標準解讀

GB/T 28893-2012《表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測定峰強度的方法和報告結(jié)果所需的信息》是一項國家標準，旨在規(guī)范使用俄歇電子能譜（AES）和X射線光電子能譜（XPS）技術(shù)進行材料表面成分分析時測定峰強度的具體方法以及在研究報告中應(yīng)包含的關(guān)鍵信息。

該標準首先定義了相關(guān)術(shù)語，包括但不限于“峰強度”、“背景校正”等概念，為后續(xù)討論奠定了基礎(chǔ)。接著，詳細描述了如何從原始數(shù)據(jù)中提取有用信息的過程，特別是針對如何準確地測量并報告譜圖中的峰強度提出了具體指導(dǎo)。這包括選擇合適的背景扣除方法、確定峰位置及寬度、計算積分面積或峰值高度等內(nèi)容。

此外，標準還強調(diào)了實驗條件對測試結(jié)果的影響，并建議記錄所有可能影響到最終分析結(jié)論的因素，如樣品制備方式、儀器參數(shù)設(shè)置等。對于數(shù)據(jù)處理方面，除了基本的平滑與濾波操作外，也涉及到了更高級的技術(shù)如多重散射修正等，以提高分析精度。

最后，該文檔指出了編寫正式報告時應(yīng)當遵循的原則，要求提供充分且透明的信息以便第三方能夠重復(fù)實驗或者驗證結(jié)果。這些信息至少應(yīng)該涵蓋樣品描述、實驗裝置詳情、所采用的數(shù)據(jù)采集與處理步驟、得到的主要發(fā)現(xiàn)及其不確定性估計等方面。


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....

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  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 28893-2024
  • 2012-11-05 頒布
  • 2013-06-01 實施
?正版授權(quán)
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GB/T 28893-2012表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜測定峰強度的方法和報告結(jié)果所需的信息-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS7104040

G04..

中華人民共和國國家標準

GB/T28893—2012/ISO209032006

:

表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和

X射線光電子能譜測定峰強度的

方法和報告結(jié)果所需的信息

Surfacechemicalanalysis—AugerelectronspectroscopyandX-ray

photoelectronspectroscopy—Methodsusedtodeterminepeakintensities

andinformationrequiredwhenreportingresults

(ISO20903:2006,IDT)

2012-11-05發(fā)布2013-06-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/T28893—2012/ISO209032006

:

目次

前言…………………………

Ⅰ

引言…………………………

Ⅱ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語和定義………………

31

符號和縮略語……………

41

直接譜的峰強度測定方法………………

51

概述…………………

5.11

非彈性本底的選擇和扣除…………

5.22

峰強度的測量………………………

5.33

峰高度的測量……………………

5.3.13

峰面積的測量……………………

5.3.23

用計算機軟件測量峰強度…………

5.44

重疊峰譜圖的峰強度測量…………

5.54

峰面積測量的不確定度……………

5.64

俄歇電子微分譜的峰強度測定方法……………………

65

概要…………………

6.15

俄歇電子微分譜強度的測量………………………

6.25

俄歇電子微分譜強度測量的不確定度……………

6.36

測量峰強度方法的報告…………………

76

一般要求……………

7.16

測定直接譜峰強度的方法…………

7.26

單峰的強度測量…………………

7.2.16

擬合峰的強度測量………………

7.2.26

獲得和測定俄歇電子微分譜峰強度的方法………

7.37

獲得微分譜的方法………………

7.3.17

測定峰強度的方法………………

7.3.27

附錄資料性附錄儀器對測量強度的影響…………

A()8

參考文獻………………………

9

GB/T28893—2012/ISO209032006

:

前言

本標準按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標準使用翻譯法等同采用表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和射線光電子能譜

ISO20903:2006《X

測定峰強度的方法和報告結(jié)果所需的信息

》

為了方便使用本標準做了下列編輯性修改

,:

用本標準代替本國際標準

———“”“”。

本標準由全國微束分析標準化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標準負責(zé)起草單位廈門愛勞德光電有限公司廈門大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院

:、。

本標準起草人王水菊時海燕岑丹霞姚文清劉芬沈電洪

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T28893—2012/ISO209032006

:

引言

俄歇電子能譜和射線光電子能譜的重要特征是能獲得固體樣品表面區(qū)域的定量分

(AES)X(XPS)

析此分析需要測定某些窄譜的強度

。。

和有若干種測量峰強度的方法方法的選擇取決于所分析樣品的類型所用儀器的性

AESXPS。、

能和所用數(shù)據(jù)采集和處理的方法

。

本標準有兩個主要應(yīng)用領(lǐng)域一本標準表述了測定譜圖中某一元素峰強度的方法給出了處理中

。,,

原始不確定度及如何減小這些不確定度的信息二本標準規(guī)定了報告所用峰強度測量方法的要求使

。,,

其他分析人員可自信地使用發(fā)表的結(jié)果

。

Ⅱ

GB/T28893—2012/ISO209032006

:

表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和

X射線光電子能譜測定峰強度的

方法和報告結(jié)果所需的信息

1范圍

本標準規(guī)定了俄歇電子能譜和射線光電子能譜的峰強度測量的分析結(jié)果報告中所要求的必要

X

信息提供了峰強度測量方法和所得峰面積的不確定度信息

。。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

表面化學(xué)分析詞匯

GB/T22461—2008,(ISO18115:2001,IDT)

3術(shù)語和定義

中界定的術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T22461—2008

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