GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱(12h＋12h循環(huán))

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４２３．４—２００８／犐犈犆６００６８２３０：２００５

代替ＧＢ／Ｔ２４２３．４—１９９３

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)犇犫：

交變濕熱（１２犺＋１２犺循環(huán)）

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋２：犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱—犜犲狊狋犇犫：犇犪犿狆犺犲犪狋，犮狔犮犾犻犮（１２犺＋１２犺犮狔犮犾犲）

（ＩＥＣ６００６８２３０：２００５，Ｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｇ—

Ｐａｒｔ２３０：Ｔｅｓｔｓ—ＴｅｓｔＤｂ：Ｄａｍｐｈｅａｔ，ｃｙｃｌｉｃ（１２ｈ＋１２ｈｃｙｃｌｅ），ＩＤＴ）

２００８０５１９發(fā)布２００９０１０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書

犌犅／犜２４２３．４—２００８／犐犈犆６００６８２３０：２００５

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４試驗(yàn)箱———構(gòu)造要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５嚴(yán)酷程度!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６初始檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７條件試驗(yàn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８中間檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

９恢復(fù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

１０最終檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

１１相關(guān)規(guī)范中應(yīng)給出的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

附錄Ａ（資料性附錄）導(dǎo)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

Ⅰ

書

犌犅／犜２４２３．４—２００８／犐犈犆６００６８２３０：２００５

前言

本部分為ＧＢ／Ｔ２４２３的第４部分。

本部分等同采用ＩＥＣ６００６８２３０：２００５《環(huán)境試驗(yàn)第２３０部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｄｂ：交變濕熱

（１２ｈ＋１２ｈ循環(huán)）》（英文版）。主要做了以下編輯性修改：

———?jiǎng)h除了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言和引言；

———增加了國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)前言；

———引用了采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

本部分代替ＧＢ／Ｔ２４２３．４—１９９３，與其相比，主要不同之處有：

———圖２改為圖２ａ）和圖２ｂ）；

———在降溫階段中，方法２允許相對(duì)濕度和溫度下降速率有較大的容差；

———恢復(fù)條件相對(duì)濕度由原來的“（７５±３）％”改為“（７５±２）％”，溫度由“實(shí)驗(yàn)室溫度±２Ｋ”改為

“實(shí)驗(yàn)室溫度±１Ｋ”；

———增加了附錄Ａ。

本部分的附錄Ａ為資料性附錄。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。

本部分起草單位：中國(guó)電器科學(xué)研究院、上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究所。

本部分主要起草人：顏景蓮、王捷。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：ＧＢ／Ｔ２４２３．４—１９８１、ＧＢ／Ｔ２４２３．４—１９９３。

Ⅲ

犌犅／犜２４２３．４—２００８／犐犈犆６００６８２３０：２００５

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)犇犫：

交變濕熱（１２犺＋１２犺循環(huán)）

１范圍

本部分適用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會(huì)在試驗(yàn)樣品表面

產(chǎn)生凝露的條件下使用、運(yùn)輸和貯存的適應(yīng)性。如果本試驗(yàn)用于檢驗(yàn)帶包裝樣品在運(yùn)輸和貯存過程中

的性能時(shí)，應(yīng)帶包裝一起進(jìn)行試驗(yàn)。

對(duì)于小的，質(zhì)量輕的樣品使用本試驗(yàn)，在樣品表面產(chǎn)生凝露可能比較困難；用戶應(yīng)考慮使用其他替

代試驗(yàn)，如ＧＢ／Ｔ２４２３．３４—２００５。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第１部分：總則（ｉｄｔＩＥＣ６００６８１：１９８８）

ＧＢ／Ｔ２４２２—１９９５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語（ｅｑｖＩＥＣ６００６８５２：１９９０）

ＧＢ／Ｔ２４２３．３４—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｚ／ＡＤ：溫度／濕度組

合循環(huán)試驗(yàn)（ＩＥＣ６００６８２３８：１９７４，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２４．６—