標準解讀

《GB/T 12085.8-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第8部分：高壓、低壓、浸沒》相比于其前版《GB/T 12085.8-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 高壓、低壓、浸沒》，主要在以下幾個方面進行了修訂和完善：

  1. 標準結(jié)構(gòu)與編排：2010版標準按照當時最新的國家標準編寫規(guī)則進行了重新編排，增強了標準的邏輯性和易讀性。引入了更明確的章節(jié)劃分，如范圍、規(guī)范性引用文件、術(shù)語和定義、試驗條件、試驗程序等，使得各項要求更加系統(tǒng)化。

  2. 技術(shù)內(nèi)容更新：更新了高壓、低壓及浸沒試驗的具體要求和方法，包括試驗條件的設(shè)定、試驗設(shè)備的技術(shù)指標、試驗步驟的詳細說明等，以適應(yīng)光學和光學儀器技術(shù)的發(fā)展和對環(huán)境適應(yīng)性測試更高精度的要求。

  3. 試驗條件細化：對高壓和低壓試驗的壓力范圍、升壓/降壓速率、保持時間等參數(shù)進行了更為精確的規(guī)定，提高了試驗的可重復性和結(jié)果的可靠性。同時，對于浸沒試驗，明確了液體的選擇原則、溫度控制要求以及樣品處理細節(jié)，確保試驗結(jié)果的一致性和科學性。

  4. 安全要求增強：鑒于高壓、低壓環(huán)境下操作的潛在危險，2010版標準增加了安全操作規(guī)程和防護措施的指導，強調(diào)了試驗人員的安全培訓和防護裝備的使用，體現(xiàn)了對人身安全的高度重視。

  5. 術(shù)語和定義明確：新增或修訂了一些關(guān)鍵術(shù)語和定義，幫助使用者準確理解試驗目的和過程，減少了因理解差異可能導致的試驗執(zhí)行誤差。

  6. 國際接軌：2010版標準在制定過程中參考了國際相關(guān)標準和先進國家的經(jīng)驗，力求與國際標準相協(xié)調(diào)，提升中國光學和光學儀器產(chǎn)品在全球市場上的競爭力。


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  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 12085.8-2022
  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 12085.8-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第8部分：高壓、低壓、浸沒_第1頁
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GB/T 12085.8-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第8部分：高壓、低壓、浸沒-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS37.020N30中華人民共和國國家標準GB/T12085.8-2010代替GB/T12085.8-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第8部分：高壓、低壓、浸沒Opticsandopticalinstruments--Environmentaltestmethods-Part8:Highpressure.lowpressure.immersion(ISO9022-8:1994.MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T12085.8—2010前GB/T12085《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法》分為以下16個部分：-第1部分：術(shù)語、試驗范圍：第2部分：低溫、高溫、濕熱：第3部分：機械作用力；第第4部分：鹽霧；第第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗；第6部分：砂塵：第第7部分：滴水、淋雨；第8部分：高壓、低壓、浸沒：第第9部分：太陽輻射;第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗：第11部分：長霉;-第12部分：污染；-第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗；第14部分：露、霜、冰;-第15部分：寬帶隨機振動(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗;-第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗。本部分為GB/T12085的第8部分。本部分修改采用ISO9022-8:1994光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：第8部分：高壓、低壓、浸沒》本部分與ISO9022-2:1994的主要差異如下：刪刪除國際標準的序言和前言：根據(jù)ISO9022-8第1章及我國標準用語習慣作了重新編寫；“國際標準本部分"一詞改為"本部分"。本部分代替GB/T12085.8—1989《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法高壓、低壓、浸沒》與GB/T12085.8-1989的主要差異為：合并了范圍與試驗目的：修改了變量溫差的計量單位：修改了條件方法82的嚴醋等級04的浸沒深度；增加了試驗程序的總則：增加了環(huán)境試驗的標記名稱,修改了相應(yīng)標準號的編寫：增加了附錄A的試驗說明本部分的附錄A為資料性附錄本部分由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本部分由全國光學和光子學標準化技術(shù)委員會（SAC/TC103)歸口本部分起草單位：上海理工大學、寧波永新光學股份有限公司本部分主要起草人：馮瓊輝、章慧賢、曾麗珠、秦杰本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T12085.8-1989。

GB/T12085.8—2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第8部分：高壓、低壓、浸沒范圍本部分規(guī)定了高壓、低壓、浸沒試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。本部分適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。本試驗目的為研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電學等特性受到環(huán)境氣體高壓、低壓或水浸沒影響的變化程度2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括期誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分·然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T12085.1光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第1部分：術(shù)語、試驗范圍(GB/T12085.1-2010.1SO9022-1:1994.MOD)3試驗條件光學儀器的耐壓試驗采用下述三種方法。條件試驗方法80：內(nèi)高壓：條件試驗方法81:內(nèi)低壓；條件試驗方法82:浸沒：條件試驗方法80的環(huán)境條件為清潔的干燥空氣或氮氣.相對濕度小于30%，條件試驗方法82用于在使用期間可能遭到浸沒的儀器。浸沒試驗應(yīng)使用軟水并在散開的水箱里或水壓室中進行.浸沒的深度根據(jù)試樣的最高部位決定，水溫應(yīng)在10℃～25℃之間.暴露期間試樣的溫度不得低于水溫，但也不可超過水溫10K。4條件試驗4.1條件試驗方法80:內(nèi)高壓條件試驗方法80內(nèi)高壓的嚴酷等級按表1嚴

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