標準解讀
《GB/T 8553-2023 晶體盒總規(guī)范》是一項國家標準,旨在為晶體盒的設計、制造、測試及驗收提供一套統(tǒng)一的技術要求與指導原則。該標準適用于各種類型的晶體盒產(chǎn)品,包括但不限于石英晶體諧振器、壓電陶瓷濾波器等電子元器件所使用的封裝結(jié)構(gòu)。
根據(jù)《GB/T 8553-2023》,首先定義了晶體盒的基本術語和定義,明確了不同部件的名稱及其功能描述。接著,在材料選擇方面給出了具體指南,強調(diào)了材料應具備良好的機械強度、熱穩(wěn)定性以及化學惰性,以確保在長時間使用或惡劣環(huán)境下仍能保持性能穩(wěn)定。
此外,對于晶體盒的設計提出了詳細的要求,包括尺寸公差、表面處理工藝、密封性等方面的規(guī)定。設計時需考慮到產(chǎn)品的實際應用場景,如溫度變化范圍、振動頻率等因素對晶體盒的影響,并通過合理的結(jié)構(gòu)設計來滿足這些需求。
在制造過程中,《GB/T 8553-2023》還規(guī)定了一系列的質(zhì)量控制措施,比如原材料檢驗、生產(chǎn)過程監(jiān)控、成品檢測等環(huán)節(jié)的具體操作流程。同時,也列出了不同類型晶體盒所需進行的電氣特性測試項目及其合格標準,確保每一件出廠的產(chǎn)品都能達到預期的功能表現(xiàn)。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2023-09-07 頒布
- 2024-01-01 實施



文檔簡介
ICS31140
CCSL.21
中華人民共和國國家標準
GB/T8553—2023
代替GB/T8553—1987
晶體盒總規(guī)范
Genericspecificationforenclosuresforcrystalunits
2023-09-07發(fā)布2024-01-01實施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
國家標準化管理委員會
GB/T8553—2023
前言
本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件代替晶體盒總規(guī)范與相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性
GB/T8553—1987《》,GB/T8553—1987,
改動外主要技術變化如下
,:
刪除了材料的技術要求和試驗方法見年版的
a)(19873.2);
增加了封裝陶瓷封裝型式的晶體盒內(nèi)容見
b)SMD、[4.6.2.2b)、4.6.2.3.2、4.7、4.8.1.3、4.8.2.3、
表表
4.10.2.2、4.12.1.2.2、2、3];
增加了外觀涂覆層厚度要求和試驗方法見
c)、(4.3);
增加了絕緣電阻的要求見
d)(4.4);
增加了抗折強度的要求見
e)(4.7);
增加了封裝后基座氣密性的要求見
f)(4.9);
增加了環(huán)境有害物質(zhì)限量要求見第章
g)(6)。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任
。。
本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本文件由全國頻率控制與選擇用壓電器件標準化技術委員會歸口
(SAC/TC182)。
本文件起草單位潮州三環(huán)集團股份有限公司蘇州工業(yè)園區(qū)陽晨封裝技術有限公司深圳市麥
:()、、
捷微電子科技股份有限公司
。
本文件主要起草人邱基華陳炳龍樊應縣
:、、。
本文件及所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為
:
年首次發(fā)布為
———1987GB/T8553—1987;
本次為第一次修訂
———。
Ⅰ
GB/T8553—2023
晶體盒總規(guī)范
1范圍
本文件規(guī)定了石英晶體元件用晶體盒的術語和定義技術要求試驗方法包裝標志儲存和運輸
、、、、、。
本文件適用于石英晶體元件用晶體盒包括基座殼罩引線焊腳等部分
,、、、。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文
。,
件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于
,;,()
本文件
。
環(huán)境試驗概述和指南
GB/T2421—2020
環(huán)境試驗試驗方法編寫導則術語和定義
GB/T2422—2012
環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱試驗
GB/T2423.3—20162:Cab:
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GB/T2423.17—20082:Ka:
環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗溫度變化
GB/T2423.22—20122:N:
環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗密封
GB/T2423.23—20132:Q:
環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱主要用于元件的加
GB/T2423.50—20122:Cy:
速試驗
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗引出端及整體安
GB/T2423.60—20082:U:
裝件強度
計數(shù)抽樣檢驗程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗抽樣
GB/T2828.1—20121:(AQL)
計劃
周期檢驗計數(shù)抽樣程序及表適用于對過程穩(wěn)定性的檢驗
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環(huán)境試驗第部分試驗試驗和有引線器件的可焊性和耐
IEC60068-2-20:20212-20:
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