標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 21355-2008 無損檢測 計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的分類》是中國國家標(biāo)準(zhǔn)之一,主要針對應(yīng)用于無損檢測領(lǐng)域的計算機(jī)射線照相系統(tǒng)進(jìn)行分類。該標(biāo)準(zhǔn)的制定旨在為相關(guān)行業(yè)的使用者提供一個統(tǒng)一的參考依據(jù),以便于更好地選擇適合自己需求的設(shè)備和技術(shù)。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容,計算機(jī)射線照相系統(tǒng)被分為兩大類:數(shù)字射線成像系統(tǒng)和基于膠片掃描的數(shù)字化系統(tǒng)。其中,數(shù)字射線成像系統(tǒng)又細(xì)分為直接轉(zhuǎn)換型和平板探測器型;而基于膠片掃描的數(shù)字化系統(tǒng)則包括了使用激光掃描儀將傳統(tǒng)X光或γ射線膠片圖像轉(zhuǎn)化為數(shù)字格式的技術(shù)。
對于每一種類型的系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)還進(jìn)一步定義了其組成部件、工作原理以及性能要求等信息。例如,在描述直接轉(zhuǎn)換型數(shù)字射線成像系統(tǒng)時,提到了這種系統(tǒng)通常由X射線源、閃爍體層、光電二極管陣列以及讀出電路構(gòu)成,并且能夠直接將接收到的輻射能量轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘栞敵?,從而實現(xiàn)快速成像的目的。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 21355-2022
- 2008-01-14 頒布
- 2008-05-01 實施
文檔簡介
犐犆犛19.100
犑04
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜21355—2008
無損檢測計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的分類
犖狅狀犱犲狊狋狉狌犮狋犻狏犲狋犲狊狋犻狀犵—犆犾犪狊狊犻犳犻犮犪狋犻狅狀狅犳犮狅犿狆狌狋犲犱狉犪犱犻狅犾狅犵狔狊狔狊狋犲犿狊
20080114發(fā)布20080501實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
書
犌犅/犜21355—2008
前言
本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ASTME244605《計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的分類》(英文版)。
本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ASTME244605重新起草。
考慮到我國國情,在采用ASTME244605時,本標(biāo)準(zhǔn)做了一些修改。有關(guān)技術(shù)性差異如下:
———將規(guī)范性引用文件E1316更改為我國標(biāo)準(zhǔn)GB/T12604.2;
———將規(guī)范性引用文件E1815更改為我國標(biāo)準(zhǔn)GB/T19348.1;
———將規(guī)范性引用文件E2445更改為我國標(biāo)準(zhǔn)GB/T21356;
———刪除規(guī)范性引用文件E1647和E2007。
為便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)還做了下列編輯性修改:
———“本方法”一詞改為“本標(biāo)準(zhǔn)”;
———用小數(shù)點“.”代替作為小數(shù)點的逗號“,”;
———按GB/T1.1—2000規(guī)定的格式要求,對部分條號和標(biāo)題做了修改;
———在第2章和第3章中使用GB/T1.1—2000規(guī)定的引導(dǎo)語。
本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC56)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:上海蘇州美柯達(dá)探傷器材有限公司、中國特種設(shè)備檢測研究中心、上海星標(biāo)科技
信息咨詢事務(wù)所、上海材料研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:宓中玉、章怡明、張佳銀、趙成、金宇飛。
Ⅰ
書
犌犅/犜21355—2008
無損檢測計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的分類
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了計算機(jī)射線照相(CR)系統(tǒng)的評定和分類方法,所指的系統(tǒng)包括:特殊的磷光成像板
(IP),系統(tǒng)掃描器和軟件,以及供工業(yè)射線照相檢測配套使用的特制金屬增感屏。其目的旨在評價來自
探測器/IP系統(tǒng)的影響,以確保成像質(zhì)量,確保滿足用戶要求。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的系統(tǒng)分類測試方法,適用于不同供應(yīng)商,也可以為用戶提供不同系統(tǒng)的可比性。
CR系統(tǒng)的性能,由信號和噪聲參量表征。對膠片系統(tǒng)來說,信號是用梯度而噪聲是用顆粒度表示
的。標(biāo)稱化的信噪比,是對CR系統(tǒng)進(jìn)行分類的參量組成部分,用系統(tǒng)的基本空間分辨力表示。標(biāo)稱化
的測試方法,可按GB/T19348.1(膠片系統(tǒng)分類)的規(guī)定進(jìn)行,即用微密度計的直徑100μm光孔發(fā)出
的光束掃描給出。本標(biāo)準(zhǔn)描述的就是CR系統(tǒng)的這些參量應(yīng)該怎樣測定。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有
的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究
是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T12604.2無損檢測術(shù)語射線照相檢測(GB/T12604.2—2005,ISO5576:1997,IDT)
GB/T19348.1無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分:工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類
(GB/T19348.1—2003,ISO116991:1998,IDT)
GB/T21356無損檢測計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長期穩(wěn)定性與鑒定方法
ASTME2002射線照相圖像總不清晰度測定方法
ASTME2033計算機(jī)射線照相(PSL法)方法
3術(shù)語和定義
GB/T12604.2確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
3.1
計算機(jī)射線照相系統(tǒng)(犆犚系統(tǒng))犮狅犿狆狌狋犲犱狉犪犱犻狅犾狅犵狔狊狔狊狋犲犿(犆犚狊狔狊狋犲犿)
指由存儲磷光成像板(IP)、相應(yīng)的讀出裝置(掃描器或讀出器)和軟件等組成的一個完整系統(tǒng)。它
能將IP上的信息轉(zhuǎn)換成數(shù)字的圖像。
3.2
計算機(jī)射線照相系統(tǒng)分類犮狅犿狆狌狋犲犱狉犪犱犻狅犾狅犵狔狊狔狊狋犲犿犮犾犪狊狊
由一組特定磷光圖像存儲板組成的CR系統(tǒng),其特性可依據(jù)表1所示的犛犖犚(信號與噪聲之比)值
和特定曝光區(qū)域的不清晰度來進(jìn)行分類。
表1犆犚系統(tǒng)的分類
CR系統(tǒng)類別最小的犛犖犚
IPs/犢130
IPⅠ/犢
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