標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 17626.3-2016 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)》相比于《GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了更新與調(diào)整:
-
范圍和適用性:2016版標(biāo)準(zhǔn)在適用范圍描述上更為明確,涵蓋了信息技術(shù)設(shè)備、家用電器、照明設(shè)備等多種產(chǎn)品,同時(shí)對(duì)測(cè)試方法的通用性和特定應(yīng)用的指導(dǎo)性進(jìn)行了增強(qiáng)。
-
術(shù)語(yǔ)和定義:新增和修訂了一些專業(yè)術(shù)語(yǔ)和定義,以更準(zhǔn)確地反映當(dāng)前電磁兼容領(lǐng)域的最新理解和要求,幫助用戶更好地理解標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容。
-
試驗(yàn)配置和方法:對(duì)試驗(yàn)場(chǎng)地、試驗(yàn)設(shè)備、以及測(cè)試布置的要求進(jìn)行了細(xì)化和優(yōu)化,如增加了對(duì)開闊試驗(yàn)場(chǎng)地和屏蔽室使用條件的具體說(shuō)明,改進(jìn)了天線與被測(cè)設(shè)備(EUT)之間的距離確定方法,確保測(cè)試結(jié)果的一致性和可重復(fù)性。
-
試驗(yàn)等級(jí)和嚴(yán)酷程度:調(diào)整了部分頻率范圍內(nèi)的試驗(yàn)等級(jí)和嚴(yán)酷等級(jí),使之更加符合當(dāng)前電子設(shè)備面臨的實(shí)際電磁環(huán)境,提高了測(cè)試的針對(duì)性和實(shí)用性。
-
測(cè)量和評(píng)估:更新了測(cè)量參數(shù)、評(píng)估指標(biāo)和數(shù)據(jù)處理方法,引入了更先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)和數(shù)據(jù)分析要求,確保評(píng)估結(jié)果的準(zhǔn)確性和科學(xué)性。
-
試驗(yàn)報(bào)告:對(duì)試驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容和格式提出了更詳細(xì)的要求,強(qiáng)調(diào)了需要記錄的信息細(xì)節(jié),便于結(jié)果的交流和追溯。
-
參考文獻(xiàn):更新了參考文獻(xiàn)列表,納入了更多近期的相關(guān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和研究成果,為用戶提供最新的技術(shù)支持和理論依據(jù)。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17626.3-2023
- 2016-12-13 頒布
- 2017-07-01 實(shí)施
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GB/T 17626.3-2016電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS3310020
L06..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.代替:
GB/T17626.3—2006
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)
射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
Electromagneticcompatibility—
Testingandmeasurementtechniques—
Radiatedradio-freuencelectromaneticfieldimmunittest
,qy,gy
[IEC61000-4-3:2010,Electromagneticcompatibility(EMC)—
Part4-3:Testingandmeasurementtechniques—
Radiated,radio-frequency,electromagnetic
fieldimmunitytest,IDT]
2016-12-13發(fā)布2017-07-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
目次
前言…………………………
Ⅰ
范圍………………………
11
規(guī)范性引用文件…………………………
21
術(shù)語(yǔ)和定義………………
31
概述………………………
44
試驗(yàn)等級(jí)…………………
54
一般試驗(yàn)等級(jí)………………………
5.15
保護(hù)設(shè)備抵抗數(shù)字無(wú)線電話和其他射頻發(fā)射裝置的射頻輻射的試驗(yàn)等級(jí)…
5.2()5
試驗(yàn)設(shè)備…………………
65
試驗(yàn)設(shè)施的描述……………………
6.16
場(chǎng)的校準(zhǔn)……………
6.26
試驗(yàn)布置…………………
79
臺(tái)式設(shè)備的布置……………………
7.110
落地式設(shè)備的布置…………………
7.210
布線…………………
7.310
人身攜帶設(shè)備的布置………………
7.410
試驗(yàn)程序…………………
810
確認(rèn)實(shí)驗(yàn)室的有關(guān)條件……………
8.111
測(cè)試的實(shí)施…………………………
8.211
試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定…………………………
912
試驗(yàn)報(bào)告………………
1012
附錄資料性附錄保護(hù)設(shè)備抵抗數(shù)字無(wú)線電話射頻輻射的試驗(yàn)調(diào)制方式的選擇原理………
A()()19
附錄資料性附錄場(chǎng)發(fā)射天線………………………
B()23
附錄資料性附錄電波暗室的應(yīng)用…………………
C()24
附錄資料性附錄放大器非線性和校準(zhǔn)方法的示例…………
D()6.226
附錄資料性附錄產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化專業(yè)委員會(huì)試驗(yàn)等級(jí)選擇指南……
E()30
附錄資料性附錄試驗(yàn)方法的選擇…………………
F()32
附錄資料性附錄環(huán)境描述…………
G()33
附錄規(guī)范性附錄頻率高于時(shí)的替代照射方法獨(dú)立窗口法………
H()1GHz(“”)37
附錄資料性附錄電場(chǎng)探頭的校準(zhǔn)方法……………
I()40
附錄資料性附錄由試驗(yàn)儀器引起的測(cè)量不確定度………………
J()53
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
前言
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)目前包括以下部分
GB/T17626《》:
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論
———GB/T17626.1—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.2—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.3—2016;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.4—2008;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.5—2008();
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
———GB/T17626.6—2008;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波諧間波的測(cè)
———GB/T17626.7—2008、
量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.8—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.9—2011;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.10—1998;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化抗擾
———GB/T17626.11—2008、
度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.12—2013;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)交流電源端口諧波諧間波及電網(wǎng)信
———GB/T17626.13—2006、
號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.14—2005;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范
———GB/T17626.15—2011;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度
———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz
試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.17—2005;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗
———GB/T17626.20—2014(TEM)
擾度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)混波室試驗(yàn)方法
———GB/T17626.21—2014;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)
———GB/T17626.24—2012HEMP
方法
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.27—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.28—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降短時(shí)中
———GB/T17626.29—2006、
斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電能質(zhì)量測(cè)量方法
———GB/T17626.30—2012;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)主電源每相電流大于的設(shè)備的
———GB/T17626.34—201216A
電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)
、。
本部分為的第部分
GB/T176263。
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分代替電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.3—2006《》。
與相比主要技術(shù)內(nèi)容變化如下
GB/T17626.3—2006,:
Ⅰ
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
第章術(shù)語(yǔ)和定義中刪除了原帶狀線和雜散輻射
———4,4.144.15;
第章合并原表和表為表與常規(guī)用途裝置數(shù)字無(wú)線電話和其他射頻發(fā)射裝置有關(guān)的
———5121、
試驗(yàn)等級(jí)
;
保護(hù)設(shè)備抵抗數(shù)字無(wú)線電話和其他射頻發(fā)射裝置的射頻輻射的測(cè)試高頻范圍由
———5.2()2GHz
擴(kuò)展至
6GHz;
第章修改了對(duì)功率放大器的要求
———6;
場(chǎng)校準(zhǔn)中增加了完全照射部分照射和獨(dú)立窗口均勻場(chǎng)域的應(yīng)用要求
———6.2、;
恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法增加了步驟對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的確認(rèn)
———6.2.1j),;
恒定功率校準(zhǔn)法增加了步驟對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的確認(rèn)
———6.2.2m),;
附錄場(chǎng)發(fā)射天線刪除了圓極化天線
———B;
刪除了原附錄中小室和帶狀線測(cè)試方法
———DTEM;
原附錄改為附錄并增加表
———IGG.3;
原附錄改為附錄
———HF;
原附錄改為附錄
———JH;
原附錄改為附錄
———KD;
原附錄和附錄合并為附錄
———FGE;
增加了附錄場(chǎng)強(qiáng)探頭的校準(zhǔn)
———I;
增加了附錄試驗(yàn)儀器引起的測(cè)量不確定度
———J。
本部分使用翻譯法等同采用電磁兼容第部分試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)
IEC61000-4-3:2010《(EMC)4-3:
射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
》。
與本部分中規(guī)范性引用的國(guó)際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下
:
電工術(shù)語(yǔ)電磁兼容
———GB/T4365—2003[IEC60050(161):1990,IDT];
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)試技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾
———GB/T17626.6—2008
度
(IEC61000-4-6:2006,IDT)。
本部分由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC246)。
本部分起草單位上海電器科學(xué)研究院上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究院
:、、、
北京市醫(yī)療器械檢驗(yàn)所東鑠檢測(cè)科技蘇州有限公司上海三基電子工業(yè)有限公司
、()、。
本部分主要起草人鄭軍奇劉媛龔增王英孟志平瀟瀟苑明聰葉瓊瑜壽建霞錢楓
:、、、、、、、、、。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為
:
———GB/T17626.3—1992、GB/T17626.3—1998、GB/T17626.3—2006。
Ⅱ
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)
射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
1范圍
的本部分適用于電氣電子設(shè)備的電磁場(chǎng)輻射抗擾度要求規(guī)定了試驗(yàn)等級(jí)和必要的
GB/T17626、,
試驗(yàn)程序
。
本部分的目的是建立電氣電子設(shè)備受到射頻電磁場(chǎng)輻射時(shí)的抗擾度評(píng)定依據(jù)在本部分中給出
、。
的試驗(yàn)方法描述了評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)抵抗一定環(huán)境的抗擾度的符合性方法
。
注1如所述本部分是供有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)使用的基礎(chǔ)出版物同時(shí)在
:GB/Z18509,EMC。GB/Z18509
中規(guī)定有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)確定此抗擾度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是否適用如適用他們有責(zé)任確定適合的試
,,,
驗(yàn)等級(jí)及性能判據(jù)全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)及其分會(huì)與有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
。(SAC/TC246)
合作以評(píng)估對(duì)其產(chǎn)品的特定抗擾度試驗(yàn)的試驗(yàn)等級(jí)及性能判據(jù)
,。
本部分適用于防止所有發(fā)射源的射頻電磁場(chǎng)的抗擾度試驗(yàn)
。
特別關(guān)注對(duì)防止數(shù)字無(wú)線電話和其他射頻發(fā)射裝置的射頻輻射
溫馨提示
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