標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》與《GB 2423.25-1981》相比，在內(nèi)容上進(jìn)行了多方面的更新和調(diào)整，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

首先，在標(biāo)準(zhǔn)的編號上，《GB/T 2423.25-1992》新增了“T”，表明該標(biāo)準(zhǔn)為推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)，而非強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)。這一變化反映了國家對于此類技術(shù)規(guī)范性質(zhì)定位上的調(diào)整。

其次，在試驗(yàn)條件方面，《GB/T 2423.25-1992》對試驗(yàn)溫度范圍、壓力水平等參數(shù)做了更加詳細(xì)的規(guī)定，并且增加了關(guān)于如何選擇合適試驗(yàn)條件的具體指導(dǎo)原則，使得試驗(yàn)過程更具科學(xué)性和可操作性。

再者，新版標(biāo)準(zhǔn)中還增加了對試驗(yàn)設(shè)備的要求，明確了設(shè)備應(yīng)該具備的功能特性及性能指標(biāo)，如溫控精度、壓力控制穩(wěn)定性等，確保了不同實(shí)驗(yàn)室之間測試結(jié)果的一致性和可靠性。

此外，《GB/T 2423.25-1992》還特別強(qiáng)調(diào)了安全防護(hù)措施的重要性，要求在進(jìn)行低溫/低氣壓試驗(yàn)時(shí)必須采取有效措施保護(hù)人員安全以及防止樣品損壞或丟失，這體現(xiàn)了對實(shí)驗(yàn)過程中安全管理重視程度的提升。

最后，新版本還修訂了部分術(shù)語定義，使之更加準(zhǔn)確地反映當(dāng)前技術(shù)水平下相關(guān)概念的本質(zhì)特征；同時(shí)，也改進(jìn)了文檔結(jié)構(gòu)，使其邏輯更加清晰、易于理解和執(zhí)行。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.25-2008
  • 1992-07-01 頒布
  • 1993-03-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)_第1頁
GB/T 2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)_第2頁
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UDC621.3.001.4K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.25—92電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)BasicenvironmentaltestingproceduresforelectricandelectronicproductsTestZ/AM:combinedcold/lowairpressuretests1992-07-01發(fā)布1993-03-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)GB/T2423.25-92Basicenvironmentaltestingproceduresfor代替GB2423.25-81electricandelectronicproductsTestZ/AM：combinedcold/lowairpressuretests本標(biāo)準(zhǔn)參照采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-40(1976)，基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分試驗(yàn)試驗(yàn)Z/AM低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》及其1983年的修改件.！主題內(nèi)客與適用范圍主題內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了散熱和非散熱試驗(yàn)樣品低溫（溫度新變和突變）和低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)?zāi)康摹⒃囼?yàn)設(shè)備、嚴(yán)酷度等級和試驗(yàn)程序。1.2適用范圍1.2.1本本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的綜合試驗(yàn)通常只有在試驗(yàn)樣品進(jìn)行單一環(huán)境試驗(yàn)不能揭示綜合環(huán)境影響時(shí)使用。1.2.2本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法只適用于在試驗(yàn)期間能夠達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。1.2.3本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法一次只能試驗(yàn)一個(gè)散熱試驗(yàn)樣品，散熱試驗(yàn)樣品一般應(yīng)按GB2423.1的規(guī)定在無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱中進(jìn)行。1.2.4本標(biāo)準(zhǔn)僅適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗(yàn)。1.2.5有關(guān)高度、壓力和溫度的關(guān)系見GB1920.1.2.6GB2423.1中有關(guān)非散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)和散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)應(yīng)用對比的指導(dǎo)也適用于本標(biāo)準(zhǔn)。注：非散熱試驗(yàn)樣品的定義按CB2422中的規(guī)定，不應(yīng)在低氣壓下測最其最熱點(diǎn)的溫度。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB1920《標(biāo)準(zhǔn)大氣（30公里以下）》GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程名詞術(shù)語GB2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N.溫度變化試驗(yàn)方法GB2424.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則GB2424.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則3試驗(yàn)?zāi)康暮鸵话阏f明3.1試驗(yàn)?zāi)康谋驹囼?yàn)的目的是確定元件、設(shè)備和其他

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