GB/T 2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測量

ICS19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測量Enyironmentaltestsforelectricandelectronicproducts-MeasurementsintemperaturechambersfortestsAandtestsB（withload)（IEC60068-3-7:2001,Environmentaltesting-Part3-7:Supportingdocumentationandguidance--MeasurementsintemperaturechambersfortestsAandtestsB(withload),IDT)2006-12-19發(fā)布2007-09-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7：2001三次前言：：···范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語及定義4測量系統(tǒng)5溫度性能的測定6試驗(yàn)程序7評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)………8性能報(bào)告應(yīng)給出的信息

GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7：2001前GB/T2424包含以下部分-GB/T2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則（IEC60068-3-1：1978IDT)GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-3-4:2001.IDT)GB/T2424.5—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（IEC60068-3-5:2001IDTGB/T2424.6—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(IEC60068-3-6:2001.IDT)GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測定（IEC60068-3-7:2001.IDT)GB/T2424.10—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則（eqvIEC60355:1971)GB/T2424.11-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.12-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-2-33:1971.IDT)GB/T2424.14—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則(idtIEC60068-2-9:1975)GB/T2424.15一1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則（eqvIEC60068-3-2：1976）GiB/T2424.17—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?zāi)M存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC6O0682-48:1982IDT)-B/T2424.20—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.21—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.22—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則(eqvIEC60068-2-53：1984）（B/T2424.23—1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程水試驗(yàn)導(dǎo)則（B/T2424.24—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分：試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法(idtIEC60068-3-3:1991本部分為GB/T2424第7部分.等同采用了國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-3-7:2001《環(huán)境試驗(yàn)第3-7部分：支持文件和導(dǎo)則試驗(yàn)A和B溫度試驗(yàn)箱(有負(fù)載)的測量》英文版)?？紤]到我國實(shí)際情況,本部分對(duì)IEC60068-3-7做了以下編輯性修改：引用了采用國際標(biāo)準(zhǔn)的我國標(biāo)準(zhǔn),并改變了排列順序；

GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001刪除了IEC60068-3-7的前言和引言：增加了國家標(biāo)準(zhǔn)的前言；-對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中的圖表做了編輯性修改。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由廣州電器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)歸口.本部分主要起草人:顏景蓮、王玲。本部分為首次發(fā)布。

GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測量1范圍GB/T2424的本部分規(guī)定了一項(xiàng)統(tǒng)一的、可再現(xiàn)的方法,以確認(rèn)其在有散熱性/非散熱性試驗(yàn)樣品員載并且工作空間內(nèi)有空氣循環(huán)條件下，符合GB/T2423.1和（B/T2423.2氣候試驗(yàn)規(guī)定的要求本方法主要適用于用戶進(jìn)行常規(guī)的試驗(yàn)箱性能監(jiān)測規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫（GB/T2423.1-2001.1EC60068-2-1:1990,IDT）GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫(IEC60068-2-2:1974.IDT）GB/T2424.1—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則(IEC60068-3-1:1974和IEC60068-3-1A:1978.IDT)GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(IEC60068-3-5:2001.IDT）GB/T2424.6—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(IEC60068-3-6:2001，IDT）GB/T16839.1熱電偶第1部分：分度表(GB/T16839.1-1997.IEC60584-1:1995，IDT)TEC60751工業(yè)鉑電阻溫度計(jì)傳感器3術(shù)語及定義下列術(shù)語及定義適用于本部分試驗(yàn)規(guī)范testspecirication適用于有/無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)程序.適合于各種尺寸的試驗(yàn)箱注：表1匯總了GB/T2423.1及GB/T2423.2的試驗(yàn)條件。3.2確認(rèn)方法(方法1）conrirmationmethod（procedure1)為了確定試驗(yàn)箱的性能是否符合GB/T2423.1試驗(yàn)A和/或GB/T2423.2試