GB/T 2423.33-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試驗(yàn)

ICS19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.33—2005代替GB/T2423.33—1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)Environmentaltestingforeleetricandelectronicproduets-Part2.Testmethod-TestKca:HighconcentrationsulfurdioxideCDIN50018:1997,Sulfurdioxidecorrosiontestinginasaturatedatmosphere.MOD)2005-03-03發(fā)布2005-08-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T2423.33—2005前言范圍2規(guī)范性引用文件3試驗(yàn)設(shè)備及器材4試驗(yàn)程序5中間檢測(cè)6最后檢測(cè)引用本部分時(shí)應(yīng)給出的細(xì)則………附錄A（資料性附錄）GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》系列標(biāo)準(zhǔn)的構(gòu)成附錄B（資料性附錄)本部分章條編號(hào)與DIN50018:1997-06章條編號(hào)對(duì)照一覽表附錄C（資料性附錄）本部分章條編號(hào)與DIN50018:1997-06技術(shù)性差異和編輯性差異及其原因附錄D（規(guī)范性附錄）試驗(yàn)箱的腐蝕效應(yīng)檢驗(yàn)D.1試驗(yàn)樣品·……………D.2試驗(yàn)樣品的準(zhǔn)備D.3武驗(yàn)程序………D.4！腐蝕產(chǎn)物的清除D.5，試驗(yàn)樣品的稱重D.6檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定

GB/T2423.33—2005前GB/T2423.33-2005為（B/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》系列標(biāo)準(zhǔn)的第33部分，該標(biāo)準(zhǔn)的其他部分見(jiàn)附錄八。本部分修改采用DIN50018:1997-06《飽和空氣中的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)》(英文版)本部分根據(jù)DIN50018:1997-06《飽和空氣中的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)》重新起草.在附錄B中列出了本部分章條編號(hào)與DIN50018:1997-06章條編號(hào)的對(duì)照一覽表?？紤]到我國(guó)國(guó)情,在采用DIN50018:1997-06時(shí).本部分做了一些修改。有關(guān)技術(shù)性、編輯性差異已編人正文中并在它們所涉及的條款的頁(yè)邊空白處用垂直單線標(biāo)識(shí)。在附錄C中給出了這些技術(shù)性和編輯性差異及其原因的一覽表以供參考。本部分自實(shí)施之日起代替GB/T2423.33—1989《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法》。本部分與GB/T2423.33—1989的主要區(qū)別如下：與DIN50018一致性程度不同(1989版為參照采用，本版為修改采用)：嚴(yán)格限定了試驗(yàn)條件（見(jiàn)表1)；對(duì)試驗(yàn)箱的要求更加具體（見(jiàn)3）：對(duì)樣品的要求更加具體（見(jiàn)4.1)；對(duì)對(duì)樣品暴露方式提出了更加具體的要求（見(jiàn)4.3)：增加資料性附錄A（本版附錄A）；增加資料性附錄B(本版附錄B)增加資料性附錄C(本版附錄C)增加規(guī)范性附錄D(1989年版為補(bǔ)充件）本部分的附錄A、附錄B、附錄C為資料性附錄，附錄D為規(guī)范性附錄。本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本部分起草單位:廣州電器科學(xué)研究院、上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究所。本部分的主要起草人：王玲、謝建華、王捷。本部分于1989年首次發(fā)布。本次修訂是第一次修訂

GB/T2423.33—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)范圍GB/T2423的第33部分規(guī)定了電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)KCa一高濃度二氧化硫試驗(yàn)的試驗(yàn)方法本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品及其使用材料在化學(xué)腐蝕環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性。范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分總則（idtIEC60068-1:1988)GB/T9789—1988金屬和其他非有機(jī)覆蓋層通常凝露條件下的二氧化硫試驗(yàn)（eqvDINENISO6988:1985）試驗(yàn)設(shè)備及器材見(jiàn)GB/T9789-1988的第3章試驗(yàn)箱的腐蝕效應(yīng)檢驗(yàn)應(yīng)符合本部分附錄D的規(guī)定。試驗(yàn)程序試驗(yàn)樣品及預(yù)處理見(jiàn)GB/T9789—1988的第4章及相關(guān)規(guī)范的要求進(jìn)行。4.2初始檢測(cè)應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的要求進(jìn)行外觀檢查和(或)電氣、機(jī)械性能的檢測(cè)4.3樣品暴露方式樣品的暴露見(jiàn)GB/T9789—1988的第5章及相關(guān)規(guī)范。4.4試驗(yàn)條件試驗(yàn)樣品應(yīng)在不包裝、不通電、準(zhǔn)備使用”狀態(tài)或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的狀態(tài)放人試驗(yàn)箱中試驗(yàn)條件見(jiàn)表1,表1所列出的試驗(yàn)條件與GB/T9789有部分不同。但在進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),仍要考電GB/T9789-1988中的6.1、6.2以及6.4。注；第一試驗(yàn)開(kāi)始時(shí)，加人的二氧化硫氣體.大部分退速地溶人到試驗(yàn)箱底部的水中。因此，試驗(yàn)箱內(nèi)二氧化硫的有效濃度大約為理論濃度的1/7：而且·在第一試驗(yàn)階段期間，這一起始濃度并不是保持不變的，而是首先急劇地·然后緩慢地降低。試驗(yàn)的第二階段開(kāi)始時(shí)，應(yīng)停止加熱·并打開(kāi)試驗(yàn)箱或?qū)ζ溥M(jìn)行通風(fēng)，在經(jīng)過(guò)約1.5h后·須滿足