GB/T 2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜２４２３．２５—２００８／犐犈犆６００６８２４０：１９７６

代替ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—１９９２

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第２部分：試驗方法

試驗犣／犃犕：低溫／低氣壓綜合試驗

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋２：犜犲狊狋狊犿犲狋犺狅犱狊—

犜犲狊狋犣／犃犕：犆狅犿犫犻狀犲犱犮狅犾犱／犾狅狑犪犻狉狆狉犲狊狊狌狉犲狋犲狊狋狊

（ＩＥＣ６００６８２４０：１９７６，Ｂａｓｉｃｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｇｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ—

Ｐａｒｔ２：ＴｅｓｔｓＴｅｓｔＺ／ＡＭ：Ｃｏｍｂｉｎｅｄｃｏｌｄ／ｌｏｗａｉｒｐｒｅｓｓｕｒｅｔｅｓｔｓ，ＩＤＴ）

２００８１２３０發(fā)布２００９１００１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜２４２３．２５—２００８／犐犈犆６００６８２４０：１９７６

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１引言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

１．１概述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

１．２低氣壓!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

１．３溫度!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

１．４規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２目的!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

３一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

４試驗設(shè)備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

４．１試驗箱!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

４．２安裝!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５嚴酷度等級!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５．１一般要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５．２溫度、氣壓和持續(xù)時間的優(yōu)選組合!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６預處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７初始檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

８條件試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

８．１一般規(guī)定!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

８．２無人工冷卻的散熱試驗樣品和非散熱試驗樣品的試驗程序!!!!!!!!!!!!!!!３

８．３帶人工冷卻的試驗樣品進行試驗時的注意事項!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

９中間檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

１０恢復!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

１１最后檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

１２相關(guān)規(guī)范中給出的資料!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

附錄ＮＡ（資料性附錄）ＧＢ／Ｔ２４２３標準的組成部分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

Ⅰ

書

犌犅／犜２４２３．２５—２００８／犐犈犆６００６８２４０：１９７６

前言

ＧＢ／Ｔ２４２３．２５是ＧＢ／Ｔ２４２３標準的第２５部分。ＧＢ／Ｔ２４２３標準的組成部分見資料性附錄ＮＡ。

本部分等同采用國際電工委員會ＩＥＣ６００６８２４０：１９７６（第一版）《基本環(huán)境試驗規(guī)程第２部分：

試驗試驗Ｚ／ＡＭ：低溫／低氣壓綜合試驗》（英文版）及其修訂１：１９８３。為便于使用，本部分做了下列

編輯性修改：

———為與新版ＩＥＣ６００６８的標題名稱一致，本部分標題名稱由“基本環(huán)境試驗規(guī)程”改為“電工電子

產(chǎn)品環(huán)境試驗”；

———“ＩＥＣ６００６８２４０：１９７６本部分”修改為“ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—２００８本部分”；

———刪除了ＩＥＣ６００６８２４０：１９７６的前言和序；

———增加了國家標準的前言；

———增加了規(guī)范性引用文件一覽表的引導語；引用了與國際標準有對應關(guān)系的國家標準，并改變了

排列順序；

———增加了資料性附錄“ＧＢ／Ｔ２４２３標準的組成部分”（見附錄ＮＡ）。

本部分代替ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—１９９２《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ｚ／ＡＭ：低溫／低氣壓

綜合試驗》。本部分與ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—１９９２相比主要變化如下：

———ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—１９９２是參照采用國際電工委員會ＩＥＣ６００６８２４０：１９７６（第一版）《基本環(huán)境

試驗規(guī)程第２部分：試驗試驗Ｚ／ＡＭ：低溫／低氣壓綜合試驗》（英文版）及其修訂１：１９８３，

本部分是等同采用；

———為與ＩＥＣ原文一致，本部分將圖１和圖２改為圖１ａ）和圖１ｂ），并置于正文最后；

———為與ＩＥＣ原文編寫格式一致，本部分將４．１．１和４．１．２合并在一起；５．１．１、５．１．２和５．１．３合

并在一起；８．１．１和８．１．２合并在一起；

———本部分表１中沒有列出與溫度、氣壓對應的高度值，三者的關(guān)系見專門標準；并增加了以ｍｂａｒ

為單位的氣壓值；

———本部分８．２．８壓力升高期間不要求溫度控制。

本部分的附錄ＮＡ為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分由廣州電器科學研究院起草。

本部分主要起草人：胡利芬。

本部分所代替部分的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ２４２３．２５—１９８１、ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—１９９２。

Ⅲ

犌犅／犜２４２３．２５—２００８／犐犈犆６００６８２４０：１９７６

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第２部分：試驗方法

試驗犣／犃犕：低溫／低氣壓綜合試驗

１引言

１．１概述

ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分是關(guān)于散熱和非散熱試驗樣品低溫（溫度漸變或突變）和低氣壓綜合試驗，見

８．２．２和８．２．８。

本試驗目的是確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品對其貯存和使用中遇到的低溫低氣壓綜合環(huán)境的適

應性。

本綜合試驗通常只有在試驗樣品進行單一環(huán)境試驗不能揭示綜合環(huán)境影響時使用。本部分規(guī)定的

試驗程序只適用于在試驗期間能夠達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。

本部分規(guī)定的試驗方法一次只能試驗一個散熱試驗樣品。

１．２低氣壓

本試驗程序適用于氣壓大于１ｋＰａ的壓力試驗。當氣壓小于或等于１ｋＰａ時，可不必考慮試驗程

序的內(nèi)容。

本部分沒有指明高度、壓力和溫度的關(guān)系。三者的關(guān)系見專門標準。

１．３溫度

１．３．１ＧＢ／Ｔ２４２３．１試驗Ａ中有關(guān)非散熱試驗樣品和散熱試驗樣品試驗應用對比的指導適用于本

部分。

注：非散熱試驗樣品的定義按ＧＢ／Ｔ２４２１相關(guān)的規(guī)定，不應在低氣壓下測量其最熱點的溫度。

１．３．２ＧＢ／Ｔ２４２３．１試驗Ａ中散熱試驗樣品應該優(yōu)先在無強迫空氣循環(huán)的試驗箱中進行試驗。

１．４規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，