《儀器儀表功能電路板老化工藝規(guī)范》編制說明

#《儀器儀表功能電路板老化工藝規(guī)范》編制說明（征求意見稿）一、工作簡況1、任務(wù)來源本項(xiàng)目是工業(yè)和信息化部行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制修訂計(jì)劃（工信廳科[2018]31號(hào)），計(jì)劃編號(hào)：2018-0816『"’項(xiàng)目名稱“儀器儀表功能電路板老化工藝規(guī)范”進(jìn)行修訂，標(biāo)準(zhǔn)起草牽頭單位：西安中科麥特電子技術(shù)設(shè)備有限公司，計(jì)劃應(yīng)完成時(shí)間2020年。2、主要工作過程起草（草案、調(diào)研）階段：本標(biāo)準(zhǔn)于2018年5月立項(xiàng)，并成立工作組，查閱國內(nèi)外有關(guān)資料，提出基本工作方案。工作組根據(jù)多年的國內(nèi)外供貨經(jīng)驗(yàn)，調(diào)研了儀器儀表功能電路板老化工藝及使用企業(yè)對(duì)本標(biāo)準(zhǔn)的需求。研究分析了儀器儀表功能電路板老化的實(shí)際情況及用戶對(duì)該類產(chǎn)品的各項(xiàng)指標(biāo)的需求，上述工作為確定本標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容奠定了基礎(chǔ)。2018年12月10日在西安中科麥特電子技術(shù)設(shè)備有限公司召開編制工作組會(huì)議。會(huì)上對(duì)標(biāo)準(zhǔn)草案稿進(jìn)行了逐字逐句的討論，工作組根據(jù)專家意見，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行修改，形成本征求意見稿及編制說明。征求意見階段：審查階段：報(bào)批階段：3、主要參加單位和工作組成員及其所做的工作等標(biāo)準(zhǔn)起草牽頭單位：西安中科麥特電子技術(shù)設(shè)備有限公司；參與單位：中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所、陜西子竹電子有限公司、沈陽儀表科學(xué)研究院有限公司、西安康發(fā)光電信息系統(tǒng)有限公司、西安艾力特電子實(shí)業(yè)有限公司、西安奧賽?？萍加邢薰?、國家儀器儀表元器件質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心。工作組主要成員：曹捷、張國琦、楊銀娟、耿焱鋒、徐秋玲、張陽、田偉國、趙應(yīng)應(yīng)、趙辰、于振毅。工作安排：曹捷任工作組組長，全面負(fù)責(zé)標(biāo)準(zhǔn)制定工作；張國琦負(fù)責(zé)標(biāo)準(zhǔn)資料收集歸納、確定標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)技術(shù)參數(shù)等工作；楊銀娟根據(jù)匯總資料執(zhí)筆；耿焱鋒、田偉國、趙應(yīng)應(yīng)、趙辰負(fù)責(zé)標(biāo)準(zhǔn)資料收集，提供本企業(yè)相關(guān)技術(shù)資料，并初步審核標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)指標(biāo)。徐秋玲、張陽負(fù)責(zé)與參編單位溝通，協(xié)調(diào)工作組內(nèi)意見；于振毅負(fù)責(zé)試驗(yàn)驗(yàn)證等工作。二、標(biāo)準(zhǔn)編制原則和主要內(nèi)容1、編制原則本標(biāo)準(zhǔn)的修訂原則是力求全面、實(shí)用、科學(xué)，并以生產(chǎn)廠家多年生產(chǎn)實(shí)踐以及眾多用戶使用為基礎(chǔ)，根據(jù)GB-T1.1-2009《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則》第1部分，標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)定，參照有關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行編制，盡量與現(xiàn)行有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)協(xié)調(diào)、統(tǒng)一。在確定本標(biāo)準(zhǔn)主要技術(shù)性能指標(biāo)時(shí)，綜合考慮生產(chǎn)企業(yè)的能力和用戶的利益，尋求最大的經(jīng)濟(jì)、社會(huì)效益，充分體現(xiàn)了標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)上的先進(jìn)性和經(jīng)濟(jì)上的合理性，并注意吸收國內(nèi)、外相關(guān)的研究成果。2、主要內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)為修訂標(biāo)準(zhǔn)，修訂的主要內(nèi)容為：（一）、第1章：修訂拓寬了適用范圍。“本標(biāo)準(zhǔn)適用于儀器儀表行業(yè)各類印制電路板的老化篩選?！保ǘ?、第2章：增加了規(guī)范性引用文件。GB/T2421.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南GB/T2424.1—2015環(huán)境試驗(yàn)第3部分：支持文件及導(dǎo)則低溫和高溫試驗(yàn)GB/T2424.5—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)GB/T2424.7—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B（帶負(fù)載）用溫度試驗(yàn)箱的測量（三）、第5章：修改為：老化工藝應(yīng)在下列環(huán)境條件下進(jìn)行：溫度：15℃~35℃；相對(duì)濕度：45%~75%；大氣壓力：86kPa~106kPa。（四）、第7章：增加了熱老化設(shè)備的制造和確認(rèn)內(nèi)容，“熱老化設(shè)備的制造和確認(rèn)按照GB/T2424.5—2006和GB/T2424.7—2006的規(guī)定進(jìn)行。高溫和低溫試驗(yàn)導(dǎo)則按GB/T2424.1—2015，總則按GB/T2421.1—2008。只有在以下情況下，才認(rèn)為試驗(yàn)樣品是散熱的，當(dāng)溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)（見GB/T2421中相應(yīng)內(nèi)容），在自由空氣的條件下（例如，低氣流速度循環(huán)）測量的實(shí)驗(yàn)樣品表面最熱點(diǎn)的溫度超過實(shí)驗(yàn)樣品周圍空氣溫度5k以上，當(dāng)相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行貯存或運(yùn)輸實(shí)驗(yàn)，或未指定在實(shí)驗(yàn)期間施加負(fù)載，低溫實(shí)驗(yàn)Ab是適用的?！痹黾恿斯δ馨灏b的處理問題?！皩?duì)于貯存和運(yùn)輸實(shí)驗(yàn)，設(shè)備可以帶包裝進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，然而，由于本部分規(guī)定的是對(duì)功能板的老化實(shí)驗(yàn)，需要對(duì)功能板進(jìn)行高溫低溫老化測試，所以，應(yīng)去掉包裝進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，除非相關(guān)規(guī)范要求帶包裝，或者發(fā)熱元件是與包裝合為一體的?！保ㄎ澹?、第8章：將熱老化條件分為常溫、高溫和循環(huán)老化三種老化過程，并規(guī)定了各個(gè)老化方式的時(shí)間。具體為：“8.1熱老化條件老化溫度應(yīng)分為低溫-20℃、常溫15~35℃、高溫60℃和循環(huán)老化四種方式，可自行選定。采用溫度循環(huán)老化方式進(jìn)行測量時(shí)，溫度變化速率（由低溫到高溫或由高溫到低溫的變化過程中的平均值）1±0.5℃/min。熱老化測試時(shí)，常溫測試時(shí)間為24-72h；高溫測試時(shí)間24h；循環(huán)測試的時(shí)間是從低溫升高到高溫再降低到低溫的時(shí)間。熱老化設(shè)備的要求熱老化設(shè)備要求溫度分布均勻，測試點(diǎn)溫度差在±2℃之內(nèi)；控制精度在±1℃之內(nèi)，系統(tǒng)的穩(wěn)定性和動(dòng)態(tài)響應(yīng)性滿足使用的要求。常溫老化方法將處于環(huán)境溫度下的印制電路板接入電功率老化設(shè)備；接通電源及輸入信號(hào)，使得印制電路板處于運(yùn)行狀態(tài)，在15~35℃常溫環(huán)境下保持24-72h。低溫老化方法將處于環(huán)境溫度下的印制電路板放入低溫老化設(shè)備內(nèi)，接入電功率老化設(shè)備；接通電源及輸入信號(hào)，使得印制電路板處于運(yùn)行狀態(tài)，在低溫-20℃環(huán)境下保持24h。高溫老化方法將處于環(huán)境溫度下的印制電路板放入高溫老化設(shè)備內(nèi)；接入電功率老化設(shè)備；接通電源及輸入信號(hào)，使得印制電路板處于運(yùn)行狀態(tài)，在高溫60℃環(huán)境下保持24h。并將常溫老化方法、高溫老化方法和循環(huán)老化方法分別進(jìn)行說明。（六）、第10章：最后檢測增加了外觀檢測?！?0.1老化后外觀檢測，對(duì)外觀進(jìn)行再次檢查，目測，對(duì)有分層、起泡等缺陷應(yīng)予以剔除?！保ㄆ撸┑?1章：增加了標(biāo)識(shí)；“老化測試合格的產(chǎn)品，應(yīng)在產(chǎn)品上設(shè)置合格標(biāo)識(shí)；老化測試不合格的產(chǎn)品，應(yīng)在產(chǎn)品上設(shè)置不合格標(biāo)識(shí)?！保ò耍┰黾恿速Y料性附錄A，用于對(duì)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄。3、解決的主要問題標(biāo)準(zhǔn)的修訂，解決了標(biāo)齡老化的問題。三、明確標(biāo)準(zhǔn)中涉及專利的情況，對(duì)于涉及專利的標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目，應(yīng)提供全部專利所有權(quán)人的專利許可聲明和專利披露聲明本標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目不涉及專利問題。四、預(yù)期達(dá)到的社會(huì)效益、對(duì)產(chǎn)業(yè)發(fā)展的作用等情況本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)JB/T6174-1992《儀器儀表印制電路板老化工藝規(guī)范》標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)修訂。儀器儀表印制電路板老化工藝規(guī)范使印制板在一個(gè)具有溫度變化的熱老化設(shè)備內(nèi)，經(jīng)受空氣溫度的變化，通過高溫、低溫、高低溫變化以及電功率等綜合作用，暴露功能板的缺陷，如焊接不良、元器件參數(shù)不匹配、溫漂以及調(diào)試過程中造成的故障，以便予以剔除，對(duì)無缺陷的功能板起到穩(wěn)定參數(shù)的作用。尤其在飛機(jī)、汽車、船舶、家電等諸多精密電子儀器儀表制造領(lǐng)域中已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用，特別是航空和宇航領(lǐng)域中更有它的特殊地位。本標(biāo)準(zhǔn)的頒布和實(shí)施能更好地規(guī)范儀器儀表功能電路板老化的技術(shù)要求，規(guī)范該產(chǎn)品的行業(yè)發(fā)展，從而提高整個(gè)行業(yè)的質(zhì)量，提升我國在智能儀器儀表、工業(yè)控制領(lǐng)域的國際競爭力。五、采用國際標(biāo)準(zhǔn)和國外先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)情況，與國際、國外同類標(biāo)準(zhǔn)水平的對(duì)比情況，國內(nèi)外關(guān)鍵指標(biāo)對(duì)比分析或與測試的國外樣品、樣機(jī)的相關(guān)數(shù)據(jù)對(duì)比情況本標(biāo)準(zhǔn)沒有采用國際標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)制定過程中未查到同類國際、國外標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)制定過程中未測試國外的樣品、樣機(jī)。本標(biāo)準(zhǔn)水平為國內(nèi)先進(jìn)水平。六、在標(biāo)準(zhǔn)體系中的位置，與現(xiàn)行相關(guān)法律、法規(guī)、規(guī)章及標(biāo)準(zhǔn)，特別是強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)