【移動(dòng)應(yīng)用開(kāi)發(fā)技術(shù)】MT6169 PVT時(shí)間掩碼測(cè)試中的TPC事件定時(shí)和修改MIPI TX資料介紹

【移動(dòng)應(yīng)用開(kāi)發(fā)技術(shù)】MT6169PVT時(shí)間掩碼測(cè)試中的TPC事件定時(shí)和修改MIPITX資料介紹

ModifyMIPITX&TPCeventTimingforPVTTimemasktest--MT6169

原資料介紹：

1.調(diào)整Timing的時(shí)候，請(qǐng)調(diào)到剛好的位置不用留太多margin，太接近boundary有些CMW500TXthroughput會(huì)fail，ex:PAontime=9us時(shí)timemask會(huì)fail，PAontime=8usPass，那就用8us.

2.TDDband可以先試著把ASM往boundary調(diào)。(page.7)

3.PAon的Timing應(yīng)該要在TPC之前!(Page.6)

4.因CMW500解調(diào)能力較差，請(qǐng)務(wù)必試過(guò)CMW500的TXthroughput.

5.BPI的Timing請(qǐng)依照PT1=>PT2=>TPC(4us)的時(shí)間順序。

資料包括以下內(nèi)容：

/thread-460163-1-1.html

Step1:確認(rèn)PAonevent是否在最低檔位

Step2:依照FDD/TDDband調(diào)整eventtiming

Step3:Check

Otherquestions

4.Otherquestions

1）目前Fail都是在Beforeoff的地方，那么為什么將TX的時(shí)間設(shè)置為提前打開(kāi)呢？

在LTEspec中定義的timemaskforPUSCH/PUCCH，ramping時(shí)間其實(shí)是壓到TXdata的前面20us，如果我們完全依據(jù)spec設(shè)定，TXdata就會(huì)在每次開(kāi)window時(shí)遭到suffer，導(dǎo)致ULthroughput變差(某些解調(diào)能力較差的儀器就是會(huì)

因?yàn)榈谝粋€(gè)TXsymbol的data遭到suffer，就解不出來(lái)而導(dǎo)致testfail)，可以通過(guò)觀察Tx的第一個(gè)symbolEVM是否變差來(lái)排查，所以目前的做法都是在不被儀器檢測(cè)出違反timemask的前提下，盡早將組件提早開(kāi)啟。

2）哪些參數(shù)都可以改善Generalon/off指標(biāo)呢？

PAON、TPCON及開(kāi)關(guān)的打開(kāi)時(shí)間對(duì)于timemask都會(huì)有影響，由于不同的PA、matching的不同及走線不同，時(shí)間上稍微有差異性，后期可能要依據(jù)不同的手機(jī)tuning組件的開(kāi)啟時(shí)間，目