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文檔簡介

1、AEFT3101 Rev1,Probe Card機臺良率分析,Owner: Reviewer: Approver : Date：2009-03-04 Version：01,所有字體：宋體+Arial,AEFT3101 Rev1,Revision History文件修正一覽表,AEFT3101 Rev1,1.廠內(nèi)良率針對P/C的判斷標準： 參照Probe Card驗收標準：Pass Yield Gap0.3%，單一bin rate Gap0.15% W10MT049-019 Rev1Probe card 驗收表：,AEFT3101 Rev1,2.實例講解 例1：P/C固定機臺測試 根據(jù)P/C的測

2、試的pass rate,前三大defect bin rate做分析和層別，判斷是否異常,從圖中可以清楚看到，#01的P/C，pass rate和bin12 rate均偏高，接下來只需要交叉驗證來判斷是機臺異常，還是P/C異常,AEFT3101 Rev1,例2：P/C和機臺的搭配不固定 這類情況，需要層別機臺和P/C來找到異常的真因,圖1By P/C做層別，可以看出#01，#05的O/S rate都偏高，但#01在FT-17和FT-33都有做測試，而#05只在FT-33做測試； 進一步By機臺做分析，發(fā)現(xiàn)#01在FT-17的O/S rate較低，而在FT-33較高，說明#01 卡片O/S rate偏高的問題，是在FT-33上引起的，而#05在FT-33的

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