可靠性工程課件第三節(jié)-失效規(guī)律

第三節(jié)

失效率的基本類型

和產(chǎn)品的失效規(guī)律

一、失效率類型二、失效規(guī)律一、早期失效型（DecreasingFailureRate) (遞減型

）

特點(diǎn)：失效率隨時(shí)間逐漸下降原因：產(chǎn)品在使用初期，由于不適應(yīng)外部環(huán)境，因而發(fā)生失效，一般為試車跑合階段，主要原因是設(shè)計(jì)缺點(diǎn)，材料不良，制造工藝缺陷，檢驗(yàn)差錯(cuò)等因素引起。產(chǎn)品的工業(yè)性試驗(yàn)主要是消除這種類型的故障。但有的產(chǎn)品不是上述原因造成早期失效，而是由于產(chǎn)品本身的性質(zhì)所決定的。

例如，有些半導(dǎo)體的失效率本身就屬于DFR類型。

采取措施：首先加強(qiáng)質(zhì)量管理，質(zhì)量檢查；其次加強(qiáng)設(shè)計(jì)、工藝等技術(shù)和操作人員的技術(shù)培訓(xùn)、崗位培訓(xùn)、完善責(zé)任制和操作規(guī)范。失效模式如圖早期失效模式二、恒定失效型（偶然失效型(ConstantFailureRate)

特點(diǎn)：失效率近似恒定，隨時(shí)間基本不變?cè)颍哼@個(gè)時(shí)期的失效是偶然因素引起的，是產(chǎn)品在使用過程中，由于應(yīng)力條件隨機(jī)的變化，超過了本身所能承受的強(qiáng)度，而使產(chǎn)品的偶然失效。這個(gè)時(shí)期是產(chǎn)品的最佳使用期。一般的可靠性試驗(yàn)，壽命試驗(yàn)都是針對(duì)這個(gè)時(shí)期。采取措施：盡力維護(hù)和保養(yǎng)工作，如果忽視，將是產(chǎn)品偶然失效的時(shí)間縮短失效模式如圖恒定失效模式三、耗損失效型

（IncreasingFailureRate

遞增型）

特點(diǎn)：失效率隨時(shí)間不斷增大。原因：出現(xiàn)在產(chǎn)品的后期，這個(gè)階段產(chǎn)品處于老化、衰變、退化的狀態(tài)。由于產(chǎn)品的疲勞、過度磨損等原因造成，引起失效率上升。例如電子元件在一定使用之后，常常使電容、電阻元器件老化，儀表受熱，一些機(jī)械零件受到周期沖擊振動(dòng)，或失效而疲勞斷裂。采取措施：改善耗損失效的方法是不斷提高零、部件的工作壽命。對(duì)壽命短的零、部件，在整機(jī)設(shè)計(jì)時(shí)就要制定一套預(yù)防性檢修和更新措施，在它們到達(dá)耗損失效前就及時(shí)予以檢修或更換。失效模式如圖

耗損失效模式耗損型失效四、產(chǎn)品的失效規(guī)律及應(yīng)用早期失效恒定失效損耗失效浴盆曲線12人類壽命分布密度和死亡率強(qiáng)度曲線記憶遺忘干擾曲線短時(shí)記憶（5－7模塊）；永久記憶（1分鐘－1年）遺忘是由于在學(xué)習(xí)和回憶之間受到刺激干擾的結(jié)果。研究遺忘目的是更好記憶。掌握遺忘曲線，增加記憶能力保存量％時(shí)間間隔/日艾賓浩斯遺忘曲線結(jié)論：遺忘在學(xué)習(xí)后立即開始，而且遺忘最初進(jìn)展很快，以后逐漸緩慢；過了相當(dāng)時(shí)間后，幾乎不再遺忘。20分鐘，遺忘達(dá)41.8%;一天后，遺忘達(dá)66.3％；32天后，遺忘僅達(dá)78.9%;什么原因干擾說