GB/T 5170.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動(隨機)試驗用液壓振動臺

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜５１７０．２１—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備

基本參數(shù)檢驗方法

振動（隨機）試驗用液壓振動臺

犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犫犪狊犻犮狆犪狉犪犿犲狋犲狉狊狅犳犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾

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２００８１２３０發(fā)布２００９１１０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜５１７０．２１—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４檢驗項目!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５檢驗用主要儀器及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６檢驗條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７一般規(guī)定!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８檢驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

９數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

１０檢驗周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

附錄Ａ（資料性附錄）檢驗項目的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

附錄Ｂ（資料性附錄）基本參數(shù)允許誤差!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１１

書

犌犅／犜５１７０．２１—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ５１７０目前包括以下２１個部分：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１０電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１３電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機械振

動臺；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１４電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振

動臺；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振

動臺；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１７電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫／低氣壓／濕熱綜合順

序試驗設(shè)備；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／濕度組合循環(huán)試驗

設(shè)備；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／振動（正弦）綜合試驗

設(shè)備；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２０電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（隨機）試驗用液壓振

動臺。

本部分是ＧＢ／Ｔ５１７０的第２１部分。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。

本部分主要起草人：鄭術(shù)力、肖建紅。

Ⅰ

犌犅／犜５１７０．２１—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備

基本參數(shù)檢驗方法

振動（隨機）試驗用液壓振動臺

１范圍

ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分規(guī)定了振動（隨機）試驗用液壓振動臺在進行定型鑒定，首次檢驗和定期檢驗

時的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗條件、檢驗時的一般規(guī)定、檢驗方法及檢驗結(jié)果等內(nèi)容。

本部分適用于按ＧＢ／Ｔ２４２３．５６和ＧＢ／Ｔ２４２４．２５進行振動試驗用液壓振動臺（以下簡稱振動臺）

基本參數(shù)的檢驗方法。

本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ２４２３．５６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｆｈ：寬帶隨