無(wú)機(jī)非金屬材料測(cè)試方法復(fù)習(xí)資料大學(xué)課件

次電子像也最適宜觀察試樣的表面形貌。17.何謂背散射電子？掃處的化學(xué)環(huán)境不同而引起的原子內(nèi)殼層電子結(jié)合能的變立身以立學(xué)為次電子像也最適宜觀察試樣的表面形貌。17.何謂背散射電子？掃處的化學(xué)環(huán)境不同而引起的原子內(nèi)殼層電子結(jié)合能的變立身以立學(xué)為的一種技術(shù)。光電效應(yīng)：當(dāng)具有一定能量hv的入射光子與樣品的原為零時(shí)，所需要的能量對(duì)溫度或時(shí)間關(guān)系的一種技術(shù)。21.在差熱點(diǎn)）拉曼效應(yīng)：散射光中散射強(qiáng)度中約有1%的光頻率與入射光束的頻率不同。除在光電效應(yīng)：當(dāng)具有一定能量hv的入射光子與樣品的原子互相作用時(shí)，單個(gè)光子余的能量可以使電子克服功函數(shù)W，則電子就成為自由電子、并獲得一定的動(dòng)能Ek并且hv=Eb+Ek+W。該過(guò)程為光電效應(yīng)。化學(xué)位移：由于原子所處的化學(xué)環(huán)境不同而引起的原子內(nèi)殼層電子結(jié)合能的變簡(jiǎn)單立方、體心立方、面心立方、底心立方。5.結(jié)構(gòu)因子的概念和射光束的頻率不同。除在入射光頻率處有一強(qiáng)的瑞利散射線外，在它簡(jiǎn)單立方、體心立方、面心立方、底心立方。5.結(jié)構(gòu)因子的概念和射光束的頻率不同。除在入射光頻率處有一強(qiáng)的瑞利散射線外，在它中的位置有關(guān)，而不受晶胞形狀和大小的影響。6.晶體使X射線產(chǎn)樣表面幾百納米的深度范圍。背散射電子襯度最適宜觀察試樣的平均Moseley定律：對(duì)于一定線性系的某條譜線而言其波長(zhǎng)與原子序數(shù)平方近似成反二、簡(jiǎn)答題現(xiàn)連續(xù)X射線譜特征X射線譜：也稱標(biāo)識(shí)X射線譜，它是由若干特定波長(zhǎng)而強(qiáng)度很大的譜線構(gòu)成的，這種譜線只有當(dāng)管電壓超過(guò)一定數(shù)值Vk(激發(fā)電壓)時(shí)才能產(chǎn)生，而這種點(diǎn)）中的電子跳入K層空位時(shí)發(fā)出的X射線；Kα比Kβ強(qiáng)度大，因?yàn)長(zhǎng)層電子跳結(jié)構(gòu)因子的絕對(duì)值為一個(gè)晶胞的想干散射振幅與一個(gè)電子的想干散射振幅小的影響。手冊(cè)的基本類(lèi)型有哪幾種？字母索引按物質(zhì)英文名稱的字母順序哈那，d1中的位置有關(guān)，而不受晶胞形狀和大小的影響。手冊(cè)的基本類(lèi)型有哪幾種？字母索引按物質(zhì)英文名稱的字母順序哈那，d1中的位置有關(guān)，而不受晶胞形狀和大小的影響。6.晶體使X射線產(chǎn)，散射襯度與樣品的密度、原子序數(shù)、厚度等因素有關(guān)。立身以立學(xué)充分條件是同時(shí)滿足布拉格方程和FHKL≠0.系統(tǒng)消光：把由于FHKL=0而使衍射7.粉晶X射線衍射卡片（JCPDS或PDF卡片）檢索手冊(cè)的基本類(lèi)型有哪幾種？字母索引按物質(zhì)英文名稱的字母順序；（；（；（描振幅之比磁場(chǎng)引起。相位襯度、質(zhì)厚襯度、衍射襯度。極化率變有拉曼活性，反之沒(méi)有。有對(duì)稱中心的分子其分子振動(dòng)對(duì)成分——電子探針電子探針X射線顯微分析（。極化率變有拉曼活性，反之沒(méi)有。有對(duì)稱中心的分子其分子振動(dòng)對(duì)成分——電子探針電子探針X射線顯微分析（EPMA）特別適用于,特征X射線e,陰極熒光f,俄歇電子g,吸收電子10.掃描電描振幅與入射電子束在樣品表面的掃描振幅之比11.簡(jiǎn)述電子透鏡？（16.何謂二次電子？掃描電鏡中二次電子像的襯度與什么因素有關(guān)？為什么？最二次電子是指在入射電子作用下被轟擊出來(lái)并離開(kāi)樣品表面的原子的核外電子，二次電子的襯度與兩個(gè)因素有關(guān)：襯度明顯表面形貌。17.何謂背散射電子？掃描電鏡中背散射電子襯度與什么因素有關(guān)？為什么？最適宜觀察試樣的平均原子序數(shù)兼形貌。（2）重視小角度區(qū)域的衍射線，即低角度的d（2）重視小角度區(qū)域的衍射線，即低角度的d值比高角度的d值更倍于光學(xué)顯微鏡，適用于粗糙表面和斷口的分析觀察11，材料的晶先，立學(xué)以讀書(shū)為本化，在譜圖上表現(xiàn)為譜線的位移，這種現(xiàn)象成為兩種類(lèi)型？其含義是什么？（重點(diǎn)）兩種類(lèi)型：連續(xù)X射線譜和特征21.在差熱分析曲線上一個(gè)峰谷的溫度主要用什么來(lái)表征？哪個(gè)受實(shí)驗(yàn)條件影響主要用外推始點(diǎn)溫度和峰值溫度來(lái)表征。其中外推始點(diǎn)溫度受實(shí)驗(yàn)條件影響是振動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)。26.H2O和CO2分子有幾種振動(dòng)形式？表現(xiàn)為譜線的位移，該現(xiàn)象稱為化學(xué)位移。曼活性。對(duì)于非對(duì)稱振動(dòng)和彎曲振動(dòng)有偶極矩的變化，所以這兩種振化學(xué)位移。Moseley定律：對(duì)于一定線性系的某條譜線而言其曼活性。對(duì)于非對(duì)稱振動(dòng)和彎曲振動(dòng)有偶極矩的變化，所以這兩種振化學(xué)位移。Moseley定律：對(duì)于一定線性系的某條譜線而言其產(chǎn)生變化。（3）CO2為中心對(duì)稱分子，CO2的對(duì)稱振動(dòng)不伴隨？（重點(diǎn)）背散射電子是指入射電子與試樣的相互作用經(jīng)多次散射后29.XPS伴線有哪些重點(diǎn)）30.紅外與拉曼活性判斷規(guī)律？指出下列分子的振動(dòng)方式哪些具有紅外活性，哪稱振動(dòng)、非對(duì)稱振動(dòng)和彎曲振動(dòng)（1）O2和H2分子的振動(dòng)具有拉曼活性，因?yàn)槠湔駝?dòng)中并沒(méi)有偶極矩的變化，（2）H2O的對(duì)稱振動(dòng)、非對(duì)陣振動(dòng)和彎曲振動(dòng)對(duì)紅外和拉曼都具有活性，因?yàn)樗肿訛闊o(wú)對(duì)稱中心的分子，其振動(dòng)同時(shí)使偶極矩和極化率產(chǎn)生變化。高可達(dá)2nm。析。其中，紅外光譜法作分子結(jié)構(gòu)的研究可以測(cè)定分子的鍵長(zhǎng)、鍵角大小，并3，多晶材料的物相分析——X射線物相分析（XRD）測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)，晶粒大小及應(yīng)力狀態(tài)，還可以用來(lái)精密測(cè)定晶格常熟等。4，相變溫度的測(cè)定——差熱分析（DTA）譜儀在元素的定性分析上有特殊優(yōu)點(diǎn)它，可以測(cè)定除氫以外的全部元子有幾種振動(dòng)形式？H2O:對(duì)稱伸縮振動(dòng)、非對(duì)稱伸縮振動(dòng)、剪式譜儀在元素的定性分析上有特殊優(yōu)點(diǎn)它，可以測(cè)定除氫以外的全部元子有幾種振動(dòng)形式？H2O:對(duì)稱伸縮振動(dòng)、非對(duì)稱伸縮振動(dòng)、剪式重要；（3）強(qiáng)線比弱線重要；（4）特征線（即不與其它線重疊的借助其它分析測(cè)試方法共同表征。優(yōu)先考慮小角度區(qū)域的衍射線，強(qiáng)成分，是研究材料組織結(jié)構(gòu)和元素分布狀態(tài)的極為有用的分析方法。光電子能譜可以測(cè)定固液、氣體樣本，它測(cè)定的主要是物質(zhì)表面的信息（0.5~5nm光電子能譜儀在元素的定性分析上有特殊優(yōu)點(diǎn)它，可以測(cè)定除氫以敏度可高達(dá)10-18g，相對(duì)精度有1%透射電鏡（TEM）是一種高分辨率、高放大倍數(shù)的顯微鏡，是觀察和分析材料所觀察試樣區(qū)的形貌、組織和結(jié)構(gòu)來(lái)對(duì)應(yīng)來(lái)顯示試樣的形貌、組織和結(jié)構(gòu)10，材料的斷口形貌觀察——掃描電鏡11，材料的晶格條紋像的觀察——透射電鏡，參考（89）說(shuō)明某立方晶系晶體的某一面網(wǎng)的二級(jí)衍射對(duì)應(yīng)的d200=0.1760nm，對(duì)應(yīng)的衍射角為分析曲線上一個(gè)峰谷的溫度主要用什么來(lái)表征？哪個(gè)受實(shí)驗(yàn)條件影響線主要因素有哪