標準解讀

《GB/T 2423.25-1992 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗》與《GB 2423.25-1981》相比，在內容上進行了多方面的更新和調整，主要體現(xiàn)在以下幾個方面：

首先，在標準的編號上，《GB/T 2423.25-1992》新增了“T”，表明該標準為推薦性國家標準，而非強制性標準。這一變化反映了國家對于此類技術規(guī)范性質定位上的調整。

其次，在試驗條件方面，《GB/T 2423.25-1992》對試驗溫度范圍、壓力水平等參數(shù)做了更加詳細的規(guī)定，并且增加了關于如何選擇合適試驗條件的具體指導原則，使得試驗過程更具科學性和可操作性。

再者，新版標準中還增加了對試驗設備的要求，明確了設備應該具備的功能特性及性能指標，如溫控精度、壓力控制穩(wěn)定性等，確保了不同實驗室之間測試結果的一致性和可靠性。

此外，《GB/T 2423.25-1992》還特別強調了安全防護措施的重要性，要求在進行低溫/低氣壓試驗時必須采取有效措施保護人員安全以及防止樣品損壞或丟失，這體現(xiàn)了對實驗過程中安全管理重視程度的提升。

最后，新版本還修訂了部分術語定義，使之更加準確地反映當前技術水平下相關概念的本質特征；同時，也改進了文檔結構，使其邏輯更加清晰、易于理解和執(zhí)行。


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  • 1992-07-01 頒布
  • 1993-03-01 實施
?正版授權
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GB/T 2423.25-1992電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC621.3.001.4K04中華人民共和國國家標準GB/T2423.25—92電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗BasicenvironmentaltestingproceduresforelectricandelectronicproductsTestZ/AM:combinedcold/lowairpressuretests1992-07-01發(fā)布1993-03-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗GB/T2423.25-92Basicenvironmentaltestingproceduresfor代替GB2423.25-81electricandelectronicproductsTestZ/AM：combinedcold/lowairpressuretests本標準參照采用國際標準IEC68-2-40(1976)，基本環(huán)境試驗規(guī)程第二部分試驗試驗Z/AM低溫/低氣壓綜合試驗》及其1983年的修改件.！主題內客與適用范圍主題內容本標準規(guī)定了散熱和非散熱試驗樣品低溫（溫度新變和突變）和低氣壓綜合試驗的試驗目的、試驗設備、嚴酷度等級和試驗程序。1.2適用范圍1.2.1本本標準規(guī)定的綜合試驗通常只有在試驗樣品進行單一環(huán)境試驗不能揭示綜合環(huán)境影響時使用。1.2.2本標準規(guī)定的試驗方法只適用于在試驗期間能夠達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。1.2.3本標準規(guī)定的試驗方法一次只能試驗一個散熱試驗樣品，散熱試驗樣品一般應按GB2423.1的規(guī)定在無強迫空氣循環(huán)的試驗箱中進行。1.2.4本標準僅適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗。1.2.5有關高度、壓力和溫度的關系見GB1920.1.2.6GB2423.1中有關非散熱試驗樣品試驗和散熱試驗樣品試驗應用對比的指導也適用于本標準。注：非散熱試驗樣品的定義按CB2422中的規(guī)定，不應在低氣壓下測最其最熱點的溫度。2引用標準GB1920《標準大氣（30公里以下）》GB2421電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則GB2422電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術語GB2423.1電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法GB2423.21電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法GB2423.22電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N.溫度變化試驗方法GB2424.1電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導則GB2424.15電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程：溫度/低氣壓綜合試驗導則3試驗目的和一般說明3.1試驗目的本試驗的目的是確定元件、設備和其他

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