掃描電鏡工作原理科普

4.3掃描電鏡SEM4.3.1SEM的特點(diǎn)和工作原理

◆1965年第一臺商用SEM問世;

◆EM能彌補(bǔ)透射電鏡樣品制備要求

很高的缺點(diǎn);

◆景深大;

◆放大倍數(shù)連續(xù)調(diào)節(jié)范圍大;

◆分辨本領(lǐng)比較高；◆樣品制備非常方便

◆可直接觀察大塊試樣

◆固體材料樣品表面和界面分析

◆適合于觀察比較粗糙的表面：

材料斷口和顯微組織三維形態(tài)掃描電鏡能完成：表（界）面形貌分析；配置各種附件，做表面成分分析及表層晶體學(xué)位向分析等。掃描電鏡的成像原理，和透射電鏡大不相同，它不用什么透鏡來進(jìn)行放大成像，而是象閉路電視系統(tǒng)那樣，逐點(diǎn)逐行掃描成像。由三極電子槍發(fā)射出來的電子束，在加速電壓作用下，經(jīng)過2-3個電子透鏡聚焦后，在樣品表面按順序逐行進(jìn)行掃描，激發(fā)樣品產(chǎn)生各種物理信號，如二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線、俄歇電子等。這些物理信號的強(qiáng)度隨樣品表面特征而變。它們分別被相應(yīng)的收集器接受，經(jīng)放大器按順序、成比例地放大后，送到顯像管。供給電子光學(xué)系統(tǒng)使電子束偏向的掃描線圈的電源也是供給陰極射線顯像管的掃描線圈的電源，此電源發(fā)出的鋸齒波信號同時控制兩束電子束作同步掃描。因此，樣品上電子束的位置與顯像管熒光屏上電子束的位置是一一對應(yīng)的。4.3.2掃描電鏡成像的物理信號

掃描電鏡成像所用的物理信號是電子束轟擊固體樣品而激發(fā)產(chǎn)生的。具有一定能量的電子，當(dāng)其入射固體樣品時，將與樣品內(nèi)原子核和核外電子發(fā)生彈性和非彈性散射過程，激發(fā)固體樣品產(chǎn)生多種物理信號。特征X射線背散射電子

它是被固體樣品中原子反射回來的一部分入射電子。又分彈性背散射電子和非彈性背散射電子，前者是指只受到原子核單次或很少幾次大角度彈性散射后即被反射回來的入射電子，能量沒有發(fā)生變化；后者主要是指受樣品原子核外電子多次非彈性散射而反射回來的電子。二次電子

它是被入射電子轟擊出來的樣品核外電子，又稱為次級電子。

在樣品上方裝一個電子檢測器來檢測不同能量的電子，結(jié)果如圖4-57所示。二次電子的能量比較低，一般小于50eV；背散射電子的能量比較高，其約等于入射電子能量E0。電子能譜吸收電子

它是被吸收電子是隨著與樣品中原子核或核外電子發(fā)生非彈性散射次數(shù)的增多，其能量和活動能力不斷降低以致最后被樣品所吸收的入射電子。透射電子

它是入射束的電子透過樣品而得到的電子。它僅僅取決于樣品微區(qū)的成分、厚度、晶體結(jié)構(gòu)及位向等。

圖4-58是電子在銅中的透射、吸收和背散射系數(shù)的關(guān)系。電子在銅中的透射、吸收和背散射系數(shù)的關(guān)系由圖知，樣品質(zhì)量厚度越大，則透射系數(shù)越小，而吸收系數(shù)越大；樣品背散射系數(shù)和二次電子發(fā)射系數(shù)的和也越大，但達(dá)一定值時保持定值。

樣品本身要保持電平衡，這些電子信號必須滿足以下關(guān)系：

ip=ib+is+ia+it(4-69)

式中：ip是入射電子強(qiáng)度；

ib是背散射電子強(qiáng)度；

is是二次電子強(qiáng)度；

ia是吸收電子強(qiáng)度；

it是透射電子強(qiáng)度。將上式兩邊同除以ip，得

η+δ+a+T=1(4-70)

式中：η=ib/ip，為背散射系數(shù)；

δ=is/ip，為二次電子發(fā)射系數(shù)；

a=ia/ip，為吸收系數(shù)；

T=it/ip，為透射系數(shù)。特征X射線特征X射線是原子的內(nèi)層電子受到激發(fā)之后，在能級躍遷過程中直接釋放的具有特征能量和波長的一種電磁波輻射。俄歇電子

如果原子內(nèi)層電子能級躍遷過程所釋放的能量，仍大于包括空位層在內(nèi)的鄰近或較外層的電子臨界電離激發(fā)能，則有可能引起原子再一次電離，發(fā)射具有特征能量的俄歇電子。4.3.3掃描電鏡的構(gòu)造

掃描電鏡由六個系統(tǒng)組成

(1)電子光學(xué)系統(tǒng)（鏡筒）

(2)掃描系統(tǒng)

(3)信號收集系統(tǒng)

(4)圖像顯示和記錄系統(tǒng)

(5)真空系統(tǒng)

(6)電源系統(tǒng)

(1)電子光學(xué)系統(tǒng)（鏡筒）

由電子槍、聚光鏡、物鏡和樣品室等部件組成。它的作用是將來自電子槍的電子束聚焦成亮度高、直徑小的入射束(直徑一般為10nm或更小)來轟擊樣品，使樣品產(chǎn)生各種物理信號。

(2)掃描系統(tǒng)

掃描系統(tǒng)是掃描電鏡的特殊部件，它由掃描發(fā)生器和掃描線圈組成。它的作用是：1)使入射電子束在樣品表面掃描，并使陰極射線顯像管電子束在熒光屏上作同步掃描；2)改變?nèi)肷涫跇悠繁砻娴膾呙枵穹?，從而改變掃描像的放大倍?shù)。

(3)信號收集系統(tǒng)

掃描電鏡應(yīng)用的物理信號可分為：1)電子信號，包括二次電子、背散射電子、透射電子和吸收電子。吸收電子可直接用電流表測，其他電子信號用電子收集器；2)特征X射線信號，用X射線譜儀檢測；3)可見光訊號（陰極熒光），用可見光收集器。常見的電子收集器是由閃爍體、光導(dǎo)管和光電倍增管組成的部件。其作用是將電子信號收集起來，然后成比例地轉(zhuǎn)換成光信號，經(jīng)放大后再轉(zhuǎn)換成電信號輸出(增益達(dá)106)，這種信號就用來作為掃描像的調(diào)制信號。收集二次電子時，為了提高收集有效立體角，常在收集器前端柵網(wǎng)上加上+250V偏壓，使離開樣品的二次電子走彎曲軌道，到達(dá)收集器。這樣就提高了收集效率，而且，即使是在十分粗糙的表面上，包括凹坑底部或突起外的背面部分，都能得到清晰的圖像。圖4.62。(a)加偏壓前(b)加偏壓后圖4.62加偏壓前后的二次電子收集情況

當(dāng)收集背散射電子時，由于背散射電子能量比較高，離開樣品后，受柵網(wǎng)上偏壓的影響比較小，仍沿出射直線方向運(yùn)動。收集器只能收集直接沿直線到達(dá)柵網(wǎng)上的那些電子。同時，為了擋住二次電子進(jìn)入收集器，在柵網(wǎng)上加上-250V的偏壓?，F(xiàn)在一般用同一部收集器收集二次電子和背散射電子，這通過改變柵網(wǎng)上的偏壓來實(shí)現(xiàn)。將收集器裝在樣品的下方，就可收集透射電子。(4)圖像顯示和記錄系統(tǒng)

這一系統(tǒng)的作用是將信號收集器輸出的信號成比例地轉(zhuǎn)換為陰極射線顯像管電子束強(qiáng)度的變化，這樣就在熒光屏上得到一幅與樣品掃描點(diǎn)產(chǎn)生的某一種物理訊號成正比例的亮度變化的掃描像，同時用照相方式記錄下來，或用數(shù)字化形式存儲于計算機(jī)中。(5)真空系統(tǒng)(6)電源系統(tǒng)掃描電鏡的真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)的作用與透射電鏡的相同。4.3.4掃描電鏡的主要性能(1)放大倍數(shù)掃描電鏡的放大倍數(shù)可用表達(dá)式

M=AC/AS式中AC是熒光屏上圖像的邊長，AS是電子束在樣品上的掃描振幅。目前大多數(shù)商品掃描電鏡放大倍數(shù)為20-20000倍，介于光學(xué)顯微鏡和透射電鏡之間。(2)分辨本領(lǐng)SEM的分辨本領(lǐng)與以下因素有關(guān)：

1)入射電子束束斑直徑入射電子束束斑直徑是掃描電鏡分辨本領(lǐng)的極限。熱陰極電子槍的最小束斑直徑6nm，場發(fā)射電子槍可使束斑直徑小于3nm。2)入射束在樣品中的擴(kuò)展效應(yīng)

電子束打到樣品上，會發(fā)生散射，擴(kuò)散范圍如同梨狀或半球狀。入射束能量越大，樣品原子序數(shù)越小，則電子束作用體積越大。由圖可以看出，只有在離樣品表面深度0.3L2區(qū)產(chǎn)生的背散射電子有可能逸出樣品表面，二次電子信號在5-10nm深處的逸出，吸收電子信號、一次X射線來自整個作用體積。這就是說，不同的物理信號來自不同的深度和廣度。入射束有效束斑直徑隨物理信號不同而異，分別等于或大于入射斑的尺寸。因此，用不同的物理信號調(diào)制的掃描象有不同的分辨本領(lǐng)。二次電子掃描象的分辨本領(lǐng)最高，約等于入射電子束直徑，一般為6-10nm，背散射電子為50