GB/T 5170.2-2017環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第2部分：溫度試驗(yàn)設(shè)備

ICS19040

K04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T51702—2017

代替.

GB/T5170.2—2008

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

第2部分溫度試驗(yàn)設(shè)備

:

Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipments—

Part2Temeraturetestineuiments

:pgqp

2017-12-29發(fā)布2018-07-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T51702—2017

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

檢驗(yàn)項(xiàng)目

4…………………1

檢驗(yàn)用儀器及要求

5………………………2

檢驗(yàn)負(fù)載

6…………………2

檢驗(yàn)條件

7…………………2

檢驗(yàn)方法

8…………………3

檢驗(yàn)結(jié)果

9…………………8

檢驗(yàn)周期

10…………………9

Ⅰ

GB/T51702—2017

.

前言

包含以下部分

GB/T5170:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第部分總則

———GB/T5170.1—20161:;

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第部分溫度試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.2—20172:;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第部分濕熱試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.5—20165:;

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第部分鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.8—20178:;

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第部分太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.9—20179:;

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第部分高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.10—201710:;

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第部分腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.11—201711:;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)正弦試驗(yàn)用

———GB/T5170.13—2005()

機(jī)械振動(dòng)臺(tái)

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)正弦試驗(yàn)用

———GB/T5170.14—2009()

電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)正弦試驗(yàn)用

———GB/T5170.15—2005()

液壓振動(dòng)臺(tái)

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用

———GB/T5170.16—2005

離心機(jī)

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫低氣壓濕熱

———GB/T5170.17—2005//

綜合順序試驗(yàn)設(shè)備

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度濕度組合循環(huán)

———GB/T5170.18—2005/

試驗(yàn)設(shè)備

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度振動(dòng)正弦綜

———GB/T5170.19—2005/()

合試驗(yàn)設(shè)備

;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.20—2005;

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)隨機(jī)試驗(yàn)用

———GB/T5170.21—2008()

液壓振動(dòng)臺(tái)

。

本部分為的第部分

GB/T51702。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備與

GB/T5170.2—2008《》。

相比技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化

GB/T5170.2—2008,:

范圍由原來(lái)的所用試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)修改為所用設(shè)備的檢驗(yàn)見

———“/”“”(

第章

1);

規(guī)范性引用文件中刪除了增加了見第章

———GB/T16839.1、IEC60751,GB12348—2008(2);

檢驗(yàn)項(xiàng)目修改為以列表形式給出見第章

———(4);

檢驗(yàn)項(xiàng)目每溫度平均變化速率修改為溫度平均變化速率見表

———“5min”“5min”(1);

在檢驗(yàn)用儀器及要求章節(jié)中測(cè)量溫度變化速率時(shí)溫度測(cè)量系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間由原來(lái)應(yīng)小

———“”,,“

于修改為應(yīng)小于溫度測(cè)量系統(tǒng)由原來(lái)的測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度k不大

5s”,“0.5s”;“(=2)

于被檢溫度允許偏差的三分之一修改為其最大允許誤差如下t時(shí)最大允許誤

”,“:1)≤100℃,

差一般不超過(guò).t時(shí)最大允許誤差一般不超過(guò).

±02℃;2)100℃<≤200℃,±03℃;

Ⅲ

GB/T51702—2017

.

t時(shí)最大允許誤差一般不超過(guò).t時(shí)最大允

3)200℃<≤300℃,±05℃;4)300℃<≤500℃,

許誤差一般不超過(guò).t時(shí)最大允許誤差一般不超過(guò).帶計(jì)權(quán)網(wǎng)

±10℃;5)>500℃,±25℃”;A

絡(luò)的聲級(jí)計(jì)由原來(lái)的測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度k不大于修改為最大允許誤差一

“(=2)1dB”“

般不超過(guò)見表

±1dB”(2);

重新整理了檢驗(yàn)方法的結(jié)構(gòu)層次見第章

———(8);

修改了溫度恢復(fù)時(shí)間檢驗(yàn)見

———“”(8.7);

檢驗(yàn)報(bào)告增加了應(yīng)至少包含的信息見

———(9.3);

刪除了附錄檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇

———A“”。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC8)。

本部分起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所廣州五所環(huán)境儀器有限公司中國(guó)電器科學(xué)研

:、、

究院有限公司中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所福建省新能海上風(fēng)電研發(fā)中心有

、、

限公司無(wú)錫蘇南試驗(yàn)設(shè)備有限公司無(wú)錫索亞特試驗(yàn)設(shè)備有限公司

、、。

本部分主要起草人謝凱鋒謝晨浩揭敢新呂國(guó)義陳強(qiáng)倪云南周中明許雪冬賴文光何萌

:、、、、、、、、、、

涂傳魁

。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB5170.2—1985、GB/T5170.2—1996、GB/T5170.2—2008;

———GB5170.3—1985;

———GB5170.4—1985。

Ⅳ

GB/T51702—2017

.

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

第2部分溫度試驗(yàn)設(shè)備

:

1范圍

的本部分規(guī)定了溫度含低溫高溫和溫度變化試驗(yàn)設(shè)備以下簡(jiǎn)稱設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)

GB/T5170(、)(“”)

目檢驗(yàn)用儀器及要求檢驗(yàn)負(fù)載檢驗(yàn)條件檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)結(jié)果檢驗(yàn)周期等內(nèi)容

、、、、、、。

本部分適用于對(duì)和所用設(shè)備的檢驗(yàn)

GB/T2423.1、GB/T2423.2GB/T2423.22。

本部分也適用于類似設(shè)備的檢驗(yàn)

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)低溫

GB/T2423.12:A:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)高溫

GB/T2423.22:B:

環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)溫度變化

GB/T2423.222:N:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第部分總則

GB/T5170.1—2016