GB/T 2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分：試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法

ICS19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T.2424.25-2000idtiec68-3-3.1991電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分:試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart3:：TestguidanceSeismictestmethods2000-10-17發(fā)布2001-06-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T2424.25-2000目次前言IEC前言引言·引用標(biāo)準(zhǔn)?………·第一篇概目的2一般說(shuō)明定義鑒定需考慮的事項(xiàng)4試驗(yàn)程序第二篇一震般級(jí)狀杰標(biāo)準(zhǔn)幅值常規(guī)試驗(yàn)方法8計(jì)算幅值試驗(yàn)方法試驗(yàn)參數(shù)10試驗(yàn)程序·第三篇定特級(jí)11狀態(tài)10試驗(yàn)波形的選擇13試驗(yàn)波形14試驗(yàn)條件15單軸和多軸試驗(yàn)附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)試驗(yàn)選擇流程圖

GB/T2424.25-2000本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC68-3-3:1991《環(huán)境試驗(yàn)第3部分：試驗(yàn)導(dǎo)則設(shè)備地震試驗(yàn)方法》第一版)制定的。本標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)敘述了如核電站設(shè)備、建筑設(shè)備和電工電子產(chǎn)品的地震試驗(yàn)方法，因?yàn)檫@些設(shè)備和電工電子產(chǎn)品(下文稱樣品)在其使用期間可能會(huì)經(jīng)受到短持續(xù)時(shí)間的非平穩(wěn)隨機(jī)形式的動(dòng)態(tài)力的作用.其典型的例子是由于地震在樣品中所產(chǎn)生的應(yīng)力。這些應(yīng)力的特性和樣品的阻尼使樣品的振動(dòng)響應(yīng)達(dá)不到穩(wěn)態(tài)條件當(dāng)相關(guān)規(guī)范規(guī)定設(shè)備鑒定要做地震試驗(yàn)時(shí)，本標(biāo)準(zhǔn)提供了一系列能用來(lái)鑒定其性能的試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：張友蘭、陽(yáng)川、紀(jì)春陽(yáng)、王樹榮、徐忠根

GB/T2424.25-2000IEC前言1）國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)關(guān)于技術(shù)問(wèn)題的正式?jīng)Q議或協(xié)議,是由所有對(duì)該問(wèn)題特別關(guān)注的國(guó)家委員會(huì)派代表參加的技術(shù)委員會(huì)制定的,它們盡可能表達(dá)了國(guó)際上對(duì)所涉及問(wèn)題的一致意見(jiàn)。2）這些決議或協(xié)議以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國(guó)際上使用，在這種意義上為各國(guó)家委員會(huì)所接受3）為了促進(jìn)國(guó)際上的統(tǒng)一.國(guó)際電工委員會(huì)希望所有國(guó)家委員會(huì)在制定國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)時(shí),只要國(guó)家具體條件許可，應(yīng)采用國(guó)際電工委員會(huì)的推薦標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容來(lái)制定他們自己的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，國(guó)際電工委員會(huì)的推薦標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之間的任何不同之處應(yīng)盡可能在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中明確地指出。本標(biāo)準(zhǔn)是由國(guó)際電工委員會(huì)第50技術(shù)委員會(huì)(環(huán)境試驗(yàn)）50A分技術(shù)委員會(huì)（沖擊、振動(dòng)與其他動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)）制定的。本標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容以下列文件為基礎(chǔ)六月法文件表決報(bào)告50A（CO）17950A（CO)182本標(biāo)準(zhǔn)表決通過(guò)的詳細(xì)資料可在上表指明的表決報(bào)告中查到

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分:試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.25-2000地震試驗(yàn)方法idtiEc6833.1991EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart3：Testguidance-Seismictestmethods引育本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了兩類三種試驗(yàn)方法，導(dǎo)則包括在每一種試驗(yàn)方法中.本標(biāo)準(zhǔn)的導(dǎo)則可直接用于選擇合適的試驗(yàn)方法·并在地震試驗(yàn)中應(yīng)用本標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合GB/T2421一起使用引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文·通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí).所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性.GB/T2298—1991機(jī)械振動(dòng)與沖擊術(shù)語(yǔ)(neqISO2041:1990）GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則(idtIEC68-1:1988)GB/T2423.10—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fe和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）idtIEC68-2-6:1982）GB/T2423.43-1995，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊(Ea)、碰撞(Eb）、振動(dòng)(Fe和Fd)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ga)等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則(idtIEC68-2-47:1982)GB/T2423.48-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ff:振動(dòng)時(shí)時(shí)間歷程法(idtIEC68-2-57:1989）GB/T2423.49—1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)Fe:振動(dòng)試驗(yàn)方法拍頻法(idtIEC68-2-59:1990）第一篇概1目的本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于電工電子產(chǎn)品，也可用于其他設(shè)備和部件設(shè)備地震試驗(yàn)的目的是證明設(shè)備經(jīng)受地震產(chǎn)生的應(yīng)力和位移時(shí)，或經(jīng)受此應(yīng)力和位移后完成