(高清版)GBT 11019-2021 鍍鎳圓銅線

代替GB/T11019—2009Nickelcoatedroundcopperwire2021-10-11發(fā)布國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會I前言 2規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 26鍍層 27直徑偏差 48伸長率 5920℃直流電阻率 10接頭 11檢驗(yàn)規(guī)則 12包裝及標(biāo)志 6附錄A(資料性)國外常用的鍍鎳圓銅線的規(guī)格及不同等級對應(yīng)的鍍層厚度 7附錄B(規(guī)范性)鎳含量測定方法——電子法 9附錄C(規(guī)范性)鎳含量測定方法——化學(xué)法 Ⅲ本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替GB/T11019—2009《鍍鎳圓銅線》,與GB/T11019—2009相比，除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外，主要技術(shù)變化如下：——增加了鍍鎳圓銅線等級的規(guī)定(見4.3);——增加了外觀的檢查方法(見6.1.2);——更改了伸長率要求(見第8章，2009年版的第8章);——更改了電阻率要求(見第9章，2009年版的第9章);——增加了接頭要求(見第10章);——更改了檢驗(yàn)規(guī)則(見第11章，2009年版的第10章);——增加了國外常用的產(chǎn)品規(guī)格和鍍層要求(見附錄A);——刪除了鎳含量測定方法電子法、化學(xué)法的適用范圍(見2009年版的A.1、B.1);——增加了化學(xué)法含鎳量(質(zhì)量分?jǐn)?shù))的計算公式(見C.4.1)。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。本文件由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本文件由全國裸電線標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC422)歸口。本文件起草單位：上海電纜研究所有限公司、上海國纜檢測中心有限公司、江蘇廣川超導(dǎo)科技有限公司、江蘇通光電子線纜股份有限公司、樂庭電線工業(yè)(惠州)有限公司、江蘇寶勝精密導(dǎo)體有限公司、深圳市神州線纜有限公司、東莞市締網(wǎng)通訊科技有限公司。王樹森。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為：——1989年首次發(fā)布為GB/T11019—1989,2009年第一次修訂；——本次為第二次修訂。1頭方面的技術(shù)要求和試驗(yàn)方法，以及檢驗(yàn)規(guī)則、包裝及標(biāo)志等。本文件適用于制造電線電纜及電器產(chǎn)品的鍍鎳圓銅線。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T3048.2電線電纜電性能試驗(yàn)方法第2部分：金屬材料電阻率試驗(yàn)GB/T3953電工圓銅線GB/T4909.2裸電線試驗(yàn)方法第2部分：尺寸測量GB/T4909.3裸電線試驗(yàn)方法第3部分：拉力試驗(yàn)GB/T4909.9裸電線試驗(yàn)方法第9部分：鍍層連續(xù)性試驗(yàn)多硫化鈉法GB/T4909.11裸電線試驗(yàn)方法第11部分：鍍層附著性試驗(yàn)GB/T6516電解鎳3術(shù)語和定義本文件沒有需要界定的術(shù)語和定義。鍍鎳圓銅線的規(guī)格用標(biāo)稱直徑表示，見表2。4.3等級鍍鎳圓銅線的等級劃分由鎳含量確定，各等級鎳含量見表1。2表1鍍鎳圓銅線等級劃分等級鎳含量G2級4級7級10級27級鍍鎳圓銅線用型號、規(guī)格、鎳含量等級及本文件編號表示。示例：鍍鎳圓銅線標(biāo)稱直徑為0.500mm,鎳含量不小于4%,表示為：TRN0.5004級GB/T11019—2021。5材料銅線應(yīng)符合GB/T3953的規(guī)定；鎳應(yīng)符合GB/T6516的規(guī)定，純度不低于電解鎳板的規(guī)定。6鍍層6.1外觀6.1.1鍍鎳圓銅線的鎳層表面應(yīng)光亮、光滑連續(xù)，不應(yīng)有不光亮、不光滑等與良好工業(yè)品不相稱的任何6.1.2采用正常目力進(jìn)行外觀檢查。6.2鎳含量和鍍層厚度6.2.1不同等級鍍鎳圓銅線的鎳含量應(yīng)符合表1的規(guī)定，不同規(guī)格、不同等級鍍鎳圓銅線對應(yīng)的鍍層厚度應(yīng)不小于表2規(guī)定的最小值。表2不同規(guī)格、不同等級對應(yīng)的鍍層厚度標(biāo)稱直徑mm鍍層厚度最小值0.050———0.070—4.80.0800.1000.1200.1400.1503表2不同規(guī)格、不同等級對應(yīng)的鍍層厚度(續(xù))標(biāo)稱直徑mm鍍層厚度最小值27級—4標(biāo)稱直徑鍍層厚度最小值45.448.02.00020.22.30023.441.12.60026.446.266.52.90029.5211.63.26083.8237.5注：附錄A給出了國外常用的鍍鎳圓銅線的規(guī)格及不同等級對應(yīng)的鍍層厚度。6.2.2鎳含量和鎳層厚度按附錄B規(guī)定的電子法或附錄C規(guī)定的化學(xué)法進(jìn)行測定，仲裁時應(yīng)采用化學(xué)法進(jìn)行測定。6.3鍍層連續(xù)性6.3.1鍍層應(yīng)連續(xù)，經(jīng)多硫化鈉溶液試驗(yàn)后的試樣表面應(yīng)不變黑。6.3.2鍍層連續(xù)性應(yīng)按GB/T4909.9進(jìn)行測定，試樣應(yīng)在絞合或包覆絕緣前的單線上選取。鍍層重量所對應(yīng)的鎳層厚度小于1.3μm的鍍鎳圓銅線，不要求進(jìn)行鍍層連續(xù)性試驗(yàn)。6.4鍍層附著性6.4.1鍍鎳圓銅線在與其本身直徑相等的線上卷繞，并經(jīng)浸漬試驗(yàn)后，試樣螺旋卷繞部分的外周表面6.4.2鍍層附著性應(yīng)按GB/T4909.11進(jìn)行測定。7直徑偏差7.1直徑偏差應(yīng)符合表3的規(guī)定。7.2鍍鎳圓銅線的直徑應(yīng)按GB/T4909.2進(jìn)行測量。對于成卷的試樣，應(yīng)分別在兩端和中間測量三個點(diǎn)，取平均值；對于成盤的試樣，應(yīng)先從盤上取下長度約為4m的試樣，然后在試樣始端和距試樣末端0.6m之間的長度內(nèi)，測量六個點(diǎn)的直徑，取平均值。表3直徑偏差單位為毫米標(biāo)稱直徑d偏差0.050≤d<0.250+0.0080.250≤d<1.300+3%d—1%d1.300≤d≤3.260+0.038-0.01358伸長率8.1伸長率應(yīng)符合表4中的規(guī)定。8.2鍍鎳圓銅線的伸長率應(yīng)按GB/T4909.3進(jìn)行測量。對于直徑大于2.00mm的鍍鎳圓銅線，拉伸前在試樣上量取原始標(biāo)距長度250mm,伸長量取拉伸前后試樣標(biāo)距長度的差值，試樣的斷裂部位應(yīng)在標(biāo)距長度內(nèi)。對于直徑等于或小于2.00mm的鍍鎳圓銅線，拉伸前的鉗口距離為原始標(biāo)距長度(盡量接近250mm),伸長量取拉伸前后兩鉗口間的距離差值，試樣的斷裂部位離兩端鉗口的距離應(yīng)不小于表4伸長率標(biāo)稱直徑d伸長率%2級、4級、7級、10級0.050≤d≤0.1000.100<d≤0.2300.230<d≤0.5000.500<d≤3.260920℃直流電阻率9.120℃直流電阻率應(yīng)符合表5中的規(guī)定。9.2鍍鎳圓銅線的20℃直流電阻率應(yīng)按GB/T3048.2進(jìn)行測量。表520℃直流電阻率等級20℃直流電阻率p2o≤0.017960≤0.018342≤0.01894710級≤0.019592≤0.02428410接頭鍍鎳圓銅線不準(zhǔn)許有接頭，但鍍鎳工序前或拉絲工序前的銅線允許有接頭。11檢驗(yàn)規(guī)則鍍鎳圓銅線應(yīng)由制造廠檢驗(yàn)合格后方能出廠或使用，每批產(chǎn)品應(yīng)附有制造廠出具的產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)611.2檢驗(yàn)項目鍍鎳圓銅線應(yīng)按表6中的規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn)。表6檢驗(yàn)項目序號項目名稱技術(shù)要求的章條號試驗(yàn)類型試驗(yàn)方法的章條號l鍍層外觀6.1.1T、R6.1.2鎳含量和鍍層厚度6.2.1T、S6.2.2鍍層連續(xù)性6.3.1T、S6.3.2鍍層附著性6.4.1T、S6.4.22直徑偏差T、S3伸長率T、S4電阻率T、S注：T表示型式試驗(yàn)，S表示抽樣試驗(yàn)，R表示例行試驗(yàn)。檢驗(yàn)項目每批按1%抽樣，但不少于3盤。對鍍鎳圓銅線的檢驗(yàn)應(yīng)按表6中給出的檢驗(yàn)項目進(jìn)行，且應(yīng)符合全部技術(shù)要求。第一次檢驗(yàn)項目不合格時，應(yīng)取雙倍數(shù)量的試樣，就不合格項目進(jìn)行第二次試驗(yàn)，如仍不合格時，則應(yīng)逐盤檢查，若仍有不合格時，則該批判為不合格。12包裝及標(biāo)志鍍鎳圓銅線應(yīng)均勻地繞在線盤上交貨，線端應(yīng)固定，線匝不應(yīng)紊亂，最外層線與線盤側(cè)板邊緣應(yīng)保持適當(dāng)?shù)木嚯x。每盤線均應(yīng)妥善包裝，存放在干燥、無腐蝕氣體的地方。每盤鍍鎳圓銅線上應(yīng)附有標(biāo)簽，標(biāo)明：a)制造廠名稱；d)制造日期：××××年××月；e)本文件編號。7(資料性)國外常用的鍍鎳圓銅線的規(guī)格及不同等級對應(yīng)的鍍層厚度表A.1給出了國外常用的鍍鎳圓銅線的規(guī)格及不同等級對應(yīng)的鍍層厚度。表A.1國外常用的鍍鎳圓銅線的規(guī)格及不同等級對應(yīng)的鍍層厚度標(biāo)稱直徑鍍層厚度最小值8表A.1國外常用的鍍鎳圓銅線的規(guī)格及不同等級對應(yīng)的鍍層厚度(續(xù))標(biāo)稱直徑鍍層厚度最小值2級4級10級9(規(guī)范性)鎳含量測定方法——電子法B.1試驗(yàn)儀器和試劑B.1.3試劑：電解液R-54。B.2試樣制備試樣制備步驟如下：a)用千分尺測量試樣直徑，根據(jù)直徑大小確定被測試樣的電解長度，見表B.1;b)去除試樣表面油污，使試樣清潔干凈；c)在試樣電解長度部分做好標(biāo)記，非測量部分用蠟涂封。表B.1試樣長度的選取標(biāo)稱直徑d試樣的電解長度0.050≤d≤0.1400.140<d≤0.2800.280<d≤0.6000.600<d≤3.260B.3試驗(yàn)步驟試驗(yàn)步驟如下。a)接通電子厚度測量儀電源，并將“WT”附屬裝置接入。將陰極插入“WT”支承桿，陽極與電解槽安裝螺釘相連。b)將鍍層選擇器開關(guān)調(diào)到“Ni”位置，預(yù)熱5min。c)將R-54試劑注入“WT”裝置的不銹鋼燒杯，溶液溫度保持在20℃~25℃。d)將試樣插入并固定在“WT”裝置的水平臂接線柱內(nèi)，試樣標(biāo)記部分應(yīng)垂直浸入試劑中。B.4試驗(yàn)結(jié)果及計算B.4.1鍍層厚度鍍層厚度按公式(B.1)計算。厚度系數(shù)W的取值見表B.2。δ=N×W………(B.1)式中：N——計數(shù)器讀數(shù)；W——厚度系數(shù)。標(biāo)稱直徑d0.0500.0704.210.0800.1002.950.1202.460.1402.100.1500.1600.1800.2002.930.2302.550.2602.260.2802.100.3200.3500.3700.3900.4102.860.4502.600.5002.340.5302.210.5602.090.6000.6300.6700.7100.7500.8002.90標(biāo)稱直徑d0.8502.730.9002.582.322.212.112.022.0002.3002.6000.902.9000.803.2600.71B.4.2鎳含量鎳含量按公式(B.2)計算：G=(ò/d)×0.396………(B.2)G——鎳含量，%;(規(guī)范性)鎳含量測定方法——化學(xué)法C.1試驗(yàn)儀器和試劑C.1.3電熱烘箱。C.2試樣制備試樣制備步驟如下：a)用千分尺測量試樣直徑d,然后按表C.1準(zhǔn)確地截取規(guī)定試樣長度l;b)將試樣卷繞在直徑為40mm的光滑試棒上，制成螺旋狀。標(biāo)稱直徑d試樣長度l0.050≤d<0.10060000.100≤d<0.2100.210≤d<0.3200.320≤d<0.58020000.580≤d≤3.260C.3試驗(yàn)步驟試驗(yàn)步驟如下。a)將螺旋狀試樣浸入乙醚中至少3min,清洗干凈的試樣經(jīng)干燥后，在分析天平上稱重(go)。b)在燒杯內(nèi)注入50mL磷酸，加熱磷酸，將螺旋形試樣浸沒在磷酸試劑中。c)當(dāng)燒杯中不再有氣泡出現(xiàn)時，可認(rèn)為鎳已經(jīng)完全溶解。取出試樣，用清水清洗，去除試樣上殘d)將試樣放在100℃的烘箱內(nèi)干燥5min,冷卻后在分析天平上稱出試樣質(zhì)量(g?)。C.4試驗(yàn)結(jié)果及計算鎳含量按公式(C.1)進(jìn)行計算：G——鎳含量；g?——清除鍍層后的試樣質(zhì)量，單位為克(g)。