物理光學(xué)：第二章第五節(jié)2-5典型的雙光束干涉系統(tǒng)及其應(yīng)用-

第五節(jié)典型的雙光束干涉系統(tǒng)及其應(yīng)用一、典型干涉系統(tǒng)1、斐索(

Fizeau)干涉儀：等厚干涉型的干涉儀L3GL2PQL1激光平面干涉儀aHHe-NeDhR1R2PQ2、球面干涉儀球面干涉儀PLQ基本特點(diǎn)：（1）屬于等厚干涉重點(diǎn)掌握：（1）光程差與厚度的關(guān)系。（2）厚度變化與條紋彎曲方向的關(guān)系。（3）干涉面間距變化與條紋移動的關(guān)系。條紋分析：（2）干涉光束，一個(gè)來自標(biāo)準(zhǔn)反射面，一個(gè)來自被測面。2、邁克爾遜干涉儀(TheMichelsoninterferometer）圖12-25特點(diǎn)：M1和M2垂直時(shí)是等傾干涉，否則為等厚干涉。掌握：（1）系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，（2）M1或M2垂直于光線移動時(shí)對條紋的影響。ExtendedsourceBeamsplitterReflectivecoatingMirrorCompensatingplate邁克耳干涉儀補(bǔ)償玻璃板半透明鍍銀層M1固定M2可移動NNM1固定

M2可移動邁克耳遜干涉儀的等傾條紋M2M1M2M1M2M1M2M1與重合M1M2M2M1M2M1M2M1M2M1M2M1邁克耳遜干涉儀的等厚條紋設(shè)M1與M2’之間的空氣層厚度為d討論：M1和M2嚴(yán)格垂直:空氣薄膜干涉----圓環(huán)M2平移：----干涉條紋移動數(shù)目M1和M2不嚴(yán)格垂直：空氣劈干涉M2移動/2，則有一條紋移過二.應(yīng)用已知某光波波長，數(shù)出n，則可測長度d數(shù)出n和讀出d，可測光波波長3、泰曼干涉儀（Twymaninterferometer）特點(diǎn)：在邁克爾遜干涉儀的一個(gè)光路中加入了被測光學(xué)器件ContourlinesFringesofequalthickness等厚干涉條紋密,波面彎曲大,條紋疏,波面彎曲小1、數(shù)字波面干涉術(shù)目的：產(chǎn)生移動的干涉條紋，用光電器件探測條紋的變化?；驹恚豪霉鈱W(xué)拍頻中干涉條紋強(qiáng)度隨時(shí)間變化的性質(zhì)。外差干涉原理頻率偏移器ABPtI(x,y,t)條紋是隨時(shí)間變化的量。需測量的相位信息。ABtITt光學(xué)相位差2、傅里葉變換光譜儀原理：利用光源的相干長度對條紋可見度的影響，測量光源的光譜分布。相干長度：光譜寬度為Dl的光源能夠產(chǎn)生干涉的最大光程差設(shè)：I0(k)為隨波數(shù)而變化的譜密度函數(shù)，整個(gè)光譜分布在（-，+）之間，為兩光路的光程差。則：特點(diǎn):光能的利用效率高,在有相同分辨本領(lǐng)情況下,光能高兩個(gè)數(shù)量級通過移動M2，改變D獲得W(D)，再通過反傅里葉變換計(jì)算出I0(k)。W(D)DI(l