標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量紅外吸收測(cè)量方法》相比于《GB 1558-1983》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:
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標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)變化:從標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)上的差異可以看出,《GB 1558-1983》是一個(gè)強(qiáng)制性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB),而《GB/T 1558-1997》變更為推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB/T)。這意味著后者雖然依舊為國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),但在具體應(yīng)用中為企業(yè)或?qū)嶒?yàn)室提供了更多選擇空間,非強(qiáng)制執(zhí)行。
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技術(shù)內(nèi)容更新:《GB/T 1558-1997》在測(cè)量原理、儀器設(shè)備、樣品制備、測(cè)試步驟及數(shù)據(jù)處理等方面可能融入了新的研究成果和技術(shù)進(jìn)步,以提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。例如,可能對(duì)紅外光譜儀的性能要求、測(cè)試波長(zhǎng)的選擇、背景扣除方法等細(xì)節(jié)進(jìn)行了優(yōu)化或明確。
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精度與誤差要求調(diào)整:新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)根據(jù)技術(shù)發(fā)展和實(shí)際應(yīng)用需求,對(duì)測(cè)量結(jié)果的精度和允許誤差范圍進(jìn)行重新評(píng)估和定義,以更符合當(dāng)前技術(shù)水平下的測(cè)量要求。
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適用范圍擴(kuò)展或明確:《GB/T 1558-1997》可能對(duì)硅材料中代位碳原子含量的適用類(lèi)型、濃度范圍或特定應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行了更詳細(xì)的規(guī)定或擴(kuò)展,使得標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用更加廣泛且針對(duì)性更強(qiáng)。
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術(shù)語(yǔ)和定義的規(guī)范:隨著科學(xué)進(jìn)步,一些專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)可能有了新的定義或解釋?zhuān)聵?biāo)準(zhǔn)會(huì)對(duì)此進(jìn)行更新,確保術(shù)語(yǔ)使用的準(zhǔn)確性和一致性。
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試驗(yàn)方法的改進(jìn):包括但不限于樣品預(yù)處理技術(shù)、測(cè)量條件的標(biāo)準(zhǔn)化、數(shù)據(jù)分析方法的優(yōu)化等,旨在提高檢測(cè)效率和降低人為誤差。
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參考文獻(xiàn)與國(guó)際接軌:新標(biāo)準(zhǔn)可能引用了更多最新的國(guó)內(nèi)外研究成果和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),增強(qiáng)了標(biāo)準(zhǔn)的科學(xué)性和國(guó)際兼容性。
這些變更反映了自1983年以來(lái),在硅材料中代位碳原子含量測(cè)定領(lǐng)域的理論研究、技術(shù)進(jìn)步以及標(biāo)準(zhǔn)化工作的發(fā)展情況,旨在為相關(guān)行業(yè)提供更為準(zhǔn)確、可靠、高效的測(cè)量方法。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1558-2009
- 1997-12-22 頒布
- 1998-08-01 實(shí)施



文檔簡(jiǎn)介
ICS29.045H21中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1558-1997硅中代位碳原子含量紅外吸收測(cè)量方法Testmethodforsubstitutionalatomiccarboncontentofsiliconbyinfraredabsorption1997-12-22發(fā)布1998-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
GB/T1558-1997前本標(biāo)準(zhǔn)等效采用ASTMF123—91《硅中代位碳原子含量紅外吸收測(cè)量方法》對(duì)我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)GB1558—83《測(cè)定硅品體中代位碳含量的紅外吸收方法》進(jìn)行修訂而成的。本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)GB1558—83中半值寬度的定義和試樣厚度的要求按ASTMF123—91作了修訂。本標(biāo)準(zhǔn)在編寫(xiě)時(shí)略去了ASTMF123-91的第5章“意義和用途”,將ASTMF123的第8章“取樣”和第9章“測(cè)試樣品和參比樣品"合并為本標(biāo)準(zhǔn)的第7章“試樣制備"以使標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)單、明了。本標(biāo)準(zhǔn)從1998年8月1日起實(shí)施。本標(biāo)準(zhǔn)生效之日起,同時(shí)代替國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1558—83.本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)總公司提出本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)總公司標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量研究所歸口本標(biāo)準(zhǔn)由峨眉半導(dǎo)體材料廠負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:梁洪、劉文魁、吳福立本標(biāo)準(zhǔn)1979年6月首次發(fā)布,1997年第二次修訂。
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)硅中代位碳原子含量GB/T1558一1997紅外吸收測(cè)量方法代替GB1558-83Testmethodforsubstitutionalatomiccarboncontentofsiliconbyinfraredabsorption范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅中代位碳原子含量紅外吸收測(cè)量方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于載流子濃度小于5×10"m~"、室溫電阻率大于0.10·cm的硅單品中代位碳原子濃度的測(cè)定。由于碳也可能存在于間隙位置,因而本方法不能測(cè)定總碳濃度。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于硅多品中代位碳原子濃度的測(cè)定。其晶粒界間區(qū)的碳同樣不能測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量碳原子濃度的有效范圍為:室溫下從硅中代位碳原子濃度1×10""at·cm-(200PPba)到碳原子的最大溶解度,77K時(shí)下限降到5×10"at·cm-(100PPba).2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)包含的條文,通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。在標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性:GB/T6618—1995硅片厚度和總厚度變化的測(cè)試方法3定義本標(biāo)準(zhǔn)采用以下定義。3.1基線basiclinc從參比圖譜吸收峰兩側(cè)最大透過(guò)率處作出的一條切線,用來(lái)計(jì)算吸收系數(shù)“。見(jiàn)圖1。3.2碳濃度carbondensity在本方法中,是指占據(jù)晶格替代位置的碳原子的體密度。根據(jù)比耳定律,它與吸收系數(shù)成正比,單位是at·cmn-。3.3半值寬度f(wàn)ullwidthathalfmaximum半峰高處的吸收帶寬度。見(jiàn)圖1。3.4參比樣品referencespecimen在本方法中,是指與被測(cè)試樣的厚度及表面制備相同,載流子濃度不大于被測(cè)試樣的載流子濃度碳濃度小于1×
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