標準解讀
《GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備》與《GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備》相比,在內(nèi)容上進行了多方面的更新和改進。首先,新標準在術(shù)語定義方面更加明確細化,對于一些關(guān)鍵概念如“溫度波動度”、“溫度均勻性”等給出了更為精確的定義,有助于提高測試結(jié)果的一致性和可比性。
其次,《GB/T 5170.2-2008》中增加了對溫度試驗設(shè)備性能要求的具體描述,包括但不限于溫度范圍、溫變速率等方面的要求,這使得設(shè)備制造商能夠更準確地理解和滿足標準規(guī)定的技術(shù)指標。同時,該版本還詳細規(guī)定了不同類型溫度試驗設(shè)備(如恒溫箱、高低溫交變濕熱試驗箱)應(yīng)遵循的不同測試程序及條件設(shè)置,增強了實際操作中的指導(dǎo)意義。
再者,新版標準提高了對測量儀器精度的要求,并且推薦使用先進的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)來記錄整個試驗過程中的溫度變化情況,以確保數(shù)據(jù)的準確性與完整性。此外,《GB/T 5170.2-2008》還引入了一些新的檢測項目,比如長期穩(wěn)定性測試等,進一步保證了設(shè)備性能的可靠性。
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GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備-免費下載試讀頁文檔簡介
犐犆犛19.040
犓04
中華人民共和國國家標準
犌犅/犜5170.2—2008
代替GB/T5170.2—1996
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法
溫度試驗設(shè)備
犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊
犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—
犜犲犿狆犲狉犪狋狌狉犲狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊
20080616發(fā)布20090301實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
書
犌犅/犜5170.2—2008
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4檢驗項目!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
5檢驗用主要儀器及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
6檢驗負載!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
7檢驗條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
8檢驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
9數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7
10檢驗周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7
附錄A(規(guī)范性附錄)檢驗項目的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8
Ⅰ
書
犌犅/犜5170.2—2008
前言
GB/T5170目前包含以下幾部分:
———GB/T5170.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
———GB/T5170.2—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備
———GB/T5170.5—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備
———GB/T5170.8—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備
———GB/T5170.9—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備
———GB/T5170.10—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
———GB/T5170.11—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
———GB/T5170.13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用
機械振動臺
———GB/T5170.14—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用
電動振動臺
———GB/T5170.15—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用
液壓振動臺
———GB/T5170.16—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用
離心機
———GB/T5170.17—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱
綜合順序試驗設(shè)備
———GB/T5170.18—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)
試驗設(shè)備
———GB/T5170.19—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜
合試驗設(shè)備
———GB/T5170.20—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備
本部分是GB/T5170的第2部分。
本部分代替GB/T5170.2—1996。與GB/T5170.2—1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:
———標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子
產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備”;
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”;
———增加了“術(shù)語和定義”一章;
———增加了“溫度波動度”檢驗項目;
———增加了“溫度均勻度”檢驗項目;
———增加了“每5min溫度平均變化速率”檢驗項目;
———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目;
———增加了“溫度過沖量”檢驗項目;
———增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目;
———增加了“噪聲”檢驗項目;
———刪除了“相對濕度”檢驗項目;
———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度(犽=2)
Ⅲ
犌犅/犜5170.2—2008
的要求;
———增加了“檢驗負載”一章;
———修改了“溫度變化速率”的計算方法;
———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);
———刪除了“檢定過程中的處理”部分;
———附錄A“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”;
———刪除了附錄B“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。
附錄A為規(guī)范性附錄。
本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會(SAC/TC8)提出并歸口。
本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。
本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T5170.2—1985,GB/T5170.3—1985,GB/T5170.4—1985;
———GB/T5170.2—1996。
Ⅳ
犌犅/犜5170.2—2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法
溫度試驗設(shè)備
1范圍
GB/T5170的本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀
器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫》、
GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》和GB/T2423.22《電工電
子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期
檢驗。
本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文
件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成
協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本
部分。
GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
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