側(cè)向測(cè)井1課件

測(cè)井方法原理電法測(cè)井（八）第三節(jié)雙側(cè)向測(cè)井第二節(jié)七電極側(cè)向測(cè)井第一節(jié)三電極側(cè)向測(cè)井

第四節(jié)微側(cè)向測(cè)井第五節(jié)鄰近側(cè)向測(cè)井第六節(jié)微球形聚焦測(cè)井第四章側(cè)向測(cè)井第八節(jié)側(cè)向測(cè)井視電阻率計(jì)算第七節(jié)電阻率測(cè)井方法綜合緒：普通電阻率測(cè)井在鹽水泥漿井中存在的問題普通電阻率測(cè)井在高阻薄層井中存在的問題針對(duì)泥漿的分流作用、低阻圍巖與高阻屏蔽等影響→解決問題的方法、思路？怎么辦？利用同性電流相排斥的原理，使電流聚焦→聚焦測(cè)井第一節(jié)三電極側(cè)向測(cè)井一、測(cè)井原理三電極側(cè)向測(cè)井——三側(cè)向測(cè)井由三個(gè)柱狀電極組成。主電極A0較短，位于中間；屏蔽電極A1、A2較長(zhǎng)，對(duì)稱排列在A0兩端，電極之間用絕緣材料隔開。A1、A2短路相接電極系結(jié)構(gòu)測(cè)井時(shí)如何聚焦？通過調(diào)節(jié)Is，使A0與A1、A2三個(gè)電極的電位相等。A0與A1、A2通以相同極性的電流Io和Is，且Io為常數(shù)。沿縱向的電位梯度為零，確保主電流不沿井軸方向流動(dòng)。迫使Io電流呈源盤狀沿徑向流入地層（減小了井和圍巖的影響，提高了縱向分層能力）。主電流環(huán)參見P84圖3-1測(cè)得的視電阻率RaP83→(3-1)

其中：U——電極表面電位（相對(duì)于參考電極N）,vI0——主電流強(qiáng)度,AK——電極系系數(shù)(可通過理論計(jì)算、也可通過實(shí)驗(yàn)求出),m由（3－1）式知：三側(cè)向測(cè)得的視電阻率Ra與比值U/I0（通常稱主電極的接地電阻Rg）成正比。三側(cè)向電極系系數(shù)P85→(3-3)推導(dǎo)過程自學(xué)P84

其中：L——主電極全長(zhǎng)2LL0——電極系全長(zhǎng)2L0r0——電極系半徑（r0<<L0）（3－3）式表明：儀器的電極系系數(shù)只與儀器本身結(jié)構(gòu)有關(guān)，而與其它任何因素?zé)o關(guān)。二、三側(cè)向測(cè)井方框圖測(cè)量方法現(xiàn)場(chǎng)一般常用恒流法測(cè)量恒流法適用于高阻剖面恒壓法適用于低阻剖面恒功率法動(dòng)態(tài)范圍大自由式動(dòng)態(tài)范圍大恒流法測(cè)量原理B—回流電極N—無窮遠(yuǎn)參考電極B1—測(cè)量信號(hào)輸入變壓器B2—平衡信號(hào)輸入變壓器B3—屏流輸出變壓器r—主電流采樣電阻，非常小，常用0.01Rp—記錄儀測(cè)程電阻Ga—檢流計(jì)VD—比較電壓如何保持Io恒定如何測(cè)量地層信息P85→圖3-4測(cè)量過程r非常小→主電極A0與屏蔽電極A1、A2同電位電極系附近介質(zhì)電阻率變化→接地電阻Rg變化要使IO不變→主電極A0（或屏蔽電極A1、A2）電位必須變化Ao電壓變化→反映了地層電阻率變化測(cè)量電壓放大檢波器接在A1與N之間→放大A1與N之間的電位差→檢流計(jì)記錄現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際使用的三側(cè)向?yàn)榱诉M(jìn)行組合測(cè)量，探測(cè)侵入帶、原狀地層的電阻率，現(xiàn)場(chǎng)通常使用深、淺三側(cè)向。淺三側(cè)向——探測(cè)深度較淺→探測(cè)侵入帶電阻率。淺三側(cè)向特點(diǎn)——屏蔽電極A1、A2尺寸較短，在A1、A2外又加極性相反的回路電極B1、B2，這樣使得A0、A1、A2流出的電流進(jìn)入地層不遠(yuǎn)（侵入帶）、就流向B1、B2電極深三側(cè)向——探測(cè)深度較深→探測(cè)原狀地層電阻率。深三側(cè)向—A1與A1′相連，A2與A2′相連淺三側(cè)向—用深三側(cè)向的A1′作B1，用深三側(cè)向的A2′作B2三側(cè)向尺寸電極系系數(shù)：kd=0.24m，ks=0.35m儀器全長(zhǎng)：5.4m儀器直徑：0.089mP86→圖3-5電極系越長(zhǎng)→主電流聚焦越好→進(jìn)入地層越深電極系尺寸大到一定程度后，再改變電極系長(zhǎng)度，對(duì)探測(cè)深度幾乎沒有影響主電極越短→分層能力越強(qiáng)（主電極長(zhǎng)度一般是井徑的0.5～0.75倍）電極系直徑→泥漿分流作用→Ra影響三側(cè)向視電阻率的因素地層參數(shù)電極系參數(shù)電極系參數(shù)電極系直徑主電極長(zhǎng)度電極系長(zhǎng)度參見P86→圖3-7四、三側(cè)向測(cè)井資料應(yīng)用1.分層2.求Rt3.判斷油水層三側(cè)向測(cè)井受井眼、層厚、鄰層影響較小，縱向分辨率較強(qiáng)→確定地層界面。查圖版，程序計(jì)算油氣層：電阻率高，正差異水層：電阻率低，負(fù)差異或無差異實(shí)測(cè)三側(cè)向曲線三側(cè)向底1米五、三側(cè)向視電阻率曲線校正主要影響因素井眼（大小，泥漿電阻率）圍巖電阻率侵入深度自學(xué)P88－93第二節(jié)七電極側(cè)向測(cè)井一、測(cè)井原理由7個(gè)體積較小的環(huán)狀電極組成。A0—主電極A1、A2—屏蔽電極M1與M2、M1′與M2′—兩對(duì)監(jiān)督電極電極系以主電極為中心，3對(duì)電極對(duì)稱排列A1與A2等電位，M1與M2(M1′與M2′)等電位→迫使主電流水平地流入地層結(jié)構(gòu)主電流層厚度等于O1O2之間長(zhǎng)度P94→(3-4)視電阻率P94→圖3－14K——電極系系數(shù)(可通過理論計(jì)算、也可通過實(shí)驗(yàn)求出)UM1——M1點(diǎn)處電位。即M1點(diǎn)與無窮遠(yuǎn)處N（參考電極）之間的電位差。因UN≈0，所以，M1點(diǎn)與N之間的電位差≈M1點(diǎn)處電位七側(cè)向電極系參數(shù)1.電極系長(zhǎng)度L0L0越大→探測(cè)深度越大2.電極距LL越小→分層能力越強(qiáng)3.分布比s影響主電流層形狀。s過大→要求屏流比大，s過小→主電流聚焦差。s一般在3～3.5較合適決定電極系的電流分布，q大→聚焦好4.聚焦參數(shù)q七側(cè)向電極系尺寸深七側(cè)向分布比s=3.27電極系長(zhǎng)度L0=2.07m電極系系數(shù)kd=0.636m儀器直徑：0.102m淺七側(cè)向分布比s=2.4電極系長(zhǎng)度L0=1.07m電極系系數(shù)kd=1.175m四、七側(cè)向測(cè)井資料應(yīng)用1.分層2.求Rt3.判斷油水層與三側(cè)向相似五、七側(cè)向視電阻率曲線校正主要影響因素井眼（大小，泥漿電阻率）