GB/T 7242-2010透鏡中心偏差

ICS011002037020

;

N30...

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T7242—2010

代替

GB/T7242—1987

透鏡中心偏差

Centeringerroroflenses

2010-12-01發(fā)布2011-05-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T7242—2010

前言

本標(biāo)準(zhǔn)代替透鏡中心誤差

GB/T7242—1987《》。

本標(biāo)準(zhǔn)與版本的主要差異為

GB/T7242—1987:

修改了標(biāo)準(zhǔn)名稱

———;

增加了前言范圍和規(guī)范性引用文件兩個章節(jié)

———、;

更新了引用標(biāo)準(zhǔn)的代號和名稱

———;

增加了表的標(biāo)題

———1;

修改了表中例和例的基準(zhǔn)軸的選定和說明部分的內(nèi)容

———156“”“”;

增加了表中注的內(nèi)容

———13;

修改了中心偏差的標(biāo)注的內(nèi)容

———“”;

增加了資料性附錄表示形式示例

———A;

增加了資料性附錄的標(biāo)題和透鏡中心偏差計算公式

———B。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄和附錄是資料性附錄

AB。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC103)。

本標(biāo)準(zhǔn)由南京江南永新光學(xué)有限公司蘇州一光儀器有限公司上海理工大學(xué)寧波永新光學(xué)股份

、、、

有限公司鳳凰光學(xué)集團有限公司寧波市教學(xué)儀器有限公司貴陽新天光電科技有限公司寧波華光精

、、、、

密儀器有限公司南京東利來光電實業(yè)有限公司寧波舜宇儀器有限公司梧州奧卡光學(xué)儀器公司和麥

、、、

克奧迪實業(yè)集團有限公司負(fù)責(zé)起草

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人侯育煒馮瓊輝曾麗珠鄔子剛李晞王國瑞胡清徐利明楊廣烈胡森虎

:、、、、、、、、、、

張景華肖倩

、。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T7242—1987。

Ⅰ

GB/T7242—2010

透鏡中心偏差

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了透鏡中心偏差的術(shù)語和定義基準(zhǔn)軸的選定與標(biāo)注中心偏差的標(biāo)注及檢驗

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于由球面與球面或球面與平面組成的且具有旋轉(zhuǎn)對稱邊緣面的單透鏡和膠合透鏡對

。

于具有其他邊緣形狀的透鏡例如矩形透鏡也基本適用

(:)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款凡是注日期的引用文件其隨后所有

。,

的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)然而鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

(),,

是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)

。,。

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范幾何公差形狀方向位置和跳動公差標(biāo)注

GB/T1182(GPS)、、

(GB/T1182—2008,ISO1101:2004,IDT)

幾何光學(xué)術(shù)語符號

GB/T1224、

光學(xué)制圖

GB/T13323—2009(ISO10110-1:2006,NEQ)

光學(xué)儀器術(shù)語

GB/T13962

3術(shù)語和定義

和確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)

GB/T1224、GB/T13323—2009GB/T13962。

31

.

透鏡中心偏差centeringerroroflenses

光學(xué)表面定心頂點處的法線對基準(zhǔn)軸的偏離量

。

透鏡中心偏差是用光學(xué)表面定心頂點處的法線與基準(zhǔn)軸的夾角來度量此夾角稱為面傾角用希臘

,,

字母χ表示見圖

(1)。

圖1

32

.

基準(zhǔn)軸datumaxis

用來標(biāo)注檢驗和校正中心偏差并按定位零件或組件光學(xué)表面的特定性能所選取的軸