《儀器儀表功能電路板老化工藝規(guī)范》編制說明

#《儀器儀表功能電路板老化工藝規(guī)范》編制說明（征求意見稿）一、工作簡況1、任務(wù)來源本項目是工業(yè)和信息化部行業(yè)標準制修訂計劃（工信廳科[2018]31號），計劃編號：2018-0816『"’項目名稱“儀器儀表功能電路板老化工藝規(guī)范”進行修訂，標準起草牽頭單位：西安中科麥特電子技術(shù)設(shè)備有限公司，計劃應(yīng)完成時間2020年。2、主要工作過程起草（草案、調(diào)研）階段：本標準于2018年5月立項，并成立工作組，查閱國內(nèi)外有關(guān)資料，提出基本工作方案。工作組根據(jù)多年的國內(nèi)外供貨經(jīng)驗，調(diào)研了儀器儀表功能電路板老化工藝及使用企業(yè)對本標準的需求。研究分析了儀器儀表功能電路板老化的實際情況及用戶對該類產(chǎn)品的各項指標的需求，上述工作為確定本標準的主要內(nèi)容奠定了基礎(chǔ)。2018年12月10日在西安中科麥特電子技術(shù)設(shè)備有限公司召開編制工作組會議。會上對標準草案稿進行了逐字逐句的討論，工作組根據(jù)專家意見，對標準進行修改，形成本征求意見稿及編制說明。征求意見階段：審查階段：報批階段：3、主要參加單位和工作組成員及其所做的工作等標準起草牽頭單位：西安中科麥特電子技術(shù)設(shè)備有限公司；參與單位：中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所、陜西子竹電子有限公司、沈陽儀表科學(xué)研究院有限公司、西安康發(fā)光電信息系統(tǒng)有限公司、西安艾力特電子實業(yè)有限公司、西安奧賽?？萍加邢薰?、國家儀器儀表元器件質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心。工作組主要成員：曹捷、張國琦、楊銀娟、耿焱鋒、徐秋玲、張陽、田偉國、趙應(yīng)應(yīng)、趙辰、于振毅。工作安排：曹捷任工作組組長，全面負責(zé)標準制定工作；張國琦負責(zé)標準資料收集歸納、確定標準相關(guān)技術(shù)參數(shù)等工作；楊銀娟根據(jù)匯總資料執(zhí)筆；耿焱鋒、田偉國、趙應(yīng)應(yīng)、趙辰負責(zé)標準資料收集，提供本企業(yè)相關(guān)技術(shù)資料，并初步審核標準技術(shù)指標。徐秋玲、張陽負責(zé)與參編單位溝通，協(xié)調(diào)工作組內(nèi)意見；于振毅負責(zé)試驗驗證等工作。二、標準編制原則和主要內(nèi)容1、編制原則本標準的修訂原則是力求全面、實用、科學(xué)，并以生產(chǎn)廠家多年生產(chǎn)實踐以及眾多用戶使用為基礎(chǔ)，根據(jù)GB-T1.1-2009《標準化工作導(dǎo)則》第1部分，標準的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)定，參照有關(guān)國家標準、企業(yè)標準進行編制，盡量與現(xiàn)行有關(guān)標準協(xié)調(diào)、統(tǒng)一。在確定本標準主要技術(shù)性能指標時，綜合考慮生產(chǎn)企業(yè)的能力和用戶的利益，尋求最大的經(jīng)濟、社會效益，充分體現(xiàn)了標準在技術(shù)上的先進性和經(jīng)濟上的合理性，并注意吸收國內(nèi)、外相關(guān)的研究成果。2、主要內(nèi)容本標準為修訂標準，修訂的主要內(nèi)容為：（一）、第1章：修訂拓寬了適用范圍?！氨緲藴蔬m用于儀器儀表行業(yè)各類印制電路板的老化篩選?！保ǘ?、第2章：增加了規(guī)范性引用文件。GB/T2421.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗概述和指南GB/T2424.1—2015環(huán)境試驗第3部分：支持文件及導(dǎo)則低溫和高溫試驗GB/T2424.5—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認GB/T2424.7—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A和B（帶負載）用溫度試驗箱的測量（三）、第5章：修改為：老化工藝應(yīng)在下列環(huán)境條件下進行：溫度：15℃~35℃；相對濕度：45%~75%；大氣壓力：86kPa~106kPa。（四）、第7章：增加了熱老化設(shè)備的制造和確認內(nèi)容，“熱老化設(shè)備的制造和確認按照GB/T2424.5—2006和GB/T2424.7—2006的規(guī)定進行。高溫和低溫試驗導(dǎo)則按GB/T2424.1—2015，總則按GB/T2421.1—2008。只有在以下情況下，才認為試驗樣品是散熱的，當(dāng)溫度達到穩(wěn)定時（見GB/T2421中相應(yīng)內(nèi)容），在自由空氣的條件下（例如，低氣流速度循環(huán)）測量的實驗樣品表面最熱點的溫度超過實驗樣品周圍空氣溫度5k以上，當(dāng)相關(guān)規(guī)范要求進行貯存或運輸實驗，或未指定在實驗期間施加負載，低溫實驗Ab是適用的?！痹黾恿斯δ馨灏b的處理問題?！皩τ谫A存和運輸實驗，設(shè)備可以帶包裝進行實驗，然而，由于本部分規(guī)定的是對功能板的老化實驗，需要對功能板進行高溫低溫老化測試，所以，應(yīng)去掉包裝進行實驗，除非相關(guān)規(guī)范要求帶包裝，或者發(fā)熱元件是與包裝合為一體的?！保ㄎ澹⒌?章：將熱老化條件分為常溫、高溫和循環(huán)老化三種老化過程，并規(guī)定了各個老化方式的時間。具體為：“8.1熱老化條件老化溫度應(yīng)分為低溫-20℃、常溫15~35℃、高溫60℃和循環(huán)老化四種方式，可自行選定。采用溫度循環(huán)老化方式進行測量時，溫度變化速率（由低溫到高溫或由高溫到低溫的變化過程中的平均值）1±0.5℃/min。熱老化測試時，常溫測試時間為24-72h；高溫測試時間24h；循環(huán)測試的時間是從低溫升高到高溫再降低到低溫的時間。熱老化設(shè)備的要求熱老化設(shè)備要求溫度分布均勻，測試點溫度差在±2℃之內(nèi)；控制精度在±1℃之內(nèi)，系統(tǒng)的穩(wěn)定性和動態(tài)響應(yīng)性滿足使用的要求。常溫老化方法將處于環(huán)境溫度下的印制電路板接入電功率老化設(shè)備；接通電源及輸入信號，使得印制電路板處于運行狀態(tài)，在15~35℃常溫環(huán)境下保持24-72h。低溫老化方法將處于環(huán)境溫度下的印制電路板放入低溫老化設(shè)備內(nèi)，接入電功率老化設(shè)備；接通電源及輸入信號，使得印制電路板處于運行狀態(tài)，在低溫-20℃環(huán)境下保持24h。高溫老化方法將處于環(huán)境溫度下的印制電路板放入高溫老化設(shè)備內(nèi)；接入電功率老化設(shè)備；接通電源及輸入信號，使得印制電路板處于運行狀態(tài)，在高溫60℃環(huán)境下保持24h。并將常溫老化方法、高溫老化方法和循環(huán)老化方法分別進行說明。（六）、第10章：最后檢測增加了外觀檢測?！?0.1老化后外觀檢測，對外觀進行再次檢查，目測，對有分層、起泡等缺陷應(yīng)予以剔除?！保ㄆ撸┑?1章：增加了標識；“老化測試合格的產(chǎn)品，應(yīng)在產(chǎn)品上設(shè)置合格標識；老化測試不合格的產(chǎn)品，應(yīng)在產(chǎn)品上設(shè)置不合格標識。”（八）增加了資料性附錄A，用于對測試數(shù)據(jù)進行記錄。3、解決的主要問題標準的修訂，解決了標齡老化的問題。三、明確標準中涉及專利的情況，對于涉及專利的標準項目，應(yīng)提供全部專利所有權(quán)人的專利許可聲明和專利披露聲明本標準項目不涉及專利問題。四、預(yù)期達到的社會效益、對產(chǎn)業(yè)發(fā)展的作用等情況本標準是對JB/T6174-1992《儀器儀表印制電路板老化工藝規(guī)范》標準的技術(shù)修訂。儀器儀表印制電路板老化工藝規(guī)范使印制板在一個具有溫度變化的熱老化設(shè)備內(nèi)，經(jīng)受空氣溫度的變化，通過高溫、低溫、高低溫變化以及電功率等綜合作用，暴露功能板的缺陷，如焊接不良、元器件參數(shù)不匹配、溫漂以及調(diào)試過程中造成的故障，以便予以剔除，對無缺陷的功能板起到穩(wěn)定參數(shù)的作用。尤其在飛機、汽車、船舶、家電等諸多精密電子儀器儀表制造領(lǐng)域中已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用，特別是航空和宇航領(lǐng)域中更有它的特殊地位。本標準的頒布和實施能更好地規(guī)范儀器儀表功能電路板老化的技術(shù)要求，規(guī)范該產(chǎn)品的行業(yè)發(fā)展，從而提高整個行業(yè)的質(zhì)量，提升我國在智能儀器儀表、工業(yè)控制領(lǐng)域的國際競爭力。五、采用國際標準和國外先進標準情況，與國際、國外同類標準水平的對比情況，國內(nèi)外關(guān)鍵指標對比分析或與測試的國外樣品、樣機的相關(guān)數(shù)據(jù)對比情況本標準沒有采用國際標準。本標準制定過程中未查到同類國際、國外標準。本標準制定過程中未測試國外的樣品、樣機。本標準水平為國內(nèi)先進水平。六、在標準體系中的位置，與現(xiàn)行相關(guān)法律、法規(guī)、規(guī)章及標準，特別是強制性標準