磁盤檢測(cè)之讀懂SMART

本文格式為Word版，下載可任意編輯——磁盤檢測(cè)之讀懂SMART磁盤檢測(cè)之讀懂S.M.A.R.T

S.M.A.R.T.（自監(jiān)測(cè)、分析、報(bào)告技術(shù)）：這是現(xiàn)在硬盤普遍采用的數(shù)據(jù)安全技術(shù)，在硬盤工作的時(shí)候監(jiān)測(cè)系統(tǒng)對(duì)電機(jī)、電路、磁盤、磁頭的狀態(tài)進(jìn)行分析，當(dāng)有異常發(fā)生的時(shí)候就會(huì)發(fā)出警告，有的還會(huì)自動(dòng)降速并備份數(shù)據(jù)。

早在上個(gè)世紀(jì)九十年代，人們就意識(shí)到數(shù)據(jù)的寶貴性勝于硬盤自身價(jià)值，渴望有種技術(shù)能對(duì)硬盤故障進(jìn)行預(yù)計(jì)并實(shí)現(xiàn)相對(duì)安全的數(shù)據(jù)保護(hù)，因此S.M.A.R.T技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生。對(duì)于不少用戶，特別是商業(yè)用戶而言，一次普通的硬盤故障便足以造成災(zāi)難性后果，所以時(shí)至今日，S.M.A.R.T技術(shù)仍為我們所用。

S.M.A.R.T信息保存在硬盤的系統(tǒng)保存區(qū)（servicearea）也叫固件區(qū)內(nèi)，這個(gè)區(qū)域一般位于硬盤0物理柱面的最前面幾十個(gè)物理磁道，由廠商寫入相關(guān)內(nèi)部管理程序。系統(tǒng)保存區(qū)除了S.M.A.R.T信息表外還包括低級(jí)格式化程序、加密解密程序、自監(jiān)控程序、自動(dòng)修復(fù)程序等。監(jiān)測(cè)軟件通過一個(gè)名為“SMARTRETURNSTATUS〞的命令(命令代碼為：B0h)對(duì)S.M.A.R.T信息進(jìn)行讀取，且不允許最終用戶對(duì)信息進(jìn)行修改。

在硬盤以及操作系統(tǒng)都支持S.M.A.R.T.技術(shù)并且該技術(shù)默認(rèn)開啟的的狀況下，在不良狀態(tài)出現(xiàn)時(shí)S.M.A.R.T.技術(shù)能夠在屏幕上顯示英文警告信息：“WARNING：IMMEDIATLYBACKUPYOURDATAANDREPLACEYOURHARDDISKDRIVE，AFAILUREMAYBEIMMINENT．〞（警告：立刻備份你的數(shù)據(jù)同時(shí)更換硬盤驅(qū)動(dòng)器，可能有錯(cuò)誤出現(xiàn)。）

SMART數(shù)據(jù)分析：

ID英文名readerrorrateThroughputPerformanceSpin-UpTimeStart/StopCount中文譯名最優(yōu)底層數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤率說(shuō)明存儲(chǔ)器從一個(gè)硬盤表面讀取數(shù)據(jù)時(shí)發(fā)生的錯(cuò)誤率。原始值由于不同廠商的不同計(jì)算方法而有所不同，其十進(jìn)制值往往無(wú)意義的。一般來(lái)說(shuō)有數(shù)值意味著磁頭已出現(xiàn)問題了。讀寫通量性能尋常是硬盤讀寫性能的測(cè)量值，假使其值有變動(dòng)，有可能硬盤出現(xiàn)了問題。盤片由靜止啟動(dòng)加速到穩(wěn)定正常運(yùn)行速度的平均所需時(shí)間。一個(gè)盤片啟動(dòng)關(guān)閉周期的統(tǒng)計(jì)值，只有硬盤從完全斷電中啟動(dòng)或從睡眠模式恢復(fù)，盤片主軸電機(jī)被啟動(dòng)時(shí)才會(huì)記一次數(shù)。記錄由于損壞而被映射到無(wú)損的后備區(qū)的扇區(qū)計(jì)數(shù)。當(dāng)硬盤出現(xiàn)損壞扇區(qū)時(shí)，可以通過將其物理空間指向到特定的無(wú)損0x05ReallocatedSectorCount區(qū)域進(jìn)行重映射修復(fù)，從而出現(xiàn)壞扇區(qū)的硬盤仍可使用。但重定位扇區(qū)計(jì)數(shù)當(dāng)高過一定數(shù)值后，后備區(qū)消耗殆盡而無(wú)法再重映射修復(fù)時(shí)，這些壞扇區(qū)就會(huì)顯現(xiàn)出來(lái)且無(wú)法自行修復(fù)。除外由于要要求磁頭讀取這些壞扇區(qū)時(shí)專門再移動(dòng)到后備區(qū)讀寫數(shù)據(jù)，對(duì)硬盤讀寫性能也有影響。0x06ReadChannelMargin信道讀取余量讀取數(shù)據(jù)時(shí)信道可用的余量，該屬性沒制定任何功用。（該屬性是特定制造商才有的）磁頭尋覓磁道由于機(jī)械問題0x07SeekErrorRate尋道錯(cuò)誤率而出錯(cuò)幾率，有多種原因可能引致出錯(cuò)，如：磁頭伺服構(gòu)件，盤體過熱，或損壞。于不同廠商的不同計(jì)算方法而有所不同，其十進(jìn)制值往往無(wú)意義的。0x010x020x03盤片啟動(dòng)時(shí)間電機(jī)起停次計(jì)數(shù)0x040x08SeekTimePerformancePower-OnHoursSpinRetryCountRecalibrationRetriesPowerCycleCountSoftReadErrorRateSATADownshiftErrorCount尋道性能每次尋道時(shí)間的平均值，該值短期內(nèi)迅速減少，有可能硬盤出現(xiàn)了問題。硬盤加電時(shí)間硬盤自出廠以來(lái)加電啟動(dòng)的統(tǒng)計(jì)時(shí)間，單位為小時(shí)（或根據(jù)制造商設(shè)定為分鐘或秒），一般用戶以該值判定硬盤是否被使用過。0x09電機(jī)起轉(zhuǎn)重試主軸電機(jī)在一次加速至正常速度失敗后嘗試重新繼續(xù)加速到正常運(yùn)行速度的統(tǒng)計(jì)數(shù)，該值改變時(shí)意味著硬盤的機(jī)械部件已經(jīng)出現(xiàn)問題了。0x0a磁頭校準(zhǔn)重試0x0b磁頭在一次運(yùn)行失敗時(shí)嘗試校準(zhǔn)至正常狀態(tài)的統(tǒng)計(jì)數(shù)，該值改變時(shí)意味著硬盤的機(jī)械部件已經(jīng)出現(xiàn)問題了。0x0c0x0d設(shè)備開關(guān)計(jì)數(shù)該屬性表示硬盤電源充分開/關(guān)循環(huán)計(jì)數(shù)。軟件讀取錯(cuò)誤率操作系統(tǒng)讀取數(shù)據(jù)時(shí)的出錯(cuò)率。0xb7SATA降級(jí)運(yùn)行計(jì)數(shù)WesternDigital和Samsung特有屬性，記錄由于兼容問題導(dǎo)致降低SATA傳輸級(jí)別運(yùn)行的計(jì)數(shù)。HP專有S.M.A.R.T.（SMARTIV）技術(shù)的一個(gè)特有屬性，記錄硬盤從盤片讀取數(shù)據(jù)到高速緩存后再傳輸?shù)街鳈C(jī)時(shí)數(shù)據(jù)校驗(yàn)出錯(cuò)的次數(shù)。0xb8End-to-EnderrorHeadStabilityInduced終端校驗(yàn)出錯(cuò)0xb9磁頭穩(wěn)定性WesternDigital特有屬性0xbaOp-VibrationDetectionReportedWesternDigital特有屬性報(bào)告不可改正錯(cuò)誤硬件ECC無(wú)法恢復(fù)的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。0xbbUncorrectableErrorsCommandTimeout通信超時(shí)由于無(wú)法連接至硬盤而終止操作的統(tǒng)計(jì)數(shù)，一般為0，假使遠(yuǎn)超過0，則可能電源問題，數(shù)據(jù)線接口氧化或更嚴(yán)重的問題。0xbc0xbdHighFlyWrites磁頭寫入高度硬盤進(jìn)行寫入時(shí)對(duì)磁頭高度進(jìn)行監(jiān)控以提供額外的保障。當(dāng)磁頭處于不正常高度進(jìn)行寫入時(shí)，寫入操作會(huì)被終止，原有數(shù)據(jù)重寫入或者將該扇區(qū)重映射到安全區(qū)域。該屬性是統(tǒng)計(jì)值。0xbeAirflowTemperatureG-senseErrorRatePower-offRetractCount氣流溫度電源關(guān)閉磁頭收回計(jì)數(shù)WesternDigital特有屬性，計(jì)量硬盤內(nèi)氣流溫度，和檢測(cè)項(xiàng)0xc2相像。計(jì)量可能對(duì)硬盤做成損害的沖擊次數(shù)。0xbf加速度錯(cuò)誤率0xc0計(jì)量磁頭在沒有加電時(shí)不移進(jìn)硬盤的值。0xc10xc2LoadCycleCountTemperatureHardware磁頭升降計(jì)數(shù)溫度計(jì)量磁頭在加電時(shí)移進(jìn)/移出硬盤周期的值。計(jì)量硬盤的溫度0xc3ECCRecoveredReallocationEventCountCurrentPendingSectorCount硬件ECC恢復(fù)（特定原始值）0xc4重定位事件計(jì)數(shù)記錄已重映射扇區(qū)和可能重映射扇區(qū)的事件計(jì)數(shù)。0xc5等候重定的扇區(qū)計(jì)數(shù)記錄了不穩(wěn)定的扇區(qū)的數(shù)量。0xc6UncorrectableSectorCountUltraDMA無(wú)法校正的扇區(qū)計(jì)數(shù)記錄硬盤通訊時(shí)發(fā)生的CRC錯(cuò)誤。記錄確定出錯(cuò)的扇區(qū)數(shù)量。0xc7CRCErrorCountMulti-ZoneErrorRateWriteErrorRateSoftReadErrorRateDataAddressMarkerrorsRunOutCancelSoftECCCorrectionThermalAsperityRateFlyingHeightSpinHighCurrentSpinBuzzOfflineSeekPerformance？VibrationDuringWriteUltraDMA通訊CRC錯(cuò)誤0xc80xc80xc9多區(qū)域錯(cuò)誤率寫入一個(gè)區(qū)域時(shí)發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的計(jì)數(shù)。寫入錯(cuò)誤率Fujitsu的特別屬性，寫入一個(gè)區(qū)域時(shí)發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的計(jì)數(shù)。記錄脫軌錯(cuò)誤。規(guī)律讀取錯(cuò)誤率0xca數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯(cuò)誤熱嘈率記錄數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯(cuò)誤（或制造商特定的計(jì)數(shù)）0xcb0xcc用完取消ECC錯(cuò)誤計(jì)數(shù)記錄由軟件ECC更正的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。規(guī)律ECC改正0xcd記錄高溫導(dǎo)致的出錯(cuò)記數(shù)。記錄磁頭的飛行高度。飛得太低會(huì)增加磁頭撞毀的機(jī)遇，飛得太高增加讀寫錯(cuò)誤的機(jī)遇。記錄主軸電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)浪涌電流的次數(shù)。記錄由于電力不足而啟動(dòng)主軸電機(jī)的蜂鳴聲次數(shù)。在其內(nèi)部測(cè)試硬盤的尋址能力表現(xiàn)。（沒定性，出現(xiàn)在Maxtor6B200M0200GB和Maxtor2R015H115GB的硬盤中）記錄寫入操作的震動(dòng)數(shù)。0xce0xcf0xd00xd10xd20xd3飛行高度主軸電機(jī)浪涌電流計(jì)數(shù)離線尋址效能？寫操作震動(dòng)0xd40xdc0xdd0xde0xdf0xe00xe10xe2ShockDuringWriteDiskShiftG-SenseErrorRateLoadedHoursLoad/UnloadRetryCountLoadFrictionLoad/UnloadCycleCountLoad'In'-timeTorque寫操作沖擊盤體偏移加速計(jì)出錯(cuò)率數(shù)據(jù)加載時(shí)間加載/卸載重試次數(shù)負(fù)載摩擦加載/卸載循環(huán)計(jì)數(shù)磁頭記錄寫入操作時(shí)的沖擊數(shù)。記錄盤體由于沖擊或溫度導(dǎo)致偏離主軸的相對(duì)距離。從外部誘發(fā)的沖擊和振動(dòng)產(chǎn)生的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。數(shù)據(jù)讀取時(shí)所花費(fèi)的時(shí)間。（磁頭移動(dòng)時(shí)間）磁頭改變位置時(shí)所需時(shí)間。讀寫時(shí)由于機(jī)械摩擦做成的阻力。總負(fù)載周期計(jì)數(shù)。磁頭加載所需總時(shí)間（不包括在停泊區(qū)的花費(fèi)）。0xe3AmplificationCount扭矩放大計(jì)數(shù)嘗試來(lái)補(bǔ)償盤片的速度變化的計(jì)數(shù)。0xe4Power-OffRetractCycleGMRHeadAmplitudeTemperatureEnduranceRemainingAvailableReservedSpacePower-OnHoursMediaWearoutIndicatorHeadFlyingHoursTransferErrorRateTotalLBAsWrittenTotalLBAsReadReadErrorRetryRateFreeFallProtection斷電縮回周期切斷電源后電磁樞自動(dòng)縮回的時(shí)間計(jì)數(shù)。0xe60xe70xe8GMR磁頭振幅硬盤溫度耐久性剩余磁頭振幅計(jì)數(shù)（磁頭反復(fù)正反向運(yùn)動(dòng)距離）。記錄硬盤溫度。磁盤可使用周期與設(shè)計(jì)可使用周期的百分比。0xe8可用保存空間Intel固態(tài)硬盤報(bào)告的可提供的預(yù)留空間占作為一支全新的固態(tài)硬盤預(yù)留空間的百分比。0xe9加電時(shí)間處于開機(jī)狀態(tài)的小時(shí)數(shù)。Intel固態(tài)硬盤報(bào)告的NAND刷寫壽命，全新時(shí)值為100，最0xe9介質(zhì)耗損指標(biāo)低值為1，其跌幅隨NAND的擦除周期增加而在0到最大額定周期范圍減少。0xf00xf00xf10xf20xfa0xfe磁頭飛行時(shí)間磁頭處于定位中的時(shí)間。傳輸錯(cuò)誤率在數(shù)據(jù)傳輸時(shí)連接被重置的次數(shù)計(jì)數(shù)。（Fujitsu特有屬性）LBA寫入總數(shù)LBA讀取總數(shù)讀取錯(cuò)誤重試率自由跌落保護(hù)LBA寫入總數(shù)計(jì)數(shù)。LBA讀取總數(shù)計(jì)數(shù)，部分S.M.A.R.T.檢測(cè)程序會(huì)把原始值顯示為負(fù)數(shù)，這是由于該原始值為48位，而不是32位的。從磁盤讀取時(shí)的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。對(duì)“自由落體事件〞檢測(cè)計(jì)數(shù)。說(shuō)明表示數(shù)值越高越好表示數(shù)值越低越好重要項(xiàng)：紅色底當(dāng)超出安全范圍會(huì)對(duì)性能嚴(yán)重影響例如用任意軟件查看硬盤的SMART結(jié)果如下：

S.M.A.R.T檢測(cè)參數(shù)分為7列，分別是ID檢測(cè)代碼、屬性描述、屬性值、最大錯(cuò)誤值、閾值、實(shí)際值和屬性狀態(tài)。

ID檢測(cè)代碼（ID）

ID檢測(cè)代碼不是唯一的，廠商可以根據(jù)需要，使用不同的ID代碼或根據(jù)檢測(cè)參數(shù)的多少增減ID代碼的數(shù)量。上表已經(jīng)詳細(xì)介紹了ID檢測(cè)代碼及其說(shuō)明。

屬性描述（Name）

屬性描述即檢測(cè)項(xiàng)目名稱。可由廠商自定義增減，由于ATA標(biāo)準(zhǔn)不斷更新，有時(shí)候同一品牌的不同型號(hào)產(chǎn)品也會(huì)有所不同。但必需確保S.M.A.R.T規(guī)定的幾個(gè)主要檢測(cè)項(xiàng)目（雖然不同廠商對(duì)檢測(cè)項(xiàng)目都有特定的命名規(guī)則，但這些監(jiān)測(cè)項(xiàng)目的實(shí)質(zhì)其實(shí)是一樣的）。

閾值（Tresh）

是由硬盤廠商指定的可靠的屬性值，通過特定公式計(jì)算而得。假使有一個(gè)屬性值低于相應(yīng)的閾值，就意味著硬盤將變得不可靠，保存在硬盤里的數(shù)據(jù)也很簡(jiǎn)單丟失?？煽繉傩灾档慕M成和大小對(duì)不同硬盤來(lái)說(shuō)是有差異的。這里需要注意的是，ATA標(biāo)準(zhǔn)中只規(guī)定了一些S.M.A.R.T參數(shù)，它沒有規(guī)定具體的數(shù)值，“Threshold〞的數(shù)值是廠商根據(jù)自己產(chǎn)品特性而確定的。因此，用廠商自己提供的檢測(cè)軟件往往會(huì)跟

Windows下的檢測(cè)軟件（例如AIDA32）的檢測(cè)結(jié)果有較大出入。這里，推薦以廠商軟件的檢測(cè)結(jié)果為標(biāo)準(zhǔn)，由于Windows環(huán)境下，系統(tǒng)要求硬盤的啟動(dòng)程序比DOS下多得多，這可能導(dǎo)致硬盤S.M.A.R.T值比DOS環(huán)境下檢測(cè)的波動(dòng)更大。

屬性值（VAL）

屬性值是指硬盤出廠時(shí)預(yù)設(shè)的最大正常值，一般范圍為1～253。尋常，最大的屬性值等于100（適用于IBM、昆騰、富士通）或253（適用于三星）。當(dāng)然，也有例外的時(shí)候，譬如由西部數(shù)據(jù)公司生產(chǎn)的部分型號(hào)硬盤，就用了兩個(gè)不同的屬性值，最初生產(chǎn)時(shí)屬性值設(shè)為200，但后來(lái)生產(chǎn)的硬盤屬性值又改為100。

最大出錯(cuò)值（Wrst）

最大出錯(cuò)值是硬盤運(yùn)行中曾出現(xiàn)過的最大的非正常值。它是對(duì)硬盤累計(jì)運(yùn)行的計(jì)算值，根據(jù)運(yùn)行周期，該數(shù)值會(huì)不斷地刷新，并且會(huì)十分接近閾值。S.M.A.R.T分析和判定硬盤的狀態(tài)是否正常，就是根據(jù)這個(gè)數(shù)值和閾值的比較結(jié)果而定。新硬盤開始時(shí)有最大的屬性值，但隨著日常使用或出現(xiàn)錯(cuò)誤，該值會(huì)不斷減小。因此，較大的屬性值意味著硬盤質(zhì)量較好而且可靠性較高，而較小的屬性值則意味著故障發(fā)生的可能性增大。

實(shí)際值（Raw）

是硬盤各檢測(cè)項(xiàng)目運(yùn)行中的實(shí)際數(shù)值，好多項(xiàng)目是累計(jì)值。例如：上圖中的PowerCycleCount（啟停次數(shù)），累計(jì)的實(shí)際值是3201，即該硬盤從開始到現(xiàn)在累計(jì)加電啟停3201次。

屬性狀態(tài)（Health）

這是S.M.A.R.T針對(duì)前面的各項(xiàng)屬性值進(jìn)行比較分析后，提供的硬盤各屬性目前的狀態(tài)，也是我們直觀判斷硬盤“健康〞狀態(tài)的重要信息。根據(jù)S.M.A.R.T的規(guī)定，這種狀態(tài)一般有正常、警告和報(bào)告故障或錯(cuò)誤等3種狀態(tài)。S.M.A.R.T判定出這3個(gè)狀態(tài)與S.M.A.R.T的Pre-failure/advisoryBIT（預(yù)知錯(cuò)誤/發(fā)現(xiàn)位）參數(shù)的賦值密切相關(guān)。

當(dāng)Pre-failure/advisoryBIT=0，并且可靠屬性值遠(yuǎn)大于閾值的狀況下，為正常提醒“OK〞標(biāo)志。當(dāng)Pre-failure/advisoryBITt=0，并且可靠屬性值大于閾值但接近閾值臨界值時(shí)，為警告提醒“！〞標(biāo)志；當(dāng)Pre-failure/advisoryBITt=1，并且可靠屬性值小于閾值時(shí)，為報(bào)告故障或錯(cuò)誤提醒“?。?！〞標(biāo)志。

在圖中，我們發(fā)現(xiàn)出現(xiàn)“OK〞標(biāo)志的正常狀態(tài)下有“值正常〞（ValueisNormal）和“總是略過〞（AlwaysPassing）兩個(gè)狀態(tài)說(shuō)明。它們的區(qū)別是：“值正常〞說(shuō)明此項(xiàng)S.M.A.R.T值是正常的，硬盤沒有故障；“永遠(yuǎn)略過〞則說(shuō)明此項(xiàng)只是某參數(shù)的記錄，沒有合格與不合格的標(biāo)準(zhǔn)，如“Power-ontime〞，這個(gè)參數(shù)只是記錄了硬盤已經(jīng)加電工作的時(shí)間，這個(gè)參數(shù)應(yīng)當(dāng)永遠(yuǎn)合格，它不用來(lái)衡量硬盤的性能，因此顯示為“OK:ValueisNormal〞。

下面我們以ID為“04〞的Numberofspin-uptimes（加電次數(shù)）檢測(cè)參數(shù)為例，完整地來(lái)理解這7列參數(shù)的意義：從圖中我們看到此參數(shù)規(guī)定的屬性正常值（VAL）為“100〞，這個(gè)正常值是通過計(jì)算公式：“100-硬盤正常使用壽命期間的加電次數(shù)/1024〞而給出的。而最大出錯(cuò)值是硬盤運(yùn)行的累計(jì)計(jì)算值。例如假使是新硬盤，則加電次數(shù)為0，因此為100-0/1024=100，最大出錯(cuò)值=屬性正常值。隨著加電次數(shù)的增加，該最大出錯(cuò)值不斷變化。廠商規(guī)定的閾值為20，即當(dāng)硬盤的開關(guān)電次數(shù)達(dá)到81920次時(shí)（100-81920/1024=20），

最大出錯(cuò)值=閾值，系統(tǒng)就會(huì)提醒用戶備份數(shù)據(jù)。因此，加電次數(shù)在81920次范圍之內(nèi)，并且最大出錯(cuò)值始終大于閾值20的狀態(tài)下，均為正常。圖中的加電次數(shù)（Raw實(shí)際值）為3381次，因此最大出錯(cuò)值近似為100，狀態(tài)顯示為“OK:ValueisNormal（值正常）〞。需要特別注意的是：每一個(gè)參數(shù)所給出的值都是經(jīng)過一些特定的計(jì)算公式而給出的。作為用戶，只要觀測(cè)“Wrst〞和“Tresh〞值的關(guān)系，并注意狀態(tài)提醒屬性狀態(tài)信息即可大致了解硬盤的健康狀況。

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