GB/T 2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

ICS19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.6—2006/IEC60068-3-6:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts-Confirmationoftheperformanceoftemperature/humiditychambers(IEC60068-3-6:2001,Environmentaltesting--Part3-6:Supportingdocumentationnandguidance-Confirmationoftheperformanceoftemperature/humiditychambers,IDT)2006-12-19發(fā)布2007-09-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T2424.6-2006/IEC60068-3-6：2001三次前言：：：·····范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語(yǔ)及定義4性能測(cè)量5濕度性能的測(cè)定6標(biāo)準(zhǔn)濕度試驗(yàn)順序7評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)·………………8性能測(cè)試報(bào)告應(yīng)給出的信息

GB/T2424.6-2006/IEC60068-3-6：2001前GB/T2424包含以下部分-GB/T2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則（IEC60068-3-1：1978IDT)GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-3-4:2001.IDT)GB/T2424.5—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（IEC60068-3-5:2001.IDTGB/T2424.6—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(IEC60068-3-6:2001.IDT)GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量(IEC60068-3-7:2001.IDT)GB/T2424.10—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則（eqvIEC60355:1971)GB/T2424.11-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.12-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-2-33:1971.IDT)GB/T2424.14—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則(idtIEC60068-2-9:1975)GB/T2424.15一1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則（eqvIEC60068-3-2：1976）（B/T2424.17—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?zāi)M購(gòu)存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC600682-48:1982IDT)B/T2424.20—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.21—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤(rùn)濕稱(chēng)量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.22—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則(eqvIEC60068-2-53：1984）（B/T2424.23—1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程水試驗(yàn)導(dǎo)則（B/T2424.24—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分：試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法(idtIEC60068-3-3:1991）GB/T2424.6是（B/T2424(電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn))的第6部分.本部分等同采用IEC60068-3-6:2001《環(huán)境試驗(yàn)第3-6部分：支持文件及導(dǎo)則溫度/濕度試驗(yàn)箱性能的確認(rèn)》(英文版)。為便于使用，本部分做了下列編輯性修改：

GB/T2424.6—2006/IEC60068-3-6:2001“本導(dǎo)則”一詞改為"本部分"；）刪除IEC前言；c）原文第2章引用文件ISO10012-12及ISO10012-2現(xiàn)已被ISO10012取代.本部分予以更正本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC8)歸口本部分由廣州電器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草本部分主要起草人：王玲、顏景蓮、王俊本部分為首次制定

GB/T2424.6-2006/IEC60068-3-6:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)范圍GB/T2424的本部分提供了一個(gè)統(tǒng)一可再現(xiàn)的方法,用以確認(rèn)溫濕度試驗(yàn)箱在無(wú)負(fù)載時(shí)是否符合（B/T2423系列標(biāo)準(zhǔn)中氣候試驗(yàn)方法規(guī)定的要求。本部分適用于用戶(hù)進(jìn)行常規(guī)的試驗(yàn)箱性能監(jiān)測(cè)。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T2424的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-3-4:2001.IDT)GB/T2424.5—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(IEC60068-3-5:2001.IDT)GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量(IEC60068-3-7:2001.IDT)GB/T16839.1熱電偶第1部分：分度表(GB/T16839.1一1997.idtIEC60584-1:1995)GB/T19022測(cè)量管理體系測(cè)量過(guò)程和測(cè)量設(shè)備的要求(GB/T19022—2003.1SO10012:2003.IDT)ISO4677-1調(diào)節(jié)和試驗(yàn)用大氣相對(duì)濕度的測(cè)定第1部分：吸人式干濕球法IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件術(shù)語(yǔ)及定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本部分。有關(guān)溫度試驗(yàn)的術(shù)語(yǔ)和定義見(jiàn)GB/T2424.5—2006.注：除非另有規(guī)定,濕度"是指相對(duì)濕度（RH)。溫度/濕度試驗(yàn)箱temperature/humiditychamber封閉體或空間.其中某部分能達(dá)到GB/T2423有關(guān)規(guī)定的溫度/濕