品管七大手法-數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法

品管七大手法數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法

數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法QC舊七種工具排列圖，因果圖，散布圖，直方圖，控制圖，檢查表與分層法QC新七種工具(略)關(guān)聯(lián)圖，KJ法，系統(tǒng)圖法，矩陣圖法，矩陣數(shù)據(jù)解析法，過程決策程序圖法（PDPC)和箭頭圖法。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-排列圖排列圖的定義： 根據(jù)所收集之?dāng)?shù)據(jù)，按不良原因、不良狀況、不良發(fā)生位等到不同區(qū)分標(biāo)準(zhǔn)，以尋求占最大比率之原因、狀況或位置的一種圖形。排列圖又稱為主次因素分析圖或帕拉圖（巴雷特、帕累特）數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-排列圖排列圖的來由：

意大利社會經(jīng)濟(jì)學(xué)家帕雷特在1887年研究資本主義的意大利社會財富分布狀況時，發(fā)現(xiàn)少數(shù)人占有絕大多數(shù)的財富，而絕大多數(shù)人卻只占有少量財富處于貧困狀態(tài)，從而得出“關(guān)鍵的少數(shù)和次要的多數(shù)”的社會財富分布規(guī)律。他還把這一規(guī)律用坐標(biāo)圖描繪出來，得到一條累計的百分比曲線。為紀(jì)念他，后人把這一條曲線稱為帕累特曲線。后來，帕累特原理被用到質(zhì)量管理活動中，成為七大手法之一，現(xiàn)在這一理論被升化為80/20原則。基本上，任何事物都遵循這一規(guī)律，如大多數(shù)廢品是由少數(shù)人造成的，大部分設(shè)備故障是由少數(shù)幾個原因引起的，企業(yè)80％的利潤來自20％的顧客。排列圖是由兩個縱坐標(biāo)，一個橫坐標(biāo)，若干個按高低順序依次排列的長方形和一條累計百分比折線所組成的，為尋找主要問題或主要原因所使用的圖。例1：1002003004000500600100%80%60%40%20%0%296182624030163644.71%72.21%81.57%87.61%92.15%94.56%100%模塊不良原因分析壞項累積百分比（％)壞品數(shù)量PINTIA跑位LD跑位LD線性差金屬件不良功率變化大其他管芯不良數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-排列圖法數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-排列圖

模塊不良統(tǒng)計表：排列圖的優(yōu)點(diǎn)排列圖有以下優(yōu)點(diǎn)：直觀，明了－－全世界質(zhì)量管理界通用用數(shù)據(jù)說明問題－－說服力強(qiáng)用途廣泛：質(zhì)量管理/人員管理/治安管理數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-排列圖排列圖的作圖步驟收集數(shù)據(jù)(某時間)作缺陷項目統(tǒng)計表繪制排列圖畫橫坐標(biāo)(標(biāo)出項目的等分刻度)畫左縱坐標(biāo)(表示頻數(shù))畫直方圖形(按每項的頻數(shù)畫)畫右縱坐標(biāo)(表示累計百分比)定點(diǎn)表數(shù)，寫字?jǐn)?shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-排列圖數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-因果圖何謂因果圖：

對于結(jié)果（特性）與原因（要因）間或所期望之效果（特性）與對策的關(guān)系，以箭頭連接，詳細(xì)分析原因或?qū)Σ叩囊环N圖形稱為因果圖。 因果圖為日本品管權(quán)威學(xué)者石川馨博士于1952年所發(fā)明，故又稱為石川圖，又因其形狀似魚骨，故也可稱其為魚骨圖，或特性要因圖人法環(huán)機(jī)料主要問題數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-因果圖數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-因果圖作因果圖的原則采取由原因到結(jié)果的格式通常從‘人，機(jī)，料，法，環(huán)’這五方面找原因‘4M1E’,Man,Machine,Material,Method,Environment通常分三個層次：主干線、支干線、分支線盡可能把所有的原因全部找出來列上對少數(shù)的主要原因標(biāo)上特殊的標(biāo)志寫上繪制的日期、作者、有關(guān)說明等數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-因果圖作因果圖應(yīng)注意的事項問題(結(jié)果)應(yīng)單一、具體，表述規(guī)范最后細(xì)分出來的原因應(yīng)是具體的，以便采取措施；在尋找和分析原因時，要集思廣益，力求準(zhǔn)確和無遺漏可召開諸葛亮?xí)?，采用頭腦風(fēng)暴法層次要清，因果關(guān)系不可顛倒原因歸類正確數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-因果圖作因果圖應(yīng)注意的事項畫法按從左至右的貫例執(zhí)行－－規(guī)范化

在作因果圖前，可先從排列圖中找出主要問題，然后針對主要問題，召集相關(guān)人員進(jìn)行討論，力求盡可能找出產(chǎn)生問題的原因，通過分析，確立主要原因。因果圖在今后可不斷進(jìn)行修改，逐漸完善，反復(fù)使用。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-因果圖數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-因果圖例2：什么是直方圖？直方圖是通過對數(shù)據(jù)的加工整理，從而分析和掌握質(zhì)量數(shù)據(jù)的分布狀況和估算工序不合格率的一種方法。直方圖的作法作直方圖的三大步驟作頻數(shù)表畫直方圖進(jìn)行有關(guān)計算數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)作直方圖的步驟(例3)1.搜集數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)作直方圖的步驟計算極差(Range),上表中最大值Xmax=48;最小值Xmin=1;R＝Xmax-Xmin=48-1=47適當(dāng)分組(k)在本例中，取k=10確定組距(h)組距用字母h表示：h=R/k=47/10=4.7,Y約等于5。確定各組界限－－組的邊界值單位取最小測量單位的一半。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)作直方圖的步驟本例第一組的下限為：第一組的上限值為下界限值加上組距第二組的下界值為上界限值，第一組的上界值加上組距就是第二組上界限值，照此類推，定出各組的邊界。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)最小值－最小測量單位2=1－1/2=0.5編制頻數(shù)分布表數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)畫直方圖5101520253005.510.515.520.525.530.535.540.545.550.5TLTU頻數(shù)重量N=100X=26.6S=9.14CPk=0.85數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)直方圖的分析：作直方圖的目的是為了研究工序質(zhì)量的分布狀況，判斷工序是否處于正常狀態(tài)。因此，在畫直方圖后要進(jìn)一步對它進(jìn)行分析。對于在實踐中經(jīng)常出現(xiàn)的非標(biāo)準(zhǔn)直方圖的形狀，現(xiàn)分析如下：A圖為鋸齒形，它通常是由于分組過多或測量等原因造成的。

數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)B圖所示的直方圖旁有孤立的小島出現(xiàn)，稱為孤島形，這種直方圖通常是由于工藝條件，如人、機(jī)、料、法、環(huán)、測等條件發(fā)生突變造成的。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)C圖為偏向型，通常是由于習(xí)慣性加工、返修或剔除廢品后造成的。

數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)D圖為陡壁型，它的產(chǎn)生原因與偏向型相同。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)E圖為雙峰型，是由于將來自兩種不同生產(chǎn)條件的數(shù)據(jù)混在一起整理而造成的，若用分層法將數(shù)據(jù)預(yù)先處理后，可避免出現(xiàn)這種形狀。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram)F圖為平頂形，它可能是將來自兩種不同生產(chǎn)條件的數(shù)據(jù)混在一起造成的，此外如果生產(chǎn)條件發(fā)生緩慢變化，如夾具的磨損，跳線損耗增大，測試板電流變化，操作者疲勞等都可能造成這種形狀。什么是散布圖?散布圖也叫相關(guān)圖。它是用來研究和判斷兩個變量之間關(guān)系的圖。兩種不同的關(guān)系確定性的函數(shù)關(guān)系－－這種關(guān)系是兩個變量存在著完全確定的函數(shù)關(guān)系。如圓周長和圓的直徑D之間存在著C＝π*D的關(guān)系。非確定性的相關(guān)關(guān)系－－這種關(guān)系是非確定性的依賴或制約關(guān)系。如兒童的年齡和體重；數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-散布圖（ScatterPlot)散布圖的基本形式散布圖是由一個縱坐標(biāo)，一個橫坐標(biāo)及很多散布點(diǎn)組成；打點(diǎn)－－X為橫坐標(biāo)(自變量)，Y為縱坐標(biāo)(應(yīng)變量),把數(shù)據(jù)表中的各組對應(yīng)數(shù)據(jù)一一按坐標(biāo)位置表示出來。如果碰上兩組完全相同，則在點(diǎn)上加圈表示，三組相同，則加上雙重圈表示；從散布圖上的點(diǎn)子分布狀況，可以觀察分析出兩個變量(X,Y)之間是否有相關(guān)關(guān)系，以及關(guān)系的密切程度如何。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-散布圖（ScatterPlot)散布圖的判斷分析對照典型圖例是法－－這是最簡單的方法。把畫出的散布圖例對照就可得出兩個變量之間是否相關(guān)及屬于哪一種相關(guān)的結(jié)論。強(qiáng)正相關(guān)－X變量增加，Y變量亦隨之增加；且點(diǎn)子的分布比較密集，相關(guān)關(guān)系明顯呈直線趨向。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-散布圖（ScatterPlot)散布圖的判斷分析弱正相關(guān)－點(diǎn)子的分布比較松散，相關(guān)關(guān)系大致呈直線趨向。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-散布圖（ScatterPlot)散布圖的判斷分析強(qiáng)負(fù)相關(guān)－X變量增加，Y變量隨之減少；且點(diǎn)子的分布比較密集，相關(guān)關(guān)系明顯呈直線趨向。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-散布圖（ScatterPlot)散布圖的判斷分析弱負(fù)相關(guān)－點(diǎn)子的分布比較松散，相關(guān)關(guān)系大致呈直線趨向。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-散布圖（ScatterPlot)數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-分層法何謂分層法分層的目的是把雜亂無章和錯綜復(fù)雜的數(shù)據(jù)，按照不同的目的、性質(zhì)、來源等加以分類整理，使之系統(tǒng)化、條理化，能更確切地反映數(shù)據(jù)所代表的客觀事實，便于查明產(chǎn)品質(zhì)量波動的實質(zhì)性原因和變化規(guī)律，以便抓住主要矛盾，找到主要影響因素，從而對癥下藥，采取相應(yīng)的措施。分層的原則分層的原則是使同一層內(nèi)的數(shù)據(jù)波動盡可能小、而層與層之間的差別盡可能大。

數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-分層法為了達(dá)到目的，通常按操作者、機(jī)器設(shè)備、材料、工藝方法、測量手段、環(huán)境條件和時間等標(biāo)志對數(shù)據(jù)進(jìn)行分層。例如：*對操作者可以按產(chǎn)地、生產(chǎn)廠、成分、尺寸、批量、型號等分層。

*對操作環(huán)境可以按噪聲、清潔程度、采光、運(yùn)輸形式。*對時間可以按季、月、周、日、班次、上午、下午等來進(jìn)行分層。*對操作人員可以按男工人、女工人、老工人、新工人、不同技術(shù)等進(jìn)行分層。

數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-分層法例4：從例4中可以看出甲、乙、丙三個操作者都存在LD點(diǎn)焊跑位的情況，其中甲最為嚴(yán)重，跑位率為11％，丙最好，為2％。因此，就可以根據(jù)三位操作者不同質(zhì)量情況，采取不同的措施：（1）表揚(yáng)丙，并幫助總結(jié)經(jīng)驗，以便推廣，勉勵他再接再厲，力爭100%不跑位。（2）號召甲、乙向丙學(xué)習(xí)。（3）令甲暫停操作，認(rèn)真檢查原因，找出與丙的差距，采取有效措施。（4）對乙，讓其找出與丙的差距，邊生產(chǎn)邊采取措施，有效地降低跑位率。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-調(diào)查表調(diào)查表

調(diào)查表也叫檢查表或核對表，它是一種為了便于搜集數(shù)據(jù)而使用簡單記號并予統(tǒng)計整理，并作進(jìn)一步分析或作為核對、檢查之用而事先設(shè)計的一種表格或圖表例5：LD耦合不合格品項目調(diào)查表從表中可以看出，夾具夾緊不當(dāng)?shù)膯栴}比較突出，乙的這種問題更為嚴(yán)重。從總體上看來，甲的質(zhì)量優(yōu)于乙。數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-調(diào)查表數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-調(diào)查表常用的調(diào)查表：

常用的調(diào)查表有不良項目調(diào)查表（也叫不合格品項目調(diào)查表）、缺陷位置調(diào)查表、不良原因調(diào)查表、工序分布調(diào)查表（也叫質(zhì)量分布調(diào)查表、頻數(shù)表）、矩陣調(diào)查表。缺陷位置調(diào)查表用來調(diào)查產(chǎn)品各部位的缺陷情況。不良項目調(diào)查表用來調(diào)查發(fā)生的哪些不良項目、各自的比率；不良原因調(diào)查表可以按影響工藝過程的人、機(jī)、料、法、環(huán)、測等標(biāo)志進(jìn)行分層調(diào)查；工序分布調(diào)查表用來調(diào)查工序過程中各種質(zhì)量特性出現(xiàn)頻率的一種表格。每測一個相應(yīng)地在欄中記一個，測量完畢時，頻數(shù)的分布狀態(tài)也顯示出來了。矩陣調(diào)查表是一種多因素調(diào)查表，它把問題及其對應(yīng)的影響因素分別排成行和列，在行列交叉點(diǎn)上標(biāo)出調(diào)查到的各種缺陷、問題和數(shù)量。例6：模塊外面質(zhì)量調(diào)查矩陣表數(shù)據(jù)統(tǒng)計