多，分組越密，則機(jī)螺絲直徑直方圖也越趨近一條光滑曲線，如直方圖趨近光滑曲線圖所示。在極限情況下得到的光滑曲線即為分布曲線，它反映了產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)規(guī)律，如分布曲線圖所示23將各組的頻數(shù)用資料總和N=100除，就得到各組的頻率，它表示機(jī)螺絲直徑屬于各組的可能性大小。顯然，各組頻率之和為1。若以直方面積來表示該組的頻率，則所有直方面積總和也為1。24測定平均值在中心線或平均值兩側(cè)呈現(xiàn)左右對稱之分布極大值與極小值數(shù)量很小常態(tài)曲線左右兩尾與橫軸漸漸靠近但不相交曲線下的面積總和為1正態(tài)分布特征25統(tǒng)計(jì)學(xué)為了解被調(diào)查群體的某些隱含的特性，運(yùn)用合理的抽樣方法從被調(diào)查群體N中取得適當(dāng)?shù)臉颖緉，通過研究樣本來發(fā)現(xiàn)群體的特性!26主要統(tǒng)計(jì)學(xué)名詞群體于制造業(yè)而言，通常指在同一生產(chǎn)條件下符合特定要求的所有個(gè)體的集合!也可稱為批量記為N樣本于群體中抽樣而得的部份個(gè)體的集合!記為nμ群體平均值Xbar

樣本平均值σ群體標(biāo)準(zhǔn)差x/s

樣本標(biāo)準(zhǔn)差R

極差/全距

NormalDistribution

正態(tài)分布27數(shù)據(jù)的集中程度

平均數(shù)（總體）（樣本）

(XBar)

中位數(shù)

～

(XWave)

眾數(shù)md(Mode)28數(shù)據(jù)的離散程度R極差(Range)＝最大值－最小值＝Ｘmax－ＸminV方差/變異(Variation)(總體)

(樣本)S標(biāo)準(zhǔn)差Standarddeviation(總體)(樣本)29正態(tài)分布中，任一點(diǎn)出現(xiàn)在μ±1σ內(nèi)的概率為P(μ-σ<X<μ+σ)=68.26%μ±2σ內(nèi)的概率為P(μ-2σ<X<μ+2σ)=95.45%μ±3σ內(nèi)的概率為P(μ-3σ<X<μ+3σ)=99.73%68.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-1σ-2σ-3σ正態(tài)分布30正態(tài)分布概率(雙邊)μ±kσ在內(nèi)的概率在外的概率(P)μ±0.67σ50.00%50.00%μ±1σ68.26%31.74%μ±1.96σ95.00%5.00%μ±2σ95.45%4.55%μ±2.58σ99.00%1.00%μ±3σ99.73%0.27%31正態(tài)曲線單側(cè)的概率(P值)32正態(tài)分布的表達(dá)方式位置：中心值形狀：峰態(tài)分布寬度33不同的正態(tài)分布34不同的正態(tài)分布35不同的正態(tài)分布36目標(biāo)值線預(yù)測時(shí)間目標(biāo)值線尺寸時(shí)間？→兩種變差原因及兩種過程狀態(tài)如果僅存在變差的普通原因,隨著時(shí)間的推移,過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測如果存在變差的特殊原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定正態(tài)分布與兩種變差原因受控不受控37變差的普通原因

V.S.特殊原因普通原因CommonCause特殊原因SpecialCause１．大量之微小原因所引起,不可避免２．不管發(fā)生何種之普通原因，其個(gè)別

之變異極為微小３．幾個(gè)較代表性之普通原因如下：（１）原料之微小變異（２）機(jī)械之微小振動（３）儀器測定時(shí)不十分精確之作法４．實(shí)際上要除去制程上之普通原因，

是件非常不經(jīng)濟(jì)之處置１．一個(gè)或少數(shù)幾個(gè)較大原因所引起,可以避免２．任何一個(gè)特殊原因，都可能發(fā)生

大的變異３．幾個(gè)較代表性之特殊原因如下：（１）原料群體之不良（２）不完全之機(jī)械調(diào)整（３）新手之作業(yè)員４．特殊原因之變化不但可以找出其原

因，并且除去這些原因之處置，在

經(jīng)濟(jì)觀點(diǎn)上講常是正確的38Question請列出目前制程中人，機(jī)，料，法，環(huán)境中普通原因及特殊原因有哪些？39局部性的對策及系統(tǒng)性的對策局部問題的對策*通常用來消除特殊原因造成的變異*可以被制程附近的人員來執(zhí)行*一般可以改善制程的15%系統(tǒng)改善的對策*通常用來減低普通原因造成的變異*幾乎總是需要管理者的行動來加以矯正*一般可以改善制程的85%40對于一個(gè)新的機(jī)種或是新的制程而言，要先解決制程變異的普通原因還是特殊原因？為什么？Question41過程控制范圍不受控（存在特殊原因）受控（消除了特殊原因）持續(xù)改進(jìn)的思維模式42持續(xù)改進(jìn)的思維模式432.SPC控制圖的展開與應(yīng)用44控制圖是對過程質(zhì)量加以測定、記錄，從而進(jìn)行控制管理的一種用科學(xué)方法設(shè)計(jì)的圖。圖上有中心線(CL-CentralLine)、上控制界限(UCL-UpperControlLimit)和下控制界限(LCL-LowerControlLimit)，并有按時(shí)間順序抽取的樣本統(tǒng)計(jì)量數(shù)值的描點(diǎn)序列，參見控制圖示例圖?？刂茍D45控制圖由來說明46正態(tài)分布有一個(gè)結(jié)論對質(zhì)量管理很有用，即無論均值μ和標(biāo)準(zhǔn)差σ取何值，產(chǎn)品質(zhì)量特性值落在μ±3σ之間的概率為99.73%，于是落在μ±3σ之外的概率為100%一99.73%=0.27%，而超過一側(cè)，即大于μ-3σ或小于μ+3σ的概率為0.27%/2=0.135%≈1%，如正態(tài)分布曲線圖。這個(gè)結(jié)論十分重要?？刂茍D即基于這一理論而產(chǎn)生！控制圖原理68.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-1σ-2σ-3σ47控制圖的目的控制圖和一般的統(tǒng)計(jì)圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢，且能顯示變異系屬于普通原因或特殊原因，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而采取適當(dāng)之措施。利用控制限區(qū)隔是否為特殊原因48控制界限和規(guī)格界限有關(guān)嗎？規(guī)格界限(SL)：是用以說明質(zhì)量特性之最大許可值，來保證各個(gè)單位產(chǎn)品之正確性能?？刂平缦?CL)：應(yīng)用于一群單位產(chǎn)品集體之量度，這種量度是從一群中各個(gè)單位產(chǎn)品所得之觀測值所計(jì)算出來者。495051控制圖種類(以數(shù)據(jù)來分)計(jì)量值控制圖平均值與極差控制圖平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中位數(shù)與極差控制圖個(gè)別值與移動極差控制圖計(jì)數(shù)值控制圖不良率控制圖不良數(shù)控制圖缺點(diǎn)數(shù)控制圖單位缺點(diǎn)控制圖52控制圖種類(依用途來分)解析用控制圖決定方針用制程解析用制程能力研究用制程控制準(zhǔn)備用控制用控制圖追查不正常原因迅速消除此項(xiàng)原因并且研究采取防止此項(xiàng)原因重復(fù)發(fā)生之措施。解析用穩(wěn)定控制用53控制圖的益處合理使用控制圖能供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測地保持下去使過程達(dá)到更高的質(zhì)量更低的單件成本更高的有效能力為討論過程的性能提供共同的語言區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。54搜集數(shù)據(jù)繪解析用控制圖是否穩(wěn)定？繪直方圖是否滿足規(guī)格？控制用控制圖尋找特殊原因檢討機(jī)械、設(shè)備提升制程能力控制圖制作55建立控制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋56建立

圖的步驟AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計(jì)算每個(gè)子組的均值X和極差RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上57每個(gè)子組的平均值和極差的計(jì)算第一組第二組第三組第四組樣本11009899100樣本2989998101樣本39997100100樣本410010010199樣本51019999100平均99.698.699.4100極差333258平均值和極差平均值的計(jì)算R值的計(jì)算59Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)算控制限B3在控制圖上作出平均值和

極差控制限的控制線建立圖的步驟B6061Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識別并標(biāo)注特殊原因(極差圖)C3重新計(jì)算控制界限(極差圖)C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形C5識別并標(biāo)注特殊原因(均值圖)C6重新計(jì)算控制界限(均值圖)C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限建立圖的步驟C62Ｄ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力D3評價(jià)過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖并分析建立圖的步驟D63Chart練習(xí)某工廠制造一批紫銅管，應(yīng)用Xbar-R控制圖來控制其內(nèi)徑，尺寸單位為m/m，利用數(shù)據(jù)表之?dāng)?shù)據(jù)（n=5）：求得其控制界限并繪圖請判定過程是否穩(wěn)定？如果是不穩(wěn)定該如何處理？如果制程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自n=5調(diào)為n=4時(shí)，那么其新控制限為何？64使用控制圖的準(zhǔn)備建立適用于實(shí)施的環(huán)境定義過程確定待管理的特性，考慮到顧客的需求當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域特性間的相互關(guān)系確定測量系統(tǒng)(MSA)使不必要的變差最小65質(zhì)量特性與控制圖的選擇為保證最終產(chǎn)品的質(zhì)量特性,需要考慮以下幾個(gè)方面:認(rèn)真研究用戶對產(chǎn)品質(zhì)量的要求,確定這些要求哪些與質(zhì)量特性有關(guān),應(yīng)選擇與使用目的有重要關(guān)系的質(zhì)量特性來作為控制的項(xiàng)目.有些雖然不是最終產(chǎn)品質(zhì)量的特性,但為了達(dá)到最終產(chǎn)品的質(zhì)量目標(biāo),而在生產(chǎn)過程中所要求的質(zhì)量特性也應(yīng)列為控件目在同樣能夠滿足對產(chǎn)品質(zhì)量控制的情況下,應(yīng)該選擇容易測定的控件目.用統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行質(zhì)量控制如無質(zhì)量特性數(shù)據(jù)就無法進(jìn)行.66質(zhì)量特性與控制圖的選擇在同樣能夠滿足產(chǎn)品質(zhì)量控制的情況下,應(yīng)選擇對生產(chǎn)過程容易采取措施的控件目.為了使控制最終取得最佳效果,應(yīng)盡量采取影響產(chǎn)品質(zhì)量特性的根本原因有關(guān)的特性或接近根本原因的特性作為控件目.產(chǎn)品的質(zhì)量特性有時(shí)不止一個(gè),則應(yīng)同時(shí)采取幾個(gè)特性作為控件目.67使用控制圖的注意事項(xiàng)分組問題主要是使在大致相同的條件下所收集的質(zhì)量特性值分在一組,組內(nèi)不應(yīng)有不同本質(zhì)的數(shù)據(jù),以保證組內(nèi)僅有普通原因的影響.我們所使用的控制圖是以影響過程的許多變動因素中的普通因素所造成的波動為基準(zhǔn)來找出異常因素的,因此,必須先找出過程中普通原因波動這個(gè)基準(zhǔn).68時(shí)間質(zhì)量特性制程的變化分組時(shí)的重要考慮讓組內(nèi)變化只有普通原因讓組間變化只有特殊原因組內(nèi)變異小組間變異大69使用控制圖的注意事項(xiàng)分層問題同樣產(chǎn)品用若干臺設(shè)備進(jìn)行加工時(shí),由于每臺設(shè)備工作精度、使用年限、保養(yǎng)狀態(tài)等都有一定差異,這些差異常常是增加產(chǎn)品質(zhì)量波動、使散差加大的原因.因此,有必要按不同的設(shè)備進(jìn)行質(zhì)量分層,也應(yīng)按不同條件對質(zhì)量特性值進(jìn)行分層控制,作分層控制圖.另外,當(dāng)控制圖發(fā)生異常時(shí),分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法.70復(fù)合層別的說明71使用控制圖的注意事項(xiàng)控制界限的重新計(jì)算為使控制線適應(yīng)今后的生產(chǎn)過程,在確定控制圖最初的控制線CL、UCL、LCL時(shí),常常需要反復(fù)計(jì)算,以求得切實(shí)可行的控制圖.但是,控制圖經(jīng)過使用一定時(shí)期后,生產(chǎn)過程有了變化,例如加工工藝改變、刀具改變、設(shè)備改變以及進(jìn)行了某種技術(shù)改革和管理改革措施后,應(yīng)重新收集最近期間的數(shù)據(jù),以重新計(jì)算控制界限并作出新的控制圖.72控制界限的延用73取樣的方式取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小，組間變異大樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明74A收集數(shù)據(jù)：在計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：75B計(jì)算控制限76C過程控制解釋(同圖解釋)77D過程能力解釋SigmaP788mm之模具沖頭79A收集數(shù)據(jù)一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于10的情況，樣本容量為奇數(shù)時(shí)更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。80B計(jì)算控制限81C過程控制解釋(同X-R圖解釋)82估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：83單值控制在檢查過程變化時(shí)不如Xbar-R圖敏感。如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時(shí)要非常小心。單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用Xbar-R。由于每一子組僅有一個(gè)單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會有較大的變性，直到子組數(shù)達(dá)到100個(gè)以上。84A收集數(shù)據(jù)收集各組數(shù)據(jù)計(jì)算單值間的移動極差。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值(例如第一和第二個(gè)讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等)。移動極差的個(gè)數(shù)會比單值讀數(shù)少一個(gè)(25個(gè)讀值可得24個(gè)移動極差)，在很少的情況下，可在較大的移動組(例如3或4個(gè))或固定的子組(例如所有的讀數(shù)均在一個(gè)班上讀取)的基礎(chǔ)上計(jì)算極差。85B計(jì)算控制限86C過程控制解釋審查移動極差圖中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號。記住連續(xù)的移動極差間是有聯(lián)系的，因?yàn)樗鼈冎辽儆幸稽c(diǎn)是共同的。由于這個(gè)原因，在解釋趨勢時(shí)要特別注意?？捎脝沃祱D分析超出控制限的點(diǎn)，在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布，以趨勢或圖形。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用于X圖的規(guī)則來解釋時(shí)，可能會給出實(shí)際上不存在的特殊原因的信號87估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：式中，R為移動極差的均值，d2是用于對移動極差分組的隨樣本容量n而變化的常數(shù)。88例1：某制藥廠某種藥品堿的單耗數(shù)據(jù)如表，做單值-移動極差圖收集數(shù)據(jù)892）計(jì)算各組的統(tǒng)計(jì)量

計(jì)算樣本的平均值：計(jì)算移動極差Rsi及其平均值：90數(shù)據(jù)表如下：913）計(jì)算控制界限X控制圖Rs控制圖4）作控制圖9293不良和缺陷的說明結(jié)果舉例控制圖車輛不泄漏／泄漏P圖NP圖燈亮／不亮孔的直徑尺寸太小或太大給銷售商發(fā)的貨正確／不正確風(fēng)窗玻璃上的氣泡C圖U圖門上油漆缺陷發(fā)票上的錯(cuò)誤94用來測量在一批檢驗(yàn)項(xiàng)目中不合格品(不符合或所謂的缺陷)項(xiàng)目的百分?jǐn)?shù)。這可以是評價(jià)一個(gè)特性值（是否安裝了一個(gè)特殊的零件）或是許多特性值（在電氣系統(tǒng)檢查臺中是否發(fā)現(xiàn)某些不正常之處）。把被檢查的每一個(gè)組件，零件或項(xiàng)目記錄成合格或不合格（即使一個(gè)項(xiàng)目有幾處不合格，也僅記錄為一個(gè)不合格項(xiàng)）；把這些檢驗(yàn)的結(jié)果按一個(gè)有意義的基礎(chǔ)條件分組，并且把不合格的項(xiàng)目用占子組大小的十分之幾來表示。不合格品率的P圖

95P控制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋96建立p圖的步驟AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度A4將不合格品率描繪在控制圖97A1子組容量、頻率、數(shù)量子組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量(例如50~200)以便檢驗(yàn)出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品，但樣本數(shù)如果太大也會有不利之處。分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時(shí)間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾子組數(shù)量：要大于等于25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。98A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值被檢項(xiàng)目的數(shù)量─n發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量─np通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率99A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識別作為橫坐標(biāo)?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍。劃圖區(qū)域100A4將不合格品率描繪在控制圖上描繪每個(gè)子組的p值，將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多，檢查計(jì)算是否正確。記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時(shí)，將它們記錄在控制圖的“備注”部份。101Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算過程平均不合格品率B2計(jì)算上、下控制限B3畫線并標(biāo)注建立p控制圖的步驟B102計(jì)算平均不合格率及控制限103畫線并標(biāo)注均值用水平實(shí)線線：一般為黑色或藍(lán)色實(shí)線。控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會如下圖：1002003001002001001002003001001212121232104105收集數(shù)據(jù)繪圖及計(jì)算控制限是否異常延伸控制限N找出異常點(diǎn)原因并提出相應(yīng)措施制程有變化人機(jī)料法環(huán)測量Y控制限運(yùn)用說明106過程能力解釋普通原因和異因并存找出異因只剩普通原因運(yùn)用控制圖過程穩(wěn)定(連25點(diǎn)不超限)計(jì)算過程能力107評價(jià)過程能力過程穩(wěn)定，不良率維持在一定的水平當(dāng)中降低不良率采取管理上的措施降低普通原因，如此才能縮小控制界限，降低不良率縮小控制限108改善過程能力過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因─過程能力。在操作上診斷特殊原因(控制)變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因?？梢允褂弥T如排列圖分析法及因果分析圖等解決問題技術(shù)。但是如果僅使用計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在，通常盡可能地追溯變差的可疑原因，并借助計(jì)量型數(shù)據(jù)進(jìn)行分將有利于問題的解決109PChart練習(xí)以下是整理按每小時(shí)實(shí)施的對最終制品的抽樣檢查結(jié)果得出的DATA。494551272851454928516134844293樣本數(shù)不良品數(shù)時(shí)間

12345678910作成p管制圖，判定工程是否穩(wěn)定狀態(tài)。110因?yàn)榘l(fā)現(xiàn)了脫離控制上限的兩個(gè)點(diǎn)，所以不能說處于控制狀態(tài)。

進(jìn)而查明其原因。111不合格品數(shù)np圖“np”圖是用來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量，與p圖不同，np圖表示不合格品實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率。p圖和np圖適用的基本情況相同，當(dāng)滿足下列情況可選用np圖不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。各階段子組的樣本容量相同?！皀p”圖的詳細(xì)說明與p圖很相似，不同之處棄如下：112A收集數(shù)據(jù)受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù)(np)。113B計(jì)算控制限114過程控制解釋、過程能力解釋C過程控制解釋：同“p”圖的解釋。D過程能力解釋：過程能力如下：1151001001001001001001001001001001210121202不合格品數(shù)np圖116Casestudy組12345678910“n”150150150150150150150150150150“d”1013210210組11121314151617181920“n”150150150150150150150150150150“d”0102010210組2122232425“n”150150150150150“d”01201請計(jì)算出上表的np控制圖的控制限？請判定過程是否穩(wěn)定？如果是不穩(wěn)定該如何處理？117缺陷數(shù)c圖“c”圖用來測量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量，c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗(yàn)：不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上(例如每匹維尼龍上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn))，以及可以用不合格的平均比率表示的地方(如每100平方米維尼龍上暇疵)。在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格(例如：在一個(gè)修理部記錄，每輛車或組件可能存在一個(gè)或多個(gè)不同的不合格)。主要不同之處如下：118A收集數(shù)據(jù)檢驗(yàn)樣本的容量(零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度等)要求相等，這樣描繪的c值將反映質(zhì)量性能的變化(缺陷的發(fā)生率)而不是外觀的變化(樣本容量n)，在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量；記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的缺陷數(shù)(c)119B計(jì)算控制限120過程控制解釋、過程能力解釋過程控制解釋同p圖解釋過程能力解釋過程能力為c平均值，即固定容量n的樣本的缺陷數(shù)平均值。121包裝一套TV前欲用

c

管制圖管理。在過去

20天對每10臺外觀不良(缺點(diǎn))Check的結(jié)果發(fā)現(xiàn)如下。

作成c管制圖并分析。423746241320113345862

日期缺點(diǎn)數(shù)日期

缺點(diǎn)數(shù)1234567891011121314151617181920122發(fā)現(xiàn)了脫離管制上限的一個(gè)點(diǎn)，所以不能說處于管制狀態(tài)。

進(jìn)而查明其原因。123單位產(chǎn)品缺陷數(shù)的u圖“u”圖用來測量具有容量不同的樣本(受檢材料的量不同)的子組內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與c圖相似的?！皍”圖和“c”圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多于一個(gè)“單位產(chǎn)品”的量，為使報(bào)告值更有意義時(shí)，可以使用“u”圖，并且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用“u”圖?！皍”圖的繪制和“p”圖相似，不同之處如下：124A收集數(shù)據(jù)各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量保持在其平均值的正負(fù)25%以內(nèi)可以簡化控制限的計(jì)算。記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n式中c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量，n為子組中樣本容量(檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量)，c和n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。125B計(jì)算控制限126過程控制解釋、過程能力解釋過程控制解釋同p圖解釋過程能力解釋過程能力為u平均，即每報(bào)告單元缺陷數(shù)平均值。127為管理Enamel銅線的涂裝工程，調(diào)查了

PinHole的數(shù)。

因標(biāo)本的長度，根據(jù)種類變化，所以使用每

1000m

的PinHole的數(shù)

作成

u管制圖時(shí)，

得到了如下數(shù)據(jù)。

判定工程的管理狀態(tài)與否。1.01.01.01.01.045335253215242648139試料的大小缺點(diǎn)數(shù)試料的大小缺點(diǎn)數(shù)(單位

:1000m)128129根據(jù)部分群大小計(jì)算上下限也不同吧!!沒有脫離制度限的點(diǎn)，也看不出異常要因明顯的習(xí)性，可以說處于管制狀態(tài)。

129“n”=10~25控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定“n”是否一定樣本大小n≧2N平均值是否

方便計(jì)算？“n”是否較大“u”圖“c”圖“np”圖“p”圖X-mR圖Xwave-R圖Xbar-R圖Xbar-s圖計(jì)數(shù)值計(jì)量值“n”=1n≧2不便方便“n”=2~5缺陷數(shù)不良數(shù)不一定一定一定不一定控制圖的選擇130公式匯整131CASESTUDY質(zhì)量特性樣本數(shù)選用什么圖長度5重量10乙醇比重1電燈亮／不亮100每一百平方米的臟點(diǎn)100平方米132兩種控制圖之比較計(jì)量值控制圖計(jì)數(shù)值控制圖優(yōu)點(diǎn)1.很靈敏,容易調(diào)查原因2.可及時(shí)反應(yīng)不良、使品質(zhì)穩(wěn)定1．所需數(shù)據(jù)可用簡單方法獲得2．對整體品質(zhì)水準(zhǔn)了解方便缺點(diǎn)1．抽樣頻率高、費(fèi)時(shí)2．?dāng)?shù)據(jù)需測量和計(jì)算，使用者需經(jīng)專門訓(xùn)練。1．無法尋求不良原因2．及時(shí)性不足，易延誤時(shí)機(jī)133CaseStudy請根據(jù)公司質(zhì)量工程表/控制計(jì)劃討論各制程適當(dāng)?shù)目刂泣c(diǎn)，及可選用之控制圖1343.過程的受失控狀態(tài)135目標(biāo)值線預(yù)測時(shí)間目標(biāo)值線尺寸時(shí)間？→兩種變差原因及兩種過程狀態(tài)(1)兩種性質(zhì)的變差原因如果僅存在變差的普通原因,隨著時(shí)間的推移,過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測如果存在變差的特殊原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定兩種原因136μ+3σμ+3σμ-3σμ-3σμμUCLLCLCL●●時(shí)間T控制圖的形成137αβ虛發(fā)警報(bào)和漏發(fā)警報(bào)兩種錯(cuò)誤138控制圖的分區(qū)xUCLCLLCLtCCBABA139受控狀態(tài)的判斷過程數(shù)據(jù)的分布曲線隨時(shí)間的輸出時(shí)間逐漸形成一個(gè)穩(wěn)定的分布μ和σ基本不隨時(shí)間變化且在要求范圍內(nèi)140失控狀態(tài)的判斷受控失控位置分布寬度形狀三種情況或其組合141受控狀態(tài)

在控制圖上的正常表現(xiàn)為：（1）所有樣本點(diǎn)都在控制界限之內(nèi)；（2）樣本點(diǎn)均勻分布，位于中心線兩側(cè)的樣本點(diǎn)約各占1/2；（3）靠近中心線的樣本點(diǎn)約占2/3；（4）靠近控制界限的樣本點(diǎn)極少。142xUCLCLLCLt控制圖的受控狀態(tài)143失控狀態(tài)明顯特征是有:

（1）一部分樣本點(diǎn)超出控制界限除此之外，如果沒有樣本點(diǎn)出界，但（2）樣本點(diǎn)排列和分布異常，也說明生產(chǎn)過程狀態(tài)失控。（3）有多個(gè)樣本點(diǎn)連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè)*連續(xù)7個(gè)點(diǎn)或7點(diǎn)以上出現(xiàn)在中心線一側(cè)；*連續(xù)11點(diǎn)至少有10點(diǎn)出現(xiàn)在中心線一側(cè)；*連續(xù)14點(diǎn)至少有12點(diǎn)出現(xiàn)在中心線一側(cè)。144超出控制界限的點(diǎn)（1）控制圖判斷規(guī)則之原因此規(guī)則是最常使用到的，因?yàn)槿绻?σ為控制界限，而觀測值會落到3σ外的機(jī)率只有0.27%。典型失控狀態(tài)145連續(xù)9點(diǎn)落在中心線的同一側(cè)（2）控制圖判斷規(guī)則之原因發(fā)生連續(xù)八點(diǎn)都落在中心線同一邊的機(jī)率非常小，所以一但控制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。146趨勢(trends):控制圖中的點(diǎn)（連續(xù)6點(diǎn)）逐漸上升或下降（3）控制圖發(fā)生趨勢之原因可能是:147規(guī)則性變化(systematicvariable):控制圖中的點(diǎn)（連續(xù)14點(diǎn)）

一上一下有秩序的出現(xiàn)（4）控制圖發(fā)生規(guī)則性變化之原因可能是148連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)落在2σ外（5）控制圖判斷規(guī)則之原因在此離中心線2σ稱為警戒控制線，發(fā)生連續(xù)三點(diǎn)中有兩點(diǎn)落在2σ外的機(jī)率非常小，所以一但控制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。149連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)落在1σ外（6）控制圖判斷規(guī)則之原因發(fā)生連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)落在1σ外的機(jī)率非常小，所以一但控制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。150分層(stratification):是一種穩(wěn)定的混合型，通常連續(xù)15點(diǎn)是靠近中心線

或控制界限（7）控制圖發(fā)生分層之原因可能是:151混合(mixtures):連續(xù)8點(diǎn)觀測值都落在離中心線很遠(yuǎn)的地方（C區(qū)），

而且交錯(cuò)地分散（8）控制圖發(fā)生混合之原因可能是152八大判讀原則153控制圖使用十大誤區(qū)沒能找到正確的控制點(diǎn)(特性)沒有適宜的測量工具沒有解析生產(chǎn)過程，直接進(jìn)行控制解析與控制脫節(jié)控制圖沒有記錄重大事項(xiàng)不能正確理解XBar圖與R圖的含義控制界限與規(guī)格界限混為一談不能正確理解控制圖上點(diǎn)變動所代表的意思沒有將控制圖用于改善控制圖是品管的事Caution！1544.過程能力研究155制程能力分析準(zhǔn)度：好精度：好Ca準(zhǔn)確度,Cp精密度準(zhǔn)度：好精度：較不好準(zhǔn)度：不好精度：好準(zhǔn)度：不好精度：不好156

能生產(chǎn)均一品質(zhì)制品的制程固有能力。什么叫制程能力？

制程被控制時(shí)，表示制程中生產(chǎn)的制品品質(zhì)變動是什么程度的量。

一切品質(zhì)特性都具有它的目標(biāo)值(TargetValue)，

品質(zhì)是與目標(biāo)值的偏差越小越優(yōu)秀。157長期/短期制程能力

長期制程能力對比短期制程能力158制程能力指數(shù)-短期制程能力指數(shù)用

CP,CPK來表示，長期制程能力指數(shù)用

PP,PPK來表示。

-在這里CP

或

PP

是制程平均與規(guī)格中心一致時(shí)的制程能力指數(shù)，

CPK

或

PPK

是制程平均與規(guī)格中心不一致時(shí)的制程能力指數(shù)。

制程能力指數(shù)(ProcessCapabilityIndex)

在SPC中

制程能力指數(shù)是制程能生產(chǎn)多么均勻品質(zhì)產(chǎn)品的能力，

即，評價(jià)制程能力的指標(biāo)。159制程能力指數(shù)

短期製程能力指數(shù)

製程平均和規(guī)格中心一致時(shí)製程平均和規(guī)格中心不一致時(shí)

σHat表示短期標(biāo)準(zhǔn)差，在Minitab中以StDev(Within)表示。其中,SigmaP(Process)160Cp等級之說明6σE級6σD級6σC級6σB級6σA級規(guī)格中心值規(guī)格上限規(guī)格下限Cp<0.67Cp=0.67Cp=1.00Cp=1.33Cp=1.67T=10

σT=8

σT=6σT=4

σ161Cpk等級之說明(當(dāng)Ca=0)6σE級6σD級6σC級6σB級6σA級規(guī)格中心值規(guī)格上限規(guī)格下限Cpk<0.67Cpk=0.67Cpk=1.00Cpk=1.33Cpk=1.67T=10

σT=8

σT=6σT=4

σCpk=2.00T=12

σ162Ca—準(zhǔn)確度

CapacityofAccuracyCa=L1/L2L1=X─SLL2=(USL—LSL)/2等級Ca值A(chǔ)BCD｜Ca｜≦12.5%12.5%＜｜Ca｜≦25%25%＜｜Ca｜≦50%50%＜｜Ca｜163Casestudy例：某產(chǎn)品的電性規(guī)格是560±10m/m，經(jīng)檢驗(yàn)一批后求出±3σ為561±9m/m(Xbar=561,σ=3)。求：(1)Cp,Cpu,Cpl(2)Cpk164制程能力指數(shù)

長期製程能力指數(shù)

製程平均和規(guī)格中心一致時(shí)製程平均和規(guī)格中心不一致時(shí)(不對稱時(shí))

S

表示長期標(biāo)準(zhǔn)差，在產(chǎn)品開發(fā)階段中針對試作製程能力的評估，則稱為先期製程能力(APQP)其中,SigmaA(Actual)165補(bǔ)充：Cpm指標(biāo)m為規(guī)格中心Cpm為平均數(shù)與規(guī)格中心相比較的制程能力指標(biāo)166對正態(tài)分布數(shù)據(jù)的制程能力分析例題

1為了制程能力分析，20天各選

5個(gè)核心部品特性值的長度(mm)的量測DATA如下。

通過正態(tài)性檢定(NormalityTest)確認(rèn)DATA是正態(tài)分布，核心部品的規(guī)格是按顧客要求600mm2mm.通過以下DATA做制程能力分析。

598.0599.8600.0599.8600.0600.0598.8598.2599.4599.6599.4599.4600.0598.8599.2599.4599.6599.0599.2600.6598.8598.8599.8599.2599.4600.0600.2600.2599.6599.0599.0599.8600.8598.8598.2600.0599.2599.8601.2600.4600.2599.6599.6599.6600.2599.2599.0599.6600.4600.0599.0599.6599.4599.2597.8600.4599.6600.0600.8600.4599.4599.0598.4599.0599.6598.8599.2599.6598.6599.8599.6599.2599.6600.2599.8599.6600.0599.6599.2598.6599.6601.2599.6600.2600.0600.0599.4599.8599.2599.6599.4600.0600.0599.2599.4599.6599.8599.0599.6599.41234567891011121314151617181920把計(jì)量型數(shù)據(jù)的正態(tài)分布數(shù)據(jù)的制程能力通過Minitab分析。CapabilityAnalysis(Normal)167Step3

確認(rèn)結(jié)果

規(guī)格上限

Target

規(guī)格下限

平均

樣本數(shù)

短期標(biāo)準(zhǔn)差

長期標(biāo)準(zhǔn)差Process數(shù)據(jù)潛在的

執(zhí)行曲線實(shí)際的

正態(tài)曲線

潛在的制程

能力指數(shù)

Cp

考慮傾斜的

潛在制程能力

指數(shù)

Cpk潛在的制程能力只用制程的群內(nèi)變動評價(jià)執(zhí)行能力的指數(shù)。即意味著

Cp改善可能最大限度是

1.16為至。

CapabilityAnalysis(Normal)168

實(shí)際制程能力

指數(shù)

Pp

考慮偏移的

實(shí)際制程能力指數(shù)

Ppk實(shí)際制程能力根據(jù)所有DATA的變動值評價(jià)制程能力的指數(shù)CapabilityAnalysis(Normal)169現(xiàn)在執(zhí)行能力用

ppm表示實(shí)際抽樣的DATA偏離規(guī)格的程度。CapabilityAnalysis(Normal)170潛在的預(yù)想執(zhí)行能力只考慮制程的群內(nèi)變動顯示正態(tài)分布時(shí)，數(shù)據(jù)表現(xiàn)為

偏離規(guī)格的預(yù)想

ppmCapabilityAnalysis(Normal)171實(shí)際預(yù)想完成能力對所有DATA的變動值來顯示正態(tài)分布時(shí)，

DATA表現(xiàn)偏離規(guī)格的預(yù)測

ppm因制程平均以規(guī)格中心為基準(zhǔn)往

LSL方向傾斜，所以需要與制程變動的減少一起

能與規(guī)格中心一致的制程平均的移動。CapabilityAnalysis(Normal)172173附:MINITAB上的工程能力分析Q1.在旁邊的結(jié)果中Cpk值與

ppk值為什么相同?

Q2.Cpk和Cpl,Cpu的各個(gè)

含義是什么？

Q3.如果

Cpk是負(fù)數(shù)的話,

這意味著什么?

Q4.Cpk=0這意味著什么

?Q5.Cp和Cpk之中

哪個(gè)指數(shù)更有用

?174

假設(shè)前面所提到的例題的Spec(Spec:25+/-5)是相同但是其Data是經(jīng)過長時(shí)間的Data時(shí)我們要考慮異常原因

這時(shí)用???來反映工程能力是比較合理.

MinitabMenu:Stat/QualityTools/CapabilityAnalysis(Normal)

注意

-SubgroupSize???

-SubgroupNumber???Lot1Lot2Lot3Lot4Lot524212816181427321730182424222127211634161724222014322637191531313616142734211614Casestudy175SQCSPC176控制點(diǎn)設(shè)哪？PROCESS原料人機(jī)法環(huán)測量測量結(jié)果好不好177過程控制Ys的現(xiàn)在能力是多少,

對Ys有影響的Process輸入要素

Xs里有什么？

Process

N1N3N2雜音變量(Noise)

(不可控制的輸入變量U)C2C1C3可控制的LSLUSL設(shè)定初期制程能力分析品質(zhì)特性:

輸出變量Y1,Y2等X1X2X3輸入變量常數(shù)(Constants)178SPC之精神制程參數(shù)的確是SPC的焦點(diǎn)，但是我們應(yīng)深入探究──為什么挑出這些制程參數(shù)？這些制程參數(shù)的控制條件是如何決定的？這些制程參數(shù)與成品品質(zhì)間有因果關(guān)系可循嗎？PROCESS原料測量結(jié)果針對產(chǎn)品所做的仍只是在做SQC針對過程的重要控制參數(shù)所做的才是SPCRealTimeResponse參數(shù)設(shè)計(jì)參數(shù)驗(yàn)證1795.SPC導(dǎo)入整體規(guī)劃180DellQualityImprove

10steps1811CharacterizeProcess描述制程特性Theentiremanufacturingprocesshasbeenmappedandalltestsandinspectionoperationsidentified.Mapisversioncontrolledandisaccurate.全部的制造過程已被圖文化，明確所有的測試及檢查工作。此過程圖版本受控并準(zhǔn)確。2ConductProductivityAnalysis實(shí)施生產(chǎn)能力分析SupplierhasdevelopedtheProductivityAnalysismatrixandiscollectingandreportingThroughputYields,Rolled-ThroughputYieldsandNormalizedYields.供應(yīng)商已經(jīng)展開了生產(chǎn)能力分析的矩陣并在收集和報(bào)告生產(chǎn)合格率，直通率和標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)出率。3ImplementSPCforAttributeData實(shí)施計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)制程控制SupplierischartingthroughputyieldswithaPchart.Eachdatapointrepresentsdailyfractionnonconforming.供應(yīng)商在使用P圖繪制生產(chǎn)合格率的圖表。每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)表示每天的不合格部分。4ImplementSPCfordefectsfromyieldfailures實(shí)施來自不良率的缺點(diǎn)的統(tǒng)計(jì)制程控制SupplierhasdevelopedCorUchartsandestablishedaParetoofdefectcategories.ThisParetoisupdatedonaregularbasis.供應(yīng)商已經(jīng)展開C圖或U圖并建立缺陷種類的柏拉圖。這個(gè)柏拉圖定期被更新。5CauseandEffectAnalysis原因及后果分析Conductscauseandeffectanalysisofmajordefectcategories(Process,Material,Design,Environment,HumanFactorsandMeasurement).ConductsFailureAnalysisandFMEAtofindrootcauses.實(shí)施主要缺陷種類（過程、材料、設(shè)計(jì)、環(huán)境、人和測量的因素）的原因及后果分析。進(jìn)行失效分析和潛在失效原因和后果分析來尋找根本原因。1826IdentifyCriticalParameters識別關(guān)鍵參數(shù)BasedonCauseandEffectAnalysisandinputsfromEngineeringdepartment,criticalprocessesandparametersareidentifiedandlistedwithspecificationlimitsforvariables.根據(jù)原因和后果分析和工程部的輸入，關(guān)鍵過程和參數(shù)被確認(rèn)并列出變量的規(guī)格界限。7Reviewspecificationsforproductandprocesscriticalparameters審核產(chǎn)品規(guī)格和關(guān)鍵參數(shù)Listedcriticalparameterspecificationsareclearandareacceptabletocustomerrequirements.列出的關(guān)鍵參數(shù)規(guī)格清晰且符合客戶要求8GageR&R量具雙性分析SupplierconductsGageR&Rtoinsurevaliddatagatheringfromcriticalparametermeasurement.供應(yīng)商實(shí)施量具雙性分析來確保來自關(guān)鍵參數(shù)的測量可收集可信的數(shù)據(jù)。9SPC統(tǒng)計(jì)制程控制SupplierhasestablishedX-barandRangeSPCchartsforcriticalparametersandidentifiesrootcausesofoutofcontrolpointsanddrivescorrectiveaction.供應(yīng)商已建立關(guān)鍵參數(shù)的X-bar和R圖，確認(rèn)不受控制點(diǎn)的根本原因并執(zhí)行糾正措施。10EstablishCapability建立能力CalculatesandmaintainsCpandCpkforproductandcriticalprocessparameters.持續(xù)進(jìn)行評估產(chǎn)品和關(guān)鍵過程參數(shù)的Cp和Cpk分析183Step1

184Step1控制參數(shù)檢測數(shù)量控制方法parameterInspectQtyControlmethod

100%TrendChart不良率PchartTrendChart不良率Pchart風(fēng)速檢驗(yàn)100%cp/cpk功率檢驗(yàn)10day/LineXbar-RChartTrendChartP-ChartTrendChartP-Chart

制程統(tǒng)計(jì)控制計(jì)劃ProjectorProcessStatisticManagementPlan1.變壓器模塊（BallastModule）2.上/下蓋模塊（CoverModule）3.燈模塊（LampModule）4.升降梯模塊（ElevatorModule）...etc.1.風(fēng)速測試（AirFlowTest）2.功率測試（PowerConsumption

Test）流程圖

FlowChart摘要Summary變壓器﹑引擎模塊﹑燈﹑上/下蓋模塊和PCBA組裝…等(Ballast﹑EngineModule﹑Lamp&CoverModule1.版本檢查（VersionCheck）2.HDTV功能測試（HDTVFunctionTest）3.類比功能測試（AnalogFunctionTest)4.NTSC/PAL系統(tǒng)測試(NTSC/PAL

SystemTest)6.Component7.數(shù)位功能測試（DigitalFunctionTest）etc.老化測試（Burn-intimingdepends

100%100%100%FailurerateFailurerateOK系統(tǒng)組裝SystemAssembly

維修

Repair

風(fēng)速&功率測試AirFlow&PowerConsumption功能測試1FunctionTest/1老化測試BurninTest前組裝Sub-Assembly

引擎模塊EngineModule

NGNGNG185Step2，3，4186Step5

PAPERWORKTURNSTEAMONTODICYTANKLOADDMFLOADDICYLOAD2MI1BILLOFMATERIALSISOPROCEDURESREWORKSCALEACCURACYPREHEATINGLOADACCURACYCLEANLINESSRAWMATERIALLOADACCURACYENVIRONMENT(HUMIDITY)RAWMATERIALMIXERSPEEDLOADACCURACYENVIRONMENT(HUMIDITY)RAWMATERIALMIXERSPEEDProcessMappingQualityControlPlan

FMEAC&EMatrixOutputInput187Step6,771.564.518512571.564.587611851258761XYZ188GageR&RStudy-XBar/RMethodGageR&RforMeasures%Contribution

Source

Variance

(ofVariance)

TotalGageR&R2.18E-032.75 Repeatability1.26E-031.58 Reproducibility9.24E-041.16 Part-to-Part7.72E-0297.25 TotalVariation7.93E-02100.00StdDevStudyVar%StudyVarMSA

Step8189Step9CorrectiveAction190Step10191測量系統(tǒng)分析MeasurementSystemAnalysis192

測量系統(tǒng)變異性的影響實(shí)際制程變異偏倚穩(wěn)定性線性已觀測的制程變異測量系統(tǒng)的變異組內(nèi)變異組間變異正確度精密度sP2sT2sR&R2sT2=sP2+sR&R2

sR&R2=sAV2+sEV2重復(fù)性再現(xiàn)性我們所觀測制程的變異里包含了實(shí)際制程變異和測量系統(tǒng)的變異.假如測量系統(tǒng)的變異比較大時(shí)會發(fā)生什么樣的問題?193194VSAccurateandpreciseprecisebutnotaccurateAccuratebutnopreciseNotaccurateorprecise194測量系統(tǒng)的統(tǒng)計(jì)特性Bias偏倚(Bias)Repeatability重復(fù)性(precision)Reproducibility再現(xiàn)性Linearity線性Stability穩(wěn)定性195基準(zhǔn)值觀測平均值偏倚偏倚：是測量結(jié)果的觀測平均值與基準(zhǔn)值的差值。真值的取得可以通過采用更高等級的測量設(shè)備進(jìn)行多次測量，取其平均值。1.偏倚(Bias)196儀器需要校準(zhǔn)儀器、設(shè)備或夾緊裝置的磨損磨損或損壞的基準(zhǔn)，基準(zhǔn)出現(xiàn)誤差校準(zhǔn)不當(dāng)或調(diào)整基準(zhǔn)的使用不當(dāng)儀器質(zhì)量差─設(shè)計(jì)或一致性不好線性誤差應(yīng)用錯(cuò)誤的量具不同的測量方法─設(shè)置、安裝、夾緊、技術(shù)測量錯(cuò)誤的特性量具或零件的變形環(huán)境─溫度、濕度、振動、清潔的影響違背假定、在應(yīng)用常量上出錯(cuò)應(yīng)用─零件尺寸、位置、操作者技能、疲勞、觀察錯(cuò)誤1.1造成過份偏倚的可能原因197重復(fù)性指由同一個(gè)操作人員用同一種量具經(jīng)多次測量同一個(gè)零件的同一特性時(shí)獲得的測量值變差（四同）2.重復(fù)性(Repeatability)

MasterValue198零件(樣品)內(nèi)部：形狀、位置、表面加工、錐度、樣品一致性。儀器內(nèi)部：修理、磨損、設(shè)備或夾緊裝置故障，質(zhì)量差或維護(hù)不當(dāng)?；鶞?zhǔn)內(nèi)部：質(zhì)量、級別、磨損方法內(nèi)部：在設(shè)置、技術(shù)、零位調(diào)整、夾持、夾緊、點(diǎn)密度的