CT8685系列電測(cè)機(jī)培訓(xùn)教材

CT-8685系列電測(cè)機(jī)培訓(xùn)教材一．各按名稱及功能系統(tǒng)按鍵群組[Func]系統(tǒng)功能選單.[Setup]系統(tǒng)設(shè)定選單[Print]打印功能選單量測(cè)快速鍵鍵群組[File]檔案管理設(shè)定[Save]儲(chǔ)存測(cè)試設(shè)定數(shù)據(jù)文件設(shè)定[Learn]斷短路學(xué)習(xí)[Stat]列示測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料[Mode]測(cè)試模式設(shè)定[O/S]斷短路表顯示[Cond]導(dǎo)通阻抗測(cè)試編輯[R]電阻設(shè)定編輯j. [C]電容設(shè)定編輯k. [Hipot]高壓設(shè)定編輯Diode([Shift]+[R])二極管設(shè)定編輯控制按鍵(EditKey)群組文數(shù)字鍵用以輸入文數(shù)字，包含0~1,A~Z,./[BS](《)退格鍵(BackSpace)方向鍵用于光標(biāo)之移動(dòng)，包含[T[T[門(mén)卩][PgUp][PgDn]以方便資料編輯[Exit]使系統(tǒng)跳離目前狀態(tài)并回到前一狀態(tài)［Enter］確認(rèn)鍵5.［TEST］開(kāi)始量測(cè)鍵6?操作輔助鍵(SoftKey)群組S1~S6位于LCD右側(cè)，作為輔助操作/設(shè)定用7.［Reset］系統(tǒng)重置鍵，相當(dāng)于暖開(kāi)機(jī)(WarmStart)二.按鍵操作功能設(shè)定與分析模式包含系統(tǒng)主功能［Func］、系統(tǒng)設(shè)定［Setup］與打印功能［Print］.系統(tǒng)主功能(Function)提供系統(tǒng)之主要功能選單，首先按下［Func］在以⑴或［J］鍵選擇所需項(xiàng)目，按［Enter］即可進(jìn)入選擇項(xiàng)目功能，可按［Exit］退回上一畫(huà)面.系統(tǒng)自我測(cè)試本功能可設(shè)定此一機(jī)臺(tái)是否于開(kāi)機(jī)后會(huì)直接執(zhí)行自我測(cè)試的功能.首先按［Func］，再以［f］或［J］選定本項(xiàng)目后按［Enter］，此時(shí)系統(tǒng)則會(huì)執(zhí)行自我測(cè)試的功能，可按［Exit］跳離.設(shè)定系統(tǒng)時(shí)間本功能可調(diào)整系統(tǒng)的年/月/日/時(shí)/分/秒，按下［Func］，請(qǐng)以［f］或［J］選擇至本項(xiàng)目并按下［Enter］，請(qǐng)分別輸入正確日期與時(shí)間，輸入完畢請(qǐng)按S1［設(shè)定］儲(chǔ)存，可按［Exit］跳離.時(shí)間為24小時(shí)制。更改系統(tǒng)密碼本測(cè)試機(jī)提供按鍵保護(hù)，以避免資料被任意修改。首先按下［Func］，請(qǐng)以［f］或［；］選擇至本項(xiàng)目并按下［Enter］，請(qǐng)輸人原密碼并按下［Enter］，請(qǐng)使用文數(shù)字鍵鍵入新密碼并按［Enter］且牢記此密碼，請(qǐng)?jiān)俅屋斎胄旅艽a，確認(rèn)新密碼并按［Enter］，此時(shí)屏幕上會(huì)顯示｛設(shè)定成功｝，新密碼設(shè)定成功會(huì)自動(dòng)跳回功能選單中，若要修改密碼，請(qǐng)重復(fù)以上之設(shè)定步驟.設(shè)定屏幕明暗本功能提供LCD畫(huà)面亮度的控制，值愈大亮度愈亮，共分為0~10階段，默認(rèn)值為|5|，首先按下［Func］，再以［f］或［J］選擇至本項(xiàng)目并按下［Enter］，依需要按下S1［更亮］或S6［更暗］變更其亮度，并按［Enter］確認(rèn)，變更完畢后，可按［Exit］跳離。直流高壓校正直流高壓校正功能即調(diào)整Read（量測(cè)值）最近似于DC設(shè)定值。首先按下［Func］，再以⑴或［J］選擇至本項(xiàng)目并按下［Enter］，然后按S1［上升］或S2［下降］調(diào)整Read（量測(cè)值）最近似于DC設(shè)定值，設(shè)定完畢，請(qǐng)按S4［完成］，若欲取消設(shè)定之資料則可按S6［放棄］即可。絕緣阻抗校正功能即測(cè)試電壓設(shè)定為200V~700V量測(cè)值為無(wú)窮大。首先按下［Func］，再以［f］或［J］選擇至本項(xiàng)目并按下［Enter］，按S1［上升］或S2［下降］，設(shè)定完畢，請(qǐng)按S4［完成］若欲取消設(shè)定之資料則可按S6［放棄］即可。內(nèi)部阻抗歸零本功能可執(zhí)行機(jī)器內(nèi)部阻抗歸零之動(dòng)作。首先按下［Func］，再以［f］或［J］選擇至本項(xiàng)目并按下S1［歸零］或［Enter］，按下［Enter］即可執(zhí)行內(nèi)部阻抗歸零的動(dòng)作（當(dāng)您欲執(zhí)行內(nèi)部阻抗歸零時(shí)，請(qǐng)先插好歸零治具），若PORTA（A槽）完成內(nèi)部阻抗歸零，LCD會(huì)顯示詢問(wèn)是否依序進(jìn)行，然后依次可以進(jìn)行B、C、D的歸零。按下S6［清除歸零］可執(zhí)行清除內(nèi)部阻抗歸零的動(dòng)作.歸零意指將所有PIN腳完全部短路后，予以量測(cè)其值并儲(chǔ)存于機(jī)器內(nèi)部，并修正雜散電容阻抗，以確保量測(cè)準(zhǔn)確度。尋找輸出點(diǎn)位（PinSearch）本功能可顯示出目前的輸出點(diǎn)位為何。首先按下［Func］，再以［f］或［J］選擇至本項(xiàng)目并按下［Enter］，將自動(dòng)找點(diǎn)探針接于PinSearch接頭上，并將探針指于你所欲得知之點(diǎn)位上。三.系統(tǒng)設(shè)定(Setup)系統(tǒng)設(shè)定包括系統(tǒng)組態(tài)與測(cè)試相關(guān)動(dòng)作設(shè)定.首先按下［Setup］再以［f］或［J］選擇所需項(xiàng)目，并按［Enter］，若有需要請(qǐng)按S1［項(xiàng)目選擇］切換?完畢可按［Exit］跳離.按鍵聲音本測(cè)試機(jī)可依需要開(kāi)啟/關(guān)閉按鍵的聲音。默認(rèn)值為|全部有聲|■全部有聲按鍵無(wú)論有效鍵或無(wú)效鍵皆設(shè)定有聲響■全部無(wú)聲按鍵無(wú)論有效鍵或無(wú)效鍵皆設(shè)定無(wú)聲響有效鍵聲有效鍵才設(shè)定有聲響無(wú)效鍵聲無(wú)效鍵才設(shè)定有聲響按鍵操作本測(cè)試機(jī)提供按鍵保護(hù)，以避免資料被任意修改。默認(rèn)值為|開(kāi)放|。首先按下［Setup］，再以［f］或⑴選擇至本項(xiàng)功能，按S1［項(xiàng)目選擇］，然后輸入舊密碼.解除保護(hù)模式時(shí)若忘記密碼，在畫(huà)面顯示｛輸入舊密碼｝后按［Shift］+［BS］即可顯示原密碼.測(cè)試警報(bào)本功能提供測(cè)試結(jié)果之警訊，共有3個(gè)選項(xiàng)，可視其需要加以設(shè)定全部有聲不論待測(cè)物測(cè)試結(jié)果為良品或不良皆設(shè)有聲響全部無(wú)聲不論待測(cè)物測(cè)試結(jié)果為良品或不良皆設(shè)無(wú)聲響不良有聲只設(shè)定待測(cè)物測(cè)試結(jié)果為不良才有聲響良品有聲只設(shè)定待測(cè)物測(cè)試結(jié)果為良品才有聲響顯示及打印測(cè)試資料本功能即設(shè)定測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料顯示及打印的型式，共有三個(gè)選項(xiàng)全部顯示不論錯(cuò)誤與否皆顯示及打印測(cè)試資料

全不顯示不論錯(cuò)誤與否皆不顯示及打印測(cè)試資料錯(cuò)誤步驟顯示及印列錯(cuò)誤步驟統(tǒng)計(jì)測(cè)試結(jié)果本功能為切換系統(tǒng)是否進(jìn)入統(tǒng)計(jì)模式，共有二個(gè)選項(xiàng)，默認(rèn)值為|否|，說(shuō)明如下是統(tǒng)計(jì)模式打開(kāi)否統(tǒng)計(jì)模式關(guān)閉肯統(tǒng)計(jì)模式之激活會(huì)影響測(cè)試速度，請(qǐng)視需要再打開(kāi)此功能開(kāi)機(jī)自我測(cè)試共有二個(gè)選項(xiàng)，默認(rèn)值為I是I是須作開(kāi)機(jī)自我測(cè)試否不須作開(kāi)機(jī)自我測(cè)試連續(xù)錯(cuò)誤警報(bào)聲當(dāng)測(cè)試發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)，會(huì)出現(xiàn)連續(xù)錯(cuò)誤警報(bào)聲響測(cè)試檔案共有三個(gè)選項(xiàng)，默認(rèn)值為I自動(dòng)判別I■自動(dòng)判別測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)判別為單一檔案或循序檔案測(cè)試單一檔案指定為單一檔案測(cè)試(即主畫(huà)面所顯示之｛目前檔案｝)循序檔案指定為循序檔案測(cè)試(無(wú)論目前主畫(huà)面所顯示之｛目前檔案｝為何，皆進(jìn)行循序檔案之測(cè)試)8打印功能選單(Print)本測(cè)試機(jī)提供直接的打印機(jī)輸出，方便您將所需要的資料打印出來(lái).(a)選定所需資料或畫(huà)面(b)按下［Print］即可本機(jī)臺(tái)對(duì)于斷短路設(shè)定是以學(xué)習(xí)的方式作設(shè)定的，亦即將測(cè)試線材之連接9．學(xué)習(xí)斷短路設(shè)定(9．學(xué)習(xí)斷短路設(shè)定(Learn)情形記憶在系統(tǒng)中，而系統(tǒng)將測(cè)試之結(jié)果顯示于LCD上當(dāng)測(cè)試模式設(shè)定中［MODE］，線材種類設(shè)定為｛一般｝。首先按下［Learn］當(dāng)進(jìn)行線材測(cè)試時(shí)，按下［TEST］.由LCD顯示畫(huà)面中，我們可得知測(cè)試總數(shù)及良品、不良品的數(shù)目.當(dāng)測(cè)試模式設(shè)定［MODE］中，線材種類設(shè)定為｛點(diǎn)測(cè)｝。首先按下［Learn］.使用自動(dòng)尋點(diǎn)探針指定所欲測(cè)試之短路點(diǎn)位，比如：當(dāng)您使用自動(dòng)尋探針，并將之置于線材指定之點(diǎn)位上(A01)，按下S1［循序?qū)W習(xí)］，依序?qū)⑻结樦糜诰€材指定之點(diǎn)位上(A03,A05,A07)亦按下S1［循序?qū)W習(xí)］，完畢，請(qǐng)按S4［完成］，請(qǐng)按［Enter］儲(chǔ)存檔案或按［Exit］跳離，亦可鍵入新檔名再按［Enter］另存新檔，當(dāng)進(jìn)行線材測(cè)試時(shí)，按下［TEST］.請(qǐng)利用自動(dòng)尋點(diǎn)探針置于A01.請(qǐng)務(wù)必依序并利用自動(dòng)尋點(diǎn)探針置于A03,A05,A07，即可完成線材測(cè)試之動(dòng)作，因最初我們預(yù)設(shè)4個(gè)步驟，所以每一待測(cè)物之測(cè)試，均須循序測(cè)試由。步驟1至步驟4完全正確無(wú)誤才算良品。最大只能設(shè)定64個(gè)測(cè)試步驟試模式設(shè)定中，線材種類設(shè)定為｛單邊｝。首先按Learn］，畫(huà)面中右邊所顯示出之?dāng)?shù)值即為所謂的單邊測(cè)試靈敏度(請(qǐng)參考P39.P40)。當(dāng)進(jìn)行線材測(cè)試時(shí)，按下［TEST］，LCD顯示畫(huà)面中，我們可得知測(cè)試總數(shù)及良品、不良品的數(shù)目。查看統(tǒng)計(jì)資料(Statistic)本功能可查看測(cè)試結(jié)果之統(tǒng)計(jì)資料，包括：測(cè)試總數(shù)、良品個(gè)數(shù)、不良品個(gè)數(shù)以及不良原因分析亦即尋求項(xiàng)目分類不良品個(gè)數(shù),首先按Stat］,按下S1［數(shù)量比率］，則可使統(tǒng)計(jì)資料以百分比的型式呈現(xiàn)，按下S6［清除資料］，則會(huì)將現(xiàn)有的統(tǒng)計(jì)資料完全清除?完畢后，可按［Exit］跳離ChapterIII綜合測(cè)試模式測(cè)試模式是利用程序化設(shè)計(jì)功能，針對(duì)不同之測(cè)試項(xiàng)目設(shè)定不同之測(cè)試條件,而予以同時(shí)且自動(dòng)之測(cè)試，以滿足不同之需求，達(dá)到最佳效率，可分成■測(cè)試條件設(shè)定■綜合測(cè)試實(shí)作■檔案管理測(cè)試條件設(shè)定此部份指的是針對(duì)待測(cè)物(DUT)測(cè)試時(shí)所設(shè)定的一些管制標(biāo)準(zhǔn)與相對(duì)應(yīng)的測(cè)試條件，包含0/S/Cond/R/C/HIPOT/Diode設(shè)定，其內(nèi)容主要為各測(cè)試項(xiàng)目(Parameter)之測(cè)試訊號(hào)(頻率、電壓大小、電流等)管制標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)格管制標(biāo)準(zhǔn)值、誤差比率a.斷短路表{o/s}首先按0/S，斷短路表是利用學(xué)習(xí)的方式而來(lái)的，完畢可按［Exit］跳離b?導(dǎo)通阻抗測(cè)試編輯(C)首先按下［Cond］，再以［f］或［J］選擇至您所要設(shè)定之項(xiàng)目，導(dǎo)通阻抗設(shè)定，請(qǐng)依需要利用數(shù)字鍵鍵入數(shù)字，導(dǎo)通測(cè)試模式設(shè)定，可利用S1［項(xiàng)目選擇］切換為一般/瞬間狀態(tài)。瞬間導(dǎo)通測(cè)試次數(shù)，請(qǐng)依需要利用數(shù)字鍵鍵入數(shù)字，按下S5［線材歸零］可執(zhí)行線材歸零的動(dòng)作(當(dāng)您欲執(zhí)行線材歸零時(shí)，請(qǐng)先插好歸零治具)?？蠚w零意指將所有PIN腳完全短路后，予以量測(cè)其值并儲(chǔ)存于機(jī)器內(nèi)部，并修正雜散電容阻抗，以確保量測(cè)準(zhǔn)確度。建議每三個(gè)月歸零一次以確保準(zhǔn)確度。電阻設(shè)定編輯(R)首先按下［R］，按S1［拷貝上行］可作拷貝上行資料的動(dòng)作，按S2［刪除此行］可作刪除所選定行數(shù)之資料，按S5［最前一行］可使光標(biāo)移至現(xiàn)有數(shù)據(jù)的第一行上，按S6［最后一行］可使光標(biāo)移至現(xiàn)有數(shù)據(jù)的最后一行上，請(qǐng)利用方向鍵移動(dòng)至您所要設(shè)定的項(xiàng)目，鍵入您的規(guī)格管制標(biāo)準(zhǔn)值，當(dāng)您利用方向鍵移動(dòng)至標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，按下S1［單步學(xué)習(xí)］，則目前所在之標(biāo)準(zhǔn)值會(huì)經(jīng)由學(xué)習(xí)的方式測(cè)出待測(cè)，物指定點(diǎn)位之標(biāo)準(zhǔn)值按下S2［全部學(xué)習(xí)］，則所有標(biāo)準(zhǔn)值皆會(huì)經(jīng)由學(xué)習(xí)的方式測(cè)出待測(cè)物指，定點(diǎn)位之標(biāo)準(zhǔn)值，按下S4［全部相同］，則所有標(biāo)準(zhǔn)值皆會(huì)與所指定點(diǎn)位的標(biāo)準(zhǔn)值相同，按下S5［歸零］,按下［Enter］即進(jìn)行歸零動(dòng)作，按下S6［清除歸零］即可清除所作電阻歸零之資料.電容設(shè)定編輯(Capacitance)按下［C］,然后按S1［拷具上行］可作拷具上行資料的動(dòng)作，再按S2［刪除此行］可作刪除所選定行數(shù)之資料，再按S5［最前一行］可使光標(biāo)移至現(xiàn)有數(shù)據(jù)的第一行上，再按S6［最后一行］可使光標(biāo)移至現(xiàn)有數(shù)據(jù)的最后一行上，，利用方向鍵移動(dòng)至您所要設(shè)定的項(xiàng)目，然后鍵入您的規(guī)格管制標(biāo)準(zhǔn)值，當(dāng)您利用方向鍵移動(dòng)至標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，面顯按下S1［單步學(xué)習(xí)］，則目前所在之標(biāo)準(zhǔn)值會(huì)經(jīng)由學(xué)習(xí)的方式測(cè)出待測(cè)物指定點(diǎn)位之標(biāo)準(zhǔn)值，按下S2［全部學(xué)習(xí)］，則所有標(biāo)準(zhǔn)值皆會(huì)經(jīng)由學(xué)習(xí)的方式測(cè)出待測(cè)物指，定點(diǎn)位之標(biāo)準(zhǔn)值，按下S4［全部相同］，則所有標(biāo)準(zhǔn)值皆會(huì)與所指定點(diǎn)位的標(biāo)準(zhǔn)值相同，按下S5［歸零］即可進(jìn)行歸零動(dòng)作。按下［Enter］即進(jìn)行歸零動(dòng)作，按下S6［清除歸零］即可清除所作電容歸零之資料。高壓設(shè)定編輯(HIPOT)此功能為DC絕緣、AC耐壓的測(cè)試電壓、頻率、時(shí)間、規(guī)格及其它項(xiàng)目之設(shè)定。按下［Hipot］利用方向鍵移動(dòng)至您所要設(shè)定的項(xiàng)目，鍵入您的規(guī)格管制標(biāo)準(zhǔn)值.測(cè)試模式設(shè)定(MODE)測(cè)試動(dòng)作設(shè)定是在設(shè)定測(cè)試時(shí)之動(dòng)作與相關(guān)的設(shè)定。首先按下［Mode］，請(qǐng)以［f］或［J］移動(dòng)至您所要設(shè)定之項(xiàng)目，設(shè)定完畢，可按S6［測(cè)試項(xiàng)目］以設(shè)定欲進(jìn)行測(cè)試之項(xiàng)目，按下S6［測(cè)試項(xiàng)目］,LCD顯示畫(huà)面如下，請(qǐng)以［f］或［J］移動(dòng)至您所要設(shè)定之項(xiàng)目，按下S1［項(xiàng)目選擇］切換是否進(jìn)行所選定項(xiàng)目之測(cè)試。項(xiàng)目說(shuō)明如下?斷短路判定值請(qǐng)按S1［項(xiàng)目選擇］切換設(shè)定。數(shù)值為2KQ/5/10/20/50KQ線材種類請(qǐng)按S1［項(xiàng)目選擇］切換一般/點(diǎn)測(cè)/單邊最大容許電容量請(qǐng)按S1［項(xiàng)目選擇］切換設(shè)定數(shù)值為0.05uF/0.1/0.2/0.5/1uF■測(cè)試啟動(dòng)方式請(qǐng)按S1［項(xiàng)目選擇］切換其設(shè)定，共有三種選擇-自動(dòng)測(cè)試激活方式之設(shè)定為自種激活-手動(dòng)測(cè)試激活方式之設(shè)定為手動(dòng)激活-連續(xù)測(cè)試激活方式之設(shè)定為連續(xù)激活自動(dòng)測(cè)試插入延遲設(shè)定測(cè)試治具閥門(mén)延遲時(shí)間，測(cè)試時(shí)若應(yīng)用治具閥門(mén)時(shí)，其動(dòng)作需有一段延遲時(shí)間，因此實(shí)際測(cè)試時(shí)間需延，請(qǐng)利用數(shù)字鍵鍵入連續(xù)測(cè)試間隔時(shí)間連續(xù)測(cè)試時(shí)兩待測(cè)物（DUT）測(cè)試之時(shí)間區(qū)隔，請(qǐng)利用數(shù)字鍵鍵入連續(xù)測(cè)試次數(shù)請(qǐng)利用數(shù)字鍵鍵入連續(xù)測(cè)試次數(shù)■測(cè)試有錯(cuò)誤時(shí)當(dāng)測(cè)試有誤時(shí)，測(cè)試?yán)^續(xù)與否之設(shè)定請(qǐng)按S1［項(xiàng)目選擇］切換其設(shè)定為停止/不測(cè)高壓/全部測(cè)完短斷路端點(diǎn)判斷請(qǐng)按S1［項(xiàng)目選擇］切換設(shè)定為是/否單邊測(cè)試靈敏度判斷有線與否（線愈長(zhǎng)，靈敏度數(shù)值愈高）當(dāng)顯示出靈敏度數(shù)值＞您所設(shè)定的單邊測(cè)試靈敏度數(shù)值時(shí)，即判定為有線瞬短斷測(cè)試時(shí)間請(qǐng)利用數(shù)字鍵鍵入瞬短斷路測(cè)試時(shí)間瞬短斷測(cè)試最大點(diǎn)位請(qǐng)按S1［項(xiàng)目選擇］切換設(shè)定為128/256若您所購(gòu)置之機(jī)臺(tái)為128Pin則無(wú)此設(shè)定項(xiàng)目，此項(xiàng)目最大功能在節(jié)省瞬短斷測(cè)試時(shí)間肯單邊測(cè)試只有PortA（A槽）有效（即指A1~A64），當(dāng)測(cè)試模式設(shè)定中之線材種類設(shè)定為｛單邊｝，且單邊測(cè)試靈敏度設(shè)為｛0｝，此時(shí)進(jìn)行短斷路學(xué)習(xí)，實(shí)例測(cè)試如下：將待測(cè)線材置于PortA（A槽）按下［Learn］，LCD畫(huà)面顯示如下一般上無(wú)線狀態(tài)所量測(cè)出來(lái)的數(shù)值約為20左右。所以很明顯地可以看出有線點(diǎn)位及線數(shù)，此時(shí)可依您的需要設(shè)定單邊測(cè)試靈敏度(建議設(shè)定在有線/無(wú)線數(shù)值之中)以此為例，若我們將單邊測(cè)試靈敏度設(shè)為70(約20~120之中間值)，再按下,［Learn］,LCD畫(huà)面顯示如下:由此，我們即可馬上知道有線數(shù)為6，即有6條線.當(dāng)您對(duì)測(cè)試模式設(shè)定中之短斷路端點(diǎn)判斷設(shè)定為|是|時(shí)，當(dāng)測(cè)試斷短路發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)去偵測(cè)出發(fā)生斷路之點(diǎn)位所在！四.綜合測(cè)試實(shí)作做完以上的設(shè)定之后，即可進(jìn)行綜合測(cè)試實(shí)作。其因操作程序之不同，可細(xì)分為兩種：實(shí)時(shí)測(cè)試(RealTimeTest)與已存測(cè)試(ExistedTest)，分別說(shuō)明如下：實(shí)時(shí)測(cè)試此部份是將已儲(chǔ)存在主存儲(chǔ)器內(nèi)之測(cè)試條件設(shè)定為測(cè)試之條件，實(shí)時(shí)對(duì)待測(cè)物予以測(cè)試，是最常用的測(cè)試方法，其步驟說(shuō)明如下，先檢視測(cè)試條件設(shè)定是否正確(b)按下［Mode］即顯示測(cè)試模式設(shè)定畫(huà)面，請(qǐng)檢視并確認(rèn)測(cè)試模式設(shè)定是否正確，并依需要予以更改，確認(rèn)無(wú)誤后，請(qǐng)按［EXIT］跳離，回到主畫(huà)面，按下TEST］后即開(kāi)始測(cè)試，測(cè)試完畢或須中斷測(cè)試時(shí)，請(qǐng)按［EXIT］跳離已存測(cè)試(ExistedTest)您可將儲(chǔ)存在內(nèi)存內(nèi)之已存盤(pán)案(ExistedFile)加載至主存儲(chǔ)器后予以執(zhí)行測(cè)試，其操作說(shuō)明如下：首先按下［File］，再請(qǐng)以［t］或［J］移動(dòng)光標(biāo)，選定欲加載之文件名稱，確認(rèn)后按下［Enter］，測(cè)試機(jī)開(kāi)始把選定之檔案加載主存儲(chǔ)器中，此時(shí)LCD畫(huà)面將跳回主畫(huà)面，目前檔案即顯示為您所選定之檔案名稱，此時(shí)即檔案加載完成，請(qǐng)按［EXIT］跳離，回到主畫(huà)面，按下［Mode］即顯示測(cè)試模式設(shè)定畫(huà)面，請(qǐng)檢視并確認(rèn)測(cè)試模式設(shè)定是否正確，并依需要予以更改，確認(rèn)無(wú)誤后，請(qǐng)按［EXIT］跳離，回到主畫(huà)面，按下［TEST］后即開(kāi)始測(cè)試，測(cè)試完畢或須中斷測(cè)試時(shí)，請(qǐng)按［EXIT］跳離。檔案管理(File)您可執(zhí)行選取舊檔/刪除舊檔/檔案排序之動(dòng)作，以方便檔案管理與取用，其操作說(shuō)明如下：選取檔案。選取檔案是將已儲(chǔ)存在永久內(nèi)存內(nèi)之已存盤(pán)案加載至主存儲(chǔ)器中，以方便其它用途，包含測(cè)試、編輯、打印等，其操作說(shuō)明如下：首先按下［File］，請(qǐng)以［f］或［J］移動(dòng)光標(biāo)，選定欲加載之文件名稱，按下［Enter］即是執(zhí)行加載檔案的動(dòng)作，測(cè)試機(jī)開(kāi)始把選定之檔案加載主存儲(chǔ)器中，此時(shí)LCD畫(huà)面將跳回主畫(huà)面，目前檔案即顯示為您所選定之文件名稱，此時(shí)即檔案加載完成循序設(shè)定當(dāng)您必須對(duì)同一待測(cè)物進(jìn)行數(shù)種測(cè)試步驟時(shí)，您可將所需進(jìn)行的測(cè)試步驟，以循序測(cè)試的方式設(shè)定，以簡(jiǎn)化您的測(cè)試程序并減少您的測(cè)試時(shí)間。首先按下［File］，然后按下S1［循序設(shè)定］，您可按S1［循序選檔］，LCD顯示畫(huà)面如下：運(yùn)用［f］或［J］移動(dòng)光標(biāo)，選擇并設(shè)定待測(cè)物所需進(jìn)行的測(cè)試步驟，舉例如下，我們選定1R0DD-A1R0DD-B，1RODD-D此三個(gè)檔案，運(yùn)用［f］或［J］移動(dòng)光標(biāo)移至1RODD-A，然后按下S3［選?。?，再運(yùn)用［f］或［J］移動(dòng)光標(biāo)移至1RODD-B，然后按下S3［選?。?，繼續(xù)運(yùn)用［f］或［J］移動(dòng)光標(biāo)移至1RODD-D，然后按下S3［選取］，請(qǐng)按S4［完成］，如此即完成循序測(cè)試設(shè)定，另外亦可利用S2［循序?qū)W習(xí)］來(lái)設(shè)。舉例如下，置入待測(cè)物，按下S2［循序?qū)W習(xí)］,按下S1［學(xué)習(xí)］，則產(chǎn)生了第1個(gè)步驟設(shè)定，以此類推，可設(shè)定第1個(gè)、第2個(gè).……步驟，假設(shè)我們共設(shè)定了5個(gè)。測(cè)試步驟，設(shè)定完成后，并按下S3［完成］，如此亦可完成循序測(cè)試設(shè)定，按下S3［循序測(cè)試］或［TEST］，進(jìn)行第1測(cè)試步驟，第一步驟PASS,LCD畫(huà)面顯示｛等待測(cè)試步驟2｝，循序完成1,2,3,4,5個(gè)測(cè)試步驟后，以此類推至完成所設(shè)定的5個(gè)步驟之后，如此即完成循序測(cè)試。每一個(gè)測(cè)試步驟完成后，機(jī)器會(huì)掃瞄短斷路(O/S)，當(dāng)短斷路(0/S)狀態(tài)改變后，機(jī)器才會(huì)進(jìn)行下一個(gè)測(cè)試步驟肯若要機(jī)器不