• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2023-09-07 頒布
  • 2024-01-01 實施
?正版授權
GB/T 8553-2023晶體盒總規(guī)范_第1頁
GB/T 8553-2023晶體盒總規(guī)范_第2頁
GB/T 8553-2023晶體盒總規(guī)范_第3頁
免費預覽已結(jié)束,剩余13頁可下載查看

下載本文檔

免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS31140

CCSL.21

中華人民共和國國家標準

GB/T8553—2023

代替GB/T8553—1987

晶體盒總規(guī)范

Genericspecificationforenclosuresforcrystalunits

2023-09-07發(fā)布2024-01-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T8553—2023

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結(jié)構和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件代替晶體盒總規(guī)范與相比除結(jié)構調(diào)整和編輯性

GB/T8553—1987《》,GB/T8553—1987,

改動外主要技術變化如下

,:

刪除了材料的技術要求和試驗方法見年版的

a)(19873.2);

增加了封裝陶瓷封裝型式的晶體盒內(nèi)容見

b)SMD、[4.6.2.2b)、4.6.2.3.2、4.7、4.8.1.3、4.8.2.3、

表表

4.10.2.2、4.12.1.2.2、2、3];

增加了外觀涂覆層厚度要求和試驗方法見

c)、(4.3);

增加了絕緣電阻的要求見

d)(4.4);

增加了抗折強度的要求見

e)(4.7);

增加了封裝后基座氣密性的要求見

f)(4.9);

增加了環(huán)境有害物質(zhì)限量要求見第章

g)(6)。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本文件由全國頻率控制與選擇用壓電器件標準化技術委員會歸口

(SAC/TC182)。

本文件起草單位潮州三環(huán)集團股份有限公司蘇州工業(yè)園區(qū)陽晨封裝技術有限公司深圳市麥

:()、、

捷微電子科技股份有限公司

。

本文件主要起草人邱基華陳炳龍樊應縣

:、、。

本文件及所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為

:

年首次發(fā)布為

———1987GB/T8553—1987;

本次為第一次修訂

———。

GB/T8553—2023

晶體盒總規(guī)范

1范圍

本文件規(guī)定了石英晶體元件用晶體盒的術語和定義技術要求試驗方法包裝標志儲存和運輸

、、、、、。

本文件適用于石英晶體元件用晶體盒包括基座殼罩引線焊腳等部分

,、、、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

環(huán)境試驗概述和指南

GB/T2421—2020

環(huán)境試驗試驗方法編寫導則術語和定義

GB/T2422—2012

環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱試驗

GB/T2423.3—20162:Cab:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗鹽霧

GB/T2423.17—20082:Ka:

環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗溫度變化

GB/T2423.22—20122:N:

環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗密封

GB/T2423.23—20132:Q:

環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱主要用于元件的加

GB/T2423.50—20122:Cy:

速試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗引出端及整體安

GB/T2423.60—20082:U:

裝件強度

計數(shù)抽樣檢驗程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗抽樣

GB/T2828.1—20121:(AQL)

計劃

周期檢驗計數(shù)抽樣程序及表適用于對過程穩(wěn)定性的檢驗

GB/T2829—2002()

電子元器件結(jié)構陶瓷材料

GB/T5593—2015

金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量射線光譜法

GB/T16921—2005X

電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)的限量要求

GB/T26572—2011

環(huán)境試驗第部分試驗試驗和有引線器件的可焊性和耐

IEC60068-2-20:20212-20:

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標準文本僅供個人學習、研究之用,未經(jīng)授權,嚴禁復制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡傳播等,侵權必究。
  • 2. 本站所提供的標準均為PDF格式電子版文本(可閱讀打?。?,因數(shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務。
  • 3. 標準文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論