光電技術(shù)-05熱輻射探測器件_第1頁
光電技術(shù)-05熱輻射探測器件_第2頁
光電技術(shù)-05熱輻射探測器件_第3頁
光電技術(shù)-05熱輻射探測器件_第4頁
光電技術(shù)-05熱輻射探測器件_第5頁
已閱讀5頁,還剩54頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

第五章熱輻射探測器件

熱輻射探測器件:利用熱效應(yīng)制成的探測器。

熱效應(yīng):物體吸收輻射使其溫度發(fā)生變化,從而引起物體的物理、機(jī)械等性能相應(yīng)變化的現(xiàn)象。優(yōu)點(diǎn):光譜響應(yīng)寬,室溫下工作(大部分),不需要制冷。缺點(diǎn):探測率低,時(shí)間響應(yīng)速度慢

分類:測輻射熱計(jì)熱釋電探測器測輻射熱電偶和熱電堆工作原理:當(dāng)物體吸收輻射后,溫度便會(huì)升高,伴隨產(chǎn)生某種屬性的變化,如體積膨脹、電阻率變化或產(chǎn)生電流、電動(dòng)勢(shì)等,通過測量這些性能參數(shù)的變化,計(jì)算獲得輻射的大小。

熱探測器的性能計(jì)算:a)根據(jù)系統(tǒng)的熱學(xué)特性確定由入射輻射所引起的溫度變化。b)利用溫度變化確定其性能,此性能可以通過適當(dāng)?shù)男盘?hào)變化來反映。

Cθ-熱容(J/K);G-熱導(dǎo)(W/K);α-吸收率;

φe-入射輻射通量,這里假定入射輻射周期地變化

初始條件:

注意:熱敏器件要涂黑。其中為熱時(shí)間常數(shù)。(ms-s的數(shù)量級(jí))導(dǎo)熱體T熱探測器5.1熱輻射的一般規(guī)律1.溫度變化方程

定義溫度響應(yīng)率RT:其中為熱時(shí)間常數(shù)。單位入射通量所引起的探測器的溫升。2.熱探測器的共性分析(1)w與熱力學(xué)參量對(duì)探測器性能的影響低頻:高頻:

故熱輻射探測器適用于光輻射為低頻調(diào)制的場合,此時(shí)可以獲得較強(qiáng)的探測信號(hào)。

G響應(yīng)速度靈敏度響應(yīng)速度

大多數(shù)熱輻射探測器的光敏面做的比較小巧

3.最小可探測功率或稱溫度等效功率PNE

例如,在常溫環(huán)境下(T=300K),對(duì)于黑體(=1),熱敏器件的面積為100mm2,頻帶寬度為,斯特潘-玻爾茲曼系數(shù)J/cm2K4,玻爾茲曼常數(shù)k=1.38×10-23J/K。則由式(5-14)可以得到常溫下熱敏器件的最小可探測功率為5×10-11W左右。只與探測器的溫度有關(guān)。

5.2熱敏電阻與熱電堆探測器

5.2.1熱敏電阻

(熱輻射計(jì))熱敏電阻:是利用某些熱敏材料的電阻率隨溫度發(fā)生變化的特性而制成的熱輻射探測器件。凡吸收入射輻射后引起溫升而使電阻改變,導(dǎo)致負(fù)載電阻兩端電壓的變化,并給出電信號(hào)的器件叫做熱敏電阻。按材料可以分為:

金屬導(dǎo)體(鎳、鉍、鉑)半導(dǎo)體(錳、鈷等得氧化物燒結(jié)而成)1.熱敏電阻及其特點(diǎn)

相對(duì)于一般的金屬電阻,熱敏電阻具備如下特點(diǎn):①熱敏電阻的溫度系數(shù)大,靈敏度高,熱敏電阻的溫度系數(shù)常比一般金屬電阻大10~100倍。②結(jié)構(gòu)簡單,體積小,可以測量近似幾何點(diǎn)的溫度。③電阻率高,熱慣性小,適宜做動(dòng)態(tài)測量。④阻值與溫度的變化關(guān)系呈非線性。⑤不足之處是穩(wěn)定性和互換性較差。2.熱敏電阻的原理、結(jié)構(gòu)及材料

(1)工作原理

半導(dǎo)體材料對(duì)光的吸收除了直接產(chǎn)生光生載流子的本征吸收和雜質(zhì)吸收外,還有不直接產(chǎn)生載流子的晶格吸收和自由電子吸收等,并且不同程度地轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮?,引起晶格振?dòng)的加劇,器件溫度的上升,即器件的電阻值發(fā)生變化。

原理:熱敏材料吸收光輻射,產(chǎn)生升溫,從而引起材料電阻發(fā)生變化。將熱敏電阻與負(fù)載電阻等構(gòu)成閉合回路,測量負(fù)載電阻兩端的電阻變化,就可探知光輻射的情況。

熱敏電阻的晶格吸收,對(duì)任何能量的輻射都可以使晶格振動(dòng)加劇,只是吸收不同波長的輻射,晶格振動(dòng)加劇的程度不同而已,因此,熱敏電阻無選擇性地吸收各種波長的輻射,可以說它是一種無選擇性的光敏電阻。

金屬材料組成的熱敏電阻具有正溫度系數(shù)半導(dǎo)體材料組成的熱敏電阻具有負(fù)溫度特性。

白金的電阻溫度系數(shù):約為±0.37%半導(dǎo)體材料溫度系數(shù):約為-3%~-6%熱敏電阻探測器常用半導(dǎo)體材料制作而很少采用貴重的金屬。

紅外輻射通過探測窗口投射到熱敏元件上,引起元件的電阻變化。為了提高熱敏元件接收輻射的能力,常將熱敏元件的表面進(jìn)行黑化處理。

熱敏材料制成的厚度為0.01mm左右的薄片電阻粘合在導(dǎo)熱能力高的絕緣襯底上,把襯底同一個(gè)熱容很大、導(dǎo)熱性能良好的金屬相連構(gòu)成熱敏電阻。(2)結(jié)構(gòu)早期:單個(gè)使用,作為惠更斯電橋的一個(gè)臂現(xiàn)在:通常將兩個(gè)性能相似的熱敏電阻安裝在一個(gè)金屬殼內(nèi)(3)材料:金屬導(dǎo)體和半導(dǎo)體3.熱敏電阻的參數(shù)

(1)電阻-溫度特性指實(shí)際阻值與電阻體溫度之間的依賴關(guān)系。RT---絕對(duì)溫度T時(shí)的實(shí)際電阻值。R0、R∞---背景環(huán)境溫度下的阻值,與電阻的幾何尺寸和材料物理特性有關(guān)的常數(shù)。①

正溫度系數(shù)的熱敏電阻:

負(fù)溫度系數(shù)的熱敏電阻:

A、B為材料常數(shù)

aT表示溫度變化1℃時(shí),熱敏電阻實(shí)際阻值的相對(duì)變化

③溫度系數(shù)正溫度系數(shù)的熱敏電阻:負(fù)溫度系數(shù)的熱敏電阻:

材料常數(shù)A、B是用來描述熱敏電阻材料物理特性的一個(gè)參數(shù),又稱為熱靈敏指標(biāo)。在工作溫度范圍內(nèi),B值并不是一個(gè)嚴(yán)格的常數(shù),而是隨溫度的升高而略有增大,一般說來,B值大電阻率也高。負(fù)溫度系數(shù)的熱敏電阻器:正溫度系數(shù)的熱敏電阻器:(2)熱敏電阻阻值變化量

已知熱敏電阻溫度系數(shù)aT后,當(dāng)熱敏電阻接收入射輻射后溫度變化△T(△T不大的情況下),則阻值變化量為

ΔRT=RTaTΔT

(3)熱敏電阻的輸出特性熱敏電阻電路如圖5-5所示,圖中

,。若在熱敏電阻上加上偏壓Ubb之后,由于輻射的照射使熱敏電阻值改變,因而負(fù)載電阻電壓增量

(3)熱敏電阻的輸出特性

等效電路負(fù)載電阻電壓增量:(4)冷阻與熱阻

冷阻:RT(5)靈敏度(響應(yīng)率)

定義:單位入射輻射功率下熱敏電阻變換電路的輸出信號(hào)電壓稱為靈敏度或響應(yīng)率,它常分為直流靈敏度S0與交流靈敏度SS。直流靈敏度S0為

增加熱敏電阻的靈敏度,可采取的措施:①增加偏壓Ubb,但受熱敏電阻的噪聲以及不損壞元件的限制;②把熱敏電阻的接收面涂黑增加吸收率a;③增加熱阻,其辦法是減少元件的接收面積及元件與外界對(duì)流所造成的熱量損失,常將元件裝入真殼內(nèi),但隨著熱阻的增大,響應(yīng)時(shí)間也增大。為了減小響應(yīng)時(shí)間,通常把熱敏電阻貼在具有高熱導(dǎo)的襯底上;④選用αT大的材料,也即選取B值大的材料。當(dāng)然還可使元件冷卻工作,以提高αT值。

⑤采用光學(xué)浸沒技術(shù)(6)最小可探測功率

熱敏電阻的最小可探測功率受噪聲的影響。熱敏電阻的噪聲主要有:①

熱噪聲。熱敏電阻的熱噪聲與光敏電阻阻值的關(guān)系相似為;②

溫度噪聲。因環(huán)境溫度的起伏而造成元件溫度起伏變化產(chǎn)生的噪聲稱為溫度噪聲。將元件裝入真空殼內(nèi)可降低這種噪聲。③

電流噪聲。與光敏電阻的電流噪聲類似,當(dāng)工作頻率f<10Hz時(shí),應(yīng)該考慮此噪聲。若f>10kHz時(shí),此噪聲完全可以忽略不計(jì)。根據(jù)這些噪聲情況,熱敏電阻可探測的最小功率約10-8到10-9w。

5.2.2熱電偶探測器

1.熱電偶的工作原理

熱電偶雖然是發(fā)明于1826年的古老紅外探測器件,然而至今仍在光譜、光度探測儀器中得到廣泛的應(yīng)用。尤其在高、低溫的溫度探測領(lǐng)域的應(yīng)用是其他探測器件無法取代的。

(1)工作原理:溫差熱電效應(yīng)(2)溫差熱電效應(yīng):兩種材料的金屬A和B組成的一個(gè)回路時(shí),若兩金屬連接點(diǎn)的溫度存在著差異(一端高而另一端低),則在回路中會(huì)有如圖5-6(a)所示的電流產(chǎn)生。即由于溫度差而產(chǎn)生的電位差ΔE。回路電流I=ΔE/R。其中R稱為回路電阻。這一現(xiàn)象稱為溫差熱電效應(yīng)(也稱為塞貝克熱電效應(yīng))(SeebeckEffect)。

(3)結(jié)構(gòu):金屬熱電偶

①線狀(或條狀)的實(shí)體:多用于測量溫度。常用材料:鉑、鐒等最大溫差電動(dòng)勢(shì)(鉍和銻):100μV/°C

測溫范圍:-200°C~1000°C

測量精度可達(dá):1/1000°C

②薄膜型:多用于測量輻射能。

特點(diǎn):ΔT很小、對(duì)材料要求很高、結(jié)構(gòu)非常嚴(yán)格和復(fù)雜、成本昂貴。半導(dǎo)體測輻射熱電偶

特點(diǎn):成本低、最大溫差電動(dòng)勢(shì)高達(dá)500μV/°C

工作原理:熱結(jié)吸收光輻射后,產(chǎn)生升溫,溫升使半導(dǎo)體中載流子的動(dòng)能增加,使多數(shù)載流子由熱加結(jié)向冷結(jié)擴(kuò)散,結(jié)果p型半導(dǎo)體材料的熱結(jié)帶負(fù)電,冷結(jié)帶正電;N型半導(dǎo)體熱結(jié)帶正電,冷結(jié)帶負(fù)電,從而在負(fù)載R上產(chǎn)生溫差電壓信號(hào)。檢測到這一電壓信號(hào),就可以探知光輻射的情況。開路電壓UOC

UOC=M12ΔT閉合2.熱電偶的基本特性參數(shù)

交流輻射信號(hào):式中,ω=2πf,f為交流輻射的調(diào)制頻率,τT為熱電偶的的時(shí)間常數(shù),;其中的RQ,CQ、GQ分別為熱電偶的熱阻、熱容和熱導(dǎo)。熱導(dǎo)GQ與材料的性質(zhì)及周圍環(huán)境有關(guān),為使熱電導(dǎo)穩(wěn)定,常將熱電偶封裝在真空管中,因此,通常稱其為真空熱電偶。

真空熱電偶的基本特性參數(shù)為靈敏度S、比探測率D*、響應(yīng)時(shí)間τ和最小可探測功率NEP等參數(shù)。(1)靈敏度(響應(yīng)率)在直流輻射作用下,熱電偶的靈敏度S0為

在交流輻射信號(hào)的作用下,熱電偶的靈敏度S為

提高熱電偶的響應(yīng)率最有效的辦法除選用塞貝克系數(shù)較大的材料外,增加輻射的吸收率α,減小內(nèi)阻Ri,減小熱導(dǎo)GQ等措施都是有效的。對(duì)于交流響應(yīng)率,降低工作頻率,減小時(shí)間常數(shù)τT,也會(huì)有明顯的提高。但是,熱電偶的響應(yīng)率與時(shí)間常數(shù)是一對(duì)矛盾,應(yīng)用時(shí)只能兼顧。

(2)響應(yīng)時(shí)間

熱電偶的響應(yīng)時(shí)間約為幾毫秒到幾十毫秒左右,常用于探測直流,低頻或恒定調(diào)制的光輻射。

(3)最小可探測功率

熱電偶的最小可探測功率NEP取決于探測器的噪聲,它主要由熱噪聲和溫度起伏噪聲,電流噪聲幾乎被忽略。半導(dǎo)體熱電偶的最小可探測功率NEP一般為10-11W左右。

5.2.3熱電堆探測器

為了減小熱電偶的響應(yīng)時(shí)間,提高靈敏度,常把輻射接收面分為若干塊,每塊都接一個(gè)熱電偶,并把它們串聯(lián)起來構(gòu)成如圖5-8所示的熱電堆。

2.熱電堆的靈敏度

熱電堆的靈敏度St為

1.結(jié)構(gòu)原理參考結(jié):與銅低襯之間熱接觸,電氣絕緣工作結(jié):與銅低襯之間熱絕緣,電氣接觸式中,為熱電堆中熱電偶的對(duì)數(shù)(或PN結(jié)的個(gè)數(shù))。S為熱電偶的靈敏度。熱電堆的響應(yīng)時(shí)間常數(shù)為

式中,為熱電堆的熱容量,為熱電堆的熱阻抗。從式(5-32)和式(5-33)可以看出,要想使高速化和提高靈敏度兩者并存,就要在不改變的情況下減小熱容。熱阻抗由導(dǎo)熱通路長和熱電堆以及膜片的剖面面積比決定。

在相同的電信號(hào)檢測條件下,熱電堆能檢測到的最小溫差是單個(gè)熱電偶的1/n。因此,熱電堆對(duì)溫度的分辨率能力大大增強(qiáng)。

3.主要特點(diǎn)內(nèi)阻:可以達(dá)幾十千歐,較大,易于與放大器的阻抗匹配溫差電動(dòng)勢(shì):測量誤差:相對(duì)誤差:噪聲:內(nèi)阻很大,主要是熱噪聲,溫度噪聲的影響很小4.應(yīng)用光譜、光度測量儀中

5.3熱釋電器件

熱釋電器件是一種利用熱釋電效應(yīng)制成的熱探測器件。與其它熱探測器相比,熱釋電器件具有以下優(yōu)點(diǎn):①具有較寬的頻率響應(yīng),工作頻率接近兆赫茲,遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過其它熱探測器的工作頻率。一般熱探測器的時(shí)間常數(shù)典型值在1~0.01s范圍內(nèi),而熱釋電器件的有效時(shí)間常數(shù)可低達(dá)10-4~3×10-5s;②熱釋電器件的探測率高,在熱探測器中只有氣動(dòng)探測器的D*才比熱釋電器件稍高,且這一差距正在不斷減?。虎蹮後岆娖骷梢杂写竺娣e均勻的敏感面,而且工作時(shí)可以不外加接偏置電壓;

5.3.1熱釋電器件的基本工作原理

④與5.2節(jié)討論的熱敏電阻相比,它受環(huán)境溫度變化的影響更??;⑤熱釋電器件的強(qiáng)度和可靠性比其它多數(shù)熱探測器都要好,且制造比較容易。

1.熱釋電效應(yīng)電介質(zhì)內(nèi)部沒有自由載流子,沒有導(dǎo)電能力。但是,它也是由帶電的粒子(價(jià)電子和原子核)構(gòu)成的,在外加電場的情況下,帶電粒子也要受到電場力的作用,使其運(yùn)動(dòng)發(fā)生變化。例如,在如圖5-12所示的電介質(zhì)的上下兩側(cè)加上如圖所示的電場后,電介質(zhì)產(chǎn)生極化現(xiàn)象,從電場的加入到電極化狀態(tài)的建立起來這段時(shí)間內(nèi)電介質(zhì)內(nèi)部的電荷適應(yīng)電場的運(yùn)動(dòng)相當(dāng)于電荷沿電力線方向的運(yùn)動(dòng),也是一種電流稱為“位移電流”,該電流在電極化完成即告停止。

鐵電體的自發(fā)極化強(qiáng)度PS(單位面積上的電荷量)與溫度的關(guān)系如圖5-14所示,隨著溫度的升高,極化強(qiáng)度減低,當(dāng)溫度升高到一定值,自發(fā)極化突然消失,這個(gè)溫度常被稱為“居里溫度”或“居里點(diǎn)”。因?yàn)樽园l(fā)極化強(qiáng)度是單位體積內(nèi)的電矩矢量之和,所以有

(5-34)式中,S和d分別是晶體的表面積和厚度。

如5-15(a)所示。由內(nèi)部自由電荷中和表面束縛電荷的時(shí)間常數(shù)為τ=ερ,ε和ρ分別為晶體的介電常數(shù)和電阻率。

2.熱釋電器件的工作原理

Q=AdΔσ=AdPs

(5-35)ΔQ=Ad(ΔPs/ΔT)ΔT=

AdγΔT

(5-36)式中,γ=ΔPs/ΔT稱為熱釋電系數(shù),其單位為c/cm2?K,是與材料本身的特性有關(guān)的物理量,表示自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度的變化率。

若在晶體的兩個(gè)相對(duì)的極板上敷上電極,在兩極間接上負(fù)載RL,則負(fù)載上就有電流通過。由于溫度變化在負(fù)載上產(chǎn)生的電流可以表示為

(5-37)(5-38)(5-39)(5-40)對(duì)于熱釋電系數(shù)為λ,電極面積為A的熱釋電器件,其在以調(diào)制頻率為ω的交變幅射照射下的溫度可以表示為

(5-41)(5-42)(5-43)輸入到放大器的電壓為

式中,τe=RC為電路時(shí)間常數(shù),R=Rs∥RL,C=Cs+CL。τT=CH/G為熱時(shí)間常數(shù)。τe、τT的數(shù)量級(jí)為0.1~10s左右。Ad為光敏面的面積,α為吸收系數(shù),ω為入射輻射的調(diào)制頻率。

5.3.2熱釋電器件的靈敏度光電器件靈敏度:熱釋電器件的電壓靈敏度Sv為輸出電壓的幅值U與入射光功率之比(5-46)分析式(5-46)可以看出

(1)當(dāng)入射為恒定輻射,即ω=0時(shí),Sv=0,說明熱釋電器件對(duì)恒定輻射不靈敏;(2)在低頻段ω<1/τT或1/τe時(shí),靈敏度Sv與ω成正比,為熱釋電器件交流靈敏的體現(xiàn)。(3)當(dāng)τe≠τT時(shí),通常τe<τT,在ω=1/τT~1/τe范圍內(nèi),Sv與ω?zé)o關(guān);(4)高頻段(ω>1/τT、1/τe)時(shí),Sv則隨ω-1變化。

因此在許多應(yīng)用中,該式的高頻特性近似為

(5-47)即靈敏度與信號(hào)的調(diào)制頻率ω成反比。

5.3.3熱釋電器件的噪聲

熱釋電器件的基本結(jié)構(gòu)是一個(gè)電容器,因此輸出阻抗很高,所以它后面常接有場效應(yīng)管,構(gòu)成源極跟隨器的形式,使輸出阻抗降低到適當(dāng)數(shù)值。因此在分析噪聲的時(shí)候,也要考慮放大器的噪聲。這樣,熱釋電器件的噪聲主要有電阻的熱噪聲、溫度噪聲和放大器噪聲等。熱噪聲電壓為

(5-50)當(dāng)ωτe>>1時(shí),上式可簡化為

22(5-51)表明熱噪聲電壓隨調(diào)制頻率的升高而下降。

2.放大器噪聲

式中,k為波耳茲曼常數(shù),TR為器件的溫度,Δf為系統(tǒng)的帶寬。

=4kTRΔf/Reff

(5-48)電阻的熱噪聲來自晶體的介電損耗和與探測器的并聯(lián)電阻。若等效電阻為Reff,則熱噪聲電流的方均值為1.熱噪聲3.溫度噪聲

(5-53)式中,A為電極的面積,Ad為光敏區(qū)的面積,為溫度起伏的方均值。如果這三種噪聲不相關(guān),則總噪聲為

Ik=4k(F-1)TΔf/R

(5-52)T----背景溫度。

2考慮統(tǒng)計(jì)平均值時(shí)的信噪功率比為(5-54)如果溫度噪聲是主要噪聲源而忽略其它噪聲時(shí),噪聲等效功率為(NEP)2=(4kT2G2Δf/α2A2γ2ω2R)[1+(TN/T)2](5-55)由上式可以看出,熱釋電器件的噪聲等效功率NEP具有隨著調(diào)制頻率的增加而減小的性質(zhì)。

式中,TN=T+(F-1)T,稱為放大器的有效輸入噪聲溫度。

4響應(yīng)時(shí)間

熱釋電探測器的響應(yīng)時(shí)間可由式(5-46)求出。由圖5-18可見,熱釋電探測器在低頻段的電壓響應(yīng)度與調(diào)制頻率成正比,在高頻段則與調(diào)制頻率成反比,僅在1/τT~1/τe范圍內(nèi),Rv與ω?zé)o關(guān)。響應(yīng)度高端半功率點(diǎn)取決于1/τT或1/τe中較大的一個(gè),因而按通常的響應(yīng)時(shí)間定義,τT和τe中較小的一個(gè)為熱釋電探測器的響應(yīng)時(shí)間。通常τT較大,而

τe與負(fù)載電阻有關(guān),多在幾秒到幾個(gè)微秒之間。由圖5-18可見,隨著負(fù)載的減小,τe變小,靈敏度也相應(yīng)減小。

5熱釋電探測器的阻抗特性

熱釋電探測器幾乎是一種純?nèi)菪云骷?,由于電容量很小,所以阻抗很高,常?09Ω以上。因此,必須配高阻抗的負(fù)載。常用JFET器件作熱釋電探測器的前置放大器。5.3.4

熱釋電器件的類型1.硫酸三甘肽(TGS)晶體熱釋電器件

它在室溫下的熱釋電系數(shù)較大,介電常數(shù)較小,比探測率D*值較高[D*(500,10,1)1~5×109cmHz1/2W-1]。在較寬的頻率范圍內(nèi),這類探測器的靈敏度較高,因此,至今仍是廣泛應(yīng)用的熱輻射探測器件。TGS可在室溫下工作,具有光譜響應(yīng)寬、靈敏度高等優(yōu)點(diǎn),是一種性能優(yōu)良的紅外探測器,廣泛應(yīng)用紅外光譜領(lǐng)域。

2.鈮酸鍶鋇(SBN)熱釋電器件

圖5-20所示為LATGS的等效噪聲功率NEP和比探測率D*隨工作頻率f的變化關(guān)系。3.鉭酸鋰(LiTaO3)這種熱釋電器件由于材料中鋇含量的提高而使居里溫度相應(yīng)提高。例如,鋇含量從0.25增加到0.47,其居里溫度相應(yīng)從47°C提高到115°C。SBN探測器在大氣條件下性能穩(wěn)定,無需窗口材料,電阻率高,熱釋電系數(shù)大,機(jī)械強(qiáng)度高,在紅外波段吸收率高,可不必涂黑。工作在500MHz也不出現(xiàn)壓電諧振,可用于快速光輻射的探測。但SNB晶體在鋇含量x<0.4時(shí),如不加偏壓,在室溫下就趨于退極化。而當(dāng)x>0.6時(shí),晶體在生長過程會(huì)開裂。

在SNB中摻少量La2O2可提高其熱釋電系數(shù),摻雜的SBN熱釋電器件無退極化現(xiàn)象,D*(500,10,1)達(dá)8.0×108cm·Hz1/2·W-1。摻鑭后其居里溫度有所降低,但極化仍很穩(wěn)定,損耗也有所改善。

這種熱釋電器件具有很吸引人的特性。在室溫下它的熱釋電響應(yīng)約為TGS的一半,但在低于零度或高于45°C時(shí)都比TGS好。

4.壓電陶瓷熱釋電器件

壓電陶瓷器件的特點(diǎn)是熱釋電系數(shù)γ較大,介電常數(shù)ε也較大,二者的比值并不高。其機(jī)械強(qiáng)度高、物理化學(xué)性能穩(wěn)定、電阻率可以控制;能承受的輻射功率超過LiTaO3熱釋電器件;居里溫度高,不易退極化。例如,鋯鈦酸鉛熱釋電器件的Tc高達(dá)365℃,D*(500,1,1)高達(dá)7×108cm·Hz1/2·W-1。此外,這種熱釋電器件容易制造,成本低廉。

該器件的居里溫度Tc高達(dá)620°C,室溫下的響應(yīng)率幾乎不隨溫度變化,可在很高的環(huán)境溫度下工作;且能夠承受較高的輻射能量,不退極化;它的物理化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定,不需要保護(hù)窗口;機(jī)械強(qiáng)度高;響應(yīng)快(時(shí)間常數(shù)為13×10-12s,極限為1×10-12s;);適于探測高速光脈沖。已用于測量峰值功率為幾個(gè)千瓦,上升時(shí)間為100ps的Nd:YAG激光脈沖。其D*(500,30,1)達(dá)8.5×108cm·Hz1/2·W-1。

5.聚合物熱釋電器件

有機(jī)聚合物熱釋電材料的導(dǎo)熱小,介電常數(shù)也??;易于加工成任意形狀的薄膜;其物理化學(xué)性能穩(wěn)定,造價(jià)低廉;雖然熱釋電系數(shù)γ不大,但介電系數(shù)ε也小,所以比值γ/ε并不小。在聚合物熱釋電材料中較好的有聚二氟乙烯(PVF2)、聚氟乙烯(PVF)及聚氟乙烯和聚四氟乙烯等共聚物。利用PVF2薄膜已得到D*(500,10,1)達(dá)108cm·Hz1/2·W-1。

6.快速熱釋電探測器

如前所述,由于熱釋電器件的輸出阻抗高,因此需要配以高阻抗負(fù)載,因而其時(shí)間常數(shù)較大,即響應(yīng)時(shí)間較長。這樣的熱釋電器件不適于探測快速變化的光輻射。即使使用補(bǔ)償放大器,其高頻響應(yīng)也僅為103Hz量級(jí)。

近年來發(fā)展了快速熱釋電器件??焖贌後岆娖骷话愣荚O(shè)計(jì)成同軸結(jié)構(gòu),將光敏元置于阻抗為50Ω的同軸線的一端,采用面電極結(jié)構(gòu)時(shí),時(shí)間常數(shù)可達(dá)到1ns左右,采用邊電極結(jié)構(gòu)時(shí),時(shí)間常數(shù)可降至幾個(gè)ps。圖5-21所示為一種快速熱釋電探測器的結(jié)構(gòu)原理圖。光敏元件是SBN晶體薄片,采用邊電極結(jié)構(gòu),電極Au的厚度為0.1μm,襯底采用Al2O3或BeO陶瓷等導(dǎo)熱良好的材料。輸出用SMA/BNC高頻接頭。這種結(jié)構(gòu)的熱釋電探測器的響應(yīng)時(shí)間為13ps,其最低極限值受晶格振動(dòng)弛豫時(shí)間的限制,約為1ps。不采用同軸結(jié)構(gòu)而采用一般的管腳引線封裝結(jié)構(gòu),熱釋電探測器的頻響帶寬已擴(kuò)展到幾十兆赫。快速熱釋電器件常用來測量大功率脈沖激光,需要能承受大功率輻射,為此應(yīng)選用損傷閾值高的熱釋電材料和高熱導(dǎo)的襯底材料制造。5.3.5典型熱釋電器件

如圖5-22所示為典型TGS熱釋電器件。把制好的TGS晶體連同襯底貼于普通三極管管座上,上下電極通過導(dǎo)電膠、銦球或細(xì)銅絲與管腳相連,加上窗口后構(gòu)成完整的TGS熱電探測器件。為了降低器件的總熱導(dǎo),一般采用熱導(dǎo)率較低的襯底。管內(nèi)抽成真空或充氪氣等熱導(dǎo)很低的氣體。為獲得均勻的光譜響應(yīng),可在熱釋電器件靈敏層的表面涂特殊的漆,增加對(duì)入射輻射的吸收。

所有的熱釋電器件同時(shí)又是壓電晶體。因此它對(duì)聲頻振動(dòng)很敏感,入射輻射脈沖的熱沖擊會(huì)激發(fā)熱釋電晶體的機(jī)械振蕩,

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論