標(biāo)準解讀
GB/T 20018-2005 是一項中國國家標(biāo)準,全稱為《金屬與非金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 β射線背散射方法》。該標(biāo)準規(guī)定了使用β射線背散射技術(shù)來測量金屬與非金屬基材上覆蓋層厚度的方法、原理、儀器要求、測量步驟、數(shù)據(jù)處理以及測量不確定度的評估方法。以下是該標(biāo)準的主要內(nèi)容概覽:
適用范圍
本標(biāo)準適用于測定金屬和非金屬基體上各種類型覆蓋層的厚度,如鍍層、涂層、轉(zhuǎn)化膜等,覆蓋層厚度范圍一般在0.05微米到數(shù)毫米之間,具體適用范圍依據(jù)所用儀器的性能確定。
測量原理
β射線背散射法基于β粒子(高速電子)穿過覆蓋層并從基材反射回來的過程。覆蓋層的厚度會影響返回的β射線強度,通過測量這種強度變化,可以計算出覆蓋層的厚度。這種方法非破壞性,適用于在線或離線測量。
儀器要求
- β射線源:應(yīng)具有足夠的能量穿透覆蓋層并從基材有效背散射。
- 探測器:用于捕捉背散射的β射線,需具備良好的能量分辨能力。
- 測量系統(tǒng):應(yīng)能精確控制測量條件,包括距離、角度等,并能校正因材料種類、表面粗糙度等因素引起的誤差。
測量步驟
- 樣品準備:確保樣品表面干凈、平整,避免影響測量準確性。
- 參數(shù)設(shè)置:根據(jù)被測覆蓋層材料和基材特性,選擇合適的測量條件。
- 測量執(zhí)行:將樣品置于儀器指定位置,啟動測量,記錄背散射信號強度。
- 數(shù)據(jù)處理:利用預(yù)先建立的校準曲線或數(shù)學(xué)模型,將信號強度轉(zhuǎn)換為覆蓋層厚度。
數(shù)據(jù)處理與校準
- 需要通過標(biāo)準樣品進行校準,建立覆蓋層厚度與背散射信號強度之間的關(guān)系。
- 應(yīng)考慮并校正基材效應(yīng)、表面粗糙度等因素對測量結(jié)果的影響。
測量不確定度評估
對測量過程中所有可能引入不確定性的因素進行分析,如儀器精度、校準曲線的線性度、環(huán)境條件變化等,以量化最終測量結(jié)果的不確定性。
注意事項
雖然未直接要求總結(jié),但理解上需注意,實施該標(biāo)準時,操作人員應(yīng)熟悉儀器操作、理解測量原理,并嚴格遵循標(biāo)準規(guī)定的步驟和要求,以確保測量結(jié)果的準確性和可靠性。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2005-10-12 頒布
- 2006-04-01 實施
文檔簡介
ICS25.220.20A29中華人民共和國國家標(biāo)準GB/T20018-2005/ISO3543:2000金屬與非金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量B射線背散射方法Metallicandnon-metalliccoatings-Measurementofthickness-Betabackscattermethods(ISO3543:2000,IDT)2005-10-12發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準化管理委員會
GB/T20018-2005/1S03543:2000三次前言范圍2術(shù)語和定義3原理4儀器5影響測量不確定度的因素儀器的校準67測量程序8測量不確定度9測試報告…………·………附錄A(資料性附錄)一般信息
GB/T20018-2005/ISO3543:2000公本標(biāo)準等同采用ISO3543:2000(E)《金屬與非金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量_B射線背散射方法)(英文版)。本標(biāo)準按GB/T1.1的編輯要求.根據(jù)ISO3497重新起草。本標(biāo)準對應(yīng)ISO3543作了如下修改-取消了ISO3543的前言內(nèi)容,重新起草了本標(biāo)準前言;-增加了“目次內(nèi)容”;-用“本標(biāo)準”代替·本國際標(biāo)準”本標(biāo)準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出本標(biāo)準由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準起草單位:機械工業(yè)表面覆蓋層產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢測中心。本標(biāo)準起草人:姜新華、凌國偉、劉建國、鐘立暢、宋智玲
GB/T20018-2005/IS03543:2000金屬與非金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量印射線背散射方法1范圍警告測量覆蓋層厚度的β射線背散射儀使用各種放射源.盡管這些放射源的強度通常很低·但如果處理不當(dāng).對人的健康還是有害的。因此·操作人員必須遵守現(xiàn)行的國際和國家標(biāo)準及地方法規(guī)。本標(biāo)準規(guī)定了應(yīng)用8射線背散射儀無損測量覆蓋層厚度的方法。它適用于測量金屬和非金屬基體上的金屬和非金屬覆蓋層的厚度。使用本方法,覆蓋層和基體的原子序數(shù)或等效原子序數(shù)應(yīng)該相差-個適當(dāng)?shù)臄?shù)值?。河捎赬射線熒光方法的使用.B射線背散射方法越來越少用于覆蓋層厚度的測量.然而.由于它的消耗低.對許多應(yīng)用來說,它仍是一種非常有用的測量方法。此外.它具有較寬的測量范圍。2術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準2放射性衰變radioaclivedccay一種自然的核變。變中放射粒子或丫射線或被軌道電子捕獲而放射X射線,或原子核發(fā)生自熱裂變LISO921:1997.定義97222B粒子betaparticle核脫變過程中,由原子核或中子發(fā)射的帶正電荷或帶負電荷的電子ISO921:1997.定義81.23發(fā)射的同位素beta-emittingisotopeB發(fā)射源beta-cmittingsourceB發(fā)射體beta-emitter其原子核發(fā)射β粒子的物質(zhì)。注1:B發(fā)射體可以按其脫變時釋放出來的粒子的最大能級分類注2:表A.1列出了射線背散射儀使用的一些同位素2.4電子伏特electron-volt?個能量單位,等于通過電位差為1V的一個電子的能量變化ISO921:1997.定義393注1:1ev=1.60219×10"J。注2:因為這個單位對所遇到的3粒子來說太小.所以通常用百萬電子伏特(MeV)2.5活度Eactivity衰
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