高二數(shù)學(xué)考試的部分知識(shí)點(diǎn)

高二數(shù)學(xué)考試的部分知識(shí)點(diǎn)

1.不等式證明的依據(jù)

(2)不等式的性質(zhì)(略)

(3)重要不等式：①|(zhì)a|≥0;a2≥0;(a-b)2≥0(a、b∈R)

②a2+b2≥2ab(a、b∈R，當(dāng)且僅當(dāng)a=b時(shí)取“=”號(hào))

2.不等式的證明（方法）

(1)比擬法：要證明ab(a0(a-b0)，這種證明不等式的方法叫做比擬法.

用比擬法證明不等式的步驟是：作差——變形——推斷符號(hào).

(2)綜合法：從已知條件動(dòng)身，依據(jù)不等式的性質(zhì)和已證明過(guò)的不等式，推導(dǎo)出所要證明的不等式成立，這種證明不等式的方法叫做綜合法.

(3)分析法：從欲證的不等式動(dòng)身，逐步分析使這不等式成立的充分條件，直到所需條件已推斷為正確時(shí)，從而斷定原不等式成立，這種證明不等式的方法叫做分析法.

證明不等式除以上三種根本方法外，還有反證法、數(shù)學(xué)歸納法等.

高二數(shù)學(xué)考試的局部學(xué)問(wèn)點(diǎn)2

1.定義法：推斷B是A的條件，實(shí)際上就是推斷B=A或者A=B是否成立，只要把題目中所給的條件按規(guī)律關(guān)系畫(huà)出箭頭示意圖，再利用定義推斷即可。

2.轉(zhuǎn)換法：當(dāng)所給命題的充要條件不易推斷時(shí)，可對(duì)命題進(jìn)展等價(jià)裝換，例如改用其逆否命題進(jìn)展推斷。

3.集合法

在命題的條件和結(jié)論間的關(guān)系推斷有困難時(shí)，可從集合的角度考慮，記條件p、q對(duì)應(yīng)的集合分別為A、B，則：

若A?B，則p是q的充分條件。

若A?B，則p是q的必要條件。

若A=B，則p是q的充要條件。

若A?B，且B?A，則p是q的既不充分也不必要條件。

高二數(shù)學(xué)考試的局部學(xué)問(wèn)點(diǎn)3

(1)系統(tǒng)抽樣(等距抽樣或機(jī)械抽樣)：

把總體的單位進(jìn)展排序，再計(jì)算出抽樣距離，然后根據(jù)這一固定的抽樣距離抽取樣本。第一個(gè)樣本采納簡(jiǎn)潔隨機(jī)抽樣的方法抽取。K(抽樣距離)=N(總體規(guī)模)/n(樣本規(guī)模)

前提條件：總體中個(gè)體的排列對(duì)于討論的變量來(lái)說(shuō)，應(yīng)是隨機(jī)的，即不存在某種與討論變量相關(guān)的規(guī)章分布?？梢栽谡{(diào)查允許的條件下，從不同的樣本開(kāi)頭抽樣，比照幾次樣本的特點(diǎn)。假如有明顯差異，說(shuō)明樣本在總體中的分布承某種循環(huán)性規(guī)律，且這種循環(huán)和抽樣距離重合。

(2)系統(tǒng)抽樣，即等距抽樣是實(shí)際中最為常用的抽樣方法之一。由于它對(duì)抽樣框的要求較低，實(shí)施也比擬簡(jiǎn)潔。更為重要的是，假如有某種與調(diào)查指標(biāo)相關(guān)