標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 1185-2006 光學(xué)零件表面疵病》相比于《GB/T 1185-1989》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:

  1. 范圍擴(kuò)展:2006版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光學(xué)零件的種類(lèi)和應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行了更廣泛的覆蓋,不僅包括了傳統(tǒng)光學(xué)領(lǐng)域,還考慮到了新興光學(xué)技術(shù)和應(yīng)用的需求,使得標(biāo)準(zhǔn)的適用性更強(qiáng)。

  2. 定義更新:更新并增補(bǔ)了光學(xué)零件表面疵病的相關(guān)定義,使得對(duì)各種疵病的描述更加準(zhǔn)確、清晰,有助于提高檢測(cè)和評(píng)價(jià)的一致性。

  3. 分類(lèi)細(xì)化:2006版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光學(xué)零件表面的疵病進(jìn)行了更為細(xì)致的分類(lèi),新增了一些隨著制造技術(shù)和檢測(cè)手段進(jìn)步而識(shí)別出的新類(lèi)型疵病,同時(shí)對(duì)原有疵病的分類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了優(yōu)化,提高了分類(lèi)的科學(xué)性和實(shí)用性。

  4. 檢驗(yàn)方法改進(jìn):引入了新的檢驗(yàn)技術(shù)和方法,如數(shù)字圖像處理技術(shù)在疵病檢測(cè)中的應(yīng)用指導(dǎo),提高了檢測(cè)的效率和準(zhǔn)確性。同時(shí),對(duì)檢驗(yàn)條件、儀器精度要求等方面也做了相應(yīng)的調(diào)整,以適應(yīng)技術(shù)發(fā)展的需要。

  5. 質(zhì)量等級(jí)與評(píng)定標(biāo)準(zhǔn):修訂了光學(xué)零件表面疵病的質(zhì)量等級(jí)劃分標(biāo)準(zhǔn),使之更加合理、嚴(yán)格,有助于提升產(chǎn)品質(zhì)量控制水平。對(duì)于不同類(lèi)型的疵病,提供了更為詳細(xì)和量化的評(píng)定指標(biāo)和方法。

  6. 標(biāo)準(zhǔn)國(guó)際化:2006版標(biāo)準(zhǔn)在制定過(guò)程中參考了更多的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和先進(jìn)國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐,增強(qiáng)了與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的接軌,有利于促進(jìn)光學(xué)零件的國(guó)際貿(mào)易和技術(shù)交流。

  7. 術(shù)語(yǔ)和符號(hào)標(biāo)準(zhǔn)化:統(tǒng)一并規(guī)范了光學(xué)零件表面疵病相關(guān)的專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)和符號(hào),便于行業(yè)內(nèi)的溝通和理解,提高了標(biāo)準(zhǔn)的通用性。


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文檔簡(jiǎn)介

ICS01.100.01:17.180.37N30中華人民共和國(guó)國(guó)GB/T1185-2006代替GB/T1185-1989光學(xué)零件表面疵病Surfaceimperfectionsofopticalelements(ISO10110-7:1996,0pticsandopticalinstruments--Preparationofdrawingsforopticalelementsandsystems-Part7:SurfaceimperfectiontolerancesNEQ:ISO14997:2003,pticsandopticalinstruments-Testmethodsforsurfaceimperfectionsofopticalelements.NEQ)2006-12-13發(fā)布2007-07-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛(ài)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T1185-2006三次前言范圍規(guī)范性引用文件23術(shù)語(yǔ)、定義和符號(hào)公差5標(biāo)識(shí)6試驗(yàn)方法附錄A(規(guī)范性附錄)換算附錄B(資料性附錄)表面疵病公差標(biāo)注示例附錄C(資料性附錄)面積法賽病試驗(yàn)裝置……·附錄D(資料性附錄)面積法疵病質(zhì)量控制程序附錄E(規(guī)范性附錄)可見(jiàn)法疵病檢驗(yàn)裝置·附錄F(資料性附錄)合件和涂覆后的表面疵病公差參考文獻(xiàn)23

GB/T1185-2006本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)于ISO10110-7.1996《光學(xué)和光學(xué)儀器光學(xué)零件和光學(xué)系統(tǒng)圖樣第7部分:表面疵病公差》英文版)和ISO14997:2003《光學(xué)和光學(xué)儀器光學(xué)零件表面疵病試驗(yàn)方法》(英文版)與ISO10110-7:1996和ISO14997:2003的一致性程度為非等效。本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ISO10110-7:1996和ISO14997:2003重新起草本國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的主要差異如下:增加了級(jí)數(shù)對(duì)應(yīng)的擦痕寬度和長(zhǎng)度:修改了長(zhǎng)擦痕的定義,ISO10110-7中長(zhǎng)擦痕定義為長(zhǎng)度大于2mm的擦痕:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定長(zhǎng)擦痕的長(zhǎng)寬比應(yīng)大于160:1.其寬度不大于一般疵病公差基本級(jí)數(shù)除以換算系數(shù)(25).長(zhǎng)度不小于一般疵病公差基本級(jí)數(shù)乘以換算系數(shù)(6.3).將長(zhǎng)擦痕與基本級(jí)數(shù)聯(lián)系了起來(lái)增加了表面疵病的未注公差。增加了表面疵病比較標(biāo)板的相對(duì)誤差以及3號(hào)標(biāo)板。修改了表面疵病的代號(hào),ISO10110系列標(biāo)準(zhǔn)中公差項(xiàng)目的代號(hào)采用數(shù)字碼,表面疵病的代號(hào)為"5";本標(biāo)準(zhǔn)仍沿用GB/T1185—1989規(guī)定的代號(hào)"B"。-為便于標(biāo)準(zhǔn)的理解、掌握和執(zhí)行,本標(biāo)準(zhǔn)增加和修改了術(shù)語(yǔ)、定義和符號(hào),調(diào)整了標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu).刮析了擦痕與級(jí)數(shù)的對(duì)應(yīng)關(guān)系和不同級(jí)數(shù)不同換算系數(shù)擦痕間的數(shù)據(jù)關(guān)系,增加了換算、對(duì)應(yīng)和標(biāo)注示例,提供了膠合件和涂覆后的表面疵病參考要求。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T1185—1989《光學(xué)零件表面疣病》,與GB/T1185—1989相比主要變化如下:-擴(kuò)大了適用范圍(GB/T1185-1989的第1章;本標(biāo)準(zhǔn)的第1章);增加了規(guī)范性引用文件(見(jiàn)第2章):修修改并增加了術(shù)語(yǔ)和定義(GB/T1185—1989的第2章;本標(biāo)準(zhǔn)的3.1);明確了擦痕和長(zhǎng)擦痕的定義、公差和標(biāo)志(GB/T1185—1989的4.3;本標(biāo)準(zhǔn)的3.1.4.4.2.2.5.1.3);-修改并增加了符號(hào)(GB/T1185—1989的第2章和第4章;本標(biāo)準(zhǔn)的3.2);修改了換算系數(shù)(GB/T1185—1989的表1;本標(biāo)準(zhǔn)的表A.1和表A.2);修改了級(jí)數(shù)換算示例(GB/T1185—1989的附錄A;本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A);增加了與級(jí)數(shù)對(duì)應(yīng)的圓麻點(diǎn)直徑和擦痕尺寸(見(jiàn)表A.3);增加了鍍膜的賽病要求和標(biāo)志(見(jiàn)4.2.1.4和5.1.2);修改了密集度要求(GB/T1185—1989的第5章;本標(biāo)準(zhǔn)的4.2.3);增加了表面疣病的未注公差(見(jiàn)4.5);修改了面積法疵病試驗(yàn)方法,并增加了質(zhì)量控制程序(GB/T1185—1989的第6章,本標(biāo)準(zhǔn)的6.1.附錄C和附錄D);增加了可視度的要求、標(biāo)志和試驗(yàn)方法(見(jiàn)4.3.5.1.4.6.2.附錄E);增加了破邊試驗(yàn)方法(見(jiàn)6.3)增加了疣病標(biāo)注示例(GB/T1185—1989的第4章;本標(biāo)準(zhǔn)的附錄B);提供了膠合件和涂覆后疵病的參考要求(見(jiàn)附錄F)。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A和附錄E是規(guī)范性附錄.附錄B、附錄C、附錄D和附錄F是資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出:本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC103)歸口。

GB/T1185-2006本標(biāo)準(zhǔn)由鳳凰光學(xué)集團(tuán)有限公司和上海光學(xué)儀器研究所負(fù)責(zé)起草,上海理工大學(xué)、南京江南光電(集團(tuán))股份有限公司、西安北方光電有限公司、江蘇曙光光電有限責(zé)任公司、南京東利來(lái)光電實(shí)業(yè)有限公司參加起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:鄒子剛、馮瓊輝、高大智、李湘寧、任文莉、劉慶明。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB1185-1974、GB/T1185-1989.

GB/T1185—2006光學(xué)零件表面疵病1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)零件表面疵病的術(shù)語(yǔ)、定義、符號(hào)、公差、標(biāo)識(shí)和試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)零件經(jīng)拋光、磨邊、注塑、鍍膜等加工后的表面粗糙度R.<0.1“m的透射和反射表面.光學(xué)零件經(jīng)刻劃、膠合、涂覆等加工后的透射和反射表面也可參照?qǐng)?zhí)行。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T13323光學(xué)制圖語(yǔ)、定義和符號(hào)3.1術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于木標(biāo)準(zhǔn)。3.1.1表面疵病surfaceimperfections光學(xué)零件表面呈現(xiàn)的麻點(diǎn)、斑點(diǎn)、擦痕、破邊等瑕疵。除鍍膜層疵病、長(zhǎng)擦痕和破邊之外的表面疣病又稱(chēng)一般表面賽病(以下簡(jiǎn)稱(chēng)一般疵病)。3.1.2麻點(diǎn)pitpitting光學(xué)零件表面呈現(xiàn)的微小的點(diǎn)狀凹穴,包括開(kāi)口氣泡、破點(diǎn),以及細(xì)磨或精磨后殘留的砂痕等。般疵病公差的基本級(jí)數(shù)對(duì)應(yīng)的麻點(diǎn)又稱(chēng)粗麻點(diǎn),級(jí)數(shù)小于一般疵病公差基本級(jí)數(shù)的麻點(diǎn)則稱(chēng)為細(xì)麻點(diǎn)注:一般妮病公差基本級(jí)數(shù)對(duì)應(yīng)的賽病面積與同級(jí)粗麻點(diǎn)的面積相等。3.1.3斑點(diǎn)Stain光學(xué)零件表面經(jīng)侵蝕或鍍膜后形成的在反射光中呈干涉色突變的局部腐蝕或覆蓋住:在透射光中能觀察到的斑點(diǎn)按麻點(diǎn)處置,在透射光中觀察不到的斑點(diǎn)按JB/T8226規(guī)定的色斑處置3.1.4sCratch光學(xué)零件表面呈現(xiàn)的微細(xì)的長(zhǎng)條形凹痕。長(zhǎng)寬比不大于160:1的擦痕又稱(chēng)短擦痕,長(zhǎng)寬比不小于160:1的擦痕則稱(chēng)為長(zhǎng)擦痕。注1;賽病級(jí)數(shù)所對(duì)應(yīng)的不同長(zhǎng)寬比的短擦痕,其面積與該級(jí)數(shù)的疵病面積相等

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