泄漏電流和直流耐壓試驗(yàn)綜述

1、泄漏電流和直流耐壓試驗(yàn)、泄漏電流由于絕緣電阻測量的局限性，所以在絕緣試驗(yàn)中就出現(xiàn)了測量泄漏電流的項(xiàng)目。關(guān)于泄漏電流的概念在上節(jié)中已加以說明。測量泄漏電流所用的設(shè)備要比兆歐表復(fù)雜，一般用高壓整流設(shè)備進(jìn)行測試。 由于試驗(yàn)電壓高， 所以就容易暴露絕緣本身的弱點(diǎn)，用微安表直測泄漏電流，這可以做到隨時(shí)進(jìn)行監(jiān)視，靈敏度高。并且可以用電壓和電流、電流和時(shí)間的關(guān)系曲線來判斷絕緣的缺陷。它屬于非破壞性試驗(yàn)。由于電壓是分階段地加到絕緣物上，便可以對電壓進(jìn)行控制。 當(dāng)電壓增加時(shí)，薄弱的絕緣將會(huì)出現(xiàn)大的泄漏電流，也就是得到較低的絕緣電阻。1、泄漏電流的特點(diǎn)測量泄漏電流的原理和測量絕緣電阻的原理本質(zhì)上是完全相同的，而且

2、能檢出缺陷的性質(zhì)也大致相同。但由于泄漏電流測量中所用的電源一般均由高壓整流設(shè)備供給，并用微安表直接讀取泄漏電流。因此，它與絕緣電阻測量相比又有自己的以下特點(diǎn)：（1）試驗(yàn)電壓高，并且可隨意調(diào)節(jié)。測量泄漏電流時(shí)是對一定電壓等級的被試設(shè)備施以相應(yīng)的試驗(yàn)電壓，這個(gè)試驗(yàn)電壓比兆歐表額定電壓高得多，所以容易使絕緣本身的弱點(diǎn)暴露出來。因?yàn)榻^緣中的某些缺陷或弱點(diǎn)，只有在較高的電場強(qiáng)度下才能暴露出來。（2）泄漏電流可由微安表隨時(shí)監(jiān)視，靈敏度高，測量重復(fù)性也較好。（3）根據(jù)泄漏電流測量值可以換算出絕緣電阻值，而用兆歐表測出的絕緣電阻值則不可換算出泄漏電流值。因?yàn)橐獡Q算首先要知道加到被試設(shè)備上的電壓是多少，兆歐表雖

3、然在銘牌上刻有規(guī)定的電壓值，但加到被試設(shè)備上的實(shí)際電壓并非一定是此值，而與被試設(shè)備絕緣電阻的大小有關(guān)。 當(dāng)被試設(shè)備的絕緣電阻很低時(shí)，作用到被試設(shè)備上的電壓也非常低，只有當(dāng)絕緣電阻趨于無窮大時(shí)，作用到被試設(shè)備上的電壓才接近于銘牌值。這是因?yàn)楸辉囋O(shè)備絕緣電阻過低時(shí)，兆歐表內(nèi)阻壓降使線路”端子上的電壓顯著下降。（4） 可以用i二f（u）或i二f（t）的關(guān)系曲線并測量吸收比來判斷絕緣缺陷。泄漏電流與加壓時(shí)間的關(guān)系曲線如圖 1-7所示。在直流電壓作用下，當(dāng)絕緣受潮或有缺陷時(shí)，電流隨加 壓時(shí)間下降得比較慢，最終達(dá)到的穩(wěn)態(tài)值也較大，即絕緣電阻較小。圖1-7 泄漏電流與加壓時(shí)間的關(guān)系曲線1良好；2受潮或有缺陷

4、（5）測量原理當(dāng)直流電壓加于被試設(shè)備時(shí)，其充電電流（幾何電流和吸收電流） 隨時(shí)間的增加而逐漸衰減至零，而泄漏電流保持不變。 故微安表在加壓一定時(shí)間后其指示數(shù)值趨于恒定，此時(shí)讀取的數(shù)值則等于或近似等于漏導(dǎo)電流即泄漏電流。對于良好的絕緣，其漏導(dǎo)電流與外加電壓的關(guān)系曲線應(yīng)為一直線。但是實(shí)際上的漏導(dǎo)電流與外加電壓的關(guān)系曲線僅在一定的電壓范圍內(nèi)才是近似直線，如圖1-8中的OA段。若超過此范圍后，離子活動(dòng)加劇，此時(shí)電流的增加要比電壓增加快得多，如AB段，至U B點(diǎn)后,如果電壓繼續(xù)再增加，則電流將急劇增長，產(chǎn)生更多的損耗，以致絕緣被破壞，發(fā)生擊穿。iB.iA丿0U0 Ui U圖1-8 絕緣的伏安特性在預(yù)防性

5、試驗(yàn)中，測量泄漏電流時(shí)所加的電壓大都在A點(diǎn)以下，故對良好的絕緣，其伏安特性i二f（u）應(yīng)近似于直線。當(dāng)絕緣有缺陷（局部或全部）或有受潮的現(xiàn)象存在時(shí)，則 漏導(dǎo)電流急劇增長， 使其伏安特性曲線就不是直線了。因此，可以通過測量泄漏電流來判斷絕緣是否有缺陷或是否受潮。將直流電壓加到絕緣上時(shí)，其泄漏電流是不衰減的，在加壓到一定時(shí)間后，微安表的讀 數(shù)就等于泄漏電流值。絕緣良好時(shí)，泄漏電流和電壓的關(guān)系幾乎呈一直線，且上升較??；絕緣受潮時(shí)，泄漏電流則上升較大；當(dāng)絕緣有貫通性缺陷時(shí)，泄漏電流將猛增，和電壓的關(guān)系 就不是直線了。因此，通過泄漏電流和電壓之間變化的關(guān)系曲線就可以對絕緣狀態(tài)進(jìn)行分析 判斷。在圖1-9和

6、圖1-10中繪出了泄漏電流和電壓及時(shí)間的關(guān)系曲線。對于良好的絕緣， 其泄露電流應(yīng)隨所加的電壓值線性上升，并在規(guī)定的試驗(yàn)電壓作用下，其泄露電流不應(yīng)隨加壓時(shí)間的延長而增大。i（叭）和A, B相比較C相C相可能有缺陷/A相B相1- 正常2- 可能變?nèi)?相或有缺陷Ud.c圖1-9 泄漏電流和電壓的關(guān)系曲線t圖1-10泄漏電流和時(shí)間的關(guān)系曲線2、影響測量結(jié)果的主要因素當(dāng)其表面場強(qiáng)高于約 20kV/cm時(shí)（決（一）高壓連接導(dǎo)線由于接往被測設(shè)備的高壓導(dǎo)線是暴露在空氣中的,定于導(dǎo)線直徑、形狀等），沿導(dǎo)線表面的空氣發(fā)生電離，對地有一定的泄漏電流，這一部分 電流會(huì)流過微安表，因而影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。一般都把微安

7、表固定在升壓變壓器的上端，這時(shí)就必須用屏蔽線作為引線，也要用金屬外殼把微安表屏蔽起來。屏蔽線宜用低壓的軟金屬線，因?yàn)槠帘魏托局g的電壓極低，致使儀表的壓降較小， 金屬的外殼屏蔽一定要接到儀表和升壓變壓器引線的接點(diǎn)上，要盡可能地靠近升壓變壓器出 線。這樣，電暈雖然還照樣發(fā)生，但只在屏蔽線的外層上產(chǎn)生電暈電流，而這一電流就不會(huì) 流過微安表，這樣可以完全防止高壓導(dǎo)線電暈放電對測量結(jié)果的影響。由上述可知，這樣接線會(huì)帶來一些不便，為此，根據(jù)電暈的原理，采取用粗而短的導(dǎo)線， 并且增加導(dǎo)線對地距離， 避免導(dǎo)線有毛刺等措施，可減小電暈對測量結(jié)果的影響。（二）表面泄漏電流IbItibIt(b)圖1-11通過被試

8、設(shè)備的體積泄漏電流和表面泄漏電流及消除示意圖（a）未屏蔽（b）屏蔽泄漏電流可分為體積泄漏電流和表面泄漏電流兩種，如圖1-11所示。表面泄漏電流的大小，只要決定于被試設(shè)備的表面情況，如表面受潮、臟污等。若絕緣內(nèi)部沒有缺陷，而僅 表面受潮，實(shí)際上并不會(huì)降低其內(nèi)部絕緣強(qiáng)度。為真實(shí)反映絕緣內(nèi)部情況，在泄漏電流測量中，所要測量的只是體積電流。但是在實(shí)際測量中，表面泄露電流往往大于體積泄漏電流， 這給分析、判斷被試設(shè)備的絕緣狀態(tài)帶來了困難，因而必須消除表面泄漏電流對真實(shí)測量結(jié)果的影響。消除的辦法是使被試設(shè)備表面干燥、清潔、且高壓端導(dǎo)線與接地端要保持足夠的距離； 另一種是采用屏蔽環(huán)將表面泄漏電流直接短接，使

9、之不流過微安表。（三）溫度與絕緣電阻測量相似， 溫度對泄漏電流測量結(jié)果有顯著影響。所不同的是溫度升高，泄漏電流增大。由于溫度對泄漏電流測量有一定影響，所以測量最好在被試設(shè)備溫度為3080C時(shí)進(jìn)行。因?yàn)樵谶@樣的溫度范圍內(nèi)，泄漏電流的變化較為顯著，而在低溫時(shí)變化小，故應(yīng)在停止運(yùn)行后的熱狀態(tài)下進(jìn)行測量，或在冷卻過程中對幾種不同溫度下的泄漏電流進(jìn)行測量，這樣做也便于比較。（四）電源電壓的非正弦波形在進(jìn)行泄漏電流測量時(shí)， 供給整流設(shè)備的交流高壓應(yīng)該是正弦波形。如果供給整流設(shè)備的交流低壓不是正弦波，則對測量結(jié)果是有影響的。影響電壓波形的主要是三次諧波。必須指出，在泄漏電流測量中， 調(diào)壓器對波形的影響也是很

10、多的。實(shí)踐證明，自耦變壓器畸變小，損耗也小，故應(yīng)盡量選用自耦變壓器調(diào)壓。另外，在選擇電源時(shí)，最好用線電壓 而不用相電壓，因相電壓的波形易畸變。如果電壓是直接在高壓直流側(cè)測量的，則上述影響可以消除。（五）加壓速度對被試設(shè)備的泄漏電流本身而言，它與加壓速度無關(guān)， 但是用微安表所讀取得并不一定是真實(shí)的泄漏電流， 而可能是保護(hù)吸收電流在內(nèi)的合成電流。這樣，加壓速度就會(huì)對讀數(shù)產(chǎn)生一定的影響。對于電纜、電容器等設(shè)備來說，由于設(shè)備的吸收現(xiàn)象很強(qiáng)，這是的泄漏電流要經(jīng)過很長的時(shí)間才能讀到，而在測量時(shí)，又不可能等很出的時(shí)間， 大都是讀取加壓后1min或2min時(shí)的電流值，這一電流顯然還包含著被試設(shè)備的吸收電流，而

11、這一部分吸收電流是 和加壓速度有關(guān)的。 如果電壓是逐漸加上的， 則在加壓的過程中， 就已有吸收過程，讀得的 電流值就較小，如果電壓是很快加上的， 或者是一下子加上的， 則在加壓的過程中就沒有完 成吸收的過程，而在同一時(shí)間下讀得的電流就會(huì)大一些，對于電容大的設(shè)備就是如此，而對電容量很小的設(shè)備，因?yàn)樗麄儧]有什么吸收過程，則加壓速度所產(chǎn)生的影響就不大了。但是按照一般步驟進(jìn)行是泄漏電流測量時(shí)，很難控制加壓的速度， 所以對大容量的設(shè)備進(jìn)行測量時(shí)，就出現(xiàn)了問題。（六）微安表接在不同位置時(shí)在測量接線中，微安表接的位置不同，測得的泄漏電流數(shù)值也不同，因而對測量結(jié)果有很大影響。圖1-12所示為微安表接在不同位置

12、時(shí)的分析用圖。由圖1-12可見，當(dāng)微安表處于卩山位置時(shí)，此時(shí)升壓變壓器 T和Cb及C12 （低壓繞組可看成地電位）和穩(wěn)壓電容C的泄漏電流與高壓導(dǎo)線的電暈電流都將有可能通過微安表。這些試品的泄漏電流有時(shí)甚至遠(yuǎn)大于被試設(shè)備的泄漏電流。在某種程度上，當(dāng)帶上被試設(shè)備后，由于高壓引線末端電暈的減少， 總的泄漏電流有可能小于試品的泄漏電流，這樣的話從總電流減去試品電流的做法將產(chǎn)生異常結(jié)果。特別是當(dāng)被試設(shè)備的電容量很小，又沒有裝穩(wěn)壓電容時(shí)，在不接入被試設(shè)備來測量試品的泄漏電流時(shí)，升壓變壓器T的高壓繞組上各點(diǎn)的電壓與接入被試設(shè)備進(jìn)行測量時(shí)的情況有顯著的不同，這使上述減去所測試品泄漏電流的辦法將產(chǎn)生更大的誤差。

13、所以當(dāng)微安表處于升壓變壓器的低壓端時(shí)，測量結(jié)果受雜散電流影響最大。為了既能將微安表裝于低壓端，又能比較真實(shí)地消除雜散電流及電暈電流的影響，可選用絕緣較好的升壓變壓器。 這樣，升壓變壓器一次側(cè)對地及一、二次側(cè)之間雜散電流的影響就可以大大減小。經(jīng)驗(yàn)表明，一、二次側(cè)之間雜散電流的影響很大的。另外，還可將高壓進(jìn) 線用多層塑料管套上， 被試設(shè)備的裸露部分用塑料、橡皮之類絕緣物覆蓋上， 能提高測量的準(zhǔn)確度。圖1-12 微安表接在不同位置時(shí)的分析圖除采用上述措施外，也可將接線稍加改動(dòng)。如圖1-12所示，將1、2兩點(diǎn)，3、4兩點(diǎn)連 接起來（在圖中用虛線表示） ，并將升壓變壓器和穩(wěn)壓電容器對地絕緣起來。這樣做能

14、夠得 到較為滿意的測量結(jié)果， 但并不能完全消除雜散電流等的影響， 因?yàn)楦邏阂€的電暈電流還 會(huì)流過微安表。當(dāng)被試設(shè)備兩極對地均可絕緣時(shí)，可將微安表接于 uA位置，即微安表處于被試設(shè)備低電位端。此位置處理受表面泄漏的影響外，不受雜散電流的影響。當(dāng)微安表接于圖1-12中的uA位置時(shí)，如前所述，若屏蔽很好，其測量結(jié)果是很準(zhǔn)確的。（七）試驗(yàn)電壓極性（1 ）電滲透現(xiàn)象使不同極性試驗(yàn)電壓下油紙絕緣電氣設(shè)備的泄漏電流測量值不同 電滲透現(xiàn)象是指在外加電場作用下， 液體通過多孔固體的運(yùn)動(dòng)現(xiàn)象， 它是膠體中常見的 電滲現(xiàn)象之一。 由于多孔固體在與液體接觸的交界面處， 因吸附離子或本身的電力而帶電荷， 液體則帶相反

15、電荷，因此在外電場作用下，液體會(huì)對固體發(fā)生相對移動(dòng)。運(yùn)行經(jīng)驗(yàn)表明， 電纜或變壓器的絕緣受潮通常是從外皮或外殼附近開始的。根據(jù)電滲現(xiàn)象，電纜或變壓器的絕緣中的水分在電場作用下帶正電， 當(dāng)電纜心或變壓器繞組加正極性電 壓時(shí)， 絕緣中的水分被其排斥而滲向外皮或外殼， 使絕緣中水分含量相對減小， 從而導(dǎo)致泄 漏電流減少； 當(dāng)電纜心或變壓器繞組加負(fù)極性電壓時(shí)，絕緣中的水分會(huì)被其吸引而滲過絕緣向電纜心或變壓器繞組移動(dòng)，使其絕緣中高場強(qiáng)區(qū)的水分相對增加，導(dǎo)致泄漏電流增大。1）實(shí)驗(yàn)電壓的極性對新的電纜和變壓器的測量結(jié)果無影響。因?yàn)樾码娎|和變壓器絕緣 基本沒有受潮，所含水分甚微，在電場作用下，電滲現(xiàn)象很弱，故正

16、、負(fù)極性試驗(yàn)電壓下的 泄漏電流相同。2）實(shí)驗(yàn)電壓的極性對舊的電纜和變壓器的測量結(jié)果有明顯的影響。（2）試驗(yàn)電壓極性小于對引線電暈電流的影響 在不均勻、不對稱電場中，外加電壓極性不同，其放電過程及放電電壓不同的現(xiàn)象，稱 為極性效應(yīng)。根據(jù)氣體放電理論， 在直流電壓作用下， 對棒板間隙而言， 其棒為負(fù)極性時(shí)的火花放 電電壓比棒為正極性時(shí)高得多， 這是因?yàn)榘魹樨?fù)極性時(shí)， 游離形成的正空間電荷， 使棒電極 前方的電場被削弱； 而在棒為正極性時(shí)， 正空間電荷使棒電極前方電場加強(qiáng)， 有利于流注的 發(fā)展，所以在較低的電壓下就導(dǎo)致間隙發(fā)生火花放電。對電暈起始電壓而言， 由于極性效應(yīng)， 會(huì)使棒為負(fù)極性的電暈起始電

17、壓較棒為正極性時(shí) 略低。 這是因?yàn)榘魹樨?fù)極性時(shí)， 雖然有利于從電場最強(qiáng)的棒端附近開始， 但正空間電荷使棒 極附近的電場增強(qiáng)， 故其電暈起始電壓較低； 而棒為正極性時(shí)， 由于正空間電荷的作用棒電 極的“等效”曲率半徑有所增大，故其電暈起始電壓較高。在進(jìn)行直流泄漏電流試驗(yàn)時(shí)， 其高壓引線對地構(gòu)成的電場可等效為棒板電場， 由上述 分析可知， 當(dāng)實(shí)驗(yàn)電壓為負(fù)極性時(shí)， 電暈起始電壓較低， 所以此時(shí)的電暈電流影響較大。從 這個(gè)角度而言，測量泄漏電流較小的設(shè)備（如少油斷路器等）時(shí)，宜采用正極性試驗(yàn)電壓。3、測量時(shí)的操作規(guī)定（1）按接線圖接好線，并由專人認(rèn)真檢查接線和儀器設(shè)備，當(dāng)確認(rèn)無誤后，方可通電 及升壓。

18、（2）在升壓過程中，應(yīng)密切監(jiān)視被試設(shè)備、實(shí)驗(yàn)回路及有關(guān)表記。微安表的讀數(shù)應(yīng)在 升壓過程中，按規(guī)定分階段進(jìn)行，且需要有一定的停留時(shí)間，以避開吸收電流。（3）在測量過程中，若有擊穿、閃絡(luò)等異常現(xiàn)象發(fā)生，應(yīng)馬上降壓，以斷開電源，并 查明原因，詳細(xì)記錄，待妥善處理后，再繼續(xù)測量。（ 4）實(shí)驗(yàn)完畢、降壓、斷開電源后，均應(yīng)對被試設(shè)備進(jìn)行充分放電。放電前先將微安 表短接，并先通過有高阻值電阻的放電棒放電，然后直接接地，否則會(huì)將微安表燒壞，例如在圖 1-12 中，無論在哪個(gè)位置放電，都會(huì)有電流流過微安表，即使微安表短接，也發(fā)生由于沖擊而燒表現(xiàn)象，因此必須嚴(yán)格執(zhí)行通過高電阻放電的辦法，而且還應(yīng)注意放電位置。 對

19、電纜、變壓器、發(fā)電機(jī)的放電時(shí)間，可以其容量大小由1min增至3min，電力電容器可長至5min，除此之外，還應(yīng)注意附近設(shè)備有無感應(yīng)靜電電壓的可能，必要時(shí)也應(yīng)放電或預(yù)先短 接。（5）若是三相設(shè)備，同理應(yīng)進(jìn)行其它兩項(xiàng)測量。（6）按照規(guī)定的要求進(jìn)行詳細(xì)記錄。4、測量中的問題在電力系統(tǒng)交接和預(yù)防性實(shí)驗(yàn)中，測量泄漏電流時(shí)，常遇到的主要異常情況如下。（一）從微安表中反映出來的情況（1）指針來回?cái)[動(dòng)。這可能是由于電源波動(dòng)、整流后直流電壓的脈動(dòng)系數(shù)比較大以及試驗(yàn)回路和被試設(shè)備有充放電過程所致。若擺動(dòng)不大，又不十分影響讀數(shù)，則可取其平均值；若擺動(dòng)很大，影響讀數(shù)，則可增大主回路和保護(hù)回路中的濾波電容的電容量。必要

20、時(shí)可改變?yōu)V波方式。（2）指針周期性擺動(dòng)。這可能是由于回路存在的反充電所致，或者是被試設(shè)備絕緣不 良產(chǎn)生周期性放電造成的。（3）指針突然沖擊。若向小沖擊，可能是電源回路引起的；若向大沖擊，可能是試驗(yàn) 回路或被試設(shè)備出現(xiàn)閃絡(luò)或產(chǎn)生間歇性放電引起的。（4）指針指示數(shù)值隨測量時(shí)間而發(fā)生變化。若逐漸下降，則可能是由于充電電流減小 或被試設(shè)備表面絕緣電阻上升所致；若逐漸上升，往往是被試設(shè)備絕緣老化引起的。（5）測壓用微安表不規(guī)則擺動(dòng)。這可能是由于測壓電阻斷線或接觸不良所致。（6）指針反指。這可能是由于被試設(shè)備經(jīng)測壓電阻放電所致。（7）接好線后，未加壓時(shí)，微安表有指示。這可能是外界干擾太強(qiáng)或地電位抬高引起

21、的。遇到（3）、（4）兩種情況時(shí)，一般應(yīng)立即降低電壓，停止測量，否則可能導(dǎo)致被試設(shè) 備擊穿。（二）從泄漏電流數(shù)值上反映出來的情況（1）泄漏電流過大。這可能是由于測量回路中各設(shè)備的絕緣狀況不佳或屏蔽不好所致，遇到這種情況時(shí)，應(yīng)首先對實(shí)驗(yàn)設(shè)備和屏蔽進(jìn)行認(rèn)真檢查，例如電纜電流偏大應(yīng)先檢查屏蔽。若確認(rèn)無上述問題，則說明被試設(shè)備絕緣不良。（2） 泄漏電流過小。這可能是由于線路接錯(cuò)，微安表保護(hù)部分分流或有斷脫現(xiàn)象所致。（3）當(dāng)采用微安表在低壓側(cè)讀數(shù)，且用差值法消除誤差時(shí)，可能會(huì)出現(xiàn)負(fù)值。這可能 是由于高壓線過長、空載時(shí)電暈電流大所致。因此高壓引線應(yīng)當(dāng)盡量粗、短、無毛刺。（三）硅堆的異常情況在泄漏電流測量中

22、， 有時(shí)發(fā)生硅堆擊穿現(xiàn)象， 這是由于硅堆選擇不當(dāng)、 均壓不良或質(zhì)量 不佳所致。為防止硅堆擊穿，首先應(yīng)正確選擇硅堆，使硅堆不致在反向電壓下?lián)舸?；其次?yīng) 采用并聯(lián)電阻的方法對硅堆串進(jìn)行均壓，若每個(gè)硅堆工作電壓為5kV時(shí)，每個(gè)并聯(lián)電阻常取為2 M 11。5、測量結(jié)論對某一電氣設(shè)備進(jìn)行泄漏電流測量后，應(yīng)對測量結(jié)果進(jìn)行認(rèn)真、 全面地分析，以判斷設(shè)備的絕緣狀況，做出結(jié)論是合格或不合格。對泄漏電流測量結(jié)果進(jìn)行分析、判斷可從下述幾方面著手。（一）與規(guī)定值比較泄漏電流的規(guī)定值就是其允許的標(biāo)準(zhǔn)，它是在生產(chǎn)實(shí)踐中根據(jù)積累多年的經(jīng)驗(yàn)制訂出來的，一般能說明絕緣狀況。 對于一定的設(shè)備，具有一定的規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)。 這是最簡便的判

23、斷方法。（二）比較對稱系數(shù)法 在分析泄漏電流測量結(jié)果時(shí)，還常米用不對稱系數(shù)（即三相之中的最大值和最小值的比）進(jìn)行分析、判斷。一般說來不對稱系數(shù)不大于2。（三）查看i l二f（u）關(guān)系曲線法利用泄漏電流和外加電壓的關(guān)系曲線即iL =f（u）曲線可以說明絕緣在高壓下的狀況。如果在實(shí)驗(yàn)電壓下，泄漏電流與電壓的關(guān)系曲線是一近似直線，那就說明絕緣沒有嚴(yán)重缺陷，如果是曲線，而且形狀陡峭，則說明絕緣有缺陷。（四）空載電流對試驗(yàn)結(jié)果的影響如果試驗(yàn)時(shí)天氣比較潮濕， 絕緣支架受潮、試驗(yàn)回路有尖端毛刺，等尖端放電現(xiàn)象存在， 則不加被試品就有較大的空載泄漏電流存在，對試驗(yàn)結(jié)果會(huì)造成較大的影響，有些人會(huì)用先測一下空載電

24、流，然后再加上被試品測出負(fù)載試驗(yàn)泄漏電流，用負(fù)載試驗(yàn)泄漏電流減去空載泄漏電流的辦法進(jìn)行校正，實(shí)際上這是不科學(xué)的， 因?yàn)閹媳辉嚻泛髸?huì)改變電位分布，有時(shí)先不帶負(fù)載，加壓到 則應(yīng)排除造成空 清除試驗(yàn)回路的尖端會(huì)出負(fù)載試驗(yàn)泄漏電流小于空載泄漏電流的現(xiàn)象，因而正確的做法是,額定值，看空載泄漏電流在什么水平，如果較小可以忽略不計(jì)，如果較大， 載泄漏電流較大的原因， 如清擦或烘干絕緣支架， 改變微安表的位置, 毛刺，直到空載泄漏電流合格為止。二、直流耐壓試驗(yàn)直流耐壓試驗(yàn)和直流泄漏試驗(yàn)的原理、接線及方法完全相同，差別在于直流耐壓試驗(yàn)的試驗(yàn)電壓較高，所以它除能發(fā)現(xiàn)設(shè)備受潮、 劣化外，對發(fā)現(xiàn)絕緣的某些局部缺陷具

25、有特殊的 作用、往往這些局部缺陷在交流耐壓試驗(yàn)中是不能被發(fā)現(xiàn)的。直流耐壓試驗(yàn)與交流耐壓相比有以下幾個(gè)特點(diǎn)：（1）設(shè)備較輕便。在對大容量的電力設(shè)備（如發(fā)動(dòng)機(jī)）進(jìn)行試驗(yàn)，特別是在試驗(yàn)電壓較高時(shí)，交流耐壓試驗(yàn)需要容量較大的試驗(yàn)變壓器，而當(dāng)進(jìn)行直流耐壓試驗(yàn)時(shí)，試驗(yàn)變壓器的容量可不必考慮。通常負(fù)荷的泄漏電流都不超過幾毫安，核算到變壓器側(cè)的容量微不足道。因此，直流耐壓試驗(yàn)的試驗(yàn)設(shè)備較輕便。（2）絕緣無介質(zhì)極化損失。在進(jìn)行直流耐壓試驗(yàn)時(shí)，絕緣沒有極化損失，因此不致使絕緣發(fā)熱，從而避免因熱擊穿而損壞絕緣。進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)時(shí)，既有介質(zhì)損失，還有局部放電，致使絕緣發(fā)熱，對絕緣的損傷比較嚴(yán)重， 而直流下絕緣內(nèi)的局部

26、放電要比交流下的輕 得多?；谶@些原因，直流耐壓試驗(yàn)還有些非破壞性試驗(yàn)的特性。（3）可制作伏安特性。進(jìn)行直流耐壓試驗(yàn)時(shí)，可制作伏安特性曲線，可根據(jù)伏安特性曲線的變化來發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷。并可由此來預(yù)測擊穿電壓，如圖1-13所示。預(yù)測擊穿電壓的方法是將泄漏電流與電壓關(guān)系曲線延長，泄漏電流急劇增長的地方，表示即將擊穿，此時(shí)即停止試驗(yàn)，如圖4-13中的U。即為近似的擊穿電壓。Uo U圖1-13延長伏安特性曲線預(yù)測擊穿電壓根據(jù)預(yù)測的直流擊穿電壓，有人認(rèn)為可以估算出交流擊穿電壓的幅值，換算公式為：一 1交流擊穿電壓幅值= 直流擊穿電壓K式中K 鞏固系數(shù)，與設(shè)備的絕緣材料和結(jié)構(gòu)有關(guān)，可用直流擊穿電壓與交流擊穿 電壓的幅值來表