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激光顯微共焦拉曼光譜系統(tǒng)附件一貨物需求:顯微共焦拉曼光譜儀系統(tǒng)一套。詳細(xì)技術(shù)參數(shù):系統(tǒng)的主要技術(shù)指標(biāo):1)250mm焦長,系統(tǒng)總通光效率大于30%。2)波長范圍:200nm—1050nm。3)光譜掃描范圍:325nm激發(fā)Raman(200-4000cm)-1,532nm激發(fā)15-8000cm-1,632.8nm激發(fā)100-6000cm,-785nm激發(fā)15-3200站1,1064nm激發(fā)100-3200cm-1。4)光譜分辨率:可見全譜段等于或小于1cm,紫外(325nm)段〈3cm1,紅外(1064nm)段<3cm。5)光譜重復(fù)性(測量多少次50次):W土0.15cm-1o6)空間分辨率:橫向<0.5微米,光軸方向<2微米。7)靈敏度:硅三階峰信噪比好于15:1,并可見四階峰;(指光譜儀無低波數(shù)附件時的靈敏度)。8)低波數(shù):小于或等于15cm(785nm激發(fā)),15cm-(532nm激發(fā));9)CCD探測器:應(yīng)使用紫外和近紅外同時增強深耗散層型CCD探測器,優(yōu)質(zhì)芯片,半導(dǎo)體制冷到-70oC,為確保圖像質(zhì)量,避免邊緣畸變,芯片尺寸應(yīng)<13X8.5mm,像元尺寸22m。10)第二探測器組件(InGaAs探測器):0.9um~1.65um,包含軟件包,液氮或半導(dǎo)體制冷。11)光源及控制系統(tǒng):632.8nm,云17毫瓦;785nm,N275毫瓦;514.5nm,云40毫瓦,325nm激光器30毫瓦。12)可導(dǎo)入脈沖激光光源(405nm)進(jìn)行瞬態(tài)測量,信號光可引入TCSPC,提供TCSPC探測器接口,(需考慮放濾光片位置)。包含附件:直接二維拉曼成像功能(532/785nm激發(fā))。大面積快速掃描拉曼成像功能。三維拉曼成像功能。冷熱臺及控制器(-195oCto+600oC)冷熱臺及控制器(室溫to+1500oC)催化反應(yīng)拉曼原位池(室溫to+1000oC)TCSPC系統(tǒng)自動xyz三維平臺。拉曼偏振測量附件。系統(tǒng)的詳細(xì)技術(shù)規(guī)格:一、顯微鏡:研究級正置彳來卡顯微鏡。1、原配物鏡:5X、20X、50X和100X物鏡,15X和40X紫外物鏡.2、配置50x長焦物鏡(WD8.1mm)和100x長焦物鏡(WD3.4mm)3、彩色攝像頭,4、XY手動樣品臺5、顯微鏡攝像機可觀察紫外激光光斑含反、透射照明系統(tǒng)(含聚光透鏡)二、光譜儀要滿足低波數(shù)、高靈敏度、高分辨率要求,盡量同時滿足低波數(shù)、高靈敏度、高分辨率要求,詳見以下指標(biāo):1、拉曼頻移范圍:325nm激發(fā)200-4000cm-1,532nm激發(fā)15-8000cm-1,632.8nm激發(fā)100-6000cm-1,785nm激發(fā)15-3200cm-1,1064nm激發(fā)100-3200cm-1。2、焦長N250mm,通光效率N30%3、高靈敏度:硅三階峰的信噪比好于15:1,并能觀察到四階峰,要求靈敏度盡量高。檢測條件:使用單晶硅片,波長532nm,到樣品上功率10mW,狹縫寬度(或針孔)小于50微米,光柵大于等于600g/mm,曝光時間100秒,累加次數(shù)3次,binning等于1。顯微鏡頭為X100倍。4、光譜重復(fù)率:W±0.2cm-15、光譜分辨率:可見全譜段<=1cm-1,紫外(325nm)全譜段<3cm-1,紅外(1064nm)全譜段<3cm-1要求光譜分辨率盡量高。6、光譜分辨率和靈敏度的綜合性能:在滿足<1cm分辨率時的靈敏度需盡量高,在vTcm1分辨率條件下硅三階峰的信噪比好于10:1。7、配有分別滿足紫外和可見光測量的光柵,而且能分別滿足高分辨及高靈敏測量。光柵能由軟件控制自動轉(zhuǎn)換。8、光譜儀每個波長(325nm、532nm、633nm、785nm和1064nm)都必須配2片Edge濾光片及一片干涉濾光片。三、CCD探測器1、光譜范圍220-1100nm2、半導(dǎo)體制冷(小于等于-70°C)3、紫外-近紅外增強高質(zhì)量CCD4、量子效率:在600nm處>50%,在300nm處>30%(見響應(yīng)文件的響應(yīng)曲線)5、暗噪聲<0.005電子/秒/像元6、讀出噪聲<7電子/像元四、共焦技術(shù)1、具備共焦性能。2、空間分辨率橫向(光斑直徑)小于0.5mm,縱向小于2um,共焦深度連續(xù)可調(diào)。五、計算機奔騰IV以上機型,Windows操作系統(tǒng)。Windows下光譜專業(yè)軟件包-包括儀器控制,數(shù)據(jù)采集、計算和處理及曲線擬合等各項功能。軟件具有加、減、乘、除、熒光扣除等功能。數(shù)據(jù)庫包括:譜庫搜索軟件,礦物數(shù)據(jù)庫,高分子數(shù)據(jù)庫。六、激發(fā)波長1、325nm激發(fā)波長1.1、325nm激光器,N30mw,kimmon產(chǎn),相關(guān)波長30cm,TEMoo模,要求線寬窄,頻率穩(wěn)定性好;帶電源及該激光器運行所需配件。1.2兩臺325nm激光器。2、532nm激發(fā)波長2.1、532nm激光器,50mw,TEMoo模,要求線寬窄,頻率穩(wěn)定性好;帶電源及該激光器運行所需配件。3、632nm激發(fā)波長。3.1、632nm激光器,N17mw,TEMoo模,要求線寬窄,頻率穩(wěn)定性好;帶電源及控制。帶電源及該激光器運行所需配件。4、785nm激發(fā)波長4.1、785nm激光器,N250mw,TEMoo模,單縱模,要求線寬窄,頻率穩(wěn)定性好;帶電源及控制。帶電源及該激光器運行所需配件。5、1064nm激發(fā)波長5.1、1064nm激光器,N200mw,TEMoo模,單縱模,要求線寬窄,頻率穩(wěn)定性好;帶電源及控制。帶電源及該激光器運行所需配件。七、外購附件1、液氦低溫樣品臺,4K至室溫,振動幅度3-5nm,帶微位移平臺;2、20x常規(guī)焦距暗場鏡頭,NA:0.50,WD:1.27mm50x常規(guī)焦距暗場鏡頭,NA:0.80,WD:0.37mm100x常規(guī)焦距暗場鏡頭,NA:0.90,WD:0.29mm50x長焦距暗場鏡頭,NA:0.50,WD:8.1mm100x長焦距暗場鏡頭,NA:0.75,WD:3.7mm3、TCSPC系統(tǒng)4、532nm和785nm波長均配拉曼偏振測量附件5、4GHz高速示波器,4通道6、超連續(xù)白光激光光源,總功率4W,脈沖重復(fù)頻率40MHz,單波長功率2mW,400nm?2200nm,含聲光調(diào)制光柵;7、脈沖激光光源,532nm/266nm,脈寬10ns;8、連續(xù)激光光源,808nm、473nm、403nm;7、鎖相放大器及斬波器;8、高精度電流源表(雙通道,2臺);八、與掃描電鏡耦合部件特殊設(shè)計的SEM/Raman接口允許掃描電鏡成像和拉曼光譜采集在SEM樣品倉內(nèi)同時進(jìn)行,首次實現(xiàn)在SEM上原位測試樣品化學(xué)結(jié)構(gòu)信息。在不進(jìn)行拉曼采集時,拉曼元件可收回,完全不影響SEM任何功能。雙波長SEM-Raman接口裝置內(nèi)置的計算機控制的顯微攝像頭集成計算機控制的照明光源,允許同時觀察樣品白光照明情況和激光光斑。采用單模光纖的共焦拉曼探頭,用于532/785nm激發(fā),集成130/100波數(shù)瑞利濾光片,5米長光纖。常規(guī)拉曼測試模式與聯(lián)用測試模式的快速切換機構(gòu),計算機自動控制。拉曼測試點精確重復(fù)定位裝置,保證拉曼測試點與電子束掃描及x熒光分析樣品點精確重復(fù)。為實現(xiàn)聯(lián)用需升級的部件:拉曼信號收集光纖光路(雙波長),含固定于濾光片轉(zhuǎn)臺上的光學(xué)元件。激光傳遞光路自動切換裝置,完成常規(guī)測試和聯(lián)用測試模式的激光傳遞切換。光譜儀內(nèi)自動控制切換的反射鏡單模光纖光路切換裝置及激光安全鎖(雙波長)。譜儀系統(tǒng)固定于光學(xué)平臺上的固定裝置3、工作條件:1)、電源電壓220V2)、環(huán)境溫度15—28°C3)、相對濕度W60%4、售后服務(wù):廠家負(fù)責(zé)免費安排安裝、調(diào)試、培訓(xùn)和驗收,并承擔(dān)由此發(fā)生的一切費用,并提交經(jīng)買方簽字認(rèn)可的安裝調(diào)試報告。設(shè)備出現(xiàn)故障時,廠家保證在接到用戶通知后24小時內(nèi)響應(yīng),如有必要48小時內(nèi)派出維修人員到達(dá)現(xiàn)場進(jìn)行服務(wù)5、交貨時間:收到信用證后3個月內(nèi).6、質(zhì)量保證:設(shè)備保修期自最終驗收協(xié)議簽署生效之日起三年,在保修期內(nèi),任何由制造商選材和制造不當(dāng)引起的質(zhì)量問題,廠家負(fù)責(zé)免費維修,免費保修期后,廠家提供終身維修,并保證零配件的供應(yīng),提供軟件終生免費升級。7、技術(shù)文件:提供全套書面和光盤的技術(shù)資料,包括操作說明書,維護說明書,質(zhì)量認(rèn)證等。掃描電鏡部分1.工作條件:電源:220V/50Hz1.2運行環(huán)境溫度:15-25C1.3運行環(huán)境:相對濕度<80%1.4儀器運行的持久性:可連續(xù)運行.設(shè)備用途:2.1該電鏡主要用于直接觀察導(dǎo)電、不導(dǎo)電樣品的表面形貌。.技術(shù)規(guī)格:3.1電子光學(xué)系統(tǒng):*3.1.1分辨率:3.0nm@1kV(SE),高真空模式:1.2nm@30kV(SE),2.5nm@30kV(BSE)低真空模式:1.4nm@30kV(SE),3.0nm@3kV(SE),2.5nm@30kV(3.0nm@1kV(SE),環(huán)境真空模式(ESEM):1.4nm@30kV(SE)3.1.2加速電壓:0.2kV-30KV3.1.3放大倍數(shù):6倍一100萬倍3.1.4放大倍數(shù)誤差:W3%*3.1.5電子槍:Schottky場發(fā)射電子槍,最大束流200nA3.1.6物鏡光闌:物鏡光欄應(yīng)能自加熱自清潔;無需拆卸鏡筒即可更換物鏡光闌。3.1.7.二次電子和背散射電子成像系統(tǒng):自動調(diào)節(jié)和手動調(diào)節(jié)亮度、對比度3.1.8掃描旋轉(zhuǎn)、動態(tài)聚焦和傾斜校正補充3.2樣品室*3.2.1樣品臺:五軸或以上馬達(dá)驅(qū)動,移動范圍:X^100mmYN100mmZN60mmTN-5?+70°R=360。連續(xù)旋轉(zhuǎn)樣品室尺寸:左右內(nèi)徑>280mm分析工作距離10mm3.3檢測器:3.3.1高真空模式二次電子檢測器;*3.3.2低真空模式二次電子檢測器及環(huán)境真空下的氣體二次電子檢測器3.3.2背散射電子檢測器樣品室紅外CCD相機3.4數(shù)字圖像記錄系統(tǒng)3.4.1圖像處理:最大6144x4096像素3.4.2圖像顯示:單幅圖像顯示或4幀圖像同時顯示*3.4.3圖像記錄:TIFF,BMP或JPEG;自動記錄數(shù)字電影(.avi)功能幾何量實時測量3.5控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)3.5.1基于以太網(wǎng)架構(gòu)的數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)3.5.2Intel雙核控制和操作計算機系統(tǒng)Windows7操作系統(tǒng)顯示器:24英寸LCD顯示器3.6真空系統(tǒng)3.6.1渦輪分子泵250l/sec和兩個離子泵3.6.2前級機械泵3.6.3透鏡內(nèi)壓差真空系統(tǒng),低真空模式下抽氣區(qū)域不少于3個*3.6.4樣品室真空度:高真空模式下優(yōu)于6X10-4Pa低真空模式下10Pa?130Pa環(huán)境真空模式下10Pa?4000Pa3.7標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用軟件3.7.1樣品圖像導(dǎo)航3.7.2鼠標(biāo)拖曳式放大及對中功能3.7.3直方圖和在線測量3.7.4數(shù)字動畫記錄原子力顯微鏡/近場光學(xué)顯微鏡部分原子力顯微鏡/掃描探針近場光學(xué)顯微鏡一臺。主要技術(shù)要求:本系統(tǒng)由主機、反射光路、透射光路、輔助光學(xué)觀測系統(tǒng)、控制測量軟件等部分組成,能與拉曼光譜儀聯(lián)用,實現(xiàn)AFM-SNOM-Raman功能。要求該系統(tǒng)能完全兼容325nm?785nm激光器的光路,實現(xiàn)AFM-SNOM-Raman聯(lián)用功能;能實現(xiàn)325nm?1064nm近場光學(xué)顯微鏡的照明和收集模式功能。制造商應(yīng)保證所提供的設(shè)備具有先進(jìn)的設(shè)計和工藝。(一)具體技術(shù)要求:*1.AFM成像功能需包括:接觸式AFM/側(cè)向力模式/振動模式(半接觸+非接觸模式AFM)/相位成像模式/力調(diào)制模式(粘彈性)/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡/表面電勢/橫向力LFM/導(dǎo)電原子力CFM/頻率調(diào)制/粘附力成像/AFM力刻蝕/AFM電場刻蝕/掃描電容成像/掃描開爾文探針顯微鏡/擴展電阻成像/掃描隧道顯微鏡/掃描隧道譜。以上功能均能夠與拉曼光譜儀聯(lián)用,同時獲得樣品的AFM成像和拉曼成像(即一次掃描能夠同時獲取AFM信號和Raman信號)。*2.SNOM成像功能需包括:開孔懸臂透射照明模式,開孔懸臂透射收集模式,開孔懸臂梁反射照明模式,開孔懸臂梁反射收集模式,光纖探針反射照明模式,光纖探針反射收集模式,光纖探針透射照明模式,光纖探針透射收集模式。樣品臺xy調(diào)節(jié)范圍N5mm,定位精度2um。*3.樣品掃描模式掃描范圍N90umX90umX9um,無需更換掃描器;更換針尖和樣品不需要拆下或打斷掃描頭的校準(zhǔn)。更換完針尖,針尖由電腦控制自動校準(zhǔn),回歸到原來位置,誤差<5um;三維全量程閉環(huán)控制掃描器,XY非線性度氮005.%,Z方向噪聲水平0.03nm,XY方向噪聲水平0.02nm。高分辨率掃描器:XYZN1umX1umX1um。SPM掃描平臺:閉環(huán)掃描器,非線性<0.05%;XY共振頻率7kHz;Z共振頻率15kHz;樣品尺寸N40X50X15mm;掃描速度N40Hz。SPM掃描頭:頂部側(cè)面同時光學(xué)接入;全自動激光和發(fā)光二極管校準(zhǔn);紅外激光xxnm;系統(tǒng)噪音W0.03nm。*6.AFM懸臂梁光學(xué)工作模式:同時具備AFM懸臂梁頂部照明模式,AFM懸臂梁底部照明模式,AFM懸臂梁反射收集模式和透射收集模式;同時整套光路可與邊照射模式(激發(fā)和收集)兼容;完整頂部照明光路兩套,一套采用紫外增強物鏡及通光光路(325nm?600nm),物鏡數(shù)值孔徑0.4-0.5,采用670nm激光定位;另外一套采用可見增強物鏡及通光光路(400nm?800nm),物鏡放大倍數(shù)100X,數(shù)值孔徑0.7,采用830nm激光定位;完整底部光路一套,可進(jìn)行照明和信號收集,底部光路與拉曼光譜儀光路兼容(即可采用拉曼譜儀激光進(jìn)行激發(fā),信號可沿原光路返回拉曼譜儀進(jìn)行收集);同時整套光路可與邊照射模式(激發(fā)和收集)兼容;在AFM懸臂梁工作模式下,保證進(jìn)行AFM成像的同時可進(jìn)行拉曼光譜的采集和成像。*7.SNOM懸臂梁工作模式:同時具備開孔懸臂透射照明模式,開孔懸臂透射收集模式,開孔懸臂梁反射照明模式,開孔懸臂梁反射收集模式;完整頂部照明光路兩套,一套采用紫外增強物鏡及通光光路(325nm?600nm),物鏡數(shù)值孔徑0.4-0.5,采用670nm激光定位;另外一套采用可見增強物鏡及通光光路(400nm?800nm),物鏡放大倍數(shù)100X,數(shù)值孔徑0.7,采用830nm激光定位;具有激光掃描模塊,可在頂部照明工作模式下將激光光斑定位于懸臂梁的小孔中,并可通過視頻可見;完整底部光路一套,可進(jìn)行照明和信號收集,底部光路與拉曼光譜儀光路兼容(即可采用拉曼譜儀激光進(jìn)行激發(fā),信號可沿原光路返回拉曼譜儀進(jìn)行收集);同時整套光路可與邊照射模式(激發(fā)和收集)兼容;在SNOM懸臂梁工作模式下,保證進(jìn)行SNOM成像的同時可進(jìn)行AFM成像及拉曼光譜的采集和成像。*8.紅外波段SNOM懸臂梁工作模式:具備紅外波段優(yōu)化通光、照明和收集光路(1000nm?1600nm);同時具備頂部照明(收集)和底部照明(收集)光路;頂部照明光路采用紅外增強物鏡及通光光路,100X紅外物鏡,數(shù)值孔徑0.5,采用670nm激光定位;同時整套光路可與邊照射模式(激發(fā)和收集)兼容;在SNOM懸臂梁工作模式下,保證進(jìn)行SNOM成像的同時可進(jìn)行AFM成像及拉曼光譜的采集和成像。*9.邊照射模式:35度入射??蛇M(jìn)行針尖增強拉曼散射實驗。*10.SNOM光纖工作模式:具備樣品掃描和光纖掃描模式;光纖探針掃描模式掃描范圍N90umX90umX9um,三維全量程閉環(huán)控制掃描器,XY非線性度W0.51%,Z方向噪聲水平0.04nm,XY方向噪聲水平0.2nm;最大樣品尺寸:直徑N40mm,厚度N15mm,最大樣品質(zhì)量N100g;具備光纖探針反射照明模式,光纖探針反射收集模式,光纖探針透射照明模式和光纖探針透射收集模式;激光耦合裝置,V型槽耦合,XYZ三維可調(diào),定位精度1um,采用40X物鏡;透射光路采用40X物鏡耦合,工作距離0.4mm;具備近紅外SNOM透射收集模式,工作范圍900nm?1660nm,配備低溫冷卻近紅外光電倍增管;配備紫外可見PMT光纖探針反射工作模式采用特殊物鏡進(jìn)行耦合,物鏡數(shù)值孔徑0.45,工作距離30mm,提供有效耦合模塊;*11.CCD及成像系統(tǒng):彩色CCD,配備視頻顯微鏡,采用LED白光照明,視場范圍(采用100X物鏡)80umX80um。SPM控制器:模塊化全數(shù)字?jǐn)U展控制器,輸入電壓:90-240V,H作頻率50Hz/60Hz。數(shù)字/模擬信號輸入/輸出接口,便于集成外置設(shè)備,包括PLL和DFM模式。噪音水平:電容傳感器開啟時,200Hz頻帶寬度狀態(tài)下,在XY方向噪音水平為0.1nm;電容傳感器關(guān)閉時,100Hz頻帶寬度狀態(tài)下,在XY方向噪音水平為0.02nm;1000Hz頻帶寬度狀態(tài)下,Z電容傳感器噪音水平<0.04nm。高分辨率光學(xué)顯微鏡,XY方向定位尋找樣品測量位置。納米操縱:可實現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕,可通過輸入位圖和矢量圖自動控制。(二)附件及零配件隨整套設(shè)備配套提供計算機、顯示器、系統(tǒng)軟件操作系統(tǒng)等??刂茰y量軟件:能夠高精度地同步完成所有系統(tǒng)部件的控制和測量動作;能夠讀取信號、采集數(shù)據(jù)、實時處理數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)后期處理等??刂葡到y(tǒng)及軟件能夠兼容AFM反饋模式掃描,要求該系統(tǒng)的掃描控制部件具有閉環(huán)掃描控制功能,多次重復(fù)掃描時漂移<5nm;全部功能控制軟件終身免費升級。并與拉曼光譜儀控制軟件互相通訊。提供常規(guī)AFM探針200枚,鼻型光學(xué)AFM探針50枚,各波段(305?450nm、450?600nm、600?770nm、780?970nm、980?1600nm)光纖SNOM探針各10枚,50nm孔徑的SNOM懸臂10枚,100nm孔徑的SNOM懸臂10枚,鼻型導(dǎo)電AFM探針50枚。提供詳細(xì)的設(shè)備安裝指南、操作指南、用戶培訓(xùn)手冊。供應(yīng)商長期提供耗材的購置優(yōu)惠,根據(jù)用戶需求設(shè)計制作各種規(guī)格、尺寸的

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