IQC來料檢驗規(guī)范多篇

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文件編號:XXX-XXXX-XXXX版本:VI.0制定部門：品質(zhì)部

IQC來料檢驗規(guī)范

批準(zhǔn)會簽審核制定

年月日年月日年月日年月日

文件修訂說明:

序號版本日期修訂人修訂摘要

第1頁共66頁

1.目的

對本公司的進貨原材料按規(guī)定進行檢驗和試驗，確保產(chǎn)品的最終質(zhì)量。

2.適用范圍

2.1適用于IQC對通用產(chǎn)品的來料檢驗。

2.2適用對元件檢驗方法和范圍的指導(dǎo)。

2.3適用于孑。(：、QA對產(chǎn)品在制程和終檢時，對元件進行復(fù)核查證。

3.責(zé)任

3.HQC在檢驗過程中按照檢驗指導(dǎo)書所示檢驗項目，參照供應(yīng)商器件確認(rèn)書對來料進行檢驗。IQC在檢驗

過程中按照檢驗指導(dǎo)書所示檢驗項目，參照供應(yīng)商器件確認(rèn)書對來料進行檢驗。

3.2檢驗標(biāo)準(zhǔn)參照我司制定的1QC《進料檢驗流程》執(zhí)行。

3.3本檢驗指導(dǎo)書由品管部QE負(fù)責(zé)編制和維護，品管部主管負(fù)責(zé)審核批準(zhǔn)執(zhí)行。

4、定義

4.1AQL：(AcceptanceQualityLimit)接收質(zhì)量限：GB/T2828.卜2012將AQL定義為：“當(dāng)一個連續(xù)系列

批被提交驗收抽樣時，可容忍的最差過程平均質(zhì)量水平”。

4.2CR：(Critical)致命缺陷；單位產(chǎn)品的關(guān)鍵質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特性極嚴(yán)重不符合規(guī)

定。GB/T2828.1-2012將其定義為A類不合格品。

4.3Ma：(Major)嚴(yán)重缺陷，也稱主要缺陷；單位產(chǎn)品的重要質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特

性嚴(yán)重不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為B類不合格品。

4.4Mi；(Minor)輕微缺陷，也稱次要缺陷；單位產(chǎn)品的一般質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特

性輕微不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為C類不合格品。

5、檢驗

4.1檢驗方式：抽樣檢驗,可參閱《抽樣檢驗作業(yè)指導(dǎo)書》進行抽樣檢驗。

4.2抽樣方案：

未特殊規(guī)定的按照GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平II進行；

特殊規(guī)定的則按特殊規(guī)定的抽樣方案進行抽樣檢驗。

盤帶包裝物料：每盤按照GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，特殊檢查水平S-2進行。

接收質(zhì)量限：AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi).

4.3檢驗儀器、儀表、量具的要求所有的檢驗儀器、儀表、量具必須在校正計量器內(nèi)。

4.4檢驗結(jié)果記錄在相應(yīng)的“IQC來料檢驗報告”中。

序號部品名稱適用范圍備注頁數(shù)

第2頁共4頁

1常規(guī)元件類各類封裝電阻、電感、貼片電容4

2電解電容所有電解電容5

3陶瓷電容、獨石電容所有陶瓷電容、獨石電容6

4電位器各封裝電位器7

5三極管各類封裝三極管8

6二極管各類封裝二極管9

7三端穩(wěn)壓管各類封裝三端穩(wěn)壓管10

8壓敏電阻各類封裝壓敏電阻11

9整流橋堆所有的橋堆11

10繼電器所有繼電器13

11可控硅所有可控硅14

12光電耦合器所有光電耦合器15

13發(fā)光數(shù)碼管所有數(shù)碼管16

14發(fā)射管所有規(guī)格發(fā)射管17

15接收管所有規(guī)格接收管18

16IC(集成電路)所有此類物料19

17開關(guān)所有此類物料20

18晶振所有晶振21

19PCB板所有PCB板22

20五金件光幕外殼、銅殼、螺絲、螺釘、螺帽、磁芯等23

21塑膠件產(chǎn)品外殼、鏡架、后塞、前塞等塑膠24

22透鏡所有透鏡25

23光幕過濾板光幕過濾板26

24電線電線/屏蔽/銅線/絲包/紗包線等27

25印刷品說明書、保修卡、合格證等28

26易脫模易脫模29

27錫膏錫膏30

28焊錫絲焊錫絲31

29化學(xué)品樹脂、酒精、洗板水、助焊劑、助焊者等32

部品名稱常規(guī)元件類適用范圍各類封裝電阻、電感、貼片電容

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平II進行(除特殊指定外)；

抽樣方案

AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)

檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求檢驗要求不合格品缺陷分類備注/

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★

2、物料必需使用卷帶包裝，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、

目測★

包裝/標(biāo)破損、脫膠等現(xiàn)象；

識3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★

4,包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致；目測★

5、有無環(huán)保標(biāo)識（GREENPRODUCT,RoSH、無鉛等％目測★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、氣泡、針孔、不良

目測★特殊S-2

現(xiàn)象；

2、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面目測/

外觀★特殊S-2

應(yīng)平滑、無凹凸、露銅、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污；目測★特殊S-2

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗其尺寸卡尺

萬用表或

參數(shù)檢測檢驗電阻阻值、電容容值、電感值是否在規(guī)格范圍內(nèi)★特殊S-2

LCR

檢驗步驟及內(nèi)容

1、對單：根據(jù)貨倉開出的IQC進料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。

3、判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項

1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶.

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認(rèn)。

3、檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

圖示

4JH

色環(huán)電阻貼片電阻

rowJ貼片中阻電容封裝尺寸規(guī)格對應(yīng)關(guān)系

貼片電阻由絲印來識別阻值大小，

S37K2J英制公制長寬(W)

電阻絲印最后一位為前面幾位數(shù)值(inch)(mm)(mm)(mm)

020106030.60±0.050.30±0.05

貼片電容

留電容后面緊跟0的個數(shù)。0402100S1.00±0.100.50±0.10^

060316081.60±0.150.80±0.15

如"102"表示1000。，即1KQ

080520122.00±0.201.25±0.15

如“4702”表示47000Q,即47KQ「120632163.20±0.201.60±0.1S

121032253.20±0.202.S0±0.20

181248324.50±0.203.2OiO.2O

■201050255.00±0.202.5OiO.2O

貼片電感插件電感251264326.40士0.203.2O±O.2O

部品名稱電解電容適用范圍所有的電解電容

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=O.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

包裝/標(biāo)1、檢查包裝外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★

識2、包裝應(yīng)合理，有無按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體目測★

為原則）;

3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★

4、包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致：目測★

5、有無環(huán)保標(biāo)識（GREENPRODUCT,RoSH、無鉛等）。目測★

1、引腳無氧化、無銹跡、無破損、無污物、無變形、無折斷，目測/

★特殊S-2

與電容器本體結(jié)合牢固；顯微鏡

外觀2、金屬外殼，帶絕緣套，有防爆槽（中8以上為目測★特殊S-2

3、本體標(biāo)志內(nèi)容正確、完整、清晰，外觀應(yīng)無可見損傷且無電

目測★特殊S-2

解液流出，元件上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致。

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗其尺寸卡尺

LCR/漏電

參數(shù)檢測檢驗電容容值、漏電流是否在規(guī)格范圍內(nèi)?！锾厥釹-2

流測試儀

檢驗步驟及內(nèi)容

1、對單：根據(jù)貨倉開出的【QC進料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。

3、判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項

1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認(rèn)。

3、檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

4、電容直徑》8mm,就必須有防爆槽裝置。___________________________________

圖示

y

'

d

lvs

3

4導(dǎo)

g

<

勢

-

一

部晶名稱陶瓷電容、獨石電容適用范圍所有的陶瓷電容、獨石電容

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★

2、包裝應(yīng)合理，有無按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體

目測★

包裝/標(biāo)為原則）；

識3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★

4、包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致：目測★

5、有無環(huán)保標(biāo)識（GREENPRODUCT,RoSH,無鉛等）。目測★

1、引腳無氧化、無銹跡、無破損、無污物、無變形、無折斷，

目測★特殊S-2

與電容器本體結(jié)合牢固；

外觀

2、本體標(biāo)志內(nèi)容正確、完整、清晰，外觀應(yīng)無可見損傷，元件

目測★特殊S-2

上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致。

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗其尺寸卡尺

LCR/漏電

參數(shù)檢測檢驗電容容值是否在規(guī)格范圍內(nèi)?！锾厥釹-2

流測試儀

檢驗步驟及內(nèi)容

1、對單：根據(jù)貨倉開出的IQC進料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。

3、判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項

1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認(rèn)。

3、檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

4、電容直徑28mm,就必須有防爆槽裝置。

圖示

.

陶瓷電容獨石電容

部品名稱電位器適用范圍各類封裝電位器

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平II進行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★

2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等

目測★

包裝/標(biāo)現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。

識3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★

4、包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致：目測★

5,有無環(huán)保標(biāo)識（GREENPRODUCT,RoSH、無鉛等）。目測★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、不良現(xiàn)象；目測★特殊S-2

外觀2、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面目測/

★特殊S-2

應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污；目測★特殊S-2

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗其尺寸?？ǔ?/p>

參數(shù)檢測1、檢驗標(biāo)稱阻值是否在規(guī)格范圍內(nèi)萬用表★特殊S-2

2、旋轉(zhuǎn)旋鈕測試阻值是否成線性變換（不能有跳躍）萬用表★特殊S-2

檢驗步驟及內(nèi)容

1、對單：根據(jù)貨倉開出的IQC進料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。

3、判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項

1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認(rèn)。

3、檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

圖示

部品名稱三極管適用范圍各類封裝三極管

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★

2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等

目測★

包裝/標(biāo)現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。

識3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★

4、包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致；目測★

5、有無環(huán)保標(biāo)識（GREE\PRODUCT,RoSH、無鉛等）。目測★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、不良現(xiàn)象；目測★特殊S-2

2、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面市則/

★特殊S-2

外觀應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污；目測★特殊S-2

尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測/★特殊S-2

___________裝檢驗其尺寸。_________________________________________________________________________________________

參數(shù)檢測檢驗引腳電極是否正確、放大倍數(shù)是否在規(guī)格范圍內(nèi)。萬用表★特殊S-2

檢驗步驟及內(nèi)容

1、對單：根據(jù)貨倉開出的IQC進料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。

3,判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。

將PASS好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項

1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認(rèn)。

3、檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)“

圖示

部品名稱二極管適用范圍各類封裝二極管

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★

2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等

目測★

包裝/標(biāo)現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。

識3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★

4,包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致；目測★

5、有無環(huán)保標(biāo)識（GREE.XPRODUCT,RoSH、無鉛等）。目測★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象：目測★特殊S-2

2、檢杳元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面目測/

★特殊S-2

外觀應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污；目測★特殊S-2

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗其尺寸。卡尺

參數(shù)、性檢驗引腳電極是否正確、正向壓降是否在規(guī)格范圍內(nèi)（穩(wěn)壓管還晶體管測

★特殊S-2

能檢測需測試穩(wěn)壓值是否在規(guī)格范圍內(nèi)；發(fā)光二極管需檢驗發(fā)光顏色是試儀

部品名稱三端穩(wěn)壓管適用范圍各類封裝三端穩(wěn)壓管

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平II進行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★

2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等

目測★

包裝/標(biāo)現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。

識3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★

4、包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致；目測★

5,有無環(huán)保標(biāo)識（GREEXPRODUCT,RoSH,無鉛等）。目測★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測★特殊S-2

2、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面目測/

★特殊S-2

外觀應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測★特殊S-2

4、元件外觀不能有臟污；目測★特殊S-2

元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試目測/

尺寸★特殊S-2

裝檢驗其尺寸?？ǔ?/p>

參數(shù)、性在常溫下，穩(wěn)壓器輸入端加規(guī)定的直流電壓，然后用萬用表測出晶體管測

★特殊S-2

能檢測其輸出電壓，輸出電壓是否在規(guī)格范圍內(nèi)。試儀

檢驗步驟及內(nèi)容

1、對單：根據(jù)貨倉開出的IQC進料檢驗單，核實相應(yīng)型號和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。

2、抽樣：根據(jù)檢驗項目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。

3、判定/標(biāo)識：將不良品標(biāo)識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理.

將PASS好的物料做好標(biāo)識放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。

注意事項

1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。

2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認(rèn)。

3、檢測時，測量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。

圖示

參考電氣原理圖

部品名稱壓敏電阻適用范圍各類封裝壓敏電阻

GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平H進行（除特殊指定外）；

抽樣方案

AQL=0.01（CR）,AQL=1.0（Ma）,AQL=2.5（Mi）

檢驗要求不合格品缺陷分類備注/

檢驗項目檢驗內(nèi)容及要求

及工具CRMaMi抽樣水平

1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測★

2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等

目測★

包裝/標(biāo)現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。

識3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號、生產(chǎn)日期等標(biāo)識；目測★

4、包裝內(nèi)實物應(yīng)與標(biāo)識內(nèi)容一致；目測★

5、有無環(huán)保標(biāo)識（GREENPRODUCT,RoSH、無鉛等）。目測★

1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測★特殊S-2

2、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面目測/

★特殊S-2

外觀應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象；顯微鏡

3、元件上標(biāo)識的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致