標(biāo)準(zhǔn)解讀
《YS/T 785-2012 NaA型沸石相對(duì)結(jié)晶度測(cè)定方法X衍射法》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了使用X射線衍射(XRD)技術(shù)來(lái)測(cè)定NaA型沸石相對(duì)結(jié)晶度的方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于以NaA型沸石為主要成分的產(chǎn)品中NaA型沸石相對(duì)結(jié)晶度的測(cè)定。
根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),測(cè)定過(guò)程中需要準(zhǔn)備試樣,并將其制成適合X射線衍射分析的形式。通常情況下,這涉及到將樣品研磨至一定細(xì)度,然后壓片或填充到專(zhuān)用的樣品架上。接著,利用X射線衍射儀對(duì)制備好的樣品進(jìn)行掃描,收集其衍射圖譜數(shù)據(jù)。
在獲得衍射圖之后,需選擇合適的參考物質(zhì)作為對(duì)比,通常是已知高純度的NaA型沸石粉末。通過(guò)比較測(cè)試樣品與標(biāo)準(zhǔn)品之間特定峰面積或者強(qiáng)度的比例關(guān)系,可以計(jì)算出樣品中NaA型沸石相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)品的結(jié)晶度百分比。這里所指的“特定峰”一般是指能夠代表NaA結(jié)構(gòu)特征的最強(qiáng)線條之一,在XRD圖譜上表現(xiàn)為清晰可辨別的峰值。
此外,該標(biāo)準(zhǔn)還提供了關(guān)于如何處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的具體指導(dǎo)原則,包括但不限于背景扣除、基線校正等步驟,以及對(duì)于儀器條件設(shè)置如掃描范圍、步長(zhǎng)等方面的建議,確保不同實(shí)驗(yàn)室間可以獲得一致性和可比性強(qiáng)的結(jié)果。
本文件詳細(xì)描述了從樣品制備到結(jié)果報(bào)告整個(gè)過(guò)程的操作流程和技術(shù)要求,旨在為相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)的研究人員和從業(yè)人員提供一個(gè)科學(xué)合理且易于執(zhí)行的檢測(cè)指南。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2012-05-24 頒布
- 2012-11-01 實(shí)施
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ICS8706010
H25..
中華人民共和國(guó)有色金屬行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
YS/T785—2012
NaA型沸石相對(duì)結(jié)晶度測(cè)定方法
X衍射法
DeterminationofrelativecrystallinityofzeolitesodiumA
byX-raydiffraction
2012-05-24發(fā)布2012-11-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部發(fā)布
YS/T785—2012
前言
本標(biāo)準(zhǔn)是按照給出的規(guī)則起草的
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC243)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)鋁業(yè)股份有限公司山東分公司中國(guó)有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量質(zhì)量研究所
:、。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人張樹(shù)貴韓剛邵靜徐好文鐘沂妹裴存燕
:、、、、、。
Ⅰ
YS/T785—2012
NaA型沸石相對(duì)結(jié)晶度測(cè)定方法
X衍射法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用射線衍射儀對(duì)型沸石相對(duì)結(jié)晶度的測(cè)定方法
XNaA。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于型沸石相對(duì)結(jié)晶度的測(cè)定
NaA。
2方法提要
在相同的射線衍射條件下分別測(cè)定型沸石參比試樣與型沸石待測(cè)試樣個(gè)晶面的
X,NaANaA6
衍射線積分強(qiáng)度被測(cè)試樣的衍射強(qiáng)度與參比試樣的衍射強(qiáng)度之比即為被測(cè)試樣的相對(duì)結(jié)晶度
,。
3參比樣品
在試驗(yàn)室條件下合成的高結(jié)晶度型沸石或協(xié)商認(rèn)定的樣品作為相對(duì)結(jié)晶度測(cè)定的參比
NaA,
樣品
。
4儀器及設(shè)備
41瑪瑙研缽
.。
42射線衍射儀
.X。
43烘箱
.:100℃±5℃。
44干燥器裝有飽和溶液
.:NH4Cl。
5測(cè)量樣品制備
51分別將參比樣品和待測(cè)樣品在經(jīng)過(guò)清洗吹干的瑪瑙研缽中研磨至平均粒徑以下
.(3)(4.1)5μm。
52將參比樣品和被測(cè)樣品放入烘箱中在烘干以上
.(4.3)100℃±5℃2h。
53將烘干后的樣品放入干燥器中在室溫下穩(wěn)定以上
.(4.4),2h。
54用背壓法制樣要求測(cè)量面平整光滑無(wú)裂紋
.,、、。
6測(cè)量條件
61輻射
.Cukα。
62掃描速度
.:2θ0.25°/min。
63步長(zhǎng)值
.:2θ0.002°。
64發(fā)散狹縫
.(DS):1°。
65散射狹縫
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