常見儀器分析方法的縮寫、譜圖和功能說明[共7頁]

1、常見儀器分析方法的縮寫、譜圖和功能說明分析方法縮寫分析原理譜圖的表示方法提供的信息紫外吸收光譜UV吸收紫外光能量，引起分子中電子能級的躍遷相對吸收光能量隨吸收光波長的變化吸收峰的位置、強(qiáng)度和形狀，提供分子中不同電子結(jié)構(gòu)的信息熒光光譜法FS被電磁輻射激發(fā)后，從最低單線激發(fā)態(tài)回到單線基態(tài)，發(fā)射熒光發(fā)射的熒光能量隨光波長的變化熒光效率和壽命，提供分子中不同電子結(jié)構(gòu)的信息紅外吸收光譜法IR吸收紅外光能量，引起具有偶極矩變化的分子的振動、轉(zhuǎn)動能級躍遷相對透射光能量隨透射光頻率變化峰的位置、強(qiáng)度和形狀，提供功能團(tuán)或化學(xué)鍵的特征振動頻率拉曼光譜法Ram吸收光能后，引起具有極化率變化的分子振動，產(chǎn)生拉曼散射散

2、射光能量隨拉曼位移的變化峰的位置、強(qiáng)度和形狀，提供功能團(tuán)或化學(xué)鍵的特征振動頻率核磁共振波譜法NMR在外磁場中，具有核磁矩的原子核，吸收射頻能量，產(chǎn)生核自旋能級的躍遷吸收光能量隨化學(xué)位移的變化峰的化學(xué)位移、強(qiáng)度、裂分?jǐn)?shù)和偶合常數(shù)，提供核的數(shù)目、所處化學(xué)環(huán)境和幾何構(gòu)型的信息電子順磁共振波譜法ESR在外磁場中，分子中未成對電子吸收射頻能量，產(chǎn)生電子自旋能級躍遷吸收光能量或微分能量隨磁場強(qiáng)度變化譜線位置、強(qiáng)度、裂分?jǐn)?shù)目和超精細(xì)分裂常數(shù)，提供未成對電子密度、分子鍵特性及幾何構(gòu)型信息質(zhì)譜分析法MS分子在真空中被電子轟擊，形成離子，通過電磁場按不同m/e分離以棒圖形式表示離子的相對峰度隨m/e的變化分子離子

3、及碎片離子的質(zhì)量數(shù)及其相對峰度，提供分子量，元素組成及結(jié)構(gòu)的信息氣相色譜法GC樣品中各組分在流動相和固定相之間，由于分配系數(shù)不同而分離柱后流出物濃度隨保留值的變化峰的保留值與組分熱力學(xué)參數(shù)有關(guān)，是定性依據(jù)；峰面積與組分含量有關(guān)反氣相色譜法IGC探針分子保留值的變化取決于它和作為固定相的聚合物樣品之間的相互作用力探針分子比保留體積的對數(shù)值隨柱溫倒數(shù)的變化曲線探針分子保留值與溫度的關(guān)系提供聚合物的熱力學(xué)參數(shù)裂解氣相色譜法PGC高分子材料在一定條件下瞬間裂解，可獲得具有一定特征的碎片柱后流出物濃度隨保留值的變化譜圖的指紋性或特征碎片峰，表征聚合物的化學(xué)結(jié)構(gòu)和幾何構(gòu)型凝膠色譜法GPC樣品通過凝膠柱時(shí)，

4、按分子的流體力學(xué)體積不同進(jìn)行分離，大分子先流出柱后流出物濃度隨保留值的變化高聚物的平均分子量及其分布熱重法TG在控溫環(huán)境中，樣品重量隨溫度或時(shí)間變化樣品的重量分?jǐn)?shù)隨溫度或時(shí)間的變化曲線曲線陡降處為樣品失重區(qū)，平臺區(qū)為樣品的熱穩(wěn)定區(qū)熱差分析DTA樣品與參比物處于同一控溫環(huán)境中，由于二者導(dǎo)熱系數(shù)不同產(chǎn)生溫差，記錄溫度隨環(huán)境溫度或時(shí)間的變化溫差隨環(huán)境溫度或時(shí)間的變化曲線提供聚合物熱轉(zhuǎn)變溫度及各種熱效應(yīng)的信息示差掃描量熱分析DSC樣品與參比物處于同一控溫環(huán)境中，記錄維持溫差為零時(shí)，所需能量隨環(huán)境溫度或時(shí)間的變化熱量或其變化率隨環(huán)境溫度或時(shí)間的變化曲線提供聚合物熱轉(zhuǎn)變溫度及各種熱效應(yīng)的信息靜態(tài)熱力分析T

5、MA樣品在恒力作用下產(chǎn)生的形變隨溫度或時(shí)間變化樣品形變值隨溫度或時(shí)間變化曲線熱轉(zhuǎn)變溫度和力學(xué)狀態(tài)動態(tài)熱力分析DMA樣品在周期性變化的外力作用下產(chǎn)生的形變隨溫度的變化模量或tg隨溫度變化曲線熱轉(zhuǎn)變溫度模量和tg透射電子顯微術(shù)TEM高能電子束穿透試樣時(shí)發(fā)生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成襯度，顯示出圖象質(zhì)厚襯度象、明場衍襯象、暗場衍襯象、晶格條紋象、和分子象晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結(jié)構(gòu)和晶格與缺陷等掃描電子顯微術(shù)SEM用電子技術(shù)檢測高能電子束與樣品作用時(shí)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分布和面分布等斷口形貌、表

6、面顯微結(jié)構(gòu)、薄膜內(nèi)部的顯微結(jié)構(gòu)、微區(qū)元素分析與定量元素分析等AAAS 原子吸收光譜法AES 原子發(fā)射光譜法AFS 原子熒光光譜法ASV 陽極溶出伏安法ATR 衰減全反射法AUES 俄歇電子能譜法 CCEP 毛細(xì)管電泳法CGC 毛細(xì)管氣相色譜法CIMS 化學(xué)電離質(zhì)譜法CIP 毛細(xì)管等速電泳法CLC 毛細(xì)管液相色譜法CSFC 毛細(xì)管超臨界流體色譜法CSFE 毛細(xì)管超臨界流體萃取法CSV 陰極溶出伏安法CZEP 毛細(xì)管區(qū)帶電泳法DDDTA 導(dǎo)數(shù)差熱分析法DIA 注入量焓測定法DPASV 差示脈沖陽極溶出伏安法DPCSV 差示脈沖陰極溶出伏安法DPP 差示脈沖極譜法DPSV 差示脈沖溶出伏安法DPVA

7、 差示脈沖伏安法DSC 差示掃描量熱法DTA 差熱分析法DTG 差熱重量分析法EEAAS 電熱或石墨爐原子吸收光譜法ETA 酶免疫測定法EIMS 電子碰撞質(zhì)譜法ELISA 酶標(biāo)記免疫吸附測定法EMAP 電子顯微放射自顯影法EMIT 酶發(fā)大免疫測定法EPMA 電子探針X射線微量分析法ESCA 化學(xué)分析用電子能譜學(xué)法ESP 萃取分光光度法FFAAS 火焰原子吸收光譜法FABMS 快速原子轟擊質(zhì)譜法FAES 火焰原子發(fā)射光譜法FDMS 場解析質(zhì)譜法FIA 流動注射分析法FIMS 場電離質(zhì)譜法FNAA 快中心活化分析法FT-IR 傅里葉變換紅外光譜法FT-NMR 傅里葉變換核磁共振譜法FT-MS 傅里

8、葉變換質(zhì)譜法GC 氣相色譜法GC-IR 氣相色譜-紅外光譜法GC-MS 氣相色譜-質(zhì)譜法GD-AAS 輝光放電原子吸收光譜法GD-AES 輝光放電原子發(fā)射光譜法GD-MS 輝光放電質(zhì)譜法GFC 凝膠過濾色譜法GLC 氣相色譜法GLC-MS 氣相色譜-質(zhì)譜法HHAAS 氫化物發(fā)生原子吸收光譜法HAES 氫化物發(fā)生原子發(fā)射光譜法HPLC 高效液相色譜法HPTLC 高效薄層色譜法IIBSCA 離子束光譜化學(xué)分析法IC 離子色譜法ICP 電感耦合等離子體ICP-AAS 電感耦合等離子體原子吸收光譜法ICP-AES 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法ICP-MS 電感耦合等離子體質(zhì)譜法IDA 同位素稀釋分析

9、法IDMS 同位素稀釋質(zhì)譜法IEC 離子交換色譜法INAA 儀器中子活化分析法IPC 離子對色譜法IR 紅外光譜法ISE 離子選擇電極法ISFET 離子選擇場效應(yīng)晶體管LLAMMA 激光微探針質(zhì)譜分析法LC 液相色譜法LC-MS 液相色譜-質(zhì)譜法MMECC 膠束動電毛細(xì)管色譜法MEKC 膠束動電色譜法MIP-AAS 微波感應(yīng)等離子體原子吸收光譜法MIP-AES 微波感應(yīng)等離子體原子發(fā)射光譜法MS 質(zhì)譜法NNAA 中子活化法NIRS 近紅外光譜法NMR 核磁共振波譜法PPAS 光聲光譜法PC 紙色譜法PCE 紙色譜電泳法PE 紙電泳法PGC 熱解氣相色譜法PIGE 粒子激發(fā)Gamma射線發(fā)射光譜法PIXE 粒子激發(fā)X射線發(fā)射光譜法RRHPLC 反相高效液相色譜法RHPTLC 反相液相薄層色譜法RIA 發(fā)射免疫分析法RPLC 反相液相色譜法SSEM 掃描電子顯微鏡法SFC 超臨界流體色譜法SFE 超臨界流體萃取法SIMS 次級離子質(zhì)譜法SIQMS 次級離子四極質(zhì)譜法SP 分光光度法SP(M)E 固相(微)萃取法STM 掃描隧道電子顯微