(高清版)GB∕T 3323.2-2019 焊縫無損檢測 射線檢測 第2部分：使用數(shù)字化探測器的X和伽瑪射線技術(shù)

ICS25.160.40GB/T3323.2—2019焊縫無損檢測射線檢測第2部分：使用數(shù)字化探測器的X和伽瑪射線技術(shù)(ISO17636-2:2013,MOD)國家市場監(jiān)督管理總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會GB/T3323.2—2019 I 2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語和定義 14符號和縮略語 4 6 77推薦的數(shù)字射線檢測技術(shù) 98檢測報告 附錄A(規(guī)范性附錄)最低像質(zhì)值 附錄B(規(guī)范性附錄)基本空間分辨率的確定 附錄C(規(guī)范性附錄)對接環(huán)焊縫100%數(shù)字射線檢測的推薦曝光次數(shù) 附錄D(規(guī)范性附錄)CR技術(shù)最小灰度值測定方法 附錄E(資料性附錄)關(guān)于灰度值論述 45 46GB/T3323.2—2019本部分為GB/T3323的第2部分。本部分使用重新起草法修改采用ISO17636-2:2013《焊縫無損檢測射線將6.9調(diào)整至6.7,其他順延?！裼玫韧捎脟H標(biāo)準(zhǔn)的GB/T12604.2代替了ISO5576(見第3章);●用等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T9445代替了ISO9712(見6.9);●用等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T23901.4代替了ISO19232-4(見6.7);●用等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T23901.5代替了ISOI1GB/T3323.2—2019焊縫無損檢測射線檢測第2部分：使用數(shù)字化探測器的X和伽瑪射線技術(shù)1范圍術(shù)與采用數(shù)字陣列探測器(DDA)的數(shù)字成像(DR)技術(shù)對金屬材料焊接接頭進(jìn)行X和伽瑪射線數(shù)字檢本部分適用于采用存儲熒光成像板(IP板)的CR技術(shù)與采用數(shù)字陣列探測器(DDA)的DR技GB/T9445無損檢測人員資格鑒定與認(rèn)證(GB/T9445—2015,ISO9712:2012,IDT)GB/T12604.2無損檢測術(shù)語射線照相檢測(GB/T12604.2—2005,ISO5576:1997,IDT)GB/T12604.11無損檢測術(shù)語X射線數(shù)字成像檢測GB/T23901.1無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：線型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定(GB/T23901.1—2019,ISO19232-1:2013,IDT)GB/T23901.2無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第2部分：階梯孔型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定(GB/T23901.2—2019,ISO19232-2:2013,IDT)GB/T23901.4無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第4部分：像質(zhì)值和像質(zhì)表的實驗評價(GB/T23901.4—2019,ISO19232-4:2013,IDT)GB/T23901.5無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第5部分：雙線型像質(zhì)計圖像不清晰度和空間分辨率的測定(GB/T23901.5—2019,ISO19232-5:2018,IDT)GB/T25758(所有部分)無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性ISO16371-1:2011無損檢測存儲熒光成像板工業(yè)計算機射線檢測第1部分：系統(tǒng)分類(Non-destructivetesting—Industrialcomputedradiographywithstoragephosphorimagingplates—Part1:Classificationofsystems)EN12679無損檢測射線檢測工業(yè)射線伽瑪源尺寸的確定(Non-destructivetesting—Radio-graphictesting—Determinationofthesizeofindustrialradiographicgammasources)2GB/T3323.2—2019存儲熒光成像板系統(tǒng)storagephosphorimagingplatesystem由存儲熒光成像板(IP板)和將IP板的存儲信息轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像的讀出單元(掃描儀或讀取器)組IP板一種可吸收并存儲被檢測物體射線透照信息形成潛在圖像的光激發(fā)射熒光材料，當(dāng)受到適當(dāng)波長的光激勵時，將會釋放出與所吸收存儲射線能量成比例的熒光。作為探測器，焦距為射線源到探測器的距離(SDD)。DDA系統(tǒng)將接收的散射或透射射線形成離散的模擬信號，然后對模擬信號進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，并傳遞到計算機處理顯示為對應(yīng)入射射線能量分布變化的數(shù)字圖像轉(zhuǎn)化裝置。成像板結(jié)構(gòu)噪聲structurenoiseofimagingplateIP板結(jié)構(gòu)噪聲由成像板的感光層(粒度)和表面涂層的不均勻結(jié)構(gòu)形成的噪聲。注：成像板曝光后掃描時，不均勻性顯示作為固定圖樣噪聲出現(xiàn)在數(shù)字圖像中。該噪聲限制了CR數(shù)字圖像可達(dá)到的最高圖像質(zhì)量，類似于膠片圖像的顆粒度。數(shù)字陣列探測器結(jié)構(gòu)噪聲structurenoiseofdigitaldetectorarrayDDA結(jié)構(gòu)噪聲由陣列探測器單元(像素)的特性差異產(chǎn)生的噪聲。注：當(dāng)對未經(jīng)過校準(zhǔn)的DDA探測器曝光讀出時，DDA探測器單元的特性差異將作為固定圖樣噪聲出現(xiàn)在數(shù)字圖校準(zhǔn)，以降低數(shù)字圖像的結(jié)構(gòu)噪聲?；叶戎礸reyvalue數(shù)字圖像中的某個像素單元所吸收的射線能量數(shù)字化的灰度數(shù)值。線性灰度值linearizedgreyvalue與探測器一個像素單元上所接收曝光量成正比的灰度數(shù)值，如果探測器沒有被曝光，則數(shù)值為零。數(shù)字探測器本身數(shù)字圖像上所測定的不清晰度值的1/2,且對應(yīng)于有效像素尺寸，表示數(shù)字探測器在放大倍數(shù)為1時數(shù)字圖像中可顯示分辨的最小幾何細(xì)節(jié)。注1:測定時，雙絲型像質(zhì)計直接放置在DDA或IP板上。注2:不清晰度值是通過GB/T23901.5測出的，也可通過ASTME10001]和ASTME27362測出。3GB/T3323.2—2019工件檢測獲得數(shù)字圖像中所測定圖像的不清晰度值的1/2,且對應(yīng)于有效像素尺寸，表示數(shù)字探測器在一定放大倍數(shù)下數(shù)字圖像中可顯示分辨的最小幾何細(xì)節(jié)。注1:測定時，雙絲型像質(zhì)計直接放置在被檢測工件(射線源側(cè))表面上。注2:不清晰度值是通過GB/T23901.5測出的，也可通過ASTME10001和ASTME27362]測出。信噪比signal-to-noiseratio數(shù)字圖像指定區(qū)域內(nèi)，線性灰度值的平均值與線性灰度值的標(biāo)準(zhǔn)差(噪聲)的比值。歸一化信噪比normalizedsignal-to-noiseratio從數(shù)字圖像中直接測量，或由測量的信噪比SNRmeasuca按式(1)經(jīng)歸一化計算得到，即，由基本空間分辨率SR,歸一化的信噪比。88.6——常數(shù)。CNR注：對比度噪聲比是描述圖像質(zhì)量的要素之一，取決于檢測產(chǎn)品的射線衰減系數(shù)和信噪比。要獲得高質(zhì)量的數(shù)字圖像，除具有一定的對比度噪聲比外，還需要有足夠的不清晰度或基本空間分辨率。88.6——常數(shù)。注：混疊常呈現(xiàn)為鋸齒狀或階梯狀的線或波紋圖案。群核像素clusterkernelpixel注：關(guān)于壞像素和CKP的詳細(xì)內(nèi)容參見ASTME2597[3(ASTME2597[3]定義了7種單個壞像素和5種壞像素群，4GB/T3323.2—20193.16t不考慮制造偏差的母材名義厚度。3.17W按材料公稱厚度確定的射線透照方向上的材料厚度。3.18穿透厚度差penetrationthicknesschange由于射線透照角度的影響，射線實際穿透厚度相對于公稱厚度的差值。3.19工件一探測器距離object-to-detectordistanceb沿射線束中心線測出的射線源側(cè)被檢工件表面至探測器表面的距離。3.20源尺寸sourcesized射線源尺寸或射線管焦點尺寸。3.21射線源一工件距離source-to-objectdistancef沿射線束中心線測出的射線源(或焦點)至射線源側(cè)被檢工件表面的距離。3.22射線源—探測器距離source-to-detectordistance沿射線束方向測出的射線源(或焦點)至探測器表面的距離。3.23管或筒的外圓直徑。3.24幾何放大倍數(shù)geometricmagnificationV射線源至探測器距離(SDD)與射線源至工件距離(f)的比值。4符號和縮略語表1給出的符號和縮略語適用于本文件。5GB/T3323.2—2019表1符號和縮略語b工件一探測器距離射線源側(cè)被檢工件表面至探測器的垂直距離CKP群核像素CNR對比度噪聲比CNRx歸一化對比度噪聲比計算機射線照相技術(shù)D探測器DDA數(shù)字陣列探測器外徑d源尺寸f射線源一工件距離射線源至被檢工件表面的垂直距離灰度值GVi線性灰度值存儲熒光成像板像質(zhì)計S射線源射線源—探測器距離信噪比歸一化信噪比用靠近探測器的雙絲型像質(zhì)計測定的基本空間分辨率SR,detector探測器基本空間分辨率SR,image圖像空間分辨率t公稱厚度穿透厚度差幾何不清晰度探測器系統(tǒng)固有不清晰度，在雙絲型像質(zhì)計直接放置于探測器表面獲得的數(shù)字圖像上測量uim圖像不清晰度，在雙絲型像質(zhì)計直接放置于源側(cè)工件表面獲得的數(shù)字圖像上測量總不清晰度，包括幾何不清晰度和固有不清晰度，在工件表面帶有雙絲型像質(zhì)計的探測器獲得的數(shù)字圖像上測量v幾何放大倍數(shù)w透照厚度65射線檢測技術(shù)分級和補償規(guī)則5.1技術(shù)等級射線檢測技術(shù)分為兩個等級：——A級：基本技術(shù)；當(dāng)A級技術(shù)的靈敏度不能滿足要求時，采用B級技術(shù)。存在比B級更優(yōu)的技術(shù)，當(dāng)使用更優(yōu)的技術(shù)時，由合同各方在文件中規(guī)定全部適宜的檢測參數(shù)。數(shù)字射線檢測技術(shù)的選擇應(yīng)由合同各方商定。數(shù)字射線的A級、B級技術(shù)與射線照相的A級、B級技術(shù)應(yīng)具有同等的缺陷的可識別性?？勺R別性應(yīng)采用GB/T23901.1、GB/T23901.2、GB/T23901.5規(guī)定的像質(zhì)計驗證。當(dāng)由于技術(shù)或結(jié)構(gòu)原因不能滿足B級技術(shù)的透照條件時(例如射線源類型、射線源—工件距離等),經(jīng)合同各方商定，可選用A級技術(shù)規(guī)定的透照條件，其靈敏度損失應(yīng)采取補償措施。對于CR檢測技術(shù)，應(yīng)提高最小灰度值和SNR、補償；對DDA檢測技術(shù)，應(yīng)增加SNR、(推薦提高1.4倍SNRx)補償。若達(dá)到了B級技術(shù)規(guī)定的像質(zhì)計靈敏度，可認(rèn)為工件是按B級技術(shù)透照的。針對7.1.4和7.1.5的透照布置，若按7.6減小射線源一探測器的距離，則無需按上述方法進(jìn)行靈敏度補償。5.2補償規(guī)則補償規(guī)則分為補償規(guī)則I(CPI)、補償規(guī)則Ⅱ(CPⅡ)和補償規(guī)則Ⅲ(CPⅢ)(見5.2.2～5.2.4),以保證數(shù)字探測器達(dá)到足夠的對比度，從而提高檢測靈敏度。使用補償規(guī)則的目的在于獲得最小的CNR~/△w,即，基于可檢材料厚度差△w的探測器歸一化基本空間分辨率；當(dāng)CNR、/△w因下列某個參數(shù)值不足而未達(dá)到要求時，可通過提高SNR進(jìn)行補償。針對對比度不足(如由于管電壓增高造成),通過提高SNR進(jìn)行補償(如通過增加管電流或曝光時間)。針對探測器固有不清晰度大(SR,值大于規(guī)定值),通過提高SNR進(jìn)行補償(通過增加常規(guī)絲型像質(zhì)值(或階梯孔型像質(zhì)值),補償雙絲型像質(zhì)計識別損失(不清晰度引起的對比度損失)。針對探測器局部不清晰度偏大(壞像素修正引起的不清晰度增加),通過提高SNR進(jìn)行補償(具體情況可通過工藝試驗確定)。5.2.5補償理論補償規(guī)則基于小尺寸缺陷(△w<<w)的近似式(3)。7GB/T3323.2—2019pe——有效衰減系數(shù)。6通則6.1輻射安全防護(hù)措施。6.2表面處理與檢測時機覆層。6.3數(shù)字圖像上焊縫定位6.4數(shù)字圖像標(biāo)識6.5工件標(biāo)記若材料性質(zhì)或使用條件不允許在工件表面上作永久性標(biāo)記時，可通過透照示意圖或拍照等方式6.7最低像質(zhì)值金屬材料焊縫數(shù)字射線檢測的最低像質(zhì)值要求見附錄A中表A.1～表A.14。其他材料數(shù)字射線——使用Ir192,10mm<w≤25mm,允許像質(zhì)值減1;——使用Se75,5mm<w≤12mm,允許像質(zhì)值減1?！褂肐r192,10mm<w≤24mm,允許像質(zhì)值減2;8GB/T3323.2—2019——使用Ir192,24mm<w≤30mm,允許像質(zhì)值減1;——使用Se75,5mm<w≤24mm,允許像質(zhì)值減1?！褂肐r192,10mm<w≤40mm,允許像質(zhì)值減1;——使用Se75,5mm<w≤20mm,允許像質(zhì)值減1。6.8像質(zhì)計的類型與使用采用GB/T23901.1(絲型像質(zhì)計)、GB/T23901.2(階梯孔型像質(zhì)計)或GB/T23901.5(雙絲型像質(zhì)計)測定數(shù)字射線檢測圖像質(zhì)量。為確定數(shù)字探測器系統(tǒng)的基本空間分辨率，驗證系統(tǒng)硬件是否符合表A.13和表A.14要求，需要一個參照圖像。該圖像按附錄B制作，雙絲型像質(zhì)計應(yīng)直接放置在數(shù)字探測器表面上。在工件射線源側(cè)表面上，圖像空間分辨率的測定按附錄B執(zhí)行，所測定的圖像空間分辨率值對應(yīng)透照厚度應(yīng)滿足表A.13或表A.14的規(guī)定，單壁單影透照時的透照厚度對應(yīng)于工件的公稱厚度，雙壁雙影透照(圖11或圖12)檢測時，雙絲型像質(zhì)計放置于管射線源側(cè)表面上，以管外徑為透照厚度，按表A.13或表A.14確定所測定的圖像空間分辨率是否滿足要求；用于雙壁雙影透照檢測的數(shù)字探測器的基本空間分辨率測定值，應(yīng)不低于以管壁厚兩倍作為透照厚度所對應(yīng)的表A.13或表A.14規(guī)定值。當(dāng)采用幾何放大透照布置時(見7.7),如果放大倍數(shù)大于1.2,則工件焊縫檢測的全部圖像都應(yīng)放置雙絲型像質(zhì)計測定圖像空間分辨率。圖像的行或列成45°,則得到的像質(zhì)值應(yīng)減少1。采用GB/T23901.1(絲型像質(zhì)計)或GB/T23901.2(階梯孔型像質(zhì)計)驗證和評定數(shù)字圖像的對比示在灰度值或SNRx均勻的數(shù)字圖像中。按7.1.6和7.1.7的透照布置曝光時，絲型像質(zhì)計可采用7.1.6和7.1.7透照布置時，像質(zhì)計可放置于射線源側(cè)或數(shù)字探測器側(cè)。只有當(dāng)像質(zhì)計無法放時使用的數(shù)字探測器前端安裝了濾波器，則像質(zhì)計應(yīng)放置在濾波器前面。雙壁透照且像質(zhì)計放在數(shù)字探測器側(cè)時，不必作對比試驗。此時像質(zhì)值按表A.9～表A.12確定。9GB/T3323.2—2019如果采取相關(guān)措施能保證，相同被檢工件或區(qū)域透照部位是以相同的透照參數(shù)和透照技術(shù)進(jìn)行數(shù)體的圖像對比度靈敏度確定要求宜由合同各方商定。間隔放置至少三個像質(zhì)計。6.9人員資格按本部分實施射線檢測的人員，應(yīng)按GB/T9445或合同各方商定后進(jìn)行資格鑒定與認(rèn)證，取得射員應(yīng)能證明經(jīng)歷過附加的工業(yè)數(shù)字射線檢測技術(shù)培訓(xùn)與資格鑒定。7推薦的數(shù)字射線檢測技術(shù)7.1透照方式通常情況下，焊縫數(shù)字射線檢測技術(shù)應(yīng)按7.1.2～7.1.9中圖1～圖19的規(guī)定執(zhí)行。外徑D。大于100mm,或公稱厚度t大于8mm,或焊縫寬度大于D。/4的管對接環(huán)焊縫，不宜使用圖11的雙壁雙影橢圓透照技術(shù)。雙壁雙影橢圓透照時，若t/D。小于0.12,相隔90°透照2次，不滿足條件則相隔120°或60°透照3次。橢圓影像最大間距處應(yīng)約為一個焊縫寬度。照技術(shù)(見圖12)相隔120°或60°透照3次。采用圖11、圖13和圖14透照布置時，射線束入射角應(yīng)盡可能小，但要防止上下兩側(cè)焊縫影像重疊。在滿足7.6的前提下，采用圖13透照布置時，射線源-工件距離f應(yīng)盡可能小。像質(zhì)計和鉛字“F”應(yīng)緊貼數(shù)字探測器放置。所示。射線源至探測器的距離SDD須由壁厚t和探測器至射線源側(cè)工件表面的最大距離b及焦點或射線源尺寸d按7.6式(6)和式(7)計算。GB/T3323.2—2019圖1縱縫單壁透照法的透照布置SGB/T3323.2—2019圖4安放式管座焊縫單壁外透照法的透照布置射線源位于被檢工件內(nèi)側(cè)中心處，數(shù)字探測器位于外側(cè)，見圖5～圖7。D圖5環(huán)焊縫周向曝光的透照布置圖6插入式管座焊縫單壁中心透照法的透照布置GB/T3323.2—2019圖7安放式管座焊縫單壁中心透照法的透照布置7.1.5偏心透照法射線源位于被檢工件內(nèi)側(cè)偏心處，數(shù)字探測器位于外側(cè)，見圖8～圖10。SSSSSSa)用曲面探測器b)用平面探測器圖8環(huán)焊縫單壁偏心透照法的透照布置圖9插入式管座焊縫單壁偏心透照法的透照布置GB/T3323.2—2019圖10安放式管座焊縫單壁偏心透照法的透照布置GB/T3323.2—2019直透照法的透照布置射線源位于被檢工件見圖13～圖18。a)用曲面探測器b)用平面探測器GB/T3323.2—2019的透照布置圖16插入式管座焊縫雙壁單影a)無邊緣補償?shù)耐刚詹贾糜羞吘壯a償?shù)耐刚詹贾肧圖18角焊縫透照布置GB/T3323.2—2019圖19CR多探測器技術(shù)透照布置7.2管電壓和射線源的選擇7.2.1管電壓1000kV及以下的X射線機給出X射線透照不同材料和不同厚度時，推薦使用的最高管電壓。這些最大值是膠片射線檢測的最佳實踐值。經(jīng)過精確校準(zhǔn)的數(shù)字陣列探測器，在采用高于圖20規(guī)定的限值管電壓進(jìn)行數(shù)字射線檢測時，可以提供滿足要求的圖像質(zhì)量。當(dāng)采用IP板進(jìn)行B級檢測時，由于受到成像板結(jié)構(gòu)噪聲高(粗粒度)的影響，使用的X射線管電壓限值宜在圖20基礎(chǔ)上降低20%。采用高清晰度IP字圖像SNRn顯著增加情況下，使用圖20規(guī)定的管電壓或明顯更高的管電壓透照檢測。補償規(guī)則I:——通過增加SNR、提高圖像對比度靈敏度[降低透照管電壓和提高曝光量(如毫安分)];——在透照管電壓不變的情況下，通過增加SNR、提高對比度靈敏度[提高曝光量(如毫安分)];GB/T3323.2—2019U/kVU——X射線管電壓；2——鋼；圖201000kV及以下X射線機透照不同材料和厚度所允許使用的最高管電壓伽瑪射線和1MeV以上的X射線推薦的透照厚度范圍見表2。經(jīng)合同各方商定，采用Ir192時，最小透照厚度可降至10mm;采用Se75時，最小透照厚度可降至線源有操作方便、易于接近被檢部位等優(yōu)點，當(dāng)使用X射線機有困難時，可在表2給出的透照厚度范圍使用存儲熒光成像板系統(tǒng)進(jìn)行伽瑪射線數(shù)字射線檢測時，輸送射線源的往返時間應(yīng)不超過總曝光時間的10%。使用數(shù)字陣列探測器系統(tǒng)進(jìn)行伽瑪射線檢測時，圖像采集時間應(yīng)在伽瑪射線源到達(dá)指定GB/T3323.2—2019射線源透照厚度w/mmA級B級Tm170w≤5w≤5Yb169*2≤w≤12Se75*20≤w≤10020≤w≤90Co6040≤w≤20060≤w≤150X射線1MeV～4MeV30≤w≤20050≤w≤180X射線4MeV～12MeVw≥50w≥80X射線>12MeVw≥80w≥100對鋁和鈦，透照厚度：A級時，10≤w≤70;B級時，25≤w≤55。對鋁和鈦，透照厚度：A級時，35≤w≤120。7.3數(shù)字探測器系統(tǒng)和金屬增感屏數(shù)字射線檢測圖像的最小SNR、或最小灰度值(僅適用于CR檢測),應(yīng)滿足表3和表4規(guī)定。最小SNRx的測量按附錄D的要求執(zhí)行。如果使用IP板和掃描儀，按附錄D確定表3和表4規(guī)定的最小SNR、,可以采用CR技術(shù)的等效最小灰度值代替SNRN。關(guān)于灰度值的論述參見附錄E。部位應(yīng)靠近絲型像質(zhì)計或階梯孔型像質(zhì)計。在IP板數(shù)字射線檢測圖像中，其灰度值也應(yīng)在焊縫熱影響區(qū)母材厚度均勻且靠近絲型像質(zhì)計或階梯孔型像質(zhì)計的區(qū)域測定。由于焊縫表面粗糙度產(chǎn)生的噪聲影響數(shù)字圖像SNR、,表3中的值為推薦值。當(dāng)數(shù)字圖像SNR、是在母材熱影響區(qū)附近的焊縫處測定時，除焊縫加強高已去除至與母材齊平情況外，所測定的最小SNR、值應(yīng)乘以1.4因子后再與表3和表4的規(guī)定值比較。在膠片射線檢測中，母材熱影響區(qū)測定底片黑度通常在3.5～4之間。這相當(dāng)于更高的SNRx,約是焊縫中心區(qū)域的1.4～2倍或更高。因此，特別強調(diào)在焊縫熱影響區(qū)部位測定SNR√,這一區(qū)域灰度可替代最小SNRN的等效最小灰度值的確定方法(僅用于CR),見附錄D。附錄D為習(xí)慣測定非SNRx的用戶提供了一個SNR與SNR、轉(zhuǎn)換表。根據(jù)數(shù)字探測器的基本空間分辨率和表3和表4規(guī)定的最小SNR、值確定最小非SNR、值。類比于膠片射線檢測對底片允許最小黑度的小灰度值或最小SNR、值或最小非SNR、值(測量方法見附錄D)。采用DDA圖像允許的最小SNR、值或最小非SNR、值(測量方法見附錄D)。在沒有特殊規(guī)定情況下，應(yīng)滿足表3和表4的規(guī)定。表3和表4對不同的射線源和透照厚度，給出了數(shù)字圖像允許的最小SNR、值。和附錄D。GB/T3323.2—2019對于所使用的數(shù)字探測器系統(tǒng)和曝光條件，如果兩種類型像質(zhì)計靈敏度(絲型像質(zhì)計或階梯孔型像質(zhì)計的對比度靈敏度和雙絲型像質(zhì)計的不清晰度)不能同時達(dá)到表A.1～表A.14規(guī)定值，應(yīng)通過增加常規(guī)絲型像質(zhì)值(或階梯孔型像質(zhì)值),補償不清晰度引起的對比度損失。補償規(guī)則Ⅱ分為三級：一級補償：提高絲型像質(zhì)值一級補償雙絲型像質(zhì)值降低一級。例如，要求值為D12和W16(對5mm的透照厚度，B級—表A.3和表A.14)都不滿足，則認(rèn)為D11和W17提供了等價的檢測靈敏度。三級補償：一般情況下，補償應(yīng)限制在最多二級補償。對特定檢測，在保證檢測靈敏度情況下，經(jīng)合采用補償規(guī)則時，應(yīng)考慮不清晰度對缺陷檢測的可能影響。在技術(shù)上補償是通過增加曝光量提高檢測圖像信噪比。對于數(shù)字陣列探測器DDA,在給定距離SDD和透照管電壓情況下，數(shù)字射線檢測圖像的對比度靈敏度取決于所用積分時間和管電流(毫安),因此，可通過增加曝光時間和管電流提高絲型像質(zhì)計或階梯孔像質(zhì)計的識別能力。這一規(guī)定同時適用于CR檢測，但由于IP板感光顆粒的結(jié)構(gòu)噪聲影響，限制了數(shù)字射線檢測圖像可達(dá)到的最大SNR、值。DDA的校準(zhǔn)程序也限制了數(shù)字射線檢測圖像可達(dá)到的最數(shù)字探測器的基本空間分辨率是由設(shè)計和硬件參數(shù)決定的。當(dāng)采用幾何放大成像檢測技術(shù)時，采用放置在工件上的雙絲型像質(zhì)計測定數(shù)字檢測圖像的空間分辨率(見7.7)。7.3.3IP板用金屬增感屏與防護(hù)板當(dāng)使用金屬增感前屏?xí)r，對IP板采取真空包裝袋或按壓措施，使IP板感光面與前屏緊貼。鉛箔增感屏與IP板之間的間隙可能導(dǎo)致圖像不清晰度增大。對于IP板，鉛箔增感屏的增感作用明顯小于對膠片的增感作用。多數(shù)IP板對低能量背散射線和背散射線防護(hù)鉛板發(fā)出的X射線熒光非常敏感，這將導(dǎo)致影像邊背防護(hù)鉛板與IP板間插入鋼或銅防護(hù)板，改善圖像質(zhì)量。在設(shè)計制造IP板暗盒時可以考慮將銅或鋼防護(hù)板直接放入到暗盒內(nèi)。當(dāng)不使用鉛箔增感屏?xí)r，鉛箔增感屏對IP板所產(chǎn)生的較小增感作用損失可通過增加曝光量補償。如果檢測使用鉛箔增感前屏，在IP板掃描前應(yīng)去除鉛箔增感前屏，否則會導(dǎo)致IP板產(chǎn)生劃痕，宜將鉛箔增感前屏放置在暗袋或暗盒外側(cè)濾除散射線。對于透照厚度小于12mm的鋼制工件，不推薦使用鉛箔增感屏。推薦按表3和表4選擇使用金屬增感屏的材料和厚度。根據(jù)所需達(dá)到的圖像質(zhì)量，經(jīng)合同各方商定后也可使用其他厚度的金屬增感屏。推薦在IP板前面放置金屬增感屏，使用數(shù)字陣列探測器DDA20GB/T3323.2—2019表3鋼、銅和鎳基合金數(shù)字射線檢測最小歸一化信噪比(CR和DDA)和金屬增感屏(適用CR)射線源透照厚度w/mm金屬增感屏類型和厚度/mmA級B級X射線≤50kV不用屏X射線b>50～150kV鉛屏0～0.1X射線b>150～250kV鉛屏0～0.1X射線b>250～350kV鉛屏0～0.3鉛屏0～0.3X射線b>350～1000kV鉛屏0～0.3鉛屏0～0.3鉛屏0～0.1鉛屏0～0.1鉛屏0～0.3鉛屏0.1～0.4鋼或銅屏0.3～0.8+鉛屏0.6～2鋼或銅屏0.3～0.8+鉛屏0.6～2鋼、銅或鉛屏0.6～4鋼、銅或鉛0.6～4·如果在母材熱影響區(qū)附近的焊縫處測定SNR、,除焊縫加強高已去除至與母材齊平外，其測定值應(yīng)乘以1.4因子作為SNR、值。可以完全或部分采用鋼或銅屏替代鉛屏，此時鋼或銅屏的等效厚度應(yīng)為鉛屏的3倍。同時使用多種材料金屬屏?xí)r(如鋼十鉛屏),應(yīng)將鋼屏放置在IP板與鉛屏之間。可以使用鉭、鎢屏替代鋼、銅或鋼、銅十鉛屏，但需通過驗證試驗確認(rèn)圖像質(zhì)量。表4鋁和鈦數(shù)字射線檢測最小歸一化信噪比(CR和DDA)和金屬增感屏(適用CR)射線源最小SNR、金屬增感前屏的類型和厚度/mmA級B級X射線≤150kV鉛屏≤0.03X射線>150～250kV鉛屏≤0.2bX射線>250～500kV鉛屏≤0.2bYb169鉛屏≤0.2bSe75鉛屏≤0.3b如果在母材熱影響區(qū)附近的焊縫處測定SNR、,除焊縫加強高已去除至與母材齊平外，其測定值應(yīng)乘以1.4因子作為SNR、值。h可以在IP板暗盒外使用一個0.1mm鉛屏和一個0.1mm鉛濾波板替代一個0.2mm鉛屏。GB/T3323.2—20197.4射線方向射線束應(yīng)指向透照區(qū)中心，并與被檢工件垂直，若采用其他透照角度有利于檢測某些缺欠時，也可另擇方向進(jìn)行透照。數(shù)字射線檢測的其他透照方法可由合同各方商定。例如，為了有效檢測焊縫坡口未熔合，中心射線束透照方向宜與焊縫坡口面平行。7.5散射線的控制7.5.1金屬濾光板和準(zhǔn)直器為減少散射線的影響，射線束透照時應(yīng)盡可能對準(zhǔn)被檢區(qū)域。采用Se75、Ir192、Co60射線源和高于1MeV的X射線源或存在邊緣散射時，可在工件與IP板暗盒或數(shù)字陣列探測器DDA之間放置一個鉛質(zhì)濾光板濾除散射線。根據(jù)透照厚度的不同，濾光板的厚度在0.5mm～2mm之間選擇。7.5.2背散射的屏蔽每一種新工件進(jìn)行CR檢測時，應(yīng)在IP板暗盒后背貼上鉛字“B”(高度大于或等于10mm,厚度大于或等于1.5mm),以驗證背散射的存在與否。若數(shù)字圖像上出現(xiàn)該字符的較亮影像(負(fù)片方式顯示數(shù)字圖像，標(biāo)記影像灰度值較低),表明散射線屏蔽不符合要求；若此字符影像較暗(負(fù)片方式顯示數(shù)字圖像，標(biāo)記影像灰度值較高)或不可見，表明散射線屏蔽良好。必要時，為防止散射線對探測器的影響，應(yīng)在IP板暗盒后貼附至少1mm厚的鉛板或至少1.5mm厚錫板。同時將厚度約0.5mm的鋼屏或銅屏放置在鉛防護(hù)屏與IP板暗盒之間，減少X射線熒光對數(shù)字圖像的影響。當(dāng)采用超過80keV的X射線檢測時，在IP板暗盒后面不應(yīng)放置鉛防護(hù)屏。7.6射線源一工件距離GB/T25758(所有部分)或EN12679測定。當(dāng)源尺寸有兩個方向尺寸(如長、寬或長軸、短軸)時，應(yīng)取較大值。射線源一工件距離f的選擇，除圖2b)、圖8b)、圖13b)和圖14b)所示透照布置外，應(yīng)使f/d符合式(4)和式(5):f/d≥7.5b2/3 (4)f/d≥15b2/3 (5)當(dāng)b<1.2t,式(4)和式(5)及圖21中的b可由公稱厚度t取代。射線源一工件最小距離fmin可按圖21的諾模圖確定。圖21是根據(jù)式(4)和式(5)作出的。所示透照布置選擇距離f時，應(yīng)使f/d符合式(6)和式(7):A級 (6) (7)使用A級技術(shù)檢測平面型缺欠時，為使幾何不清晰度減小為原來的1/2,射線源一工件最小距離GB/T3323.2—2019fmm應(yīng)按B級技術(shù)的要求確定。對裂紋敏感性大的材料有更為嚴(yán)格的技術(shù)要求時，應(yīng)選用靈敏度比B級更優(yōu)的技術(shù)進(jìn)行透照。dfmin500b400500A級A級808655432圖21確定射線源一工件最小距離fmin的諾模圖采用幾何放大技術(shù)檢測時，未經(jīng)正確校正數(shù)字探測器系統(tǒng)的固有不清晰度u;和幾何不清晰度uG將導(dǎo)致圖像總不清晰度ur的增加，見式(8)。uT=√u;2+ug2…………(8)推薦通過增加射線源—工件最小距離fmin降低數(shù)字探測器系統(tǒng)獲得數(shù)字圖像的總不清晰度。由于數(shù)字探測器較膠片具有更大的固有不清晰度，為補償數(shù)字探測器固有不清晰度的影響，得到近似于GB/T3323.1規(guī)定的總不清晰度，推薦按條件a)和b)兩種方法處理：a)當(dāng)工件與數(shù)字探測器直接接觸(非幾何放大透照布置),按工件—探測器距離b選擇數(shù)字探測器的基本空間分辨率SR,應(yīng)符合式(9)和式(10):GB/T3323.2—2019…………b)若需達(dá)到與膠片射線照相影像近似的總不清晰度值，在數(shù)字探測器的基本空間分辨率SR,符合式(9)和式(10)的情況下，宜按式(11)和式(12)計算確定射線源—工件最小距離fmin,該計算值較式(4)或式(5)以及圖21給出的值有較大增加。 (11) (12)如果選用數(shù)字探測器的基本空間分辨率遠(yuǎn)小于式(9)或式(10)的計算值，或是通過增加信噪比(CPII)使數(shù)字圖像中的像質(zhì)值滿足表A.1～表A.12要求，可按式(4)和式(5)或圖21確定射線源—工件最級檢測技術(shù)數(shù)字圖像質(zhì)量的最大不清晰度和空間分辨率要求。采用雙壁雙影橢圓透照技術(shù)(見7.1.6)或雙壁雙影垂直透照技術(shù)(見7.1.7)時，式(4)和式(5)及采用雙壁單影透照技術(shù)(見7.1.8),在確定射線源一工件最小距離時，b值可取公稱厚度t。數(shù)字射線檢測時，盡可能避免采用7.1.6～7.1.8規(guī)定的雙壁透照布置，優(yōu)先考慮7.1.4和7.1.5規(guī)定的單壁透照布置。采用偏心透照法時(見7.1.5),允許的射線源—工件最小距離減少值不宜超過規(guī)定值的20%;采用中心透照法時(見7.1.4圖5),允許的射線源—工件最小距離減少值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%。在圖像質(zhì)量滿足要求的前提下，經(jīng)合同各方商定可進(jìn)一步減少射線源—工件距離。7.7幾何放大技術(shù)對于CR和數(shù)字陣列探測器DDA射線檢測系統(tǒng)，與具有很高空間分辨率的焊縫射線照相細(xì)顆粒膠片比較，存在的一個應(yīng)用困難是數(shù)字探測器或大多數(shù)IP板掃描儀具有較大的像素尺寸(大于50μm),這可能導(dǎo)致圖像對比度靈敏度和空間分辨率都不能達(dá)到規(guī)定要求?？朔藨?yīng)用困難的方法是采用先進(jìn)的、性能一致性好的數(shù)字陣列探測器DDA,通過提高數(shù)字圖像SNR、或是采用幾何放大透照技術(shù)解決。如果數(shù)字圖像的像質(zhì)值(絲型像質(zhì)計或階梯孔型像質(zhì)計驗證)和空間分辨率(雙絲型像質(zhì)計驗證，見附錄B)不能滿足表A.1～表A.14的要求，可按7.3.2(CPII)規(guī)定，通過增加圖像信噪比補償檢測靈敏度和空間分辨率損失。另一種方法是采用幾何放大透照技術(shù)，即：使用小尺寸的射線源或焦點尺寸小的X射線管，增加工件與IP板或數(shù)字陣列探測器DDA之間的距離。如果采用上述兩種措施仍然不能達(dá)到要求的圖像質(zhì)量，則CR或數(shù)字陣列探測器DDA射線檢測系統(tǒng)不能應(yīng)用于該工件檢測。確定放大倍數(shù)是否合適時，應(yīng)采用雙絲型像質(zhì)計，通過工件檢測數(shù)字圖像中顯示雙絲型像質(zhì)計的空間分辨率(或不清晰度)驗證。如果基本空間分辨率SR,detctor的2倍大于射線源尺寸或焦點尺寸d,則雙絲型像質(zhì)計應(yīng)放置在工件的數(shù)字探測器側(cè)，否則雙絲型像質(zhì)計應(yīng)放置在工件的源側(cè)。推薦兩側(cè)同時放置雙絲型像質(zhì)計，但在一定的射線源尺寸或焦點尺寸情況下確定了放大倍數(shù)后，檢測工件時只需放置一個雙絲型像質(zhì)計。數(shù)字圖像的像質(zhì)計影像可能對缺陷自動識別產(chǎn)生影響，如果在線檢測時不使用像質(zhì)計，則圖像質(zhì)量應(yīng)通過使用絲型像質(zhì)計或階梯孔型像質(zhì)計和雙絲型像質(zhì)計定期核查。圖像不清晰度由與放大倍數(shù)v、幾何不清晰度uc和基本空間分辨率SR,detctor相關(guān)的式(13)、式(14)確定。……………………應(yīng)通過增加放大倍數(shù)和/或減小焦點尺寸措施，使圖像不清晰度小于或達(dá)到表A.13或表A.14要求。這應(yīng)由工件上放置的雙絲型像質(zhì)計影像驗證。通常工件射線源側(cè)和數(shù)字探測器側(cè)的放大倍數(shù)不同，因此，宜以檢測工件透照中心區(qū)域確定放大倍數(shù)。工件射線源側(cè)和數(shù)字探測器側(cè)的放大倍數(shù)差宜不超過±25%。如果使用7.3.2的CPⅡ補償時，則可選擇相對較小的放大倍數(shù)。7.8一次透照長度平板縱焊縫透照(圖1、圖15、圖17和圖18)和射線源偏心布置透照曲面焊縫(圖2～圖4、圖8~圖16)時，為保證100%透照，其曝光次數(shù)宜按技術(shù)要求確定。射線經(jīng)過厚度均勻評定區(qū)外端的斜向穿透厚度與中心束的透照厚度之比，A級應(yīng)不大于1.2,B級應(yīng)不大于1.1。由于射線穿透厚度變化而產(chǎn)生的SNR、差值宜不低于表3或表4的要求。CR檢測使用的灰度值，見附錄D。工件被檢區(qū)域應(yīng)包括焊縫和熱影響區(qū)，通常焊縫兩側(cè)應(yīng)檢測至少約10mm的母材區(qū)域。對接環(huán)焊縫100%檢測時推薦的透照次數(shù)見附錄C。7.9質(zhì)量控制技術(shù)7.9.1圖像掃描與讀出數(shù)字探測器或掃描儀按制造商推薦的條件使用，以獲得穩(wěn)定的圖像質(zhì)量。避免人為操作和使用問題對數(shù)字射線檢測結(jié)果產(chǎn)生影響。7.9.2數(shù)字陣列探測器DDA校準(zhǔn)使用數(shù)字陣列探測器DDA時，應(yīng)按照制造商推薦的程序校準(zhǔn)探測器。探測器校正包括偏置校正(暗場校正)和增益校正(亮場校正),增益校正至少進(jìn)行一次。多次增益校正有利于探測器信噪比的提高和線性改善。為盡可能降低校正產(chǎn)生的噪聲，增益校正所使用的曝光量應(yīng)至少為工件檢測時的兩倍。校正圖像宜作為質(zhì)量控制原始圖像保存。探測器校正應(yīng)定期或在曝光條件改變時進(jìn)行。7.9.3數(shù)字陣列探測器DDA壞像素插入壞像素是數(shù)字陣列探測器DDA陣列中性能超出要求的單元。ASTME2597[3]有詳細(xì)說明。使用數(shù)字陣列探測器DDA時，應(yīng)按制造商的規(guī)則確定和記錄壞像素分布圖。允許使用壞像素插入，這是使用數(shù)字陣列探測器DDA檢測的重要過程。數(shù)字陣列探測器DDA檢測成像的區(qū)域內(nèi)不宜存在群核像素。應(yīng)采用沒有群核像素的數(shù)字陣列探測器DDA和CR進(jìn)行檢測，且基本空間分辨率小于或達(dá)到表A.13或表A.14要求。如果使用幾何放大技術(shù)，則應(yīng)按照附錄B測定圖像空間分辨率，雙絲型像質(zhì)計直接放置在工件表面上(見7.7),此時的圖像空間分辨率值應(yīng)小于或達(dá)到表A.13或表A.14要求。如果數(shù)字陣列探測器DDA基本空間分辨率或圖像空間分辨率高于表A.13或表A.14要求，則可按7.3.225GB/T3323.2—2019進(jìn)行補償(CPⅡ)。如果使用數(shù)字陣列探測器DDA或IP板測量數(shù)字圖像中的缺陷尺寸時，應(yīng)獲得具有更高的SNR的數(shù)字圖像，具體要求應(yīng)由合同各方商定。更高的SNR、可補償由于壞像素插入造成的局部不清晰度的增大。應(yīng)定期對數(shù)字陣列探測器DDA中的壞像素進(jìn)行評定。數(shù)字檢測圖像應(yīng)采用一定灰階的灰度值表示方法進(jìn)行評估，其灰度值與探測器所接收的射線劑量成正比。理想的數(shù)字檢測圖像應(yīng)對信噪比、空間分辨率和SNR、進(jìn)行評價?？赏ㄟ^對比度和亮度的交(SR,測定)和信噪比或SNR、測定工具，用于數(shù)字圖像質(zhì)量的評估。對于重要圖像分析時，應(yīng)通過縮放功能實現(xiàn)1:1(一個數(shù)字圖像像素顯示為一個顯示器像素)至1:2(一個數(shù)字圖像像素顯示為四個顯示器像素)的圖像顯示。對存儲的原始圖像顯示進(jìn)一步處理時(如高通或低通濾波),應(yīng)有明確記錄，并得到合同各方的許如果進(jìn)一步的圖像處理(如高通或低通濾波)是為了評價絲型像質(zhì)值或階梯孔型像質(zhì)值時，則應(yīng)采用相同的濾波參數(shù)對焊縫及像質(zhì)計圖像進(jìn)行評價。7.10數(shù)字圖像顯示與存儲數(shù)字圖像顯示觀察最低條件應(yīng)滿足a)～d)的要求：c)最小可顯示的亮度比：1:250;與數(shù)字探測器校正相關(guān)的圖像處理(如偏置校正、增益校正和壞像素校正，見ASTME2597[3)。推薦的原始圖像存儲格式為DICOM或DICONDE,以確保所存儲的原始圖像不能被更改。方式不應(yīng)丟失原始數(shù)據(jù)。8檢測報告下可對檢測結(jié)果進(jìn)行查詢。檢測報告應(yīng)至少包含以下信息：a)檢測單位；b)工件名稱；c)材質(zhì)；d)熱處理狀況；e)焊縫的坡口形式；f)公稱厚度；26GB/T3323.2—2019j)透照布置；m)探測器布置；p)數(shù)字陣列探測器(DDA)系統(tǒng)獲得的圖像SNR、值，CR檢測系統(tǒng)獲得的圖像灰度值或度等);w)圖像處理參數(shù)(積分降噪及數(shù)字濾波);27GB/T3323.2—2019(規(guī)范性附錄)最低像質(zhì)值A(chǔ).1單壁透照技術(shù)；像質(zhì)計位于源側(cè)最低像質(zhì)值要求見表A.1～表A.4。A級公稱厚度t/mm像質(zhì)值2<t≤3.5A級公稱厚度t/mm像質(zhì)值2<t≤3.5A級公稱厚度t/mm像質(zhì)值2<t≤3.5B級公稱厚度t/mm像質(zhì)值t≤2.5B級公稱厚度t/mm像質(zhì)值t≤2.5B級公稱厚度t/mm像質(zhì)值28A.2雙壁雙影技術(shù)；像質(zhì)計位于源側(cè)最低像質(zhì)值要求見表A.5～表A.8。表A.5絲型像質(zhì)計A級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤1.22<w≤3.5表A.7絲型像質(zhì)計B級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤1.5表A.6階梯孔型像質(zhì)計A級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤12<w≤3.53.5<w≤5.5表A.8階梯孔型像質(zhì)計B級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤129GB/T3323.2—2019A.3雙壁單影或雙壁雙影技術(shù)；像質(zhì)計位于數(shù)字探測器側(cè)最低像質(zhì)值要求見表A.9～表A.12。A級透照厚度wA級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤2A級像質(zhì)值w≤1.22<w≤3.5B級透照厚度w/B級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤2.52.5<w≤5.55.5<w≤9.5B級像質(zhì)值w≤1.5GB/T3323.2—2019A.4圖像不清晰度允許的圖像最大不清晰度見表A.13和表A.14。表A.13A級技術(shù)允許的圖像最大不清晰度A級：雙絲型像質(zhì)計(GB/T23901.5)透照厚度應(yīng)識別最小線對值和最大不清晰度最大圖像空間分辨率(等效絲徑和間距)w≤1.0對于雙壁單影透照技術(shù)，應(yīng)用公稱厚度t替代透照厚度采用直接接觸數(shù)字射線檢測時，雙絲型像質(zhì)計最小線對識別方法按附錄B執(zhí)行。當(dāng)采用幾何放(見7.7)時，可通過比對測試試驗確定可識別的雙絲型像質(zhì)計最小線對值。GB/T3323.2—2019表A.14B級技術(shù)允許的圖像最大不清晰度B級：雙絲型像質(zhì)計(GB/T23901.5)透照厚度應(yīng)識別最小線對值和最大不清晰度最大圖像空間分辨率(等效絲徑和間距)w≤1.54.0<w≤8.0對于雙壁單影透照技術(shù)，應(yīng)用公稱厚度1替代透照厚度w。采用直接接觸數(shù)字射線檢測時，雙絲型像質(zhì)計最小線對識別方法按附錄B執(zhí)行。當(dāng)采用幾何放(見7.7)時，可通過比對測試試驗確定可識別的雙絲型像質(zhì)計最小線對值。(規(guī)范性附錄)基本空間分辨率的確定B.1數(shù)字探測器基本空間分辨率測定方法數(shù)字圖像以一定的灰度顯示是正確測定基本空間分辨率的前提條件。數(shù)字圖像的灰度應(yīng)與射線曝光量成線性比例關(guān)系(由制造商的軟件支持)。采用GB/T23901.5規(guī)定的雙絲型像質(zhì)計測定數(shù)字探測器的基本空間分辨率SR,,通常將雙絲型像質(zhì)計直接放置在數(shù)字探測器表面上。注：如果將雙絲型像質(zhì)計放置在被檢工件表面上，而不是直接放置在數(shù)字探測器上，則獲得的是對檢測圖像空間分辨率SR?imae的測定，而不是數(shù)字探測器基本空間分辨率SR,dctector測定。當(dāng)發(fā)現(xiàn)第一個不能清晰識別的線對時(見GB/T23901.5),應(yīng)采用以調(diào)制度值20%為基準(zhǔn)的測定在數(shù)字檢測圖像的調(diào)制傳遞函數(shù)曲線上，將第一對雙峰調(diào)制度值小于20%(見圖B.1)的線對記錄為基本空間分辨率雙絲型像質(zhì)計測定結(jié)果(如圖B.1c)的D8所示為不可分辨線對)。在數(shù)字射線檢測系統(tǒng)的圖像處理軟件中，應(yīng)具有調(diào)制傳遞函數(shù)曲線測定功能，通過在數(shù)字檢測圖像雙絲型像質(zhì)計影像上截取的輪廓(如圖B.1a))生成調(diào)制傳遞函數(shù)曲線識別調(diào)制度值小于20%的線對(如圖B.1b)和c]],調(diào)制度測算方法如圖B.1d)。雙絲型像質(zhì)計影像上截取的輪廓至少具有21行像素寬度，以提高輪廓區(qū)域內(nèi)的信噪比。注：調(diào)制度一般是指已調(diào)載波的幅度、頻率或相位受低頻調(diào)制信號控制的程度。圖B.1中的調(diào)制度是指，在雙絲像質(zhì)計數(shù)字圖像上截取的不少于21行像素寬度輪廓范圍內(nèi)的線性灰度值通過調(diào)制傳遞函數(shù)測算生成的曲線上，所顯示的每一線對波幅曲線雙峰的波峰值與波谷值的比值，通過線性灰度值幅度變化反映線對的金屬絲及間隔的可分辨識別程度，20%為設(shè)定的識別閾值(通常稱為瑞利判據(jù))。采用符合GB/T23901.5規(guī)定的雙絲型像質(zhì)計，測定圖像固有不清晰度u,則數(shù)字探測器的基本空間分辨率SR,按式(B.1)計算：為避免產(chǎn)生混疊影像，雙絲型像質(zhì)計放置時應(yīng)與數(shù)字探測器像素的行或列成2°~5°的夾角，如圖B.1所示。雙絲型像質(zhì)計應(yīng)直接放置在數(shù)字陣列探測器DDA或IP板暗盒表面上，射線源至數(shù)字探測器的距離應(yīng)為100cm±5cm。數(shù)字圖像中的平均灰度值應(yīng)不低于最大灰度值的50%。數(shù)字圖像的信噪比，對于像素尺寸大于或等于80μm的標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)，信噪比應(yīng)超過100,對于像素值小于80μm的高分辨率系統(tǒng)，信噪比應(yīng)超過70。基于數(shù)字檢測系統(tǒng)的參考數(shù)字圖像測定的基本空間分辨率[見式(B.1)]和相關(guān)系統(tǒng)設(shè)置均應(yīng)記錄在測試報告中。CR檢測系統(tǒng)的探測器IP板基本空間分辨率應(yīng)在垂直和平行于激光掃描讀出的兩個方向測定；取兩個測定值的較高值作為探測器基本空間分辨率值SR,或SR,detetor。GB/T3323.2—2019yTyT300025002000420X220260240200280360320400340300380b)21行以上像素寬度輪廓疊加平均形成的調(diào)制傳遞函數(shù)曲線圖TT790800810c)D7、D8線對放大圖d)調(diào)制度(%)計算方法示意圖dip=100×(A+B-2C)/(A+B)D7,D8——雙絲型像質(zhì)值；Y——幅值。為了提高基本空間分辨率SR,的測定精度，應(yīng)采用雙絲型像質(zhì)計線對的調(diào)制度數(shù)據(jù)畫出如圖B.2中b)的關(guān)系曲線，從曲線確定調(diào)制度為20%對應(yīng)的值作為系統(tǒng)基本空間分辨率值。圖B.2顯示了高分辨率CR系統(tǒng)的測定程序。GB/T3323.2—2019DW13Dip2%DW13Dip2%DW12Dip75%m畫回畫b)插入調(diào)制度20%測定雙絲型像質(zhì)計基本空間分辨率SR,方法(圖中雙絲型像質(zhì)計線對調(diào)制度曲線與調(diào)制度20%交叉點對應(yīng)的66μm為基本空間分辨率值)圖B.2雙絲型像質(zhì)計線對調(diào)制度插入法測定基本空間分辨率如圖B.2所示，雙絲線對調(diào)制度應(yīng)根據(jù)二進(jìn)多項式擬合計算確定。插入調(diào)制度20%與雙絲型調(diào)制度曲線交叉確定基本空間分辨率適用于調(diào)制度大于0的情況。并由合同各方在技術(shù)文件中規(guī)定采用擬合插入法替代非擬合插入法確定基本空間分辨率的要求。B.2測定基本空間分辨率時的透照參數(shù)a)檢測輕質(zhì)合金：1)管電壓90kV;2)前置濾波1mm的鋁。GB/T3323.2—20192)前置濾波1mm的銅。d)伽瑪射線或高能X射線檢測：1)規(guī)定的伽瑪射線源或>1MeV的X射線源；GB/T3323.2—2019(規(guī)范性附錄)對接環(huán)焊縫100%數(shù)字射線檢測的推薦曝光次數(shù)C.1概述外徑大于100mm的對接環(huán)焊縫100%透照的推薦曝光次數(shù)見圖C.1～圖C.4。如要檢出工件中個別橫向裂紋，還應(yīng)在圖C.1～圖C.4查出值的基礎(chǔ)上增加曝光次數(shù)。C.2B級技術(shù)推薦曝光次數(shù)當(dāng)穿透厚度差與公稱厚度之比△t/t小于或等于10%(B級)時，推薦曝光次數(shù)見圖C.1和圖C.2。此技術(shù)有利于檢測出橫向裂紋。GB/T3323.2—2019GB/T3323.2—20192N=12351678gd00.20.250.050.10.1501——管壁。級)時，偏心透照法和雙壁單影透照法透照環(huán)焊縫的當(dāng)穿透厚度差與公稱厚度之比△t/t小于或等于20%(A級)時，推薦曝光次數(shù)見圖C.3和圖C.4。只有當(dāng)焊縫中出現(xiàn)橫向裂紋的可能性較小或此類缺欠還采用其他無損檢測方法檢測時，才推薦使用此GB/T3323.2—2019圖C.3△t/t=20%(A級)時，單壁外透照法透照環(huán)焊縫的最少曝光次數(shù)N與t/D。和D./f的關(guān)系40223168N=5GB/T3323.2—2019(規(guī)范性附錄)CR技術(shù)最小灰度值測定方法D.1歸一化信噪比SNR測定測定時，通常將數(shù)字圖像上一個20×55個像素區(qū)(需測定的典型部位)內(nèi)確定的線性平均灰度值與按ISO16371-1:2011的6.1.1的標(biāo)準(zhǔn)差的比值作為SNR測定值。測定區(qū)的灰度值應(yīng)處于灰度線性化區(qū)，并與射線劑量成正比，未曝光區(qū)域的灰度值為零。注：SNR測定區(qū)的寬度不超過20個像素，長度不小于55個像素。較大的長度有利于提高SNR測定準(zhǔn)確度。在相同的透照條件下，較大像素尺寸(不清晰度高)的數(shù)字射線檢測系統(tǒng)可以獲得更高SNR,但檢測細(xì)小缺陷能力低于較小像素尺寸的數(shù)字射線檢測系統(tǒng)。具有同樣按基本空間分辨率SNR、的數(shù)字射線檢測系統(tǒng)，具有相同的細(xì)小細(xì)節(jié)識別能力。因此，測定數(shù)字射線檢測系統(tǒng)的SNR,應(yīng)測定SNR√。SNR、的表達(dá)式為：…………(D.1)SNR、值通常由檢測系統(tǒng)制造商提供