GB/T 2423.33-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試驗(yàn)

ICS19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.33—2005代替GB/T2423.33—1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)Environmentaltestingforeleetricandelectronicproduets-Part2.Testmethod-TestKca:HighconcentrationsulfurdioxideCDIN50018:1997,Sulfurdioxidecorrosiontestinginasaturatedatmosphere.MOD)2005-03-03發(fā)布2005-08-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T2423.33—2005前言范圍2規(guī)范性引用文件3試驗(yàn)設(shè)備及器材4試驗(yàn)程序5中間檢測(cè)6最后檢測(cè)引用本部分時(shí)應(yīng)給出的細(xì)則………附錄A（資料性附錄）GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》系列標(biāo)準(zhǔn)的構(gòu)成附錄B（資料性附錄)本部分章條編號(hào)與DIN50018:1997-06章條編號(hào)對(duì)照一覽表附錄C（資料性附錄）本部分章條編號(hào)與DIN50018:1997-06技術(shù)性差異和編輯性差異及其原因附錄D（規(guī)范性附錄）試驗(yàn)箱的腐蝕效應(yīng)檢驗(yàn)D.1試驗(yàn)樣品·……………D.2試驗(yàn)樣品的準(zhǔn)備D.3武驗(yàn)程序………D.4！腐蝕產(chǎn)物的清除D.5，試驗(yàn)樣品的稱重D.6檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定

GB/T2423.33—2005前GB/T2423.33-2005為（B/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》系列標(biāo)準(zhǔn)的第33部分，該標(biāo)準(zhǔn)的其他部分見附錄八。本部分修改采用DIN50018:1997-06《飽和空氣中的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)》(英文版)本部分根據(jù)DIN50018:1997-06《飽和空氣中的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)》重新起草.在附錄B中列出了本部分章條編號(hào)與DIN50018:1997-06章條編號(hào)的對(duì)照一覽表。考慮到我國(guó)國(guó)情,在采用DIN50018:1997-06時(shí).本部分做了一些修改。有關(guān)技術(shù)性、編輯性差異已編人正文中并在它們所涉及的條款的頁邊空白處用垂直單線標(biāo)識(shí)。在附錄C中給出了這些技術(shù)性和編輯性差異及其原因的一覽表以供參考。本部分自實(shí)施之日起代替GB/T2423.33—1989《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法》。本部分與GB/T2423.33—1989的主要區(qū)別如下：與DIN50018一致性程度不同(1989版為參照采用，本版為修改采用)：嚴(yán)格限定了試驗(yàn)條件（見表1)；對(duì)試驗(yàn)箱的要求更加具體（見3）：對(duì)樣品的要求更加具體（見4.1)；對(duì)對(duì)樣品暴露方式提出了更加具體的要求（見4.3)：增加資料性附錄A（本版附錄A）；增加資料性附錄B(本版附錄B)增加資料性附錄C(本版附錄C)增加規(guī)范性附錄D(1989年版為補(bǔ)充件）本部分的附錄A、附錄B、附錄C為資料性附錄，附錄D為規(guī)范性附錄。本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本部分起草單位:廣州電器科學(xué)研究院、上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究所。本部分的主要起草人：王玲、謝建華、王捷。本部分于1989年首次發(fā)布。本次修訂是第一次修訂

GB/T2423.33—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)范圍GB/T2423的第33部分規(guī)定了電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)KCa一高濃度二氧化硫試驗(yàn)的試驗(yàn)方法本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品及其使用材料在化學(xué)腐蝕環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性。范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分總則（idtIEC60068-1:1988)GB/T9789—1988金屬和其他非有機(jī)覆蓋層通常凝露條件下的二氧化硫試驗(yàn)（eqvDINENISO6988:1985）試驗(yàn)設(shè)備及器材見GB/T9789-1988的第3章試驗(yàn)箱的腐蝕效應(yīng)檢驗(yàn)應(yīng)符合本部分附錄D的規(guī)定。試驗(yàn)程序試驗(yàn)樣品及預(yù)處理見GB/T9789—1988的第4章及相關(guān)規(guī)范的要求進(jìn)行。4.2初始檢測(cè)應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的要求進(jìn)行外觀檢查和(或)電氣、機(jī)械性能的檢測(cè)4.3樣品暴露方式樣品的暴露見GB/T9789—1988的第5章及相關(guān)規(guī)范。4.4試驗(yàn)條件試驗(yàn)樣品應(yīng)在不包裝、不通電、準(zhǔn)備使用”狀態(tài)或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的狀態(tài)放人試驗(yàn)箱中試驗(yàn)條件見表1,表1所列出的試驗(yàn)條件與GB/T9789有部分不同。但在進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),仍要考電GB/T9789-1988中的6.1、6.2以及6.4。注；第一試驗(yàn)開始時(shí)，加人的二氧化硫氣體.大部分退速地溶人到試驗(yàn)箱底部的水中。因此，試驗(yàn)箱內(nèi)二氧化硫的有效濃度大約為理論濃度的1/7：而且·在第一試驗(yàn)階段期間，這一起始濃度并不是保持不變的，而是首先急劇地·然后緩慢地降低。試驗(yàn)的第二階段開始時(shí)，應(yīng)停止加熱·并打開試驗(yàn)箱或?qū)ζ溥M(jìn)行通風(fēng)，在經(jīng)過約1.5h后·須滿足